JPH0480873B2 - - Google Patents

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JPH0480873B2
JPH0480873B2 JP9632584A JP9632584A JPH0480873B2 JP H0480873 B2 JPH0480873 B2 JP H0480873B2 JP 9632584 A JP9632584 A JP 9632584A JP 9632584 A JP9632584 A JP 9632584A JP H0480873 B2 JPH0480873 B2 JP H0480873B2
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JP
Japan
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sintered body
silicon
film
silicon carbide
metal silicide
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JP9632584A
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English (en)
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JPS60246285A (ja
Inventor
Akio Hiraki
Shoji Tanigawa
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Meidensha Corp
Ibiden Co Ltd
Original Assignee
Meidensha Corp
Ibiden Co Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、フアインセラミツク材料として機械
工業、電子工業等に用いられる炭化珪素質焼結体
とその製造方法に関するものであつて、特に該焼
結体と他の物質との接合性を改良した点に特徴を
有するものである。
〔従来の技術〕
最近、機械工業、電子工業をはじめとするあら
ゆる産業分野で、工業材料に対して要求される課
題が拡大し、従来は性能上からも金属やプラスチ
ツクで十分であつた部材も、耐熱性や耐酸性など
の点で使用限界が生ずるに至り、フアインセラミ
ツク材料が使用されることが多くなつた。しか
し、フアインセラミツク材料は優れた諸性能を有
するものの、靭性が金属より劣り、かつ硬度が高
いため機械加工や接着接合などが困難であつた。
フアインセラミツク材料はかかるマイナス面を持
つているにもかかわらず、集積回路基板、精密ベ
アリング、ガスタービンの精密加工品への応用が
高まり、単に素材の一部加工だけでなく、メタラ
イズや接合のように他の物質を付着、固定させる
ことの必要性が生じてきている。
そして、上記の接合に関する要請に対し、特に
炭化珪素質焼結体(以下単にSiCという)の表面
をメタライズ(金属化)する方法として、特開昭
55−113683号及び特開昭57−160906号が提案され
ている。しかるに、前者即ち特開昭55−113683号
の方法は、高価なタングステンやニツケル等を主
な組成として含有するメタライズペーストを用い
なければならず、その上前記ペーストでSiC表面
がメタライズされる際にSiCが分解し、その結果
SiC表面からメタライズ被膜が剥離する等の欠点
があつた。又、後者即ち特開昭57−160906号の方
法は、メタライズ層がCuを主成分とし、これに
MnまたはMn化合物などのSiC表面でケイ化物を
形成する金属元素を含有するものである。このメ
タライズ層は銅を主成分としているので、前者の
場合より強い接着強度は得られるものの、銅の熱
膨張率が16.5×10-6/℃であるのに対し、SiCは
4×10-6/℃位であり、この熱膨張率の差異によ
つてSiC表面からメタライズ層が剥離する恐れが
ある。
〔発明が解決しようとする問題点〕
本発明は、SiCと他の物質との接合において、
上記従来技術の欠点とされている付着力に欠ける
点を改善するためになされたものである。
〔問題点を解決するための手段多びその作用〕
次に、本発明の概要を第1図及び第2図によつ
て説明すると、先ず第1図に示すように、SiC基
板1の表面に、シリコン(珪素)の中間被膜層2
をスパツクリング等の手段により形成する。対い
で、第2図に示すように、前記シリコン中間被膜
層2の表面に金属蒸着法等により他の金属の薄い
金属層を形成することにより、その形成のための
処理に伴つてシリコン(珪素)と該金属の合金又
は化合物であるメタルシリサイドの層3が形成さ
れるものである。
尚、この場合に用いるSiC基板1は、例えば次
のような方法によつて得ることができる。主とし
てβ型結晶よりなる炭化珪素100重量部に対し、
ホウ素0.1重量%と炭素2重量%とを添加し、均
一に混合した出発原料を、所定の形状の生成型体
とし、非酸化性ガス雰囲気中で1700℃〜2300℃で
焼成し嵩密度が3.10g/cm3のSiC焼結体を得る。
本発明においては、上記のようにして得られた
SiC基板1の表面に形成された極く薄い酸化被膜
(SiO2)を弗化水素(HF)が10(重量)%の水溶
液で洗滌処理するか、或いはアルゴンガス気流中
でSiC表面をたたく、いわゆる逆スパツタ法によ
り除去し、不純物が表面に存在しない状態とす
る。
次に、このSiC基板1の表面にH2ガス又はH2
を含むガス気流中でスパツタリングすることによ
り、膜厚が約1μmのSi被膜すなわち極く僅かの水
素を含みSiとHが結合した部分を有する微結晶を
主体とするシリコン被膜2を形成する。
そして、次に圧力1.0×10-6Torrの条件下で、
上記シリコン被膜2の表面に他の金属例えばAu
を蒸着する他の金属は金、銀、パラジウムのいず
か1種又は2種以上であることが本発明の効果を
高める上で好ましい。
このようにして得られたSiとHの結合部分を含
むSi層とAu層からなる被膜は、Au蒸着時にAu
層からなる被膜は、Auシリサイドを一部に形成
しているが、更に合金層を生成させるために、上
記のSiC基板1をアンニイリング(焼鈍)処理す
る。このアンニイリング処理の条件は圧力4.6×
10-7〜7.0×10-7Torr、温度は約300℃±℃で、約
1時間行なつた。以上のようにして得られたSiC
1表面上のメタルシリサイド層3は、SiC1の表
面上に強固なSiとHが結合した部分を含むSi被膜
と共に接合を完全ならしめる作用をなすものであ
る。
このSiCとSiとHが結合した部分を含むSi被膜
との熱膨張係数を比較すると、前者が約4×
10-6/℃であるのに対し、後者は2.5×10-6/℃
であり、差は極めて小さい。それゆえ、高温下の
長時間使用などの過酷な条件下でも歪の発生が極
めて少ない。つまり、Si被膜にはクラツクをもた
らすストレスが生じ難くなり、1500℃前後の高温
下でも安定となる。
なお、SiC焼結体の出発原料中にホウ素(B)又は
アルミニウム(Al)などの焼結助剤を微量加え
ることにより、電気絶縁性はもとより熱伝導性も
向上し、熱膨張係数もSi被膜(結晶)と同程度の
SiC焼結体を得ることができる。
〔発明の実施例〕
次に、本発明の代表的な実施例を挙げる。
SiC焼結体の表面酸化膜(SiO2)を、弗化水素
(HF)10(重量)%を含む水溶液で洗滌処理を施
して除去した後、該SiC基板をスパツタリング装
置内においてそのSiC基板の温度が550〜600℃の
範囲となるよう温度制御しつつ、圧力0.6Torrの
H2ガス雰囲気中で約1時間シリコンをスパツタ
することにより、膜厚約1μmのSi中間被膜を形成
した。次いで該Si中間被膜の表面に圧力1.0×
10-6TorrでAu蒸着をし、更に圧力4.6×
10-7Torr、温度300℃で約1時間アンニイリング
処理をしてSiとAuとの合金又は化合物であるメ
タルシリサイドの被膜の形成されたSiC焼結体を
得た。
このSiC焼結体の表面同志をロウ付けにより接
合したところ、極めて容易に強固な接着を行うこ
とができた。このものの接着強度を引張強度とし
て測定した値は35〜46Kg/mm3であつた。この強度
は従来のメタライズ層を有するSiC焼結体のロウ
付け品の約2.5倍の値であつた。
〔発明の効果〕 上記本発明の実施例の効果によつて明らかな如
く、本発明によればSiC表面にSi被膜を介在させ
て他の金属を蒸着することにより、他の物質と強
固な密着性を有するメタルシリサイドのSiと金属
との薄い合金被膜を形成した金属化SiC焼結体を
得ることができ、機械工業、電子工業などの多く
分野で使用される精密加工品の素材として最適の
フアインセラミツク材料を提供することができ
る。
【図面の簡単な説明】
第1,2図は本発明の概要を示し、第1図は
SiC焼結体の表面に先づSi被膜を施した断面図、
第2図は第1図のSiC焼結体のSi被膜の表面に他
の金属を蒸着することによつてメタルシリサイド
層を形成した状態を示す断面図である。 1……SiC基板、2……Si中間被膜層、3……
メタルシリサイド層。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 炭化珪素を主成分とする炭化珪素質結焼体の
    表面にシリコン(珪素)の中間被膜層を有し、該
    シリコン中間被膜層の表面にシリコンと、金、
    銀、パラジウムの少なくとも1種の金属との合金
    からなるメタルシリサイド被膜が形成されている
    ことを特徴とするメタルシリサイド被膜形成炭化
    珪素質焼結体。 2 炭化珪素を主成分とする炭化珪素質焼結体の
    表面に、スパツタリングにより珪素被膜を形成
    し、しかる後該珪素被膜の表面に金、銀、パラジ
    ウムの少なくとも1種の金属を蒸着し、アニーリ
    ング処理することによりシリコン(珪素)と該金
    属との合金であるメタルシリサイドの被膜を形成
    することを特徴とするメタルシリサイド被膜形成
    炭化珪素質焼結体の製造方法。 3 上記製造方法において、炭化珪素質焼結体の
    表面に珪素被膜を形成させるに際し、あらかじめ
    該焼結体の表面に存在する酸化被膜(SiO2)を
    弗酸による洗滌処理又は逆スパツタ法により除去
    することを特徴とする特許請求の範囲第2項記載
    のメタルシリサイド被膜形成炭化珪素質焼結体の
    製造方法。 4 上記製造方法において、スパツタリングは水
    素を含むガス気流中で行ない、少なくともSiとH
    が結合した部分を含むSi層を形成することを特徴
    とする特許請求の範囲第2項記載のメタルシリサ
    イド被膜形成炭化珪素質焼結体の製造方法。
JP9632584A 1984-05-16 1984-05-16 メタルシリサイド被膜形成炭化珪素質焼結体とその製造方法 Granted JPS60246285A (ja)

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JPS60246285A JPS60246285A (ja) 1985-12-05
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JPS60264382A (ja) * 1984-06-12 1985-12-27 株式会社明電舎 メタルシリサイド被膜形成炭化珪素質焼結体とその製造方法

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JPS60246285A (ja) 1985-12-05

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