JPH0253244A - 光磁気記録装置用の光学ヘッド - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は光磁気記録装置で用いる光学ヘッドに関し、更
に詳しくは、一軸複屈折結晶平行平板と受光面を合計８
分割した光検出器を用いて光磁気信号検出系とサーボ信
号検出系の光路を共通化した光学ヘッドに関するもので
ある。

［従来の技術］ 光磁気記録媒体からの情報の再生は、直線偏光を磁性体
に照射した時にその磁化の方向に対応して反射光又は透
過光の偏光面が回転する現象を利用して行われる。

光磁気記録装置における従来の光学ヘッドの一例を第５
図に示す、半導体レーザ１０から発生した光はコリメー
トレンズ１２とビーム整形プリズム１４により円断面形
状の平行光線となり、ビームスプリッタ１６及び対物レ
ンズ１８を通過して光磁気ディスク２０に至る。ここで
反射された光は、ある方向に偏光角度が傾く。

そして対物レンズ１８を通りビームスプリンタ１６で反
射されて、次のビームスプリンタ２２でサーボ信号検出
系と光磁気信号検出系とに分かれる。サーボ信号検出系
では集光レンズ２４、シリンドリカルレンズ２６を通り
４分割ホトダイオード２８に入射する。フォーカスエラ
ーの検出には非点収差法が、トラッキングエラーの検出
にはプッシュプル法が用いられる。

光磁気信号検出系では、２分の１波長板３゜により光の
偏光角度を変えて偏光ビームスプリッタ３２で光学的差
動法をとる０分離されたそれぞれの光を集光レンズ３４
．３６で集め、ホトダイオード３８．４０で検出する。

差動増幅器４２でそれらの出力の差動をとることで光磁
気信号が得られる。

なお符号４４は対物レンズ１８の駆動コイルを、符号４
６は磁場印加用コイルを示す。

［発明が解決しようとする課題］ 光学へラド全体を小型化するためには一つ一つの光学部
品を小型化するだけでは限界があり、光路を工夫し、使
用する光学部品点数を削減することが重要である。しか
しながら上記のような従来技術では、レンズやプリズム
等多くの光学部品を組み合わせなければならず、しがも
光路を２方向に分岐させているために小型化が極めて困
難である。

またサーボ信号検出系と光磁気信号検出系とに光路を分
岐しているために光量不足が生じる問題もある。

本発明の目的は、上記のような従来技術のもつ技術的課
題を解決し、構造が簡素化され小型化でき、また光磁気
信号検出系とサーボ信号検出系の光路を共通化すること
で十分な光量が得られ、Ｃ／Ｎ比が向上し、安定した動
作を実現できるような光磁気記録装置の光学ヘッドを提
供することにある。

［課題を解決するための手段］ 上記のような目的を達成できる本発明は、光磁気記録媒
体からの光が入射する受光系に一軸複屈折結晶平行平板
を設け、その透過分離光を、受光面を合計８分割した光
検出器で検出するように構成した光学へラドである。

本発明の基本構成を第１図に示す、一軸横屈折結晶平行
平板５０は、水晶、ルチル、方解石等からなり、常光成
分と異常光成分が分離するように、その結晶の光学軸は
磁気記録媒体からの光入射面５０ａに対して角度α傾け
られている。この一軸横屈折結晶平行平板５０は集光レ
ンズ５２の後方に置か、れ、集光レンズ５２による収束
光束中に位置する。そしてその光路に対して光入射面５
０ａが角度β傾けられている。

入射する光はこの一軸複屈折結晶平行平板５０によって
常光成分０と異常光成分ｅに分離し、受光面が合計８分
割された光検出器５４に達する。ここで一軸横屈折結晶
平行平板５０は単に非点収差法を行うために傾けられて
いる。その傾斜角を４５°とした場合に、光入射面５０
ａに対して光学軸を約５５°傾けると常光成分と異常光
成分が大きく分離するから、そのような構成が好ましい
。

常光成分Ｏと異常光成分ｅはそれぞれ集光点を作り、一
つの集光点に対して８分割光検出器５４の４素子ずつが
対応している。つまり第２図に示すように異常光成分ｅ
に対してはＡ、Ｂ。

Ｃ，Ｄの４素子が対応し、常光成分０に対してはＥ、Ｆ
、Ｇ、Ｈの４素子が対応している。

［作用］ 光磁気記録媒体からの反射光は集光レンズ５２で収束さ
れ、一軸横屈折結晶平行平板５０で常光成分０と異常光
成分ｅに分けられ、それぞれの集光点で受光面が４分割
されている光検出器５４に達する。光検出器５４でのビ
ーム形状を第２図に示す。同図において上段の３列で斜
線を施した部分が異常光成分ｅに対するビーム形状であ
り、下段の３列で斜線を施した部分が常光成分０に対す
るビーム形状である。また第２図において中）は合焦状
態を示し、（δ）は焦点位置が遠のいた場合、ｆｃｌは
焦点位置が近づいた場合をそれぞれ示している。

光磁気信号の検出は各素子か、らの４個一組の検出出力
を加算し、その差動出力をとることによって得られる。

それを数式的に示すと次のように表せる。

光磁気信号−（Ａ＋Ｂ＋Ｃ＋Ｄ）−（Ｅ＋Ｆ十Ｇ十旧 フォーカスエラー信号の検出は非点収差法によって行う
ことができる。本発明では常光成分０と異常光成分θが
存在するので、それぞれの４素子を用いて差動をとり、
それを加算する・ことによって得られる。これを数式的
に示すと次のように表せる。

フォーカスエラー信号−ＦＥ１＋ＦＥ２−　（（Ａ＋Ｃ
）−（Ｂ＋Ｄ））＋ （（Ｅ＋Ｇ）−（Ｆ＋Ｈ）） これをグラフで示すと第３図のようになる。

破線で示したのが最終的に得られるフォーカスエラー信
号である。

トラッキングエラー信号はプッシュプル法によって検出
できる。これを数式的に表すと次のようになる。

トラッキングエラー信号＝ＴＥ　Ｌ　＋ＴＥ　２−　（
Ｂ−Ｄ）＋　ＣＦ−Ｈ） このようにして本発明ではそれぞれの受光素子からの信
号を加算・減算処理することによって、必要となる光磁
気信号及びフォーカスとトラッキングのサーボ信号を得
ることができる。

［実施例］ 第４図は本発明に係る光学ヘッドの一実施例を示す説明
図である。半導体レーザ１０から光磁気ディスク２０に
至る読出し光の入射経路は基本的には従来技術と同様で
あってよい。半導体レーザ１０からの光はコリメートレ
ンズ１２を遣って平行光線となり、ビーム整形及びビー
ムスプリフタ１５を通り対物レンズ１８で集光して光デ
ィスク２０の所定位置を照射する。

光磁気ディスク２０からの反射光はビームスプリンタで
反射され、２分の１波長板３０で偏光面を４５度回転し
集光レンズ５２で集光する。

その収束光束中に一軸複屈折結晶平行平板５０が（ｌＩ
けられて設置され、その集光点に信号検出用の８分割光
検出器５４が位置する。集光レンズ５２、一軸横屈折結
晶平行平板５０．８分割光検出器５４の詳細は第２図で
説明した通りである。８分割光検出器５４におけるそれ
ぞれの素子の出力を演算することによって光磁気信号の
みならずフォーカスエラー信号とトラッキングエラー信
号が得られる。

［発明の効果］ 本発明は上記のように光磁気記録媒体からの受光系の収
束光束中に一軸複屈折結晶平行平板を傾けて設け、それ
で分離した常光成分と異常光成分の集光点にそれぞれ受
光面を４分割した光検出器を配置したから、分割した各
素子からの出力を加算・減算処理することによって光磁
気信号のみならずサーボ信号を検出することがでる。従
って光磁気信号検出系とサーボ信号検出系の光路が共通
化され、部品点数を大幅に削減でき小型化できることに
なる。

また本発明では一軸複屈折結晶平行平板を用いているた
め、従来の偏光ビームスプリフタよりも１０〜２０ｄＢ
程度消光比が高く高感度で光磁気信号を検出することが
可能である。更に上記のように光磁気信号検出系とサー
ボ信号検出系の光路が共通化され、それらの信号検出を
同じ光検出器で行うため、光量不足が生じず安定したサ
ーボをかけることが可能となる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の基本構成を示す説明図、第２図（ａｌ
　、　（ｂｌ　、　、（Ｃ１は光検出器の受光面でのビ
ーム形状を示す説明図、第３図は焦点ずれに対するフォ
ーカスエラー量を示す説明図、第４図は本発明に係る光
学ヘッドの一実施例を示す説明図である。 また第５図は従来技術の一例を示す説明図である。 １０・・・半導体レーザ、２０・・・光磁気ディスク、
５０・・・一軸横屈折結晶平行平板、５２・・・集光レ
ンズ、５４・・・光検出器。 特許出願人　　冨士電気化学株式会社 代　　理　　人　　　　　茂　　見　　　　　檀第 図 第 図 （ｂ） （Ｃ） 第 図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １、光磁気記録媒体からの光が入射する受光系において
   、常光成分と異常光成分が分離するように光入射面に対
   して光学軸を傾けた一軸複屈折結晶平行平板を、収束光
   束中で且つ光路に対して光入射面を傾けて配置し、前記
   一軸複屈折結晶平行平板で分離した常光成分と異常光成
   分の集光点に受光面をそれぞれ４分割した光検出器を配
   置し、光磁気信号検出系とサーボ信号検出系の光路を共
   通化したことを特徴とする光磁気記録装置の光学ヘッド
   。