JPH0489560A - Correction of gas chromatography - Google Patents
Correction of gas chromatographyInfo
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- JPH0489560A JPH0489560A JP20394090A JP20394090A JPH0489560A JP H0489560 A JPH0489560 A JP H0489560A JP 20394090 A JP20394090 A JP 20394090A JP 20394090 A JP20394090 A JP 20394090A JP H0489560 A JPH0489560 A JP H0489560A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、キャリアガスによって移送されてくるサンプ
ルガスの濃度を熱伝導度検出器により検出するガスクロ
マトグラフ装置に関し、特にこの装置の熱伝導度検出器
の特性値のばらつきを補正するガスクロマトグラフの補
正方法に関するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a gas chromatograph device that detects the concentration of a sample gas transported by a carrier gas using a thermal conductivity detector. The present invention relates to a gas chromatograph correction method for correcting variations in detector characteristic values.
[従来の技術]
従来のこの種のガスクロマトグラフ装置の要部の構成を
第4図に示す。[Prior Art] The configuration of the main parts of a conventional gas chromatograph apparatus of this type is shown in FIG.
同図において、1は被計測用のサンプルガス、2は移動
相であるキャリアガス、3.4は到来するガスの濃度、
すなわちその温度を抵抗値の変化により検出する熱伝導
度検出器(以下、TCDセンサ)、5はこれらTCDセ
ンサヘ一定電流を供給する定電流源、6はゲインアンプ
部、7はゲイン部、R1,rは抵抗、aはゲイン切換信
号、■はゲインアンプ部6の出力電圧信号である。In the figure, 1 is the sample gas to be measured, 2 is the carrier gas which is the mobile phase, 3.4 is the concentration of the arriving gas,
That is, a thermal conductivity detector (hereinafter referred to as a TCD sensor) detects the temperature by a change in resistance value, 5 is a constant current source that supplies a constant current to these TCD sensors, 6 is a gain amplifier section, 7 is a gain section, R1, r is a resistance, a is a gain switching signal, and ■ is an output voltage signal of the gain amplifier section 6.
そして、従来の装置は、TCDセンサ3,4としてフィ
ラメントやサーミスタを用い、これらTCDセンサ3,
4と抵抗R1,rとを第2図に示すようなブリッジ構成
にしてサンプルガス1の濃度を検出している。すなわち
、TCDセンサ4は常時キャリアガス2を検出しており
、また、TCDセンサ3も、通常は、キャリアガス2を
検出している、この場合、このブリッジ回路は平衡状態
となっており、従ってゲインアンプ部6の2つの入力電
圧間に電位差が生じないことから、このゲインアンプ部
6の出力電圧は0■となっている。The conventional device uses filaments and thermistors as the TCD sensors 3 and 4, and these TCD sensors 3 and
4 and resistors R1 and r in a bridge configuration as shown in FIG. 2 to detect the concentration of the sample gas 1. That is, the TCD sensor 4 always detects the carrier gas 2, and the TCD sensor 3 also normally detects the carrier gas 2. In this case, this bridge circuit is in an equilibrium state, and therefore Since no potential difference occurs between the two input voltages of the gain amplifier section 6, the output voltage of the gain amplifier section 6 is 0.
その後、キャリアガス2に続きサンプルガス1が移送さ
れてくると、TCDセンサ3においてこのサンプルガス
1の温度が検出され、この結果、TCDセンサ3の抵抗
値が変化することから、ブリッジ回路が不平衡となって
ゲインアンプ部6の2つの入力電圧間に電位差が生じ、
従って、第5図のグラフに示されるように、ゲインアン
プ部6の出力電圧■はOVから上昇し、このサンプルガ
ス1がTCDセンサ3を通過すると低下して再びOVに
なる。第5図のグラフは、このようなサンプルガスが3
種、成る時間間隔でTCDセンサ3に移送されてきた場
合のゲインアンプ部6の出力電圧を示している。After that, when sample gas 1 is transferred following carrier gas 2, the temperature of sample gas 1 is detected by TCD sensor 3, and as a result, the resistance value of TCD sensor 3 changes, so the bridge circuit is disabled. In equilibrium, a potential difference is generated between the two input voltages of the gain amplifier section 6,
Therefore, as shown in the graph of FIG. 5, the output voltage (2) of the gain amplifier section 6 rises from OV, and when this sample gas 1 passes through the TCD sensor 3, it drops and becomes OV again. The graph in Figure 5 shows that such a sample gas
The output voltage of the gain amplifier unit 6 is shown when the voltage is transferred to the TCD sensor 3 at different time intervals.
そして、このTCDセンサ3.4は、それぞれ個々に特
性値が異なっていてこれらの間にばらつきがあるので、
これらの特性値のばらつきを補正するため、この装置の
1台毎に、上記したガスとは異なる標準ガスを入れて個
々のTCDセンサを校正するようにしている。Each of the TCD sensors 3.4 has different characteristic values and there are variations between them.
In order to correct for variations in these characteristic values, each TCD sensor is calibrated by adding a standard gas different from the above-mentioned gas to each of the devices.
[発明が解決しようとする課題」
上述した従来のガスクロマトグラフの補正方法は、TC
Dセンサの抵抗値およびこの温度が測定できないため、
装置1台毎に、標準ガスを入れて個々のTCDセンサ特
性値のばらつきを校正するようにしているので、多大な
工数とこのための出費を余儀なくされるという問題があ
った。[Problem to be solved by the invention] The conventional gas chromatograph correction method described above is based on the TC
Since the resistance value of the D sensor and this temperature cannot be measured,
Since a standard gas is introduced into each device to calibrate variations in the characteristic values of individual TCD sensors, there is a problem in that a large amount of man-hours and expense are required.
[課題を解決するための手段]
このような課題を解決するために本発明に係るガスクロ
マトグラフの補正方法は、TCDセンサの温度に対する
抵抗の変化の割合を感度値として算出するとともに、こ
の算出された感度値を標準の校正データとして保有し、
この校正データに基づいてTCDセンサの特性値のばら
つきを補正するようにした方法である。[Means for Solving the Problems] In order to solve such problems, the gas chromatograph correction method according to the present invention calculates the rate of change in resistance with respect to temperature of the TCD sensor as a sensitivity value, and The sensitivity values obtained are retained as standard calibration data.
This method corrects variations in the characteristic values of the TCD sensor based on this calibration data.
1作用]
保有した感度値に基づきTCDセンサの特性値のばらつ
きが補正される。1 Effect] Variations in the characteristic values of the TCD sensor are corrected based on the held sensitivity values.
「実施例1 次に、本発明について図面を参照して説明する。“Example 1 Next, the present invention will be explained with reference to the drawings.
第1図は、本発明のガスクロマトグラフの補正方法を適
用した装置の一実施例を示すブロック図である。同図に
おいて、第4図の従来の構成図と同等部分は同一符号を
付してその説明を省略する。FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of an apparatus to which the gas chromatograph correction method of the present invention is applied. In this figure, the same parts as those in the conventional configuration diagram of FIG. 4 are given the same reference numerals, and the explanation thereof will be omitted.
第1図において、10は恒温漕であり、この恒温漕10
の中は、アナライザバルブ11、サンプルガス1とキャ
リアガス2とを通過させるカラム12、サンプルガス1
の濃度、すなわちその温度を抵抗の値の変化により検出
するTCDセンサ13から構成される。また、14はT
CDセンサ13へ供給される定電流を切り換える電流切
換部、15は加算回路、16はベースライン電圧をキャ
ンセルするベースラインキャンセル電圧発生部、17は
ゲインアンプ部6のゲインを選択して切り換えるゲイン
選択部、18は電圧信号を周波数に変換してディジタル
のカウント値として送出する電圧・周波数変換部、20
はCPUである。In FIG. 1, 10 is a constant temperature bath, and this constant temperature bath 10
Inside, there is an analyzer valve 11, a column 12 for passing sample gas 1 and carrier gas 2, and sample gas 1.
It is composed of a TCD sensor 13 that detects the concentration of , that is, its temperature, by a change in the value of resistance. Also, 14 is T
A current switching unit that switches the constant current supplied to the CD sensor 13, 15 an addition circuit, 16 a baseline cancel voltage generation unit that cancels the baseline voltage, and 17 a gain selection that selects and switches the gain of the gain amplifier unit 6. A voltage/frequency conversion unit 20 converts the voltage signal into a frequency and sends it out as a digital count value.
is the CPU.
まず、所定のサンプルガス1の濃度を検出するために、
CPU20は、このサンプルガス1の検出に適合するよ
うにTCDセンサ13への供給電流を電流切換部14を
切り換えることにより供給しておく。そして、TCDセ
ンサ13へキャリアガス2が到来している間は、TCD
センサ13の出力電圧は、一定値となって加算回路15
の一方の入力端子へ供給されており、この電圧信号は加
算回路15を介し、さらにゲインアンプ部6により所定
のゲインで増幅されて電圧・周波数変換部18に送出さ
れる。一方、電圧・周波数変換部18においては、この
入力した電圧信号に応じた周波数の信号を生成するとと
もにこの生成された周波数信号を計数しこのディジタル
の計数値をcpU20に伝達する。First, in order to detect the concentration of a predetermined sample gas 1,
The CPU 20 supplies current to the TCD sensor 13 by switching the current switching section 14 so as to be suitable for detecting the sample gas 1. Then, while the carrier gas 2 is arriving at the TCD sensor 13, the TCD
The output voltage of the sensor 13 becomes a constant value, and the output voltage of the sensor 13 becomes a constant value.
This voltage signal passes through the adder circuit 15, is further amplified by a predetermined gain by the gain amplifier section 6, and is sent to the voltage/frequency conversion section 18. On the other hand, the voltage/frequency converter 18 generates a signal with a frequency corresponding to the input voltage signal, counts the generated frequency signal, and transmits the digital count value to the CPU 20.
CPU20は、ディジタルの計数値を入力し、このキャ
リアガス2の到来による電圧値(ベースライン電圧値)
を判定し、ベースラインキャンセルミ圧発生部16を駆
動して上記において判定した電圧値だけ加算回路15か
ら減じさせる制御を行う、こうして、キャリアガス2の
到来中には、ベースライン電圧がキャンセルされている
ので、CPU20への入力電圧はOvに設定されている
。The CPU 20 inputs the digital count value and calculates the voltage value (baseline voltage value) due to the arrival of the carrier gas 2.
is determined, and control is performed to drive the baseline cancel pressure generating section 16 to subtract from the adding circuit 15 by the voltage value determined above.In this way, the baseline voltage is canceled while the carrier gas 2 is arriving. Therefore, the input voltage to the CPU 20 is set to Ov.
その後、サンプルガス1がTCDセンサ13上に移送さ
れてくると、TCDセンサ13においては、その抵抗値
がキャリアガス2の到来時よりも大きく変動し、この結
果、TCDセンサ13からの出力電圧も大となって加算
回路15の一方の入力端子に送出される。After that, when the sample gas 1 is transferred onto the TCD sensor 13, the resistance value of the TCD sensor 13 changes more than when the carrier gas 2 arrives, and as a result, the output voltage from the TCD sensor 13 also changes. The signal becomes large and is sent to one input terminal of the adder circuit 15.
一方、加算回路15においては、ベースライン電圧がキ
ャンセルされているので、サンプルガス1に相当するだ
けの電圧信号を出力し、この出力された電圧信号は、上
記したと同様に、ゲインアンプ部6.電圧・周波数変換
部18を介し、ディジタルの計数値としてCPU20に
伝達される。On the other hand, since the baseline voltage has been canceled in the adder circuit 15, a voltage signal corresponding to the sample gas 1 is outputted, and this outputted voltage signal is sent to the gain amplifier section 6 as described above. .. It is transmitted to the CPU 20 as a digital count value via the voltage/frequency converter 18.
そして、CPU20ではこの伝達された計数値に基づい
てサンプルガス1の濃度分析が行われる。Then, the CPU 20 performs concentration analysis of the sample gas 1 based on the transmitted count value.
また、ゲインアンプ部6の出力電圧が低くサンプルガス
1の検出が不可能になる場合は、CPU20によりゲイ
ン選択部17が制御されることによってより高いゲイン
が選択され、この結果、ゲインアンプ部6からより高い
電圧信号が出力されてサンプルガス1を確実に検出する
ことができる。なお、ゲイン選択部17中の01は8倍
のゲインを選択するスイッチ、G2は40倍のゲインを
選択するスイッチ、G3は200倍のゲインを選択する
スイッチ、またGoは0倍のゲインを選択するスイッチ
である。Further, when the output voltage of the gain amplifier section 6 is low and detection of the sample gas 1 becomes impossible, a higher gain is selected by controlling the gain selection section 17 by the CPU 20, and as a result, the gain amplifier section 6 Since a higher voltage signal is output from the sample gas 1, the sample gas 1 can be reliably detected. Note that 01 in the gain selection section 17 is a switch that selects a gain of 8 times, G2 is a switch that selects a gain of 40 times, G3 is a switch that selects a gain of 200 times, and Go selects a gain of 0 times. This is a switch to
次に、以上のような動作を行うガスクロマトグラフ装置
のTCDセンサ13の抵抗値の補正方法について説明す
る。Next, a method of correcting the resistance value of the TCD sensor 13 of the gas chromatograph apparatus that operates as described above will be described.
TCDセンサ13として使用する抵抗体の抵抗値と温度
との関係は、一般に第3図のグラフに示すように、次の
ような2次式で近似される。The relationship between the resistance value of the resistor used as the TCD sensor 13 and the temperature is generally approximated by the following quadratic equation, as shown in the graph of FIG.
Ra =Ro (1+aT、 +b’rH2)、 +
111ここで、R,は基準温度における抵抗値[Ω]、
aは一次温度係数[1/”C]、bは二次温度係数[1
/’C2] であり、このときのTCDセンサの温度
TWIは、
T)I −T To [”C]
となる。また、TCDセンサ13の特性値は、個々にば
らつきがあると仮定して、抵抗値Ro。Ra = Ro (1+aT, +b'rH2), +
111 Here, R is the resistance value [Ω] at the reference temperature,
a is the first-order temperature coefficient [1/”C], b is the second-order temperature coefficient [1
/'C2], and the temperature TWI of the TCD sensor at this time is T) I - T To ["C]. Also, assuming that the characteristic values of the TCD sensor 13 vary individually, Resistance value Ro.
温度係数a、bをそれぞれデータとして入力し、CPU
20に記憶させる。Input the temperature coefficients a and b as data, and
20 to be memorized.
次に、第3図のグラフに示されるような、ベースライン
電圧に相当するTCDセンサ13の温度TH1すなわち
キャリアガス2の到来による温度T、を測定するが、こ
のためには、まず、第2図に示すブロック回路を用いて
ベースライン電圧における抵抗値RRを求めなければな
らない。Next, as shown in the graph of FIG. 3, the temperature TH1 of the TCD sensor 13 corresponding to the baseline voltage, that is, the temperature T due to the arrival of the carrier gas 2, is measured. The resistance value RR at the baseline voltage must be determined using the block circuit shown in the figure.
第2図はTCDセンサ13の抵抗値R)を計測する方法
を説明するための説明図である。同図において、22は
定電流源であり、これは電流切換部14の切換によりT
CDセンサ13へ一定電流を供給するものでこの電流値
■はCPU20に記憶されている。そして、TCDセン
サ13へキャリアガス2を移送したときの加算回路15
の出力電圧■2をゲインアンプ部6.電圧・周波数変換
部18を介してディジタルの計数値として読み込み、こ
の値が「0」になるような可変電圧■lをベースライン
キャンセル電圧発生部16を駆動して発生させる。こう
して発生した可変電圧V1が加算回路15の一方の入力
端子に印加されると、加算回路15の出力電圧値はOv
になり、CPU20はこの出力電圧値をゲインアンプ部
6.電圧・周波数変換部18を介して読み込んで確認す
るとともに、この可変電圧V□に相当する電圧値を記憶
する。FIG. 2 is an explanatory diagram for explaining a method of measuring the resistance value R) of the TCD sensor 13. In the same figure, 22 is a constant current source, which is controlled by switching the current switching section 14.
A constant current is supplied to the CD sensor 13, and this current value ■ is stored in the CPU 20. Addition circuit 15 when carrier gas 2 is transferred to TCD sensor 13
The output voltage ■2 of the gain amplifier section 6. It is read as a digital count value via the voltage/frequency converter 18, and the baseline canceling voltage generator 16 is driven to generate a variable voltage ■l that makes this value "0". When the variable voltage V1 generated in this way is applied to one input terminal of the adder circuit 15, the output voltage value of the adder circuit 15 is Ov
The CPU 20 outputs this output voltage value to the gain amplifier section 6. It is read and confirmed via the voltage/frequency converter 18, and the voltage value corresponding to this variable voltage V□ is stored.
そして、このときには、加算回路15の他方の入力端子
の電圧値は−V1となっているので、この場合のTCD
センサ13の抵抗値R8は次の式により求めることがで
きる。すなわち、R14=vl/I・・・・a
なお、ここで、CPU20は、この電圧値Vlおよび電
流値■を記憶しているので、上記の演算により抵抗値R
Hを計測して記憶することができる。At this time, since the voltage value of the other input terminal of the adder circuit 15 is -V1, the TCD in this case
The resistance value R8 of the sensor 13 can be determined by the following equation. That is, R14=vl/I...a Note that here, since the CPU 20 stores this voltage value Vl and current value ■, the resistance value R is determined by the above calculation.
H can be measured and stored.
こうして、抵抗値R,,R,および温度係数a、bをデ
ータとして記憶することにより、次の式(5)を演算し
てベースライン電圧における温度THを求めることがで
きる。すなわち、
式に基づいて補正される。In this way, by storing the resistance values R, , R and temperature coefficients a and b as data, it is possible to calculate the temperature TH at the baseline voltage by calculating the following equation (5). That is, it is corrected based on the formula.
または、
b
こうして、温度THが算出されると、次に(1)式を微
分してベースライン電圧近傍でのTCDセンサ13の感
度を求めることができる。すなわち、TH
このようにしてベースライン電圧近傍でのTCDセンサ
13の感度が算出されると、この感度値を標準の校正デ
ータとして記憶し、以降、サンプルガス1の到来時にお
いて第5図のグラフに示されるようなサンプルガス1の
ピーク高さPHまたはピーク面積PAを測定するととも
に、この測定値と記憶された感度値からピーク高さPH
またはピーク面積PAの各補正値がそれぞれ次のような
この結果、このピーク高さPHの補正値またはピーク面
積PHの補正値と記憶された標準の校正データとに基づ
いてサンプルガス1の濃度[v01%]を算出すること
ができる。or b Once the temperature TH is calculated in this way, the sensitivity of the TCD sensor 13 near the baseline voltage can be determined by differentiating equation (1). In other words, TH Once the sensitivity of the TCD sensor 13 near the baseline voltage is calculated in this way, this sensitivity value is stored as standard calibration data, and from then on, when sample gas 1 arrives, the graph shown in FIG. Measure the peak height PH or peak area PA of sample gas 1 as shown in , and calculate the peak height PH from this measurement value and the stored sensitivity value.
Or, each correction value of the peak area PA is as follows.As a result, the concentration of the sample gas 1 [ v01%] can be calculated.
このように、各種のガスが到来してTCDセンサ13の
温度が変化した場合でも、このTCDセンサ13の感度
値を標準の校正データとして記憶しておいてこれにより
TCDセンサ13の補正を行えば、各種のガスの計測毎
に標準ガスを入れて補正を行う必要がなくなる。In this way, even if the temperature of the TCD sensor 13 changes due to the arrival of various gases, the sensitivity value of the TCD sensor 13 can be stored as standard calibration data and the TCD sensor 13 can be corrected using this. , it is no longer necessary to add standard gas and perform correction every time various gases are measured.
[発明の効果コ
以上説明したように本発明に係るガスクロマトグラフの
補正方法は、熱伝導度検出器の温度に対する抵抗の変化
の割合を感度値として算出するとともに、この算出され
た感度値を標準の校正データとして保有し、この校正デ
ータに基づいて熱伝導度検出器の特性値のばらつきを補
正するようにしたので、標準ガスを用いることなく、熱
伝送度検出器の校正が行え、校正のための工数が大幅に
削減されるという効果がある。[Effects of the Invention] As explained above, the gas chromatograph correction method according to the present invention calculates the rate of change in resistance of the thermal conductivity detector with respect to temperature as a sensitivity value, and uses this calculated sensitivity value as a standard. Thermal conductivity detectors are stored as calibration data, and variations in the thermal conductivity detector's characteristic values are corrected based on this calibration data.Thermal conductivity detectors can be calibrated without using a standard gas, making the calibration easier. This has the effect of significantly reducing the number of man-hours required.
第1図は本発明に係るガスクロマトグラフの補正方法を
適用した装置のブロック図、第2図はこの補正方法を説
明するための図、第3図はこの装置に使用されるセンサ
の抵抗値と温度との関係を示すグラフ、第4図は従来の
ガスクロマトグラフの装置の構成図、第5図はこの装置
により検出されたガスの濃度状況を示すグラフである。
1・−・・サンプルガス、2・・・・キャリアカス、6
・・・・ゲインアンプ部、10・・・・恒温漕、11・
・・・アナライザバルブ、12・・・カラム、13・・
・・熱伝導度検出器(TCDセンサ)、14−・・・電
流切換部、15・−・・加算回路、16・・・−ベース
ラインキャンセル電圧発生部、17・・・・ゲイン選択
部、18・・・・電圧・周波数変換部、20・・・・C
PU、22・・・・定電流源。
特許出願人 山武ハネウェル株式会社Fig. 1 is a block diagram of a device to which the gas chromatograph correction method according to the present invention is applied, Fig. 2 is a diagram for explaining this correction method, and Fig. 3 shows the resistance value of the sensor used in this device. FIG. 4 is a graph showing the relationship with temperature, FIG. 4 is a block diagram of a conventional gas chromatograph device, and FIG. 5 is a graph showing the state of gas concentration detected by this device. 1...Sample gas, 2...Carrier cassette, 6
... Gain amplifier section, 10 ... Constant temperature bath, 11.
...Analyzer valve, 12...Column, 13...
...Thermal conductivity detector (TCD sensor), 14--Current switching section, 15--Addition circuit, 16--Baseline cancel voltage generation section, 17--Gain selection section, 18...Voltage/frequency conversion section, 20...C
PU, 22... Constant current source. Patent applicant Yamatake Honeywell Co., Ltd.
Claims (1)
熱伝導度検出器の抵抗値の変化により検出して前記サン
プルガスの濃度分析を行うガスクロマトグラフ装置にお
いて、 前記熱伝導度検出器の温度に対する抵抗の変化の割合を
感度値として算出するとともに、この算出された感度値
を標準の校正データとして保有し、この校正データに基
づいて該熱伝導度検出器の特性値のばらつきを補正する
ようにしたことを特徴とするガスクロマトグラフの補正
方法。[Scope of Claims] A gas chromatograph apparatus that analyzes the concentration of the sample gas by detecting the temperature of the sample gas transferred by a carrier gas by a change in the resistance value of a thermal conductivity detector, comprising: the thermal conductivity detector; The rate of change in resistance with respect to temperature is calculated as the sensitivity value, and this calculated sensitivity value is retained as standard calibration data, and variations in the characteristic values of the thermal conductivity detector are corrected based on this calibration data. A method for correcting a gas chromatograph, characterized in that:
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20394090A JPH0489560A (en) | 1990-08-02 | 1990-08-02 | Correction of gas chromatography |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20394090A JPH0489560A (en) | 1990-08-02 | 1990-08-02 | Correction of gas chromatography |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0489560A true JPH0489560A (en) | 1992-03-23 |
Family
ID=16482204
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20394090A Pending JPH0489560A (en) | 1990-08-02 | 1990-08-02 | Correction of gas chromatography |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0489560A (en) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58158552A (en) * | 1982-03-15 | 1983-09-20 | Yamatake Honeywell Co Ltd | Measurement of gas concentration with heat conductivity type detector for gas chromatograph |
-
1990
- 1990-08-02 JP JP20394090A patent/JPH0489560A/en active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58158552A (en) * | 1982-03-15 | 1983-09-20 | Yamatake Honeywell Co Ltd | Measurement of gas concentration with heat conductivity type detector for gas chromatograph |
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