JPH0480873B2 - - Google Patents
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- JPH0480873B2 JPH0480873B2 JP9632584A JP9632584A JPH0480873B2 JP H0480873 B2 JPH0480873 B2 JP H0480873B2 JP 9632584 A JP9632584 A JP 9632584A JP 9632584 A JP9632584 A JP 9632584A JP H0480873 B2 JPH0480873 B2 JP H0480873B2
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- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 40
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 claims description 40
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 27
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 27
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 17
- 229910021332 silicide Inorganic materials 0.000 claims description 14
- FVBUAEGBCNSCDD-UHFFFAOYSA-N silicide(4-) Chemical compound [Si-4] FVBUAEGBCNSCDD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 14
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 11
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 11
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 11
- 239000010931 gold Substances 0.000 claims description 10
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims description 8
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 claims description 7
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N Palladium Chemical compound [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 6
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 239000000956 alloy Substances 0.000 claims description 5
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N Fluorane Chemical compound F KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 238000000137 annealing Methods 0.000 claims description 3
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000004332 silver Substances 0.000 claims description 3
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 claims description 2
- 239000011247 coating layer Substances 0.000 claims 2
- 229910000676 Si alloy Inorganic materials 0.000 claims 1
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 claims 1
- 125000004435 hydrogen atom Chemical class [H]* 0.000 claims 1
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 16
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 6
- 229910010293 ceramic material Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 description 5
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 4
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 3
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 3
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 3
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N Boron Chemical compound [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910003925 SiC 1 Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 2
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 2
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 2
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 2
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 2
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 2
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 2
- 239000007858 starting material Substances 0.000 description 2
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004063 acid-resistant material Substances 0.000 description 1
- 238000004026 adhesive bonding Methods 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005219 brazing Methods 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000010292 electrical insulation Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000003779 heat-resistant material Substances 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 239000012770 industrial material Substances 0.000 description 1
- 238000005304 joining Methods 0.000 description 1
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 1
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 1
- 239000011104 metalized film Substances 0.000 description 1
- 238000001465 metallisation Methods 0.000 description 1
- 239000013081 microcrystal Substances 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 description 1
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 1
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 1
- SBEQWOXEGHQIMW-UHFFFAOYSA-N silicon Chemical compound [Si].[Si] SBEQWOXEGHQIMW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005245 sintering Methods 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Ceramic Products (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、フアインセラミツク材料として機械
工業、電子工業等に用いられる炭化珪素質焼結体
とその製造方法に関するものであつて、特に該焼
結体と他の物質との接合性を改良した点に特徴を
有するものである。
工業、電子工業等に用いられる炭化珪素質焼結体
とその製造方法に関するものであつて、特に該焼
結体と他の物質との接合性を改良した点に特徴を
有するものである。
最近、機械工業、電子工業をはじめとするあら
ゆる産業分野で、工業材料に対して要求される課
題が拡大し、従来は性能上からも金属やプラスチ
ツクで十分であつた部材も、耐熱性や耐酸性など
の点で使用限界が生ずるに至り、フアインセラミ
ツク材料が使用されることが多くなつた。しか
し、フアインセラミツク材料は優れた諸性能を有
するものの、靭性が金属より劣り、かつ硬度が高
いため機械加工や接着接合などが困難であつた。
フアインセラミツク材料はかかるマイナス面を持
つているにもかかわらず、集積回路基板、精密ベ
アリング、ガスタービンの精密加工品への応用が
高まり、単に素材の一部加工だけでなく、メタラ
イズや接合のように他の物質を付着、固定させる
ことの必要性が生じてきている。
ゆる産業分野で、工業材料に対して要求される課
題が拡大し、従来は性能上からも金属やプラスチ
ツクで十分であつた部材も、耐熱性や耐酸性など
の点で使用限界が生ずるに至り、フアインセラミ
ツク材料が使用されることが多くなつた。しか
し、フアインセラミツク材料は優れた諸性能を有
するものの、靭性が金属より劣り、かつ硬度が高
いため機械加工や接着接合などが困難であつた。
フアインセラミツク材料はかかるマイナス面を持
つているにもかかわらず、集積回路基板、精密ベ
アリング、ガスタービンの精密加工品への応用が
高まり、単に素材の一部加工だけでなく、メタラ
イズや接合のように他の物質を付着、固定させる
ことの必要性が生じてきている。
そして、上記の接合に関する要請に対し、特に
炭化珪素質焼結体(以下単にSiCという)の表面
をメタライズ(金属化)する方法として、特開昭
55−113683号及び特開昭57−160906号が提案され
ている。しかるに、前者即ち特開昭55−113683号
の方法は、高価なタングステンやニツケル等を主
な組成として含有するメタライズペーストを用い
なければならず、その上前記ペーストでSiC表面
がメタライズされる際にSiCが分解し、その結果
SiC表面からメタライズ被膜が剥離する等の欠点
があつた。又、後者即ち特開昭57−160906号の方
法は、メタライズ層がCuを主成分とし、これに
MnまたはMn化合物などのSiC表面でケイ化物を
形成する金属元素を含有するものである。このメ
タライズ層は銅を主成分としているので、前者の
場合より強い接着強度は得られるものの、銅の熱
膨張率が16.5×10-6/℃であるのに対し、SiCは
4×10-6/℃位であり、この熱膨張率の差異によ
つてSiC表面からメタライズ層が剥離する恐れが
ある。
炭化珪素質焼結体(以下単にSiCという)の表面
をメタライズ(金属化)する方法として、特開昭
55−113683号及び特開昭57−160906号が提案され
ている。しかるに、前者即ち特開昭55−113683号
の方法は、高価なタングステンやニツケル等を主
な組成として含有するメタライズペーストを用い
なければならず、その上前記ペーストでSiC表面
がメタライズされる際にSiCが分解し、その結果
SiC表面からメタライズ被膜が剥離する等の欠点
があつた。又、後者即ち特開昭57−160906号の方
法は、メタライズ層がCuを主成分とし、これに
MnまたはMn化合物などのSiC表面でケイ化物を
形成する金属元素を含有するものである。このメ
タライズ層は銅を主成分としているので、前者の
場合より強い接着強度は得られるものの、銅の熱
膨張率が16.5×10-6/℃であるのに対し、SiCは
4×10-6/℃位であり、この熱膨張率の差異によ
つてSiC表面からメタライズ層が剥離する恐れが
ある。
本発明は、SiCと他の物質との接合において、
上記従来技術の欠点とされている付着力に欠ける
点を改善するためになされたものである。
上記従来技術の欠点とされている付着力に欠ける
点を改善するためになされたものである。
次に、本発明の概要を第1図及び第2図によつ
て説明すると、先ず第1図に示すように、SiC基
板1の表面に、シリコン(珪素)の中間被膜層2
をスパツクリング等の手段により形成する。対い
で、第2図に示すように、前記シリコン中間被膜
層2の表面に金属蒸着法等により他の金属の薄い
金属層を形成することにより、その形成のための
処理に伴つてシリコン(珪素)と該金属の合金又
は化合物であるメタルシリサイドの層3が形成さ
れるものである。
て説明すると、先ず第1図に示すように、SiC基
板1の表面に、シリコン(珪素)の中間被膜層2
をスパツクリング等の手段により形成する。対い
で、第2図に示すように、前記シリコン中間被膜
層2の表面に金属蒸着法等により他の金属の薄い
金属層を形成することにより、その形成のための
処理に伴つてシリコン(珪素)と該金属の合金又
は化合物であるメタルシリサイドの層3が形成さ
れるものである。
尚、この場合に用いるSiC基板1は、例えば次
のような方法によつて得ることができる。主とし
てβ型結晶よりなる炭化珪素100重量部に対し、
ホウ素0.1重量%と炭素2重量%とを添加し、均
一に混合した出発原料を、所定の形状の生成型体
とし、非酸化性ガス雰囲気中で1700℃〜2300℃で
焼成し嵩密度が3.10g/cm3のSiC焼結体を得る。
のような方法によつて得ることができる。主とし
てβ型結晶よりなる炭化珪素100重量部に対し、
ホウ素0.1重量%と炭素2重量%とを添加し、均
一に混合した出発原料を、所定の形状の生成型体
とし、非酸化性ガス雰囲気中で1700℃〜2300℃で
焼成し嵩密度が3.10g/cm3のSiC焼結体を得る。
本発明においては、上記のようにして得られた
SiC基板1の表面に形成された極く薄い酸化被膜
(SiO2)を弗化水素(HF)が10(重量)%の水溶
液で洗滌処理するか、或いはアルゴンガス気流中
でSiC表面をたたく、いわゆる逆スパツタ法によ
り除去し、不純物が表面に存在しない状態とす
る。
SiC基板1の表面に形成された極く薄い酸化被膜
(SiO2)を弗化水素(HF)が10(重量)%の水溶
液で洗滌処理するか、或いはアルゴンガス気流中
でSiC表面をたたく、いわゆる逆スパツタ法によ
り除去し、不純物が表面に存在しない状態とす
る。
次に、このSiC基板1の表面にH2ガス又はH2
を含むガス気流中でスパツタリングすることによ
り、膜厚が約1μmのSi被膜すなわち極く僅かの水
素を含みSiとHが結合した部分を有する微結晶を
主体とするシリコン被膜2を形成する。
を含むガス気流中でスパツタリングすることによ
り、膜厚が約1μmのSi被膜すなわち極く僅かの水
素を含みSiとHが結合した部分を有する微結晶を
主体とするシリコン被膜2を形成する。
そして、次に圧力1.0×10-6Torrの条件下で、
上記シリコン被膜2の表面に他の金属例えばAu
を蒸着する他の金属は金、銀、パラジウムのいず
か1種又は2種以上であることが本発明の効果を
高める上で好ましい。
上記シリコン被膜2の表面に他の金属例えばAu
を蒸着する他の金属は金、銀、パラジウムのいず
か1種又は2種以上であることが本発明の効果を
高める上で好ましい。
このようにして得られたSiとHの結合部分を含
むSi層とAu層からなる被膜は、Au蒸着時にAu
層からなる被膜は、Auシリサイドを一部に形成
しているが、更に合金層を生成させるために、上
記のSiC基板1をアンニイリング(焼鈍)処理す
る。このアンニイリング処理の条件は圧力4.6×
10-7〜7.0×10-7Torr、温度は約300℃±℃で、約
1時間行なつた。以上のようにして得られたSiC
1表面上のメタルシリサイド層3は、SiC1の表
面上に強固なSiとHが結合した部分を含むSi被膜
と共に接合を完全ならしめる作用をなすものであ
る。
むSi層とAu層からなる被膜は、Au蒸着時にAu
層からなる被膜は、Auシリサイドを一部に形成
しているが、更に合金層を生成させるために、上
記のSiC基板1をアンニイリング(焼鈍)処理す
る。このアンニイリング処理の条件は圧力4.6×
10-7〜7.0×10-7Torr、温度は約300℃±℃で、約
1時間行なつた。以上のようにして得られたSiC
1表面上のメタルシリサイド層3は、SiC1の表
面上に強固なSiとHが結合した部分を含むSi被膜
と共に接合を完全ならしめる作用をなすものであ
る。
このSiCとSiとHが結合した部分を含むSi被膜
との熱膨張係数を比較すると、前者が約4×
10-6/℃であるのに対し、後者は2.5×10-6/℃
であり、差は極めて小さい。それゆえ、高温下の
長時間使用などの過酷な条件下でも歪の発生が極
めて少ない。つまり、Si被膜にはクラツクをもた
らすストレスが生じ難くなり、1500℃前後の高温
下でも安定となる。
との熱膨張係数を比較すると、前者が約4×
10-6/℃であるのに対し、後者は2.5×10-6/℃
であり、差は極めて小さい。それゆえ、高温下の
長時間使用などの過酷な条件下でも歪の発生が極
めて少ない。つまり、Si被膜にはクラツクをもた
らすストレスが生じ難くなり、1500℃前後の高温
下でも安定となる。
なお、SiC焼結体の出発原料中にホウ素(B)又は
アルミニウム(Al)などの焼結助剤を微量加え
ることにより、電気絶縁性はもとより熱伝導性も
向上し、熱膨張係数もSi被膜(結晶)と同程度の
SiC焼結体を得ることができる。
アルミニウム(Al)などの焼結助剤を微量加え
ることにより、電気絶縁性はもとより熱伝導性も
向上し、熱膨張係数もSi被膜(結晶)と同程度の
SiC焼結体を得ることができる。
次に、本発明の代表的な実施例を挙げる。
SiC焼結体の表面酸化膜(SiO2)を、弗化水素
(HF)10(重量)%を含む水溶液で洗滌処理を施
して除去した後、該SiC基板をスパツタリング装
置内においてそのSiC基板の温度が550〜600℃の
範囲となるよう温度制御しつつ、圧力0.6Torrの
H2ガス雰囲気中で約1時間シリコンをスパツタ
することにより、膜厚約1μmのSi中間被膜を形成
した。次いで該Si中間被膜の表面に圧力1.0×
10-6TorrでAu蒸着をし、更に圧力4.6×
10-7Torr、温度300℃で約1時間アンニイリング
処理をしてSiとAuとの合金又は化合物であるメ
タルシリサイドの被膜の形成されたSiC焼結体を
得た。
(HF)10(重量)%を含む水溶液で洗滌処理を施
して除去した後、該SiC基板をスパツタリング装
置内においてそのSiC基板の温度が550〜600℃の
範囲となるよう温度制御しつつ、圧力0.6Torrの
H2ガス雰囲気中で約1時間シリコンをスパツタ
することにより、膜厚約1μmのSi中間被膜を形成
した。次いで該Si中間被膜の表面に圧力1.0×
10-6TorrでAu蒸着をし、更に圧力4.6×
10-7Torr、温度300℃で約1時間アンニイリング
処理をしてSiとAuとの合金又は化合物であるメ
タルシリサイドの被膜の形成されたSiC焼結体を
得た。
このSiC焼結体の表面同志をロウ付けにより接
合したところ、極めて容易に強固な接着を行うこ
とができた。このものの接着強度を引張強度とし
て測定した値は35〜46Kg/mm3であつた。この強度
は従来のメタライズ層を有するSiC焼結体のロウ
付け品の約2.5倍の値であつた。
合したところ、極めて容易に強固な接着を行うこ
とができた。このものの接着強度を引張強度とし
て測定した値は35〜46Kg/mm3であつた。この強度
は従来のメタライズ層を有するSiC焼結体のロウ
付け品の約2.5倍の値であつた。
〔発明の効果〕
上記本発明の実施例の効果によつて明らかな如
く、本発明によればSiC表面にSi被膜を介在させ
て他の金属を蒸着することにより、他の物質と強
固な密着性を有するメタルシリサイドのSiと金属
との薄い合金被膜を形成した金属化SiC焼結体を
得ることができ、機械工業、電子工業などの多く
分野で使用される精密加工品の素材として最適の
フアインセラミツク材料を提供することができ
る。
く、本発明によればSiC表面にSi被膜を介在させ
て他の金属を蒸着することにより、他の物質と強
固な密着性を有するメタルシリサイドのSiと金属
との薄い合金被膜を形成した金属化SiC焼結体を
得ることができ、機械工業、電子工業などの多く
分野で使用される精密加工品の素材として最適の
フアインセラミツク材料を提供することができ
る。
第1,2図は本発明の概要を示し、第1図は
SiC焼結体の表面に先づSi被膜を施した断面図、
第2図は第1図のSiC焼結体のSi被膜の表面に他
の金属を蒸着することによつてメタルシリサイド
層を形成した状態を示す断面図である。 1……SiC基板、2……Si中間被膜層、3……
メタルシリサイド層。
SiC焼結体の表面に先づSi被膜を施した断面図、
第2図は第1図のSiC焼結体のSi被膜の表面に他
の金属を蒸着することによつてメタルシリサイド
層を形成した状態を示す断面図である。 1……SiC基板、2……Si中間被膜層、3……
メタルシリサイド層。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 炭化珪素を主成分とする炭化珪素質結焼体の
表面にシリコン(珪素)の中間被膜層を有し、該
シリコン中間被膜層の表面にシリコンと、金、
銀、パラジウムの少なくとも1種の金属との合金
からなるメタルシリサイド被膜が形成されている
ことを特徴とするメタルシリサイド被膜形成炭化
珪素質焼結体。 2 炭化珪素を主成分とする炭化珪素質焼結体の
表面に、スパツタリングにより珪素被膜を形成
し、しかる後該珪素被膜の表面に金、銀、パラジ
ウムの少なくとも1種の金属を蒸着し、アニーリ
ング処理することによりシリコン(珪素)と該金
属との合金であるメタルシリサイドの被膜を形成
することを特徴とするメタルシリサイド被膜形成
炭化珪素質焼結体の製造方法。 3 上記製造方法において、炭化珪素質焼結体の
表面に珪素被膜を形成させるに際し、あらかじめ
該焼結体の表面に存在する酸化被膜(SiO2)を
弗酸による洗滌処理又は逆スパツタ法により除去
することを特徴とする特許請求の範囲第2項記載
のメタルシリサイド被膜形成炭化珪素質焼結体の
製造方法。 4 上記製造方法において、スパツタリングは水
素を含むガス気流中で行ない、少なくともSiとH
が結合した部分を含むSi層を形成することを特徴
とする特許請求の範囲第2項記載のメタルシリサ
イド被膜形成炭化珪素質焼結体の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9632584A JPS60246285A (ja) | 1984-05-16 | 1984-05-16 | メタルシリサイド被膜形成炭化珪素質焼結体とその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9632584A JPS60246285A (ja) | 1984-05-16 | 1984-05-16 | メタルシリサイド被膜形成炭化珪素質焼結体とその製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60246285A JPS60246285A (ja) | 1985-12-05 |
| JPH0480873B2 true JPH0480873B2 (ja) | 1992-12-21 |
Family
ID=14161854
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9632584A Granted JPS60246285A (ja) | 1984-05-16 | 1984-05-16 | メタルシリサイド被膜形成炭化珪素質焼結体とその製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60246285A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60264382A (ja) * | 1984-06-12 | 1985-12-27 | 株式会社明電舎 | メタルシリサイド被膜形成炭化珪素質焼結体とその製造方法 |
-
1984
- 1984-05-16 JP JP9632584A patent/JPS60246285A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60246285A (ja) | 1985-12-05 |
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