JPH0482957A - 継目検出装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野） 本発明は、反物の継目を検出する継目検出装置に関する
ものである。

（従来の技術） 反物は、通常例えば５５ｍの長さで製造されるが、複数
の反物を継いで連続的に処理した方が処理効率上有利な
場合と、各反物を個別に処理しなければならない場合と
がある。例えば、起毛処理、剪毛処理などは反物を継い
で連続的に処理した方が有利である。

ところが、上記の各処理においては、継目部分と反物の
部分で同じように処理したのでは、継目の糸が切れて反
物どうしが離れてしまい、またカッターの刃が摩耗した
り、破損したりするなど都合の悪い場合があり、このよ
うな場合には継目を検出し、継目にきたときは処理を一
時中断し、継目を過ぎてから処理を再開するという手法
が採られている。

そして、反物の継目を検出する継目検出技術としては、
次の方式が知られている。

■　蛍光性をもたせた紬糸で反物を縫合し、紬糸の蛍光
をネ全知する方式（特開昭６２−５４１０６号公報）。

■　所定レベルを支持して通過せしめるシートガイドロ
ーラの周面を継目が通過する際の継目の厚み変化をレー
ザー光の遮光量の変化により検出する方式（実公平２−
１７０３７号公報）。

■　反物の継目付近に磁石を取付け、センサーで磁石を
検出する方式（特公昭５４−３９９５号公報）。

■　反物の継目付近にマークを記入し、マークセンサー
でマークを検出する方式（特開昭５５１４９８０５号公
報）。

（発明が解決しようとする課題） しかしながら、蛍光糸を用いる方法は柄物等反物に蛍光
が付着している場合には利用出来ないし、また、レーザ
光の遮光量の変化等により厚みの変化を検出する方法は
、反物の厚み等に応じてしきい値を微調整する必要があ
り、更に磁石による方法やマークによる方法は、反物に
磁石を取り付けることやマークを施す必要があり、作業
能率が上がらない等種々の障害があった。

本発明者等はかかる現状に鑑み、継目を簡単且つ確実に
検出できる継目検出装置について鋭意研究を続けた結果
、検知ローラを被加工材の送り方向に対して前後に並べ
て、この検知ローラの変位量の差を取ることにより反物
の厚み等に影響を受けない新規装置を見出し本発明を完
成したものである。

本発明の目的は、簡単かつ効率よく継目の検出を行ない
うる工業的有利且つ経済的継目検出装置を提供するにあ
る。更に他の目的並びに効果は以下の説明から明らかに
されよう。

（課題を解決するための手段） 上述の目的は、紬糸で複数の反物を長手方向に連続する
ように継いだ被加工材の継目を検出する継目検出装置で
あって、長手方向に送られる上記被加工材の送り方向に
対して前後に並べて配置され、上記被加工材に接触し回
転する第１および第２の検知ローラと、この第１および
第２の検知ローラの変位量をそれぞれ別個に検出する第
１および第２の変位量検出器と、この第１および第２の
変位量検出器の出力差を演算する演算回路と、この演算
回路の出力をしきい値と比較する比較回路とを備えたこ
とを特徴とする継目検出装置により達成される。

（作用） この発明によれば、被加工材の送り方向に対して前後に
並べて配置した第１および第２の検知ローラの変位量を
それぞれ別個に第１および第２の変位量検出器で検出し
、この検出した出力差を演算回路で演算するようにして
いるので、例えば、反物の厚さが変わることがことがあ
っても、この反物の厚さは第１および第２の変位量検出
器の出力差をとることにより相殺され、継目による厚さ
の変化のみが残ることになり、反物の厚みの影響を受け
ずに被加工材の継目を検出できる。また、出来るように
なり、確実に継目を検出できる。

（実施例） 以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。

この継目検出装置は、第１図に示すように、紬糸で複数
の反物を長手方向に連続するように継いだ被加工材（７
）の継目（７ａ）を検出する継目検出装置であって、長
手方向に送られる上記被加工材（７）の送り方向に対し
て前後に並べて配置され上記被加工材（７）に接触し回
転する第１および第２の検知ローラ（ｌａ）　、　（ｌ
ｂ）　　と、この第１および第２の検知ローラ（Ｉａ）
　、　（ｌｂ）を支持する支持部材（６ａ）　、　（６
ｂ）の他端の各々に設けた基板（２ａ）　、　（２ｂ）
の変位量をそれぞれ別個に検出する第１および第２の変
位量検出器（３ａ）　、　（３ｂ）　　と、この第１お
よび第２の変位量検出器（３ａ）　、　（３ｂ）の出力
差を演算する演算回路（４）と、この演算回路（４）の
出力をしきい値と比較する比較回路（５）とを備えてい
る。

この場合、第１および第２の検知ローラ（１ａ）（１ｂ
）の間隔はｌＱｃｍであり、また、（８）　、　（９）
　は上記被加工材（７）をガイドする案内ローラである
。

次に上記の様に構成した継目検出装置の作動状態につい
て説明する。

例えば第１図に示すように、被加工材（７）の継目（７
ａ）が第１検知ローラ（１ａ）または第２検知ローラ（
１ｂ）の上方にない場合には、第１検知ローラ（１ａ）
の基板（２ａ）の変位量が第１変位量検出器（３ａ）で
５■と、また第２検知ローラ（１ｂ）の基板（２ｂ）の
変位量が第２変位量検出器（３ｂ）で５■と検出され、
演算回路（４）により第２変位量検出器（３ｂ）の電圧
と第１変位量検出器（３ａ）の電圧の差がＯＶと演算さ
れ、この値を比較回路（５）でしきい（！１■と比較す
ることにより、しきい値より低いために継目なしと判定
されるようになる。

次に、例えば、第２図に示すように、被加工材（７）の
継目（７ａ）が第１検知ローラ（１ａ）の上方にある場
合には、第１検知ローラ（１ａ）の基板（２ａ）の変位
量が第１変位量検出器（３ａ）で３Ｖと、また第２検知
ローラ（１ｂ）の基板（２ｂ）の変位量が第２変位量検
出器（３ｂ）で５■と検出され、演算回路（４）により
第２変位量検出器（３ｂ）と第１変位量検出器（３ａ）
の電圧の差が２■と演算され、この値を比較回路（５）
でしきい値１■と比較することにより、しきい値より大
きいために継目ありと判定されるようになる。

また、例えば、第３図に示すように、被加工材（７）の
厚みが厚くなって、被加工材（７）の継目（７ａ）が第
１検知ローラ（１ａ）の上方にある場合には、第１検知
ローラ（１ａ）の基板（２ａ）の変位量が第１変位量検
出器（３ａ）で２■、第２検知ローラ（１ｂ）の基板（
２ｂ）の変位量が第２変位検出器（３ｂ）で４Ｖと検出
され、第２４変位量検出器（３ｂ）と第１％変位量検出
器（３ａ）の電圧の差が２ｖと演算され、この値を比較
回路（５）でしきい値１■と比較することにより、しき
い値より大きいために継目ありと判定されるようになる
。

即ち、反物の厚みが変わっても継目（７ａ）と反物部（
７ｂ）とで第１検知ローラ（１ａ）と第２検知ローラ（
１ｂ）の変位量の差は一定であるので、しきい値を変え
ることなく確実に継目（２１ｂ）を検知できるのである
。

（発明の効果） 本発明の継目検出装置によれば、被加工材の送り方向に
対して前後に並べて配置した第１および第２の検知ロー
ラの変位量をそれぞれ別個に第１および第２の変位量検
出器で検出し、この検出した出力差を演算回路で演算す
るようにしているので、反物の厚さが変わることがあっ
ても、この反物の厚さは第１および第２の変位量検出器
の出力差をとることにより相殺され、継目による厚さの
変化のみが残ることになり、反物の厚みの影響を受けず
に被加工材の継目を検出できる。

また、本発明の継目検出装置によれば磁石、マーク等を
被加工材に施す必要がなく、作業効率の向上という効果
を奏する。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例の構成を示すブロック図、第
２図、第３図は作動状態を説明するブロック図である。 符号の説明 （ｌａ）、（ｌｂ）　−検知ローラ、（２ａＬ　（２ｂ
）　一基板、（３ａＬ　（３ｂ）　・・・変位量検出器
、　（４）・・・演算回路、（５）・・・比較回路。 謎さ］ 捜＊佑号

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）継糸で複数の反物を長手方向に連続するように継
   いだ被加工材の継目を検出する継目検出装置であって、
   長手方向に送られる上記被加工材の送り方向に対して前
   後に並べて配置され、上記被加工材に接触し回転する第
   １および第２の検知ローラと、この第１および第２の検
   知ローラの変位量をそれぞれ別個に検出する第１および
   第２の変位量検出器と、この第１および第２の変位量検
   出器の出力差を演算する演算回路と、この演算回路の出
   力をしきい値と比較する比較回路とを備えたことを特徴
   とする継目検出装置。