JPH0489645A - 光磁気記録における信号検出方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、光磁気記録における信号検出方法に関する。

従来勿技権 光磁気記録においては、記録媒体に直線偏光を照射し、
記録媒体からの反射光ないしは透過光を情報光として検
知して、記録媒体の磁化の方向による偏光面の回転を検
出することによって記録情報を得ていた。また、記録媒
体の記録ビット上に正確にスポット光を照射すべく、上
記の情報光よりフォーカスエラー信号およびトラッキン
グエラー信号を検出し、これらをサーボ信号としてアク
チュエータをサーボ駆動していた。

第４図は、従来の光磁気記録媒体における信号検出方式
を示す基本構成である。

レーザーダイオード１１からの光は、コリメータレンズ
１３、整形プリズム１５、ビームスプリッタ１７を通過
し、アクチュエータの対物レンズ１９によりディスク２
１面に収束される。ディスク２１面からの反射光はビー
ムスプリッタ１７．１７２波長板２３を通過し、集光レ
ンズ５１．シリンドリカルレンズ５３により収束され、
検光子として働く偏光ビームスプリッタ５６に入射し、
分離されてフォトダイオード５７．５９にスポット入射
する。

２つのフォトダイオード５７．５９からの出力信号の差
を差動信号として出力し、磁化の方向として記録された
情報の読出しを行なう。一方、フォーカス・エラー信号
は、フォトダイオード５７より非点収差法により検出し
、対物レンズをフォーカス方向Ｆｏにサーボ駆動する。

一方、トラッキングエラー信号は、フォトダイオード５
９によりプッシュプル法（ファーフィールド法）により
検出され、これをサーボ信号として対物レンズ１９がト
ラッキング方向Ｔｒに駆動される。

しかしこの方式では、フォーカスエラー信号の検出に非
点収差法を用いるため、シリンドリカルレンズを用いる
必要があり、光学ヘッド（アクチュエータ）の小型化が
困難であった。

また、偏光ビームスプリッタを用いるため、Ｓ偏光とＰ
偏光とは垂直に分離され、２つのフォトダイオード５７
．５９の配置は第４図のようになって小型化ができない
。

偏光プリズムによりＰ偏光とＳ偏光とに分離し、この差
動出力を取ることにより光磁気信号を検出することは、
特開平１−１８９０５１号公報、同１−１８９０５２号
公報に記載されている。しかしこれらの方式では、フォ
ーカスエラー検出系およびトラッキングエラー検出系に
使用する光は、複屈折板の手前で分離されているため、
光学系および検出系が複雑となる。

明が解決しようとする課題 本発明は、構造が簡素化され、ヘッド全体の軽量化が可
能な光磁気記録における信号の検出方法を提供するもの
である。

光訓夙青双 本発明の光磁気記録における信号検出方法は光磁気記録
媒体からの情報光を、単軸結晶を光軸に対し斜めに切断
した複屈折材料を介して集光させ、常光成分のスポット
光と異常光成分のスポット光とに分離し、このスポット
光径の差力ラフオーカスエラー信号を検出することを特
徴とする。

咋−一一一月□ 単軸結晶を光軸に対し斜めに切断した複屈折材料に光が
入射すると、常光成分と異常光成分とは分かれる。この
両者は屈折率が異なるので、複屈折材料を通して光を収
束させると、屈折により常光成分と異常光成分とは結像
位置が異なり、例えば同一平面上に設けた受光素子上で
の照射スポット径が異なる。そこで、この変位置を検知
することによりフォーカスエラー信号、すなわち、適正
フォーカス位置からのアクチュエータ対物レンズのズレ
量を検出できる。

実施例 第１図は、本発明の信号検出方法の実施例を示す構成図
である。

レーザーダイオード１１からの光はコリメータレンズ１
３により平行光束となり、整形プリズム１５、ビームス
プリッタ１７を経て、アクチュエータに搭載された対物
レンズ１９により収束され、ディスク２１にスポットビ
ーム照射される。ディスク２１からの反射光は、磁化の
方向に偏光面が回転されている。この反射光は、対物レ
ンズ１９に再び入射して平行光束となり、ビームスプリ
ッタ１７．１／２波長板２３を経て、集光レンズ１９に
より収束されて、単軸結晶の複屈折材料からなる複屈折
板３３に入射する。

ここで、複屈折板３３は光軸に対して結晶の光学軸が傾
いており、複屈折板３３により、入射光は常光成分（Ｓ
偏光）と異常光成分（Ｐ偏光）とに分離される。そこで
、Ｓ偏光を第１の受光素子（フォトダイオード）３７に
入射せしめ、一方、Ｐ偏光を第２の受光素子３９に入射
せしめ、これらの差動出力を取ることにより差動信号、
すなわち光磁気信号を検出することができる。４１は差
動増幅器を示す。複屈折材料は、従来の偏光ビームスプ
リッタに比べて消光比が高いことから、Ｃ／Ｎ比が向上
する。

さらに、常光と異常光の屈折率の違いから、複屈折板３
３からの双方の結像距離は異なる。第２Ａ図および第２
Ｂ図は、この状態を示す説明図である。第２Ｂ図（第２
Ａ図のＢ部拡大図）から判るように、Ｓ偏光に比較して
、Ｐ偏光は複屈折板から近い位置で焦点を結んでいる。

そこで例えば、対物レンズ１９が中立点位置にある場合
において、Ｐ偏光の焦点位置ＦｐとＳ偏光の焦点位置Ｆ
ｓとの中間位置であって、両光とはぼ直行する同一平面
上に第１および第２の受光素子３７．３９を配置すれば
、２つの受光素子３７．３９には、同一径の円スポット
光が入射される。フォーカスエラーが生じ、ディスク２
１と対物レンズ１９との距離が適正値から変動すると、
第１および第２の受光素子３７．３９上で円スポット径
が変化するため、円スポット径の差としてフォーカスエ
ラー信号を検出することできる。

第３Ａ、Ｂ図は、このような検出に用いられる受光素子
の一例を示す説明図である。第１および第２の受光素子
３７．３９においては、受光面がａ、ｂ、ｃ、ｄまたは
ａ′、ｂ′、ａ′、ｄ′の帯域に４分割されており、こ
れら帯域の幅は、ａ＝ｂ＋ｃ＝ｄ（ｂ＝Ｃ）、ａ’　＝
ｂ’　＋ｃ’　＝ｄ’　（ｂ’　：＝ｃ’）である。い
ま理想的な場合を考えると、フォーカス位置が適正位置
にあるときは、第３Ａ図に示すように、Ｓ偏光のスポッ
ト光４３ｓおよびＰ偏光のスポット光４３Ｐは、第１お
よび第２の受光素子３７．３９の受光面の中央に、同じ
スポラ１〜径で入射している。

一方、フォーカスエラーが生じると、受光面上のスポッ
ト光４３ｓ、４３ｐは、例えば第３Ｂ図のようにスポッ
ト光径に変化が生じる。そこで、差動同心円法によりフ
ォーカスエラー信号が検出され、これをサーボ信号とし
て対物レンズをサーボ駆動する。具体的にフォーカスエ
ラー信号は、第１および第２の受光素子３７．３９の受
光面の光量から以下の演算により求められる。

（ａ＋ｄ十ｂ’り＋ｃ’）　−（ａ’　＋ｄ’　＋ｂ＋
ｃ）また、トラッキングエラーが生じると、光の強度分
布に偏りが生じるので、従来と同様のプッシュプル法に
より、いずれか一方の受光素子を用い、次の演算により
トラッキング信号が得られる。

（ａ十ｂ）　−（ｃ＋ｄ）または（ａ’　＋　ｂ’　）
　−（ｃ’　＋　ｄ’　）さらに、上記構成の受光素子
３７．３９を用いると、次の信号演算のようにトラッキ
ングエラー信号を２つの受光素子３７．３９からの受光
信号の差として取ることができ、ノイズレベルが低減し
、サーボ精度が向上する。

（（ａ十ｂ）　　（ｃ十ｄ））　　（（ｃ’＋ｄ’）−
（ａ’＋ｂ’））複屈折材料としては、ルチル結晶、方
解石、水晶等がある。

発明の効果 本発明によれば、光磁気記録媒体がらの情報光を、単軸
方向の複屈折材料を介して集光し、Ｓ偏光とＰ偏光とに
分け、これらのスポット光径の差からフォーカスエラー
信号を検出することにより、シリンドリカルレンズが不
要となり、構成が簡略化され、光学ヘッド全体の軽量化
が容易となる。

また、従来の偏光ビームスプリッタを用いた方式のよう
に、Ｓ偏光とＰ偏光とを垂直方向に分解する必要がなく
なり、Ｓ偏光とＰ偏光の検知素子を同一平面に配置する
ことが可能となり、構成を簡略化することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明の実施例を示す説明図、第２Ａ図はそ
の要部を示す説明図であり、第２Ｂ図は第２Ａ図のＢ部
付近の拡大図である。 第３Ａ、Ｂ図は、受光素子およびそのスポラト光の照射
状態を示す説明図である。 第４図は、従来例を示す説明図である。 １１・・レーザーダイオード　１３・・・コリメータレ
ンズ１５・・・整形プリズム　　　　１７・・ビームス
プリッタ２１・・・ディスク　　　　　　２３・・・１
７２波長板３１・・・集光レンズ　　　　　３３・・・
複屈折板３７・・・第１の受光素子　　　３９・第２の
受光素子４１・・差動増幅器　　　　　４３ｓ・・・Ｓ
偏光４３ｐ・・・Ｐ偏光

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １、光磁気記録媒体からの情報光を単軸結晶を光軸に対
   して斜めに切断した複屈折材料を介して集光させ、常光
   成分のスポット光と異常光成分のスポット光とに分離し
   、このスポット光径の差からフォーカスエラー信号を検
   出することを特徴とする光磁気記録における信号検出方
   法。