JPH0489328A - ガラスセラミック焼結体の製法 - Google Patents
ガラスセラミック焼結体の製法Info
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Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C14/00—Glass compositions containing a non-glass component, e.g. compositions containing fibres, filaments, whiskers, platelets, or the like, dispersed in a glass matrix
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、例えば、各種半導体部品を搭載したり、電気
信号の入出力端子などを取りつける多層配線基板の製造
に用いられるガラスセラミック焼結体の製法に関する。
信号の入出力端子などを取りつける多層配線基板の製造
に用いられるガラスセラミック焼結体の製法に関する。
[従来の技術]
LSIなどの各種電子部品を多数搭載する多層配線基板
においては小型化や高信幀性の要求に対応するために、
基板材料としてセラミックを利用することが広まってき
ている。セラミック材料としては比較的に高い強度を有
するアルミナが割れや欠けの生じにくい、好ましい材料
として多く使用されている。しかしアルミナ基板は比誘
電率が高く、多層配線板における電気信号の伝播速度が
遅く、高速化を要求される機器ではアルミナ基板より比
誘電率の低い基板が求められている。またアルミナの熱
膨張係数は搭載されるLSIなどの材料であるシリコン
の熱膨張係数の約2倍と高いため、熱膨張係数の差に起
因する故障の発生の問題がある。
においては小型化や高信幀性の要求に対応するために、
基板材料としてセラミックを利用することが広まってき
ている。セラミック材料としては比較的に高い強度を有
するアルミナが割れや欠けの生じにくい、好ましい材料
として多く使用されている。しかしアルミナ基板は比誘
電率が高く、多層配線板における電気信号の伝播速度が
遅く、高速化を要求される機器ではアルミナ基板より比
誘電率の低い基板が求められている。またアルミナの熱
膨張係数は搭載されるLSIなどの材料であるシリコン
の熱膨張係数の約2倍と高いため、熱膨張係数の差に起
因する故障の発生の問題がある。
これらの問題を解決するために、発明者らは比誘電率お
よび、熱膨張係数の低い基板材料として焼結後の結晶構
造が主としてα−コージェライトとなるガラス組成物の
開発を行ったが、このガラス組成物を用いて得られる基
板の性能は比誘電率および熱膨張係数については低く、
優れているが抗折強度は120〜170MPaと低く、
そのために配線板とした場合、配線板に電気信号の入出
力用ピンをろう付は等で取りつける際に、ろう材と基板
との熱膨張差で生じる熱応力で割れが生じる問題や、ろ
う付は後に負荷応力が加わった時ろう付は部で基板の剥
離などが生じ、そのため導通不良などの故障が発生する
問題があった。
よび、熱膨張係数の低い基板材料として焼結後の結晶構
造が主としてα−コージェライトとなるガラス組成物の
開発を行ったが、このガラス組成物を用いて得られる基
板の性能は比誘電率および熱膨張係数については低く、
優れているが抗折強度は120〜170MPaと低く、
そのために配線板とした場合、配線板に電気信号の入出
力用ピンをろう付は等で取りつける際に、ろう材と基板
との熱膨張差で生じる熱応力で割れが生じる問題や、ろ
う付は後に負荷応力が加わった時ろう付は部で基板の剥
離などが生じ、そのため導通不良などの故障が発生する
問題があった。
[発明が解決しようとする課題]
本発明の課題は比誘電率および熱膨張係数が低く、かつ
強度の強い焼結体が得られるガラスセラミンク焼結体の
製法を提供することにある。
強度の強い焼結体が得られるガラスセラミンク焼結体の
製法を提供することにある。
[課題を解決するための手段]
本発明は、組成が、
5iox :4B〜63重量%
A110x:10〜25重量%
MgO:10〜25重量%
B、O! : 4〜10重量%
の成分を有し、かつMgO成分全体に対して0〜20重
量%のMgOが、Ca02BaO1SrOの中から選ば
れた一種類以上の成分で置換さているガラス組成物粉末
に、ウィスカーを配合して得られるウィスカー配合ガラ
ス組成物を焼結することを特徴とするガラスセラミック
焼結体の製法である。
量%のMgOが、Ca02BaO1SrOの中から選ば
れた一種類以上の成分で置換さているガラス組成物粉末
に、ウィスカーを配合して得られるウィスカー配合ガラ
ス組成物を焼結することを特徴とするガラスセラミック
焼結体の製法である。
本発明のガラス組成物粉末は焼結後の結晶構造が主とし
てα−コージェライトとなるSingAlgOs M
gOを主成分とするガラス組成物の一種である。S i
oz Alg Os MgOを主成分とするガラス
組成物粉末を用いて得られる焼結体は比誘電率が低(、
熱膨張係数がシリコンに近い値となるが、成分の配合割
合によっては1o o o ’c以下の焼結温度では緻
密な焼結体が得られない場合がある。
てα−コージェライトとなるSingAlgOs M
gOを主成分とするガラス組成物の一種である。S i
oz Alg Os MgOを主成分とするガラス
組成物粉末を用いて得られる焼結体は比誘電率が低(、
熱膨張係数がシリコンに近い値となるが、成分の配合割
合によっては1o o o ’c以下の焼結温度では緻
密な焼結体が得られない場合がある。
ガラス組成物の焼結法により製造される多層配線基板は
、通常導体をガラス組成物および有機バインダーなどよ
りなるグリーンシート上に形成したものを焼結して製造
される。このグリーンシート上に形成する導体としては
Au、Ag、Ag−Pd、Cuなどの低抵抗の金属が好
ましい、これらの金属の融点は1000℃付近にあるた
め、導体を溶融させずに多層配線基板を得るためには、
グリーンシートの焼結温度は1000℃以下であること
が望ましい0本発明ではこの点に鑑み、焼結を1000
℃以下で行った場合でも、緻密な焼結体となるS lo
z −Al1 Os −MgOを主成分とするガラス組
成物粉末を原料に用いるものである。このようなガラス
組成物粉末の組成はStow :48〜63重量% A1tO,:i0〜25重量% MgO:10〜25重量% BxOs :4〜10重量% の成分を有し、かつMgO成分全体の0〜20重量%の
MgOがCaO,BaO1SrOの中から選ばれたアル
カリ土類金属酸化物の少なくとも一種類以上ので置換さ
れてなる組成である。ガラス組成物粉末の組成が上記の
組成内であることが重要である理由を以下に各成分毎に
説明する。
、通常導体をガラス組成物および有機バインダーなどよ
りなるグリーンシート上に形成したものを焼結して製造
される。このグリーンシート上に形成する導体としては
Au、Ag、Ag−Pd、Cuなどの低抵抗の金属が好
ましい、これらの金属の融点は1000℃付近にあるた
め、導体を溶融させずに多層配線基板を得るためには、
グリーンシートの焼結温度は1000℃以下であること
が望ましい0本発明ではこの点に鑑み、焼結を1000
℃以下で行った場合でも、緻密な焼結体となるS lo
z −Al1 Os −MgOを主成分とするガラス組
成物粉末を原料に用いるものである。このようなガラス
組成物粉末の組成はStow :48〜63重量% A1tO,:i0〜25重量% MgO:10〜25重量% BxOs :4〜10重量% の成分を有し、かつMgO成分全体の0〜20重量%の
MgOがCaO,BaO1SrOの中から選ばれたアル
カリ土類金属酸化物の少なくとも一種類以上ので置換さ
れてなる組成である。ガラス組成物粉末の組成が上記の
組成内であることが重要である理由を以下に各成分毎に
説明する。
Sin、の組成割合が63重量%を越えるとガラス溶融
温度が上昇するとともに、焼結時にガラス粒子表面が急
激に結晶化するため焼結を助けるガラス相が不足し、緻
密な焼結体が得難(なる。
温度が上昇するとともに、焼結時にガラス粒子表面が急
激に結晶化するため焼結を助けるガラス相が不足し、緻
密な焼結体が得難(なる。
48重量%未満であるとガラス粉末の結晶化温度が上昇
し、緻密な焼結体が得られる焼結温度が高くなり、10
00°C以下で焼結した場合、未焼結の状態の焼結体し
か得られない問題が生じる。
し、緻密な焼結体が得られる焼結温度が高くなり、10
00°C以下で焼結した場合、未焼結の状態の焼結体し
か得られない問題が生じる。
A1.O,の組成割合については、25重量%を越える
と緻密な焼結体が得られる焼結温度が高くなり、100
0℃以下で焼結した場合、未焼結の状態の焼結体しか得
られない問題が生じる。10重量%未満であるとα−コ
ージェライト結晶が少なくなり、Sing MgO系
の結晶が多く析出し、比誘電率が高くなる問題を生じる
。
と緻密な焼結体が得られる焼結温度が高くなり、100
0℃以下で焼結した場合、未焼結の状態の焼結体しか得
られない問題が生じる。10重量%未満であるとα−コ
ージェライト結晶が少なくなり、Sing MgO系
の結晶が多く析出し、比誘電率が高くなる問題を生じる
。
MgOの組成割合については25重量%を越えると、ケ
イ酸マグネシウムが析出するためと推定されるが、焼結
時の変形が大きくなり、実用性に乏しくなる。10重量
%未満であると緻密な焼結体を得られないという問題を
生じる。
イ酸マグネシウムが析出するためと推定されるが、焼結
時の変形が大きくなり、実用性に乏しくなる。10重量
%未満であると緻密な焼結体を得られないという問題を
生じる。
B、O,の組成割合については、10重量%を越えると
、焼結時に発泡しやすくなり、焼結可能な温度範囲が狭
くなると共に、焼結体の強度が低下する問題が生じる。
、焼結時に発泡しやすくなり、焼結可能な温度範囲が狭
くなると共に、焼結体の強度が低下する問題が生じる。
4重量%未満であると、ガラス粒子表面層の結晶化が2
.激に進み、1000℃以下の焼結では緻密な焼結体が
得られない問題が生じる。
.激に進み、1000℃以下の焼結では緻密な焼結体が
得られない問題が生じる。
MgOを置換するアルカリ土類金属酸化物に関しては、
緻密な焼結体が得られるように、必要に応じ適宜用いう
るが、アルカリ土類金属酸化物がMgOの20重量%を
越えると、MgO成分が少なくなり、α−コージェライ
ト結晶の析出が悪くなり比誘電率が高くなる問題が生じ
る。
緻密な焼結体が得られるように、必要に応じ適宜用いう
るが、アルカリ土類金属酸化物がMgOの20重量%を
越えると、MgO成分が少なくなり、α−コージェライ
ト結晶の析出が悪くなり比誘電率が高くなる問題が生じ
る。
本発明は、前記のガラス組成物粉末とウィスカーとから
なるウィスカー配合ガラス組成物を焼結してガラスセラ
ミック焼結体とするものであり、このようにして得られ
る焼結体は、ウィスカーを配合していないガラス組成物
の焼結体に比べ、強度が大幅に改善される特徴を有する
。これはウィスカーが焼結体において破壊エネルギーの
散逸源として作用し、破壊に必要なエネルギーを増大さ
せるため焼結体の強度が向上するものと考えられる。
なるウィスカー配合ガラス組成物を焼結してガラスセラ
ミック焼結体とするものであり、このようにして得られ
る焼結体は、ウィスカーを配合していないガラス組成物
の焼結体に比べ、強度が大幅に改善される特徴を有する
。これはウィスカーが焼結体において破壊エネルギーの
散逸源として作用し、破壊に必要なエネルギーを増大さ
せるため焼結体の強度が向上するものと考えられる。
本発明における、ウィスカーの配合割合は密度換算でウ
ィスカーを配合したガラス組成物全体の50体積%以下
であることが重要である。(以下の体積%はすべで密度
換算により求めた値である)ウィスカーの配合割合が5
0体積%を越えると、焼結性が阻害され、緻密な焼結体
が得られず、焼結体の強度が低くなる問題が生じるため
である。
ィスカーを配合したガラス組成物全体の50体積%以下
であることが重要である。(以下の体積%はすべで密度
換算により求めた値である)ウィスカーの配合割合が5
0体積%を越えると、焼結性が阻害され、緻密な焼結体
が得られず、焼結体の強度が低くなる問題が生じるため
である。
ただし、ウィスカーが炭化珪素である場合は炭化珪素の
比誘電率が比較的大きいため、ウィスカー配合ガラス組
成物全体の10体積%以下の割合にとどめることが低い
比誘電率の焼結体を得るためには望ましい。
比誘電率が比較的大きいため、ウィスカー配合ガラス組
成物全体の10体積%以下の割合にとどめることが低い
比誘電率の焼結体を得るためには望ましい。
また、ウィスカーの配合割合が少なすぎると、焼結体の
強度を向上させる効果が乏しくなるため、ウィスカーを
配合ガラス組成物全体の2体積%以上のウィスカーが配
合されていることが望ましい。
強度を向上させる効果が乏しくなるため、ウィスカーを
配合ガラス組成物全体の2体積%以上のウィスカーが配
合されていることが望ましい。
ウィスカーが焼結体において、破壊エネルギーの散逸源
として作用するには、ウィスカーは焼結後の焼結体中に
ウィスカーとして分散していることが望ましく、ガラス
組成物粉末の焼結温度では溶融し難い窒化珪素、ホウ酸
アルミ、炭化珪素のウィスカーが好適である。
として作用するには、ウィスカーは焼結後の焼結体中に
ウィスカーとして分散していることが望ましく、ガラス
組成物粉末の焼結温度では溶融し難い窒化珪素、ホウ酸
アルミ、炭化珪素のウィスカーが好適である。
本発明の製法によるガラスセラミック焼結体の用途は前
記した多層配線基板が好適であるが、これに限定される
ものではなく、高強度、低い比誘電率、低い熱膨張係数
を必要とする各種分野に適用可能である。
記した多層配線基板が好適であるが、これに限定される
ものではなく、高強度、低い比誘電率、低い熱膨張係数
を必要とする各種分野に適用可能である。
[作用]
本発明ガラス組成物粉末は焼結後の焼結体が低い比誘電
率、低い熱膨張係数となる作用をする。
率、低い熱膨張係数となる作用をする。
また、このガラス組成物粉末と複合するウィスカーは焼
結体中に分散させられていることにより、破壊エネルギ
ーの散逸源として作用し、焼結体の破壊に必要なエネル
ギーを増大させる作用をする。
結体中に分散させられていることにより、破壊エネルギ
ーの散逸源として作用し、焼結体の破壊に必要なエネル
ギーを増大させる作用をする。
[実施例]
本発明の実施例および比較例について、その製法および
得られた焼結体の性能試験の結果について説明する。
得られた焼結体の性能試験の結果について説明する。
各実施例および比較例についてのウィスカー配合ガラス
組成物の製法および焼結体の製法は次のようにして行っ
た。
組成物の製法および焼結体の製法は次のようにして行っ
た。
各配合成分(S 10 t 、A I ! Os 、M
g O5B20.など)を第1表に示す割合で配合し
、それぞれをアルミナ質ルツボに入れ、約1500〜1
550℃で加熱し溶解した。得られた溶融液を水中に投
下し、ガラス組成物とした後、アルミナ質ボールミル中
で湿式粉砕または乾式粉砕をし、平均粒径2〜4μmの
ガラス組成物粉末を得た。
g O5B20.など)を第1表に示す割合で配合し
、それぞれをアルミナ質ルツボに入れ、約1500〜1
550℃で加熱し溶解した。得られた溶融液を水中に投
下し、ガラス組成物とした後、アルミナ質ボールミル中
で湿式粉砕または乾式粉砕をし、平均粒径2〜4μmの
ガラス組成物粉末を得た。
第1表のc−1〜G−10のガラス組成物粉末は本発明
の組成範囲内の組成のガラス組成物粉末であり、G−1
1〜G−14のガラス組成物粉末は本発明の組成範囲を
外れた組成のガラス組成物粉末である。
の組成範囲内の組成のガラス組成物粉末であり、G−1
1〜G−14のガラス組成物粉末は本発明の組成範囲を
外れた組成のガラス組成物粉末である。
こうして得られたガラス組成物粉末に対して、各種のウ
ィスカーを第2表および第3表に示す体積分率(配合物
全体に対する体積%)で配合し、ナイロン賞ボールミル
中でエチルアルコールを添加して24時時間式混合し、
乾燥し、ウィスカー配合ガラス組成物を得た。なお、各
種のウィスカーはいずれも市販の、平均直径0.5〜1
.0μm、平均長さlO〜1100tI前後のものであ
り、ガラス組成物粉末と配合する前に、純水中で超音波
を照射した後、開口径50μm(#325メツシュ)の
フィルターを通過させたものを用いた。
ィスカーを第2表および第3表に示す体積分率(配合物
全体に対する体積%)で配合し、ナイロン賞ボールミル
中でエチルアルコールを添加して24時時間式混合し、
乾燥し、ウィスカー配合ガラス組成物を得た。なお、各
種のウィスカーはいずれも市販の、平均直径0.5〜1
.0μm、平均長さlO〜1100tI前後のものであ
り、ガラス組成物粉末と配合する前に、純水中で超音波
を照射した後、開口径50μm(#325メツシュ)の
フィルターを通過させたものを用いた。
こうして得られたウィスカー配合ガラス組成物を黒鉛製
モールドを用いて、アルゴン雰囲気中、昇温スピード1
0℃/分、焼結温度1000℃、保持時間1時間、プレ
ス圧力35MPaの条件下でホットプレス焼結し、50
mm−の円盤状のウィスカー複合ガラスセラミック焼結
体を得た。得られた50mmφの円盤状のウィスカー複
合ガラスセラミック焼結体について、周波数IMHzに
おける比誘電率を測定した。またこの焼結体から切断お
よび研削加工により、4X3X35mmの寸法の試験片
を作成し、熱膨張係数およびJIS−R1601の3点
曲げによる抗折強度の測定を行った。その結果を第2表
、第3表に示す。
モールドを用いて、アルゴン雰囲気中、昇温スピード1
0℃/分、焼結温度1000℃、保持時間1時間、プレ
ス圧力35MPaの条件下でホットプレス焼結し、50
mm−の円盤状のウィスカー複合ガラスセラミック焼結
体を得た。得られた50mmφの円盤状のウィスカー複
合ガラスセラミック焼結体について、周波数IMHzに
おける比誘電率を測定した。またこの焼結体から切断お
よび研削加工により、4X3X35mmの寸法の試験片
を作成し、熱膨張係数およびJIS−R1601の3点
曲げによる抗折強度の測定を行った。その結果を第2表
、第3表に示す。
第2表に示す実施例1〜11は本発明の組成範囲内の組
成のガラス組成物粉末を用いて実施したものであり、何
れの場合も得られた抗折強度は209〜391MPaと
高い値を示しており、また比誘電率および熱膨張係数も
実用上、十分な値が得られた。この結果から本発明の実
施例の焼結体は、比誘電率が低く、熱膨張係数が低(、
かつ強度が強いことが実証された。
成のガラス組成物粉末を用いて実施したものであり、何
れの場合も得られた抗折強度は209〜391MPaと
高い値を示しており、また比誘電率および熱膨張係数も
実用上、十分な値が得られた。この結果から本発明の実
施例の焼結体は、比誘電率が低く、熱膨張係数が低(、
かつ強度が強いことが実証された。
これに対し、第3表の比較例1〜4ではウィスカーの配
合割合が60〜70体積%と50体積%より多いため、
緻密な焼結体が得られず、抗折強度は47〜118MP
aと低い値であった。また、第3表の比較例5〜8では
ガラス組成物粉末の各成分の配合割合が本発明の組成範
囲を外れたものであり、この場合ウィスカーを配合する
ことにより、さらに焼結性が悪くなり、ウィスカーの配
合割合が10体積%であるにもかかわらす1000°C
の焼結では緻密な焼結体が得られず、抗折強度は78〜
148MPaと低い値であった。
合割合が60〜70体積%と50体積%より多いため、
緻密な焼結体が得られず、抗折強度は47〜118MP
aと低い値であった。また、第3表の比較例5〜8では
ガラス組成物粉末の各成分の配合割合が本発明の組成範
囲を外れたものであり、この場合ウィスカーを配合する
ことにより、さらに焼結性が悪くなり、ウィスカーの配
合割合が10体積%であるにもかかわらす1000°C
の焼結では緻密な焼結体が得られず、抗折強度は78〜
148MPaと低い値であった。
[発明の効果コ
本発明の製法によるガラスセラミック焼結体は、比誘電
率が低く、熱膨張係数が低く、かつ強度が強い焼結体と
なるため、多層配線基板とするに好適なガラスセラミッ
ク焼結体の提供が可能となった。
率が低く、熱膨張係数が低く、かつ強度が強い焼結体と
なるため、多層配線基板とするに好適なガラスセラミッ
ク焼結体の提供が可能となった。
Claims (3)
- (1)組成が、 SiO_2:48〜63重量% Al_2O_3:10〜25重量% MgO:10〜25重量% B_2O_3:4〜10重量% の成分を有し、かつMgO成分全体に対して0〜20重
量%のMgOが、CaO、BaO、SrOの中から選ば
れた一種類以上の成分で置換さているガラス組成物粉末
に、ウィスカーを配合して得られるウィスカー配合ガラ
ス組成物を焼結することを特徴とするガラスセラミック
焼結体の製法。 - (2)ウィスカーの配合割合が密度換算でウィスカー配
合ガラス組成物全体の50体積%以下であることを特徴
とする特許請求の範囲第1項記載のガラスセラミック焼
結体の製法。 - (3)ウィスカーが、窒化珪素、ホウ酸アルミ、炭化珪
素の中から選ばれた少なくとも一種以上であることを特
徴とする特許請求の範囲第1項または第2項の記載のガ
ラスセラミック焼結体の製法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20357790A JPH0489328A (ja) | 1990-07-31 | 1990-07-31 | ガラスセラミック焼結体の製法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20357790A JPH0489328A (ja) | 1990-07-31 | 1990-07-31 | ガラスセラミック焼結体の製法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0489328A true JPH0489328A (ja) | 1992-03-23 |
Family
ID=16476417
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20357790A Pending JPH0489328A (ja) | 1990-07-31 | 1990-07-31 | ガラスセラミック焼結体の製法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0489328A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5747396A (en) * | 1996-02-29 | 1998-05-05 | Tdk Corporation | Glass and ceramic substrate using the same |
-
1990
- 1990-07-31 JP JP20357790A patent/JPH0489328A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5747396A (en) * | 1996-02-29 | 1998-05-05 | Tdk Corporation | Glass and ceramic substrate using the same |
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