JPH0494584A - 集積回路の製造方法 - Google Patents

集積回路の製造方法

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JPH0494584A
JPH0494584A JP2212914A JP21291490A JPH0494584A JP H0494584 A JPH0494584 A JP H0494584A JP 2212914 A JP2212914 A JP 2212914A JP 21291490 A JP21291490 A JP 21291490A JP H0494584 A JPH0494584 A JP H0494584A
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semiconductor
magnetic
compound semiconductor
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integrated circuit
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JP2212914A
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Kaoru Matsuda
薫 松田
Tadashi Narisawa
成沢 忠
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Panasonic Holdings Corp
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/30Structure or shape of the active region; Materials used for the active region
    • H01S5/32Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising PN junctions, e.g. hetero- or double- heterostructures
    • H01S5/327Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising PN junctions, e.g. hetero- or double- heterostructures in AIIBVI compounds, e.g. ZnCdSe-laser

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  • Semiconductor Lasers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は光通(L  光起電 光計測などに用いる光集
積回路に関するものであム 従来の技術 従来 希薄磁性半導体は応用物理 第56@  第9号
(1987)の犬塚信雄著、希薄磁性半導体超格子や応
用物理 第57私  第6号(1988)の岡泰夫著、
希薄磁性半導体における磁気光物性にまとめられている
ように分子線ビームエピタキシー法(MBE)やブリッ
ジマン法で単独に成長されており、II−VI族化合物
半導体との集積回路は何ら提案されていな(℃ 発明が解決しようとする課題 従来の技術のような希薄磁性半導体単独での成長方法と
は異なり、本発明は、希薄磁性半導体がII−VI族化
合物半導体のII族原子の極一部を磁性イオンで置換し
た構造を持つことに着目し 素子の軽量小型(L  結
合時の光損失の低減1.  高信頼性を得るためJQ 
 T■−VI族化合物半導体と希薄磁性半導体を一体化
するのに容易な方法で希薄磁性半導体を成長した光集積
回路を提供しようとするものであa 課題を解決するための手段 本発明は希薄磁性半導体とII−VI族化合物半導体と
の一体化を容易にするためζζ JI−VI族化合物半
導体に磁性イオンのイオン注入工程により希薄磁性半導
体よりなる領域を形成することを特徴とする集積回路製
造方法を提供;−また 希薄磁性半導体とII−VI族
化合物半導体との一体化として、同−基板上に形成され
たII−VI族化合物半導体よりなるレーザ発振部と希
薄磁性半導体よりなるファラデー素子部を有する光集積
回路を提供するものであも 作用 第1の発明によりII−VI族化合物半導体の集積化に
おいてへテロエピタキシャル成長のような条件制御が複
雑な工程を含むこと無く、希薄磁性半導体の持つ機能を
容易に集積することができる。また第2の発明により希
薄磁性半導体の持つ巨大ファラデー回転角とII−VI
族化合物半導体よりなる半導体レーザを用いた素子が一
体化でき軽量小型(L結合時の光損失の低減(L  高
信頼性がはかれも実施例 本発明の第1の実施例を1図に示す。II−VI族化合
物半導体としてZn5e基板1の一部を残してマスク2
でマスキングを行い(a)、Mnイオン3を加速電圧I
 MVでI cm”当りのドーズ量1011でイオン注
入しくb)、マスク2を除去したあと瞬間加熱ランプア
ニール炉中で1000℃で10分間アニールを行いZn
5e 1基板の一部を希薄磁性半導体領域であるZnM
nSe 4とした(c)。そのあと、Zn5e Iおよ
びZnMnSe 4の各々を必要なプロセスを行いデバ
イスに加工しな本発明の第2の実施例を第2図に示す。
Zn5e 1基板上のプロセスをすでに行った領域5 
(半導体素子形成領域)をマスク2でマスキングしくa
)、Mnイオン3を加速電圧100KVで1 cm3当
りのドーズ量が1013でイオン注入を行った(b)。
そのあとマスク2を除去し瞬間加熱ランプアニール炉で
約8分アニールをおこなったとこへ プロセスをすでに
行った領域5はZn5e 1のままで、イオン注入3し
た領域はZnMnSe 4であった(c)。さらにその
あと、ZnMn5e 4の領域を必要なプロセスを行い
デバイスを形成する加工を行っ九 第1の発明の第1お
よび第2の実施例では典型的なプロセスの例を示した力
(イオン注入による希薄磁性半導体領域の形成プロセス
が希薄磁性半導体およびII−VI族化合物半導体のデ
バイスへの加工の複雑なプロセスの全工程のどの部分に
あってもよく、イオン注入後のアニル工程は無くてもよ
く、イオン注入工程が1度以上何度゛あってもよ(l 
またII−VI族化合物半導体および注入イオンや希薄
磁性半導体の組磁 ドーズ量等は実施例にとられれる事
なく何でもよく、II−VI族化合物半導体や希薄磁性
半導体が人工格子であってもよ(〜 さらに 本実施例
ではII−VI族化合物半導体基板を直接加工した力(
II−VI族化合物半導体とは異なる材料の基板 例え
ばIII−V族化合物半導体やSiや誘電恢 上にII
−■族化合物半導体領域を形成し この形成したII−
VI族化合物半導体にイオン注入によって希薄磁性半導
体を形成してもよく、そのうえ上記異なる材料の基板の
機能や、上記異なる材料の基板のうえに形成したまた別
の材料の機能をもII−VI族化合物半導体や希薄磁性
半導体の機能と集積化してもよt−本発明のさらに他の
実施例として光アイソレータ付き半導体レーザ装置の構
成図を第3図に示す。II−VI族化合物半導体基板1
1上に一部分を残してマスキングして磁性イオンをイオ
ン注入し希薄磁性半導体12領域を形成すも 次ぎにマ
スキングをほどこしたII−Vl族化合物半導体部分に
通常の半導体プロセスをもちい半導体レーザ13を形成
すも その次に希薄磁性半導体12領域の半導体レーザ
13を形成したのと反対側に偏光子14をその透過偏波
方向が半導体レーザの発振光と45degをなすように
形成する。偏光子の形成方法として番ヨ  例えば誘電
体と金属を基板に対して45degの斜めに交互に蒸着
することなどが上げられも 最後に希薄磁性半導体12
領域に装荷層15を形成し3次元的にひかりを導波させ
九II−Vl族化合物半導体レーザの発振波長領域で希
薄磁性半導体のファラデー回転角は大きく、希薄磁性半
導体12領域の光路長を45degのファラデー回転角
を得るように選べば 半導体レーザ13からの出射光は
希薄磁性半導体12領域出射時にはその偏波方向が45
deg回転され偏光子を透過することができもしかし半
導体レーザ13への反射戻り光のうち偏光子14を通過
してきたものは希薄磁性半導体12領域でファラデー効
果のもつ非相反性のためにさらに45degのファラデ
ー回転を受けた半導体レーザ13の発振光の偏波方向と
直交する偏波方向をもち雑音にはならなt〜 発明の効果 本発明により複雑な工程を経ること無< II−VI族
化合物半導体と希薄磁性半導体を一体化することができ
た また本発明により軽量小虱 結合時の光損失の少な
く、高信頼性のデバイスが実現でき、本発明は 高機能
半導体デバイスの実現に大きく寄与するものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の第1の実施例の工程断面医第2図は本
発明の第2の実施例の工程断置皿 第3図は本発明によ
る作成された半導体装置の概略斜視図であa 1・・・・Zn5e、  3・・・・注入イオン、 4
・・・・ZnMnSe。 代理人の氏名 弁理士 粟野重孝 はか1名42へ/′
7へSe

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)II−VI族化合物半導体に磁性イオンのイオン注入
    により希薄磁性半導体領域を形成することを特徴とする
    集積回路の製造方法。
  2. (2)II−VI族化合物半導体にレーザ発振部、希薄磁性
    半導体領域にファラデー素子部を形成することを特徴と
    する集積回路の製造方法。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6307241B1 (en) * 1995-06-07 2001-10-23 The Regents Of The Unversity Of California Integrable ferromagnets for high density storage
JP2003098499A (ja) * 2001-09-20 2003-04-03 Fujitsu Ltd 半導体光集積装置及びその製造方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US6307241B1 (en) * 1995-06-07 2001-10-23 The Regents Of The Unversity Of California Integrable ferromagnets for high density storage
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