JPH048352Y2 - - Google Patents

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JPH048352Y2
JPH048352Y2 JP2513486U JP2513486U JPH048352Y2 JP H048352 Y2 JPH048352 Y2 JP H048352Y2 JP 2513486 U JP2513486 U JP 2513486U JP 2513486 U JP2513486 U JP 2513486U JP H048352 Y2 JPH048352 Y2 JP H048352Y2
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mirror
light
rotating mirror
foreign object
object detection
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  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Machine Tool Sensing Apparatuses (AREA)
  • Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案は、NC機器等の産業機械における作業
テーブル並びにその周辺の異物を検出するために
用いて好適な光学式異物検出装置に関するもので
ある。
[Detailed description of the invention] [Industrial application field] The present invention relates to an optical foreign object detection device suitable for use in detecting foreign objects on and around work tables in industrial machines such as NC equipment. .

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来より、NC機器等の自動化装置の一部にお
いては、その作業テーブル上の異物を検出するた
めに、発光素子と受光素子とを作業テーブルを挾
んで複数個対向配置し、異物検出装置を構成して
いる。
Conventionally, in some automation equipment such as NC equipment, in order to detect foreign objects on the work table, a plurality of light emitting elements and light receiving elements are placed facing each other with the work table in between to form a foreign object detection device. are doing.

〔考案が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention attempts to solve]

しかしながら、このような異物検出装置による
と、隣接する一対の発光素子および受光素子の間
隔によつて異物検出性能が決まり、この異物検出
性能を高めようとすると、多数の発・受光素子を
細かい間隔で配置しなければならず、極めて高価
な検出装置となるものであつた。
However, according to such a foreign object detection device, the foreign object detection performance is determined by the spacing between a pair of adjacent light emitting elements and light receiving elements, and in order to improve this foreign object detection performance, it is necessary to arrange a large number of light emitting and light receiving elements at small intervals. This resulted in an extremely expensive detection device.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

本考案はこのような問題点に鑑みてなされたも
ので、ハーフミラーを透過して照射される光の反
射方向を回転ミラーを回転させながら可変すると
共に、被異物検出板面に隣接して、この板面上を
横断して照射される回転ミラーの反射光を回転ミ
ラーを経由してハーフミラーの鏡面に導く反射面
を断続的に配列し、ハーフミラーの鏡面に回転ミ
ラーの反射光が前記反射面を介して間接的に照射
される回数をカウントし、このカウント値に基づ
いて前記板面上の異物の検出を行うようにしたも
のである。
The present invention was developed in view of these problems, and it changes the reflection direction of the light that passes through the half mirror while rotating the rotating mirror, and also provides a foreign object detection plate adjacent to the surface of the foreign object detection plate. Reflection surfaces are arranged intermittently to guide the reflected light from the rotating mirror that is irradiated across the plate surface to the mirror surface of the half mirror via the rotating mirror, and the reflected light from the rotating mirror is directed to the mirror surface of the half mirror. The number of times of indirect irradiation through the reflective surface is counted, and foreign matter on the plate surface is detected based on this count value.

〔作用〕[Effect]

したがつてこの考案によれば、回転ミラーの反
射光がハーフミラーの鏡面に間接的に照射される
回数の大小によつて異物の検出が可能となる。
Therefore, according to this invention, it is possible to detect foreign matter based on the number of times that the mirror surface of the half mirror is indirectly irradiated with the reflected light from the rotating mirror.

〔実施例〕〔Example〕

以下、本考案に係る光学式異物検出装置を詳細
に説明する。第1図はこの光学式異物検出装置の
一実施例を示す構成図である。同図において、1
はNC機器等の産業機械における作業テーブル、
2は投光源、3は投光源2より出射される光を集
束する凸レンズ、4はレンズ3の集束する光(以
下、スポツトビームと呼ぶ)を透過するハーフミ
ラー、5はハーフミラー4を透過して照射される
スポツトビームを反射する回転ミラー、6はこの
回転ミラー5を回転しこのミラーにおいて反射す
るスポツトビームの反射方向を反時計方向に回転
するパルスモータ、7は作業テーブル1の直交す
る二片を包囲するように配置された反射板であ
る。反射板7は、所定間隙を隔てて断続的に配列
された部分ミラー7-1,7-2,…7-oよりなり、
この部分ミラー7-1〜7-oはプリズムあるいはガ
ラス玉を集めて構成されており、回転ミラー5に
て回転しながら反射するスポツトビームがθなる
範囲角においてこの反射板7に照射されるように
なつている。そして、反射板7に回転しながら照
射されるスポツトビームが部分ミラー7-1〜7-o
において反射し、回転ミラー5の鏡面を経由して
ハーフミラー4の鏡面に導かれて反射し、凸レン
ズ8を介して受光素子9において受光されるよう
になつている。そして、受光素子9にて受光され
る光が、この素子においてその光の強さに応じた
電圧値に変換され、後段の異物検出回路10に入
力されるようになつている。
Hereinafter, the optical foreign object detection device according to the present invention will be explained in detail. FIG. 1 is a block diagram showing one embodiment of this optical foreign object detection device. In the same figure, 1
is a work table for industrial machinery such as NC equipment,
2 is a light projection source; 3 is a convex lens that focuses the light emitted from the light projection source 2; 4 is a half mirror that transmits the light focused by lens 3 (hereinafter referred to as a spot beam); 6 is a pulse motor that rotates the rotating mirror 5 and rotates the direction of reflection of the spot beam reflected by this mirror in a counterclockwise direction; This is a reflective plate placed so as to surround the piece. The reflecting plate 7 is composed of partial mirrors 7 -1 , 7 -2 , ...7 -o arranged intermittently at predetermined intervals,
These partial mirrors 7 -1 to 7 -o are constructed by collecting prisms or glass beads, and are configured so that the spot beam reflected while rotating by the rotating mirror 5 is irradiated onto the reflecting plate 7 at an angle of θ. It's getting old. Then, the spot beam that is rotated and irradiated onto the reflecting plate 7 is transmitted to the partial mirrors 7 -1 to 7 -o.
The light is reflected by the mirror surface of the rotating mirror 5, is guided to the mirror surface of the half mirror 4, is reflected, and is received by the light receiving element 9 via the convex lens 8. The light received by the light-receiving element 9 is converted into a voltage value corresponding to the intensity of the light in this element, and is input to the foreign object detection circuit 10 at the subsequent stage.

異物検出回路10は、コンパレータ11および
12、カウンタ13、第1のラツチ回路14、基
準カウント数設定器15、比較器16、第2のラ
ツチ回路17、デイレイ回路18および19によ
り構成されており、受光素子9を介して送出され
る電気信号がコンパレータ11および12の非反
転入力端に入力されるようになつている。そし
て、コンパレータ11および12の反転入力端に
は比較基準電圧V1およびV2(V1>V2)が設定さ
れており、コンパレータ1入力の出力が「H」レ
ベルより「L」レベルに立ち下がる時点でカウン
タ13におけるカウント値が1ずつアツプするよ
うになつている。そして、このカウンタ13にお
けるカウント値が、コンパレータ11の出力が
「H」レベルとなつた時点でラツチ回路14にて
ラツチされ、このラツチ回路14にてラツチされ
るカウント値Naと基準カウント数設定器15に
設定されるカウント値Nとが比較器16において
比較されるようになつている。しかして、比較器
16における比較結果が、コンパレータ11の出
力が「H」レベルとなつた以降デイレイ回路19
において所定時間が経過した後ラツチ回路17に
おいてラツチされ、ラツチ回路17はラツチした
その比較結果がNa<Nの時その出力より異物の
存在を知らせる異物検出信号を継続して送出する
ようになつている。尚、カウンタ13におけるカ
ウント値は、コンパレータ11の出力が「H」レ
ベルとなつた以降デイレイ回路18において所定
時間が経過した後リセツトされるようになつてお
り、デイレイ回路19における遅延時間は、比較
器16における比較動作時間よりも若干長めに設
定されている。
The foreign object detection circuit 10 is composed of comparators 11 and 12, a counter 13, a first latch circuit 14, a reference count number setter 15, a comparator 16, a second latch circuit 17, and delay circuits 18 and 19. The electrical signal sent out via the light receiving element 9 is input to the non-inverting input terminals of the comparators 11 and 12. Comparison reference voltages V 1 and V 2 (V 1 > V 2 ) are set at the inverting input terminals of comparators 11 and 12, and the output of comparator 1 input rises from the “H” level to the “L” level. The count value in the counter 13 increases by 1 at the time when the value decreases. Then, the count value in this counter 13 is latched in a latch circuit 14 when the output of the comparator 11 becomes "H" level, and the count value Na latched in this latch circuit 14 and the reference count number setter A comparator 16 compares the count value N set to 15. Therefore, since the comparison result in the comparator 16 indicates that the output of the comparator 11 becomes "H" level, the delay circuit 19
After a predetermined time has elapsed, the latch circuit 17 latches, and when the latched comparison result is Na<N, the latch circuit 17 continues to send out a foreign object detection signal from its output to notify the presence of a foreign object. There is. The count value in the counter 13 is reset after a predetermined time has elapsed in the delay circuit 18 after the output of the comparator 11 becomes "H" level, and the delay time in the delay circuit 19 is This is set to be slightly longer than the comparison operation time in the device 16.

次に、このように構成された光学式異物検出装
置の動作を説明する。すなわち、投光源2の出射
する光はレンズ3によつて集束されてスポツトビ
ームとなり、ハーフミラー4を透過して回転ミラ
ー5に照射される。今、この回転ミラー5がパル
スモータ6により回転駆動されているものとする
と、回転ミラー5において反射するスポツトビー
ムはその反射方向を刻々と変えながら反時計方向
に回転する。第2図は、回転ミラー5の回転に伴
つて受光素子9にて受光される光の強さを示す波
形図である。すなわち、回転ミラー5の反射面が
入射されるスポツトビームに対して第3図aに示
すように略直角となつた時点で(以下、この位置
を原点位置と呼ぶ)、強い光が受光素子9にて受
光され(第2図のa点)、その後回転ミラー5の
回転に伴つて受光素子9に照射される光が一時途
絶える(第2図のb点)。そして、回転ミラー5
が第3図bに示すような位置まで回転した時、回
転ミラー5の反射するスポツトビームが反射面7
の部分ミラー7-1に照射され始め、この光が反射
して回転ミラー5およびハーフミラー4の鏡面を
経由して受光素子9にて受光されるようになる
(第2図のc点)。この時、受光素子9にて受光さ
れる光の強さは、回転ミラー5の反射するスポツ
トビームが部分ミラー7-1を経由して間接的に入
射されるので、回転ミラー5において直接反射し
受光される光(第3図a)よりも弱く、この光は
回転ミラー5がさらに回転しそのスポツトビーム
が第3図cに示すように部分ミラー7-1の終端ま
で移動した時点で一端消失する(第2図のd点)。
そして、回転ミラー5の継続する回転に伴つて、
今度はそのスポツトビームが第3図dに示すよう
に隣接する部分ミラー7-2に照射され始め、この
光が反射して再び回転ミラー5およびハーフミラ
ー4の鏡面を経由して受光素子9にて受光される
ようになる(第2図のe点)。以下同様にして、
回転ミラー5の反射するスポツトビームの回転移
動に伴いこの光が各部分ミラーにおいて断続的に
反射し、回転ミラー5およびハーフミラー4の鏡
面を経由して受光素子9にて受光されるようにな
る。しかして、回転ミラー5の反射するスポツト
ビームが部分ミラー7-oの終端面に達した時(第
3図e)、受光素子9にて受光される最後の弱い
光が消失し(第2図のf点)、引き続く回転ミラ
ー5の回転に伴つて次の原点位置で再び強い光が
受光素子9に入射されるようになる(第2図のg
点)。
Next, the operation of the optical foreign object detection device configured as described above will be explained. That is, the light emitted from the light projecting source 2 is focused by the lens 3 to become a spot beam, passes through the half mirror 4, and is irradiated onto the rotating mirror 5. Assuming that the rotating mirror 5 is rotationally driven by the pulse motor 6, the spot beam reflected by the rotating mirror 5 rotates counterclockwise while changing its reflection direction every moment. FIG. 2 is a waveform diagram showing the intensity of light received by the light receiving element 9 as the rotating mirror 5 rotates. That is, at the point when the reflective surface of the rotating mirror 5 becomes approximately perpendicular to the incident spot beam as shown in FIG. (point a in FIG. 2), and then as the rotating mirror 5 rotates, the light irradiated onto the light receiving element 9 is temporarily interrupted (point b in FIG. 2). And rotating mirror 5
When rotated to the position shown in FIG. 3b, the spot beam reflected by the rotating mirror 5 hits the reflecting surface 7.
The light begins to be irradiated onto the partial mirror 7 -1 , and this light is reflected and is received by the light receiving element 9 via the mirror surfaces of the rotating mirror 5 and the half mirror 4 (point c in FIG. 2). At this time, the intensity of the light received by the light receiving element 9 is such that the spot beam reflected by the rotating mirror 5 is indirectly reflected via the partial mirror 7-1 , so the intensity of the light is not directly reflected by the rotating mirror 5. This light is weaker than the received light (Fig. 3a), and disappears once the rotating mirror 5 rotates further and its spot beam moves to the end of the partial mirror 7-1 as shown in Fig. 3c. (point d in Figure 2).
Then, as the rotating mirror 5 continues to rotate,
This time, the spot beam begins to be irradiated onto the adjacent partial mirror 7-2 as shown in FIG. (point e in Figure 2). Similarly below,
As the spot beam reflected by the rotating mirror 5 rotates, this light is intermittently reflected by each partial mirror, and is received by the light receiving element 9 via the mirror surfaces of the rotating mirror 5 and the half mirror 4. . When the spot beam reflected by the rotating mirror 5 reaches the end surface of the partial mirror 7 -o (Fig. 3e), the last weak light received by the light receiving element 9 disappears (Fig. 2). As the rotating mirror 5 continues to rotate, strong light will again enter the light receiving element 9 at the next origin position (point g in Figure 2).
point).

つまり、回転ミラー5の回転に伴い受光素子9
を介して第2図と略同一波形の電圧信号が異物検
出回路10のコンパレータ11および12に入力
されるようになる。そして、コンパレータ11お
よび12は、前記原点位置において高いレベルの
電圧信号(以下、原点信号と呼ぶ)が入力された
時、共に「H」レベルの信号を送出し、低いレベ
ルの電圧信号が入力された時、「L」および「H」
レベルの信号を送出する。すなわち、コンパレー
タ11の反転入力端に設定される電圧V1は、第
2図のa点において入力される電圧値よりも低く
且つc点において入力される電圧値よりも高く設
定されており、コンパレータ12の反転入力端に
設定される電圧V2は第2図のc点において入力
される電圧値よりも低く設定されている。
In other words, as the rotating mirror 5 rotates, the light receiving element 9
A voltage signal having substantially the same waveform as that in FIG. 2 is input to comparators 11 and 12 of the foreign object detection circuit 10 through the voltage signal. Comparators 11 and 12 both send out "H" level signals when a high level voltage signal (hereinafter referred to as the origin signal) is input at the origin position, and when a low level voltage signal is input. "L" and "H"
Sends a level signal. That is, the voltage V1 set at the inverting input terminal of the comparator 11 is set lower than the voltage value inputted at point a in FIG. 2 and higher than the voltage value inputted at point c, and The voltage V 2 set at the inverting input terminal of No. 12 is set lower than the voltage value input at point c in FIG.

今、受光素子9に第2図のa点において強い光
が受光されたとする。この時、コンパレータ11
および12の出力は「H」レベルとなり、デイレ
イ回路18において所定時間が経過した後、カウ
ンタ13におけるカウント値がリセツトされる。
すなわち、デイレイ回路18の遅延時間τは、第
2図のa点において強い光が受光された後c点に
おいて弱い光が受光されるまでの時間よりも短く
設定されており、以降カウンタ13はコンパレー
タ12より送出される「H」レベルの信号の立ち
下がり回数をカウントする。しかして、第2図の
g点において再びコンパレータ11の出力が
「H」レベルとなると、ラツチ回路14がカウン
タ13におけるカウント値をラツチし、このラツ
チされたカウント値Naと基準カウント数設定器
15に設定されたカウント値Nとが比較器16に
て比較される。この時ラツチ回路14においてラ
ツチされるカウント値Naは、第2図のa点から
g点に達するまでの間(原点位置の1サイクル
中)に受光素子9に入射される弱い光の断続回数
であり、回転ミラー5の反射するスポツトビーム
に何らかの異物が作用した場合には、この断続回
数が部分ミラー7-1〜7-oの個数よりも少なくな
る。すなわち、回転ミラー5の反射するスポツト
ビームに異物が作用すると、部分ミラー7-1〜7
−oのいずれかにそのスポツトビームが照射されな
くなり、回転ミラー5およびハーフミラー4の鏡
面を経由して受光素子9に導かれる弱い光の断続
回数が減少する。つまり、回転ミラー5の反射す
るスポツトビームに何の異物も作用しない場合に
は、受光素子9に導かれる弱い光の断続回数は部
分ミラー7-1〜7-oの個数に等しく、基準カウン
ト数設定器15に設定されるカウント値Nがこの
部分ミラー7-1〜7-oの個数に等しく設定されて
いる。したがつて、回転ミラー5の反射するスポ
ツトビームに何らかの異物が作用した場合には、
比較器16における比較結果がNa<Nとなり、
ラツチ回路17より異物検出信号が送出されるよ
うになり、この異物検出信号より作業テーブル1
上の異物の存在を認識することが可能となる。
Now, suppose that strong light is received by the light receiving element 9 at point a in FIG. At this time, comparator 11
The outputs of and 12 go to the "H" level, and after a predetermined time has elapsed in the delay circuit 18, the count value in the counter 13 is reset.
That is, the delay time τ of the delay circuit 18 is set shorter than the time from when strong light is received at point a to when weak light is received at point c in FIG. The number of falls of the "H" level signal sent from 12 is counted. When the output of the comparator 11 becomes "H" level again at point g in FIG. A comparator 16 compares the count value N set to . The count value Na latched in the latch circuit 14 at this time is the number of intermittent periods of weak light incident on the light receiving element 9 from point a to point g in FIG. 2 (during one cycle of the origin position). If some foreign matter acts on the spot beam reflected by the rotating mirror 5, the number of interruptions will be smaller than the number of partial mirrors 7 -1 to 7 -o . That is, when a foreign object acts on the spot beam reflected by the rotating mirror 5, the partial mirrors 7 -1 to 7
-o is no longer irradiated with the spot beam, and the number of interruptions in the weak light guided to the light receiving element 9 via the mirror surfaces of the rotating mirror 5 and the half mirror 4 is reduced. In other words, when no foreign matter acts on the spot beam reflected by the rotating mirror 5, the number of intermittent periods of weak light guided to the light receiving element 9 is equal to the number of partial mirrors 7-1 to 7-o , and the reference count number The count value N set in the setting device 15 is set equal to the number of partial mirrors 7 -1 to 7 -o . Therefore, if any foreign matter acts on the spot beam reflected by the rotating mirror 5,
The comparison result in the comparator 16 is Na<N,
A foreign object detection signal is now sent from the latch circuit 17, and from this foreign object detection signal, the work table 1
It becomes possible to recognize the presence of foreign matter on the surface.

尚、本実施例においては、作業テーブル1上の
みならず、その周辺部までを含むθなる範囲角内
の全てが被異物検出板面となつており、この被異
物検出板面上の異物の存在が認識されることは言
うまでもない。また、本実施例においては異物の
存在のみを知るような構成としたが、どの位置の
部分ミラーに照射されるスポツトビームが遮光さ
れたかの情報をそのカウント値から知るように構
成することもでき、このようにすることによつて
異物の存在のみならず、その存在領域をも認識す
ることが可能となる。また、基準カウント数設定
器15に設定するカウント値は、部分ミラー7-1
〜7-oの個数が予め分るのでデジスイツチ等で設
定してもよいが、回転ミラー5のスポツトビーム
で部分ミラー7-1〜7-oの個数をサーチし、自動
的に設定するような構成としてもよい。さらに、
本実施例においてはハーフミラー4の鏡面に回転
ミラー5の反射光が直接照射される時点を原点位
置とし、この原点位置の1サイクル中にハーフミ
ラー4の鏡面に回転ミラー5の反射光が反射面7
を経由して間接的に照射される回数をカウントす
るようにしたが、必ずしも原点位置を基準として
カウントする必要はなく、回転ミラー5の1回転
毎にそのカウント値をリセツトするような構成と
してもよい。
In this embodiment, not only the top of the work table 1 but also the surrounding area thereof within the range angle θ is the foreign object detection plate surface, and the foreign object detection plate surface is Needless to say, their existence will be recognized. Further, in this embodiment, the configuration is such that only the presence of foreign matter is known, but it is also possible to configure the configuration so that information on which position of the partial mirror is blocked is known from the count value. By doing so, it becomes possible to recognize not only the presence of a foreign object but also the area where the foreign object exists. Also, the count value set in the reference count number setting device 15 is the partial mirror 7 -1
Since the number of partial mirrors 7 -1 to 7 -o is known in advance, it can be set using a digital switch, but it is also possible to search for the number of partial mirrors 7 -1 to 7 -o using the spot beam of the rotating mirror 5 and set it automatically. It may also be a configuration. moreover,
In this embodiment, the point in time when the mirror surface of the half mirror 4 is directly irradiated with the reflected light from the rotating mirror 5 is defined as the origin position, and during one cycle of this origin position, the reflected light from the rotating mirror 5 is reflected on the mirror surface of the half mirror 4. Face 7
Although the number of times of indirect irradiation via the irradiation is counted, it is not necessarily necessary to count based on the origin position, and the count value may be reset every time the rotating mirror 5 rotates. good.

〔考案の効果〕[Effect of idea]

以上説明したように本考案による光学式異物検
出装置によると、ハーフミラーを透過して照射さ
れる光の反射方向を回転ミラーを回転させながら
可変すると共に、被異物検出板面に隣接して、こ
の板面上を横断して照射される回転ミラーの反射
光を回転ミラーを経由してハーフミラーの鏡面に
導く反射面を断続的に配列し、前記ハーフミラー
の鏡面に回転ミラーの反射光が前記反射面を介し
て間接的に照射される回数をカウントし、このカ
ウント値に基づいて前記板面上の異物のり検出を
行うようにしたので、そのカウント値の大小によ
つて異物の検出が可能となり、従来のように多数
の発・受光素子を細かい間隔で配置せずとも、被
異物検出板面上の異物の検出を簡便な方法で精度
良く行うことができる。
As explained above, according to the optical foreign object detection device according to the present invention, the reflection direction of the light transmitted through the half mirror is varied while rotating the rotary mirror, and the Reflecting surfaces are arranged intermittently to guide the reflected light from the rotating mirror that is irradiated across the plate surface to the mirror surface of the half mirror via the rotating mirror, so that the reflected light from the rotating mirror is directed to the mirror surface of the half mirror. The number of times of indirect irradiation through the reflective surface is counted, and the foreign matter on the plate surface is detected based on this count value, so that the foreign matter can be detected depending on the size of the count value. This makes it possible to detect foreign objects on the surface of the foreign object detection plate in a simple manner and with high accuracy without arranging a large number of light emitting/receiving elements at close intervals as in the conventional method.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本考案に係る光学式異物検出装置の一
実施例を示す構成図、第2図はこの異物検出装置
の受光素子にて受光される光の強さを示す波形
図、第3図は回転ミラーの回転位置とこの回転ミ
ラーにおいて反射するスポツトビームの反射方向
との関係を示す平面図である。 1……作業テーブル、2……投光源、4……ハ
ーフミラー、5……回転ミラー、6……パルスモ
ータ、7……反射板、7-1〜7-o……部分ミラ
ー、9……受光素子、10……異物検出回路。
Fig. 1 is a configuration diagram showing an embodiment of the optical foreign object detection device according to the present invention, Fig. 2 is a waveform diagram showing the intensity of light received by the light receiving element of this foreign object detection device, and Fig. 3 1 is a plan view showing the relationship between the rotational position of a rotating mirror and the direction of reflection of a spot beam reflected on this rotating mirror; FIG. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1...Work table, 2...Light source, 4...Half mirror, 5...Rotating mirror, 6...Pulse motor, 7...Reflector, 7 -1 to 7 -o ...Partial mirror, 9... ...Light receiving element, 10... Foreign object detection circuit.

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】 ハーフミラーを透過して照射される光の反射方
向を回転しながら可変する回転ミラーと、 被異物検出板面に隣接して断続的に配列される
と共に、この板面上を横断して照射される前記回
転ミラーの反射光を反射し前記回転ミラーを経由
してハーフミラーの鏡面に導く反射面と、 前記ハーフミラーの鏡面に前記回転ミラーの反
射光が前記反射面を介して間接的に照射される回
数をカウントしこのカウント値に基づいて前記板
面上の異物の検出を行う異物検出手段と を備えてなる光学式異物検出装置。
[Claims for Utility Model Registration] A rotating mirror that changes the reflection direction of light transmitted through the half mirror while rotating; a reflecting surface that reflects the reflected light of the rotating mirror that is irradiated across the surface and guides the reflected light of the rotating mirror to the mirror surface of the half mirror via the rotating mirror; What is claimed is: 1. An optical foreign object detection device comprising foreign object detection means for counting the number of times of indirect irradiation through a surface and detecting foreign objects on the plate surface based on the counted value.
JP2513486U 1986-02-25 1986-02-25 Expired JPH048352Y2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2513486U JPH048352Y2 (en) 1986-02-25 1986-02-25

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