JPH048161A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

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JPH048161A
JPH048161A JP10941190A JP10941190A JPH048161A JP H048161 A JPH048161 A JP H048161A JP 10941190 A JP10941190 A JP 10941190A JP 10941190 A JP10941190 A JP 10941190A JP H048161 A JPH048161 A JP H048161A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
capacitor
igbt
series
voltage
gate terminal
Prior art date
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Pending
Application number
JP10941190A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuhiko Tada
一彦 多田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP10941190A priority Critical patent/JPH048161A/ja
Publication of JPH048161A publication Critical patent/JPH048161A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、直列に接続した複数の半導体スイッチを導
通されるためのゲート電力を、その通電端子に印加され
る電圧がら供給するいわゆる自給ゲート電力方式の半導
体装置に関するものである。
〔従来の技術〕
第3図は例えば特開昭57−22374号公報に開示さ
れたこの種従来の半導体装置の一部構成を示す回路図で
ある。図において、(1)は半導体スイッチとしてのサ
イリスタで、図では1素子のみを示すが、装置全体はそ
の通電端子AおよびKか相互に直列に接続された複数の
サイリスタから構成されている。(2)はコンデンサ(
3)と抵抗(イ)との直列体からなる分圧要素で、サイ
リスタ(1)の端子AK間に接続されている。(51は
抵抗(6)を介してコンデンサ口)に接続された光電ス
イッチ、口は光電スイッチ(5)のカンード例に挿入さ
れたツェナーダイオード、(8)はゲート抵抗である。
そして、コンデンサ(3)を含むこれら光電スイッチ(
5)ないしゲート抵抗(8)によりゲート回路(9)を
構成する。
次に動作について説明する。サイリスタ(1)が非導通
の状態ではその端子AK間の電圧が分圧要素(2)に印
加され、コンデンサ(3]は図に示す極性で充電状態に
ある。ここで、図示しないトリガー用光発生器から各光
電スイッチ((5)にトリガー光が入力される。これに
より光電スイッチ15]が導通し、コンデンサ(3)に
蓄積された電荷は抵抗(6)、光電スイッチ(5)、ゲ
ート抵抗(8)を経て放電しゲート電流となってサイリ
スタ(1)のゲート端子Gに流入しサイリスタ(1)を
ターンオンさせる。なお、ツェナーダイオ−トロはゲー
ト入力電圧を規定値以下に抑制するためのものである。
〔発明が解決しようとする課題〕
従来の半導体装置は以上のように構成されているので、
その半導体スイッチに例えば電圧駆動形のMOSFET
やIGBT等を適用すると、これら素子を導通させるた
めのゲート入力は少なくて済むが、反面ノイズ等により
直列に接続された素子の一部が導通してしまう等の現象
が発生し耐ノイズ性に劣るという問題点があった。
この発明は以上のような問題点を解消するためになされ
たもので、耐ノイズ性が優れた半導体装置を得ることを
目的とする。
〔課題を解決するための手段および作用〕この発明に係
る半導体装置は、その分圧要素と直列にコンデンサを接
続し、このコンデンサの電圧を半導体スイッチのゲート
端子に負バイアスとして印加するようにしたものである
。従って、上記ゲート端子に多少のノイズか侵入しても
上記した負のバイアス電圧により半導体スイッチの不要
なターンオン現象は防止される。
〔実施例〕
第1図はこの発明の一実施例による半導体装置の構成を
示す回路図である。ここでは、半導体スイッチとしてI
’G B T (10)が使用され従来と同様にその通
電端子CおよびEが相互に直列に接続されている。また
、分圧要素(2)も同様にコンデンサ(3)と抵抗(2
)との直列体から成っている。但し、第1図では、この
分圧要素■と直列にコンデンサ<11)が挿入されてい
る。そして、このコンデンサ(lりと抵抗(2)との接
続点が抵抗(12)を介してIGB T (10)のゲ
ート端子Gに接続されている。
次に動作について説明する。IGBT(10)の通電端
子CE間にはコンデンサ(3)とコンデンサ(11)と
が直列になって接続されていることになるので、IGB
T(10)が非導通の状態で両コンデンサ(3](11
)か図に示す極性に充電される。この結果、光電スイッ
チ(9がオフの状態ではIGBT(to)のゲート端子
Gはコンデンサ(11)により負バイアスされている。
従って、この状態ではたとえゲート端子Gに多少のノイ
ズが侵入してもコンデンサ(11)による負バイアスの
ため、IGBT(10)が動作することはない。
本来のターンオン動作をさせる場合は、従来と同様に各
光電スイッチ(5)にトリガー光を送出する。
これにより光電スイッチ(5)は導通状態となり、コン
デンサ(11)による負バイアスに替ってコンデンサ(
3)からの電圧がゲート端子Gに印加されIGBT(1
0)は確実に導通する。
第2図はこの発明の他の実施例を示すもので、上記実施
例における負バイアス電圧が過大となってIGBT(1
0)を破損することがないようこの電圧を一定の値以下
に制限する回路を付加したものである。ここでは、コン
デンサ(11)と直列にダイオード(13)が追加挿入
されている。更に、コンデンサ(11)と夕°イオート
(13)との直列体と並列にサイリスク(14)が接続
され、そのアノードとゲートとの間にツェナータイオー
ド(15)と抵抗(16)とが接続されている。
次に動作、特に負バイアス電圧の印加状態を説明する。
従来と同様にIGBT(10)か非導通となるとコンデ
ンサ(11)は分圧要素0)を経て流れる電流により図
示の極性に充電されその電圧が次第に上昇する。このコ
ンデンサ(+11の電圧かツェナーダイオード(15)
で決まる電圧に達するとこのツェナーダイオード(15
)および抵抗(16)を通してゲート電流が流れてサイ
リスタ(14)が導通する。従って、分圧要素Uを経た
電流はそれ以降はサイリスタ(14rでバイパスされコ
ンデンサ(11)には流入せず、コンデンサ<I+1の
充電は停止しその電圧はツェナーダイオード(15)で
決まる所定の値に規定されることになる。従って、IG
BT(10)のゲート端子Gへの負バイアスを一定値以
下に保持することかてきる訳である。
なお、上記各実施例では半導体スイッチとしてIGBT
(10)を使用した場合について説明したがこの発明は
MO5FET等他の半導体スイッチにも同様に適用する
ことができ同等の効果を奏する。
〔発明の効果〕
以上のように、この発明では、分圧要素と直列にコンデ
ンサを接続し、このコンデンサの電圧を半導体スイッチ
のケート端子に負バイアスとして印加するようにしたの
で、自給ゲート電力方式を維持しつつ簡便な構成でその
ゲート回路の耐ノイズ性を改善することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例による半導体装置の構成を
示す回路図、第2図はこの発明の他の実施例を示す回路
図、第3図は従来のものの構成を示す回路図である。 図において、(2)は分圧要素、(9)はゲート回路、
(10)は半導体スイッチとしてのI GBT、(II
)はコンデンサ:C,EおよびGはIGBTのそれぞれ
通電端子およびゲート端子である。 なお、各図中同一符号は同一または相当部分を示す。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 一対の通電端子を相互に直列に接続した複数の半導体ス
    イッチと、この各半導体スイッチの通電端子間に接続さ
    れた分圧要素と、この分圧要素に印加される電圧を利用
    して上記各半導体スイッチのゲート端子に上記半導体ス
    イッチを導通させるためのゲート電力を供給するゲート
    回路とを備えたものにおいて、 上記分圧要素と直列にコンデンサを接続し、このコンデ
    ンサの電圧を上記ゲート端子に負バイアスとして印加す
    るようにしたことを特徴とする半導体装置。
JP10941190A 1990-04-25 1990-04-25 半導体装置 Pending JPH048161A (ja)

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JPH048161A true JPH048161A (ja) 1992-01-13

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20250007611A (ko) 2022-05-26 2025-01-14 오지 홀딩스 가부시키가이샤 허니콤 구조 시트 및 적층체, 그리고 이들의 제조 방법

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KR20250007611A (ko) 2022-05-26 2025-01-14 오지 홀딩스 가부시키가이샤 허니콤 구조 시트 및 적층체, 그리고 이들의 제조 방법

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