JPH049466B2 - - Google Patents
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- JPH049466B2 JPH049466B2 JP5707685A JP5707685A JPH049466B2 JP H049466 B2 JPH049466 B2 JP H049466B2 JP 5707685 A JP5707685 A JP 5707685A JP 5707685 A JP5707685 A JP 5707685A JP H049466 B2 JPH049466 B2 JP H049466B2
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- circumferential
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Image Input (AREA)
- Closed-Circuit Television Systems (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業状の利用分野〕
本発明は鏡面反射特性を有する面のキズの有無
を検出するキズ検出装置に係り、特に鏡面反射特
性を有する回転面物体のキズ検出装置に関する。
を検出するキズ検出装置に係り、特に鏡面反射特
性を有する回転面物体のキズ検出装置に関する。
例えば第６図に示す如きドアのノブやその他の
機械部品の如き鏡面反射特性を有する回転面物体
（ある物体を回転させることにより得られるもの）
の表面にキズの有無を検出し製品の良、不良を判
別することが必要である。
機械部品の如き鏡面反射特性を有する回転面物体
（ある物体を回転させることにより得られるもの）
の表面にキズの有無を検出し製品の良、不良を判
別することが必要である。
このような鏡面反射特性を有する回転面物体の
表面のキズの有無を検出するとき、従来は目視に
よるものがほとんどである。ところでこの目視に
よる場合には検出もれが存在するのでコンピユー
タにおける画像処理技術を用いて、このようなキ
ズ検出を自動的に行うことが試みられている。
表面のキズの有無を検出するとき、従来は目視に
よるものがほとんどである。ところでこの目視に
よる場合には検出もれが存在するのでコンピユー
タにおける画像処理技術を用いて、このようなキ
ズ検出を自動的に行うことが試みられている。
ところでコンピユータにおける画像処理技術を
用いてキズの検出を行う場合、その物体の表面の
濃淡画像をメモリに一度記憶させ、一旦２値化処
理を行ない、その「１」または「０」の境界の幾
何学的形状からキズの有無の検出を行う方式と、
前記濃淡値を微分してエツジ検出を行い、そのエ
ツジ強度からキズの検出を行う方式がある。
用いてキズの検出を行う場合、その物体の表面の
濃淡画像をメモリに一度記憶させ、一旦２値化処
理を行ない、その「１」または「０」の境界の幾
何学的形状からキズの有無の検出を行う方式と、
前記濃淡値を微分してエツジ検出を行い、そのエ
ツジ強度からキズの検出を行う方式がある。
しかしこれらの方式はいずれも閾値の設定が難
かしく、したがつてキズ検出を正確に行うことが
非常に困難であるという問題点が存在する。
かしく、したがつてキズ検出を正確に行うことが
非常に困難であるという問題点が存在する。
前記の如き問題点を解決するため、本発明の鏡
面反射特性を有する回転面物体のキズ検出装置で
は、対象物体を観測する濃淡画像入力手段と、該
濃淡画像入力手段より入力された濃淡画像データ
を保持する画像メモリを具備するキズ検出装置に
おいて、対象物体の周辺を円周状に照射する円周
状照射光源と、該円周状照射光源と対象物体との
相対距離を順次変更する光源位置制御手段と、保
持された画像データを円周形状に検索する制御手
段と、前記検索する制御手段から読み出された画
像データにもとづいて円周状照射範囲を検出する
内径外径検出手段と、検出された前記円周状照射
範囲内で前記円周状に読出された画像データの暗
部分を検出してキズの有無を判定する手段を設け
たことを特徴とする。
面反射特性を有する回転面物体のキズ検出装置で
は、対象物体を観測する濃淡画像入力手段と、該
濃淡画像入力手段より入力された濃淡画像データ
を保持する画像メモリを具備するキズ検出装置に
おいて、対象物体の周辺を円周状に照射する円周
状照射光源と、該円周状照射光源と対象物体との
相対距離を順次変更する光源位置制御手段と、保
持された画像データを円周形状に検索する制御手
段と、前記検索する制御手段から読み出された画
像データにもとづいて円周状照射範囲を検出する
内径外径検出手段と、検出された前記円周状照射
範囲内で前記円周状に読出された画像データの暗
部分を検出してキズの有無を判定する手段を設け
たことを特徴とする。
本発明ではキズの有無の検査対象物体がある物
体を回転した形状を有する回転面表面からなるこ
と、またその表面が鏡面反射特性を有することを
利用して、例えばサーキユラー・ランプのような
円周状照射光源（円形状の線光源）を用い、光源
と対象物体間の位置、距離を徐々に変化させなが
ら観測される画像データを取込み、そのデータを
円周形状に探索することにより、もしキズが存在
するときその円周状照射光源で照射されたことに
よる反射光に濃淡が存在することよりこの濃淡値
により容易に、高速にキズの有無を検出するもの
である。
体を回転した形状を有する回転面表面からなるこ
と、またその表面が鏡面反射特性を有することを
利用して、例えばサーキユラー・ランプのような
円周状照射光源（円形状の線光源）を用い、光源
と対象物体間の位置、距離を徐々に変化させなが
ら観測される画像データを取込み、そのデータを
円周形状に探索することにより、もしキズが存在
するときその円周状照射光源で照射されたことに
よる反射光に濃淡が存在することよりこの濃淡値
により容易に、高速にキズの有無を検出するもの
である。
すなわち、第１図ａに示す如く、例えば円錐台
形の検査対象物体１の鏡面反射特性を有する物体
表面１−１におけるキズの有無を検出するとき、
その周囲を均一に照射するサーキユラー・ランプ
２を配置する。そしてこの検査対象物体１の上方
にTVカメラ３の如き濃淡画像入力部を配置す
る。したがつてサーキユラー・ランプ２より検査
対象物体１を照射した光はその鏡面反射特性を有
する物体の表面１−１より反射され、法線ベクト
ルＬに対する入射角θ0と同一の反射角θ0で反射さ
れることになる。サーキユラー・ランプ２が第１
図ａに示す、第１位置にあるときその表面１−１
の最上位部分より反射される光が入射する検査対
象物体１の回転中心の上方にTVカメラ３を配置
しておけば第１図ｂの如きこの表面１−１の画像
データ１′を入力することができる（サーキユラ
ー・ランプ２からの光は直接TVカメラ３に入射
しないものとする）。この画像データ１′はリング
状の明部分１−１−０と暗部分１−１′と、同じ
く上面部分１−２に相当する円形の暗部分１−
２′によりなる（第１図では説明の都合上白く示
してある）。
形の検査対象物体１の鏡面反射特性を有する物体
表面１−１におけるキズの有無を検出するとき、
その周囲を均一に照射するサーキユラー・ランプ
２を配置する。そしてこの検査対象物体１の上方
にTVカメラ３の如き濃淡画像入力部を配置す
る。したがつてサーキユラー・ランプ２より検査
対象物体１を照射した光はその鏡面反射特性を有
する物体の表面１−１より反射され、法線ベクト
ルＬに対する入射角θ0と同一の反射角θ0で反射さ
れることになる。サーキユラー・ランプ２が第１
図ａに示す、第１位置にあるときその表面１−１
の最上位部分より反射される光が入射する検査対
象物体１の回転中心の上方にTVカメラ３を配置
しておけば第１図ｂの如きこの表面１−１の画像
データ１′を入力することができる（サーキユラ
ー・ランプ２からの光は直接TVカメラ３に入射
しないものとする）。この画像データ１′はリング
状の明部分１−１−０と暗部分１−１′と、同じ
く上面部分１−２に相当する円形の暗部分１−
２′によりなる（第１図では説明の都合上白く示
してある）。
この状態で第１図ｃに示す如き位置まで、サー
キユラー・ランプ２を下方に移動して、サーキユ
ラー・ランプ２と検査対象物体１との距離を徐々
に変化させることにより、第１図ｂに示す如き、
リング状の明部分１−１−０が傾斜面の最上位に
ある画像データから第１図ｄに示す如き、リング
状の明部分１−１−ｎが最下位にある画像データ
を順次得ることができる。
キユラー・ランプ２を下方に移動して、サーキユ
ラー・ランプ２と検査対象物体１との距離を徐々
に変化させることにより、第１図ｂに示す如き、
リング状の明部分１−１−０が傾斜面の最上位に
ある画像データから第１図ｄに示す如き、リング
状の明部分１−１−ｎが最下位にある画像データ
を順次得ることができる。
もし、第１図ｅに示す如く、検査対象物体１の
表面にキズＡがあれば、この部分の反射光はTV
カメラ３に入射しないので、この場合の画像デー
タは、第１図ｆに示す如く、リング状の明部分１
−１−ｍの一部に暗部分A′の存在するものとな
る。すなわち、検査対象物体１の回転中心を中心
とする同一円周上の表面にキズが存在すれば、そ
の部分の微小面素からの反射光は観測部である
TVカメラ３には入射せず、他の方向に反射する
ので、その部分は暗くなる。したがつて、キズの
検出は、リング上の明るい帯状の領域内の暗い部
分を検出することに帰着する。
表面にキズＡがあれば、この部分の反射光はTV
カメラ３に入射しないので、この場合の画像デー
タは、第１図ｆに示す如く、リング状の明部分１
−１−ｍの一部に暗部分A′の存在するものとな
る。すなわち、検査対象物体１の回転中心を中心
とする同一円周上の表面にキズが存在すれば、そ
の部分の微小面素からの反射光は観測部である
TVカメラ３には入射せず、他の方向に反射する
ので、その部分は暗くなる。したがつて、キズの
検出は、リング上の明るい帯状の領域内の暗い部
分を検出することに帰着する。
このキズ検出（リング状の明領域内からの暗部
分検出）は次に３段階の処理より成る。
分検出）は次に３段階の処理より成る。
(1) 円状走査によるリングの内径の検出
(2) 円状走査によるヒストグラム作成
(3) キズの検出
以上これらの各処理について、第２図及び第３
図により説明する。
図により説明する。
(1) 円状走査によるリングの内径の検出
まず画像データの明るい部分と暗い部分の濃
淡レベルの間に閾値Th0を設定する。この場
合、TVカメラの出力データは、暗い部分の濃
淡レベルが非常に低く、明るい部分の濃淡レベ
ルは鏡面反射光が入射されるため高いので、こ
の閾値設定は非常に容易である。そして画像デ
ータの回転中心を中心とした同心円周上を走査
する。このとき第１図ａ，ｃ，ｅ等に示す円錐
台形の場合には、その上面の直径の円周D0か
ら前記走査を行えば効率的である。このように
して直径D0から順次大きな円周D1，D2…を走
査し、各円周毎に画像データを前記閾値Th0と
比較し、これより小さいときは「０」、等しい
か大きいときは「１」とし、同一円周における
「１」の個数をカウントする。そしてこの個数
が閾値Th1以上であれば、その円周を明るいリ
ング状の帯状部分（以下リングという）の内径
とする。このようにして、例えば第２図ｂに示
す如く、円周D1の場合には、0°〜360°までオー
ル「０」が得られ、D2の場合にも0°〜360°まで
オール「０」が得られるが、D3の場合には90°
の近傍を除き「１」が得られ、この「１」の個
数は前記Th1より大きいのでこのD3がリング内
径であることがわかる。この場合円の直径が大
きくなり走査すべき円周が大になるにつれて前
記Th1の値もこれに応じて変化するように定め
るか、あるいは円周のデータを中心からのある
角度単位で出力してその濃淡データの平均値を
とり、これを前記Th1と比較することが必要と
なる。単にリング内径のみを決定するものであ
ればどの手法でもよいが、後述する如く、キズ
の検出の際に必要な角度単位でヒストグラムを
作成するために後者の手法が望ましい。
淡レベルの間に閾値Th0を設定する。この場
合、TVカメラの出力データは、暗い部分の濃
淡レベルが非常に低く、明るい部分の濃淡レベ
ルは鏡面反射光が入射されるため高いので、こ
の閾値設定は非常に容易である。そして画像デ
ータの回転中心を中心とした同心円周上を走査
する。このとき第１図ａ，ｃ，ｅ等に示す円錐
台形の場合には、その上面の直径の円周D0か
ら前記走査を行えば効率的である。このように
して直径D0から順次大きな円周D1，D2…を走
査し、各円周毎に画像データを前記閾値Th0と
比較し、これより小さいときは「０」、等しい
か大きいときは「１」とし、同一円周における
「１」の個数をカウントする。そしてこの個数
が閾値Th1以上であれば、その円周を明るいリ
ング状の帯状部分（以下リングという）の内径
とする。このようにして、例えば第２図ｂに示
す如く、円周D1の場合には、0°〜360°までオー
ル「０」が得られ、D2の場合にも0°〜360°まで
オール「０」が得られるが、D3の場合には90°
の近傍を除き「１」が得られ、この「１」の個
数は前記Th1より大きいのでこのD3がリング内
径であることがわかる。この場合円の直径が大
きくなり走査すべき円周が大になるにつれて前
記Th1の値もこれに応じて変化するように定め
るか、あるいは円周のデータを中心からのある
角度単位で出力してその濃淡データの平均値を
とり、これを前記Th1と比較することが必要と
なる。単にリング内径のみを決定するものであ
ればどの手法でもよいが、後述する如く、キズ
の検出の際に必要な角度単位でヒストグラムを
作成するために後者の手法が望ましい。
(2) 円状走査によるヒストグラム作成
前記(1)によりリング内径が検出されたとき、
第３図ａに示す如く、このリングの内径d1から
外径dnまで、前記(1)と同様に、順次円周上に
走査して単位角度毎の「１」、「０」の出力を算
出し、第３図ｂに示す如く、「１」出力のヒス
トグラムを作成する。このときリングの外径の
検出は、前記(1)の内径検出と同様に「１」出力
の個数が閾値Th1以下の部分を外径dnとする。
第３図ａに示す如く、このリングの内径d1から
外径dnまで、前記(1)と同様に、順次円周上に
走査して単位角度毎の「１」、「０」の出力を算
出し、第３図ｂに示す如く、「１」出力のヒス
トグラムを作成する。このときリングの外径の
検出は、前記(1)の内径検出と同様に「１」出力
の個数が閾値Th1以下の部分を外径dnとする。
(3) キズの検出
前記(2)により得られたヒストグラムに対し、
第３図ｂに示す如く、閾値Th2を設定し、閾値
Th2より「１」の数が小さいところをキズとし
て検出する。
第３図ｂに示す如く、閾値Th2を設定し、閾値
Th2より「１」の数が小さいところをキズとし
て検出する。
このようにして、第３図ａにおいて黒く示した
キズの部分を正確に検出することができる。
キズの部分を正確に検出することができる。
次に前記(1)〜(3)を遂行する、本発明の一実施例
構成を、第４図にもとづき他図を参照しつつ説明
する。
構成を、第４図にもとづき他図を参照しつつ説明
する。
第４図において、３はTVカメラであつて検査
対象物体１からの光が入力され、画像データを出
力するもの、４は光源位置制御回路であつて、検
査対象物体１を照射する光源がサーキユラー・ラ
ンプ２の場合には第１図に示す如く、これを上下
動するものであるが、後述する第５図に示す如
く、点状光源の場合には、この点状光源を相対的
に検査対象物体の周囲を回動するとともに、この
点状光源を上下動するものである。５は画像メモ
リであつてTVカメラ３より出力された画像デー
タを保持するもの、６はアドレス・コントローラ
であつて例えば画像メモリ５に記憶されている画
像データを円周状に読み出すためのアドレスを出
力するもの、７は閾値設定部であつて前記(1)〜(3)
で説明した閾値Th0，Th1，Th2を出力するもの、
８は明点抽出回路であつて画像メモリ５から順次
出力された画像データ「１」、「０」を判定しこれ
を出力するもの、９は内径外径検出回路であつて
リングの内径および外径を検出するもの、１０は
ヒストグラム作成回路であつて前記(2)に示す如く
ヒストグラムを作成するもの、１はキズ検出回路
であつてキズの有無を検出するものである。
対象物体１からの光が入力され、画像データを出
力するもの、４は光源位置制御回路であつて、検
査対象物体１を照射する光源がサーキユラー・ラ
ンプ２の場合には第１図に示す如く、これを上下
動するものであるが、後述する第５図に示す如
く、点状光源の場合には、この点状光源を相対的
に検査対象物体の周囲を回動するとともに、この
点状光源を上下動するものである。５は画像メモ
リであつてTVカメラ３より出力された画像デー
タを保持するもの、６はアドレス・コントローラ
であつて例えば画像メモリ５に記憶されている画
像データを円周状に読み出すためのアドレスを出
力するもの、７は閾値設定部であつて前記(1)〜(3)
で説明した閾値Th0，Th1，Th2を出力するもの、
８は明点抽出回路であつて画像メモリ５から順次
出力された画像データ「１」、「０」を判定しこれ
を出力するもの、９は内径外径検出回路であつて
リングの内径および外径を検出するもの、１０は
ヒストグラム作成回路であつて前記(2)に示す如く
ヒストグラムを作成するもの、１はキズ検出回路
であつてキズの有無を検出するものである。
次にこの第４図に示す本発明の動作を光源とし
てサーキユラー・ランプを使用した場合について
説明する。
てサーキユラー・ランプを使用した場合について
説明する。
(a) まず、第１図ａに示す如く、サーキユラー・
ランプ２を光源位置制御回路４により、その検
査対象物体１の最上面からの反射光がTVカメ
ラ３に入射するような位置におき、第１図ｂに
示す如き画像データを画像メモリ５に記憶させ
る。
ランプ２を光源位置制御回路４により、その検
査対象物体１の最上面からの反射光がTVカメ
ラ３に入射するような位置におき、第１図ｂに
示す如き画像データを画像メモリ５に記憶させ
る。
(b) 明点抽出回路８は画像メモリ５に画像データ
が入力されたとき、アドレス・コントローラ６
を制御して、第２図ａに示す如く、中心点０よ
り一定半径の画像データを円周状に出力させ
る。このときアドレス・コントローラ６は、検
査対象物体１のサイズ例えばその上面部分１−
２の大きさがあらかじめわかつているときに
は、中心点近傍からスタートするより、この既
知のデータにもとづき最初の円周状データを出
力させる方が効率的である。そしてこのように
して画像メモリ５から円周状に読出した画像デ
ータを閾値設定部７から伝達された閾値Th0と
比較してこれよりも大きな場合に「１」とし
て、この「１」の数を内径外径検出回路９に伝
達する。この内径外径検出回路９には閾値設定
部７から閾値Th1が伝達されており、同一円周
状の「１」の数がこの閾値Th1を越えたとき、
その円周を明るい帯状のリングの内径を判別す
る。そしてこの内径検出をヒストグラム作成回
路１０に伝達する。
が入力されたとき、アドレス・コントローラ６
を制御して、第２図ａに示す如く、中心点０よ
り一定半径の画像データを円周状に出力させ
る。このときアドレス・コントローラ６は、検
査対象物体１のサイズ例えばその上面部分１−
２の大きさがあらかじめわかつているときに
は、中心点近傍からスタートするより、この既
知のデータにもとづき最初の円周状データを出
力させる方が効率的である。そしてこのように
して画像メモリ５から円周状に読出した画像デ
ータを閾値設定部７から伝達された閾値Th0と
比較してこれよりも大きな場合に「１」とし
て、この「１」の数を内径外径検出回路９に伝
達する。この内径外径検出回路９には閾値設定
部７から閾値Th1が伝達されており、同一円周
状の「１」の数がこの閾値Th1を越えたとき、
その円周を明るい帯状のリングの内径を判別す
る。そしてこの内径検出をヒストグラム作成回
路１０に伝達する。
(c) これによりヒストグラム作成回路１０はその
とき明点抽出回路８から送出されている「１」
のデータを0°〜360°の単位角度毎にカウントを
開始する。アドレス・コントローラ６は直径方
向の単位幅毎に、円周状に画像データを出力す
るようにアドレスを出力するので、第３図ａに
示す如く、リングの内径d1を出力したのち、
d2，d3…と順次円周状に画像データを出力す
る。そしてこのd2，d3…毎にその「１」の数が
単位角度毎にカウントされ、これにより第３図
ｂに示す如く、ヒストグラムが作成される。こ
のようにしてリングの画像データを順次出力し
ているときに、dnにおいてその円周状の「１」
の数が前記閾値Th1以下になつたことが内径外
径検出回路９により検出されたとき、このdn
がリングの外径として判別されるので、これに
より外径検出信号がアドレス・コントローラ６
に出力されて画像メモリ５の読出しが一時停止
され、また光源位置制御回路４、ヒストグラム
作成回路１０およびキズ検出回路１１にも外径
検出信号が伝達され、このときまでに作成され
ていた、例えば第３図ｂの如きヒストグラムが
キズ検出回路１１に伝達され、前記閾値Th2と
比較されてこの閾値Th2より小さいものが存在
するとき、これをキズと判定し、その有無を出
力する。したがつてヒストグラムが第３図ｂの
如き場合には、キズ有という判別結果が出力さ
れることになる。
とき明点抽出回路８から送出されている「１」
のデータを0°〜360°の単位角度毎にカウントを
開始する。アドレス・コントローラ６は直径方
向の単位幅毎に、円周状に画像データを出力す
るようにアドレスを出力するので、第３図ａに
示す如く、リングの内径d1を出力したのち、
d2，d3…と順次円周状に画像データを出力す
る。そしてこのd2，d3…毎にその「１」の数が
単位角度毎にカウントされ、これにより第３図
ｂに示す如く、ヒストグラムが作成される。こ
のようにしてリングの画像データを順次出力し
ているときに、dnにおいてその円周状の「１」
の数が前記閾値Th1以下になつたことが内径外
径検出回路９により検出されたとき、このdn
がリングの外径として判別されるので、これに
より外径検出信号がアドレス・コントローラ６
に出力されて画像メモリ５の読出しが一時停止
され、また光源位置制御回路４、ヒストグラム
作成回路１０およびキズ検出回路１１にも外径
検出信号が伝達され、このときまでに作成され
ていた、例えば第３図ｂの如きヒストグラムが
キズ検出回路１１に伝達され、前記閾値Th2と
比較されてこの閾値Th2より小さいものが存在
するとき、これをキズと判定し、その有無を出
力する。したがつてヒストグラムが第３図ｂの
如き場合には、キズ有という判別結果が出力さ
れることになる。
(d) ところで前記外径検出信号は光源位置制御回
路４にも伝達され、これによりサーキユラー・
ランプ２を一定位置だけ下方に移動させる。そ
して前記(a)〜(c)と同様にして新しく得られた画
像データに対してキズの有無の検出処理を行う
ことになる。このとき、先に外径検出信号によ
り外径dnまで画像データを読出したことがア
ドレス・コントローラ６において認識されてい
るので、このdnをもとにしてリングの内径を
検出するようにアドレスを出力することにな
る。
路４にも伝達され、これによりサーキユラー・
ランプ２を一定位置だけ下方に移動させる。そ
して前記(a)〜(c)と同様にして新しく得られた画
像データに対してキズの有無の検出処理を行う
ことになる。このとき、先に外径検出信号によ
り外径dnまで画像データを読出したことがア
ドレス・コントローラ６において認識されてい
るので、このdnをもとにしてリングの内径を
検出するようにアドレスを出力することにな
る。
(e) このようなことを第１図ｃに示す如く、サー
キユラー・ランプ２があらかじめ定められた最
下位の位置まで繰返されたとき検査対象物体１
に対する検査が終了することになり、それまで
キズ有信号が出力されなければその検査対象物
体はキズがないものとして判定される。
キユラー・ランプ２があらかじめ定められた最
下位の位置まで繰返されたとき検査対象物体１
に対する検査が終了することになり、それまで
キズ有信号が出力されなければその検査対象物
体はキズがないものとして判定される。
前記説明では、明るい帯状のリングの画像デー
タを得るため、第５図ｂに示す如く、サーキユラ
ー・ランプ２を使用した例について説明したが、
この代りに、第５図ａに示す如く、点状光源２′
を使用してこれを検査対象物体１の周りを回転さ
せることもできる。勿論この点状光源２′を使用
する場合この点状光源２′を円周状に回転させる
代りにこれを固定して検査対象物体１を回転させ
てもよい。
タを得るため、第５図ｂに示す如く、サーキユラ
ー・ランプ２を使用した例について説明したが、
この代りに、第５図ａに示す如く、点状光源２′
を使用してこれを検査対象物体１の周りを回転さ
せることもできる。勿論この点状光源２′を使用
する場合この点状光源２′を円周状に回転させる
代りにこれを固定して検査対象物体１を回転させ
てもよい。
本発明によれば検査対象物体の鏡面反射特性と
回転面に応じた光源を利用しているので、正常部
分とキズの部分との濃淡レベルを大きく異なつた
形で抽出することができるので、濃淡値のみでキ
ズ検出が容易にできる。
回転面に応じた光源を利用しているので、正常部
分とキズの部分との濃淡レベルを大きく異なつた
形で抽出することができるので、濃淡値のみでキ
ズ検出が容易にできる。
第１図ａ〜ｆは本発明の概略説明図、第２図
ａ，ｂは明るい帯状のリングの内径検出状態説明
図、同ｃはキズの状態説明図、第３図ａ，ｂはヒ
ストグラム作成状態説明図、第４図は本発明の一
実施例構成図、第５図ａ，ｂは本発明の円周状照
射光源の説明図、第６図は検査対象物体の一例で
ある。 図中、１は検査対象物体、２はサーキユラー・
ランプ、３はTVカメラ、４は光源位置制御回
路、５は画像メモリ、６はアドレス・コントロー
ラ、７は閾値設定部、８は明点抽出回路、９は内
径外径検出回路、１０はヒストグラム作成回路、
１１はキズ検出回路を示す。
ａ，ｂは明るい帯状のリングの内径検出状態説明
図、同ｃはキズの状態説明図、第３図ａ，ｂはヒ
ストグラム作成状態説明図、第４図は本発明の一
実施例構成図、第５図ａ，ｂは本発明の円周状照
射光源の説明図、第６図は検査対象物体の一例で
ある。 図中、１は検査対象物体、２はサーキユラー・
ランプ、３はTVカメラ、４は光源位置制御回
路、５は画像メモリ、６はアドレス・コントロー
ラ、７は閾値設定部、８は明点抽出回路、９は内
径外径検出回路、１０はヒストグラム作成回路、
１１はキズ検出回路を示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 対象物体を観測する濃淡画像入力手段と、該
濃淡画像入力手段より入力された濃淡画像データ
を保持する画像メモリを具備するキズ検出装置に
おいて、対象物体の周辺を円周状に照射する円周
状照射光源と、該円周状照射光源と対象物体との
相対距離を順次変更する光源位置制御手段と、保
持された画像データを円周形状に検索する制御手
段と、前記検索する制御手段から読み出された画
像データにもとづいて円周状照射範囲を検出する
内径外径検出手段と、検出された前記円周状照射
範囲内で前記円周形状に読出された画像データの
暗部分を検出してキズの有無を判定する手段を設
けたことを特徴とする鏡面反射特性を有する回転
面物体のキズ検出装置。 ２ 前記円周状照射光源としてサーキユラー・ラ
ンプを使用したことを特徴とする特許請求の範囲
第１項記載の鏡面反射特性を有する回転面物体の
キズ検出装置。 ３ 前記円周状照射光源として対象物体の周辺を
順次照射する点状光源を使用したことを特徴とす
る特許請求の範囲第１項記載の鏡面反射特性を有
する回転面物体のキズ検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5707685A JPS61213752A (ja) | 1985-03-20 | 1985-03-20 | 鏡面反射特性を有する回転面物体のキズ検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5707685A JPS61213752A (ja) | 1985-03-20 | 1985-03-20 | 鏡面反射特性を有する回転面物体のキズ検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61213752A JPS61213752A (ja) | 1986-09-22 |
| JPH049466B2 true JPH049466B2 (ja) | 1992-02-20 |
Family
ID=13045369
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5707685A Granted JPS61213752A (ja) | 1985-03-20 | 1985-03-20 | 鏡面反射特性を有する回転面物体のキズ検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61213752A (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63153414A (ja) * | 1986-12-17 | 1988-06-25 | Haishisutemu Control Kk | 空缶の検査装置 |
| JPS6459145A (en) * | 1987-08-31 | 1989-03-06 | Kao Corp | Analyzer of surface nature |
| JPH0711415B2 (ja) * | 1987-11-16 | 1995-02-08 | 東洋製罐株式会社 | 鏡面的光沢のある凸曲面を有する容器口部の形状検査方法と装置 |
| JPH02208504A (ja) * | 1989-02-09 | 1990-08-20 | Omron Tateisi Electron Co | 球体検査装置 |
| CN109799238B (zh) * | 2019-01-24 | 2021-08-31 | 常州市武进信和精密机械有限公司 | 表面处理装置 |
| CN110389089A (zh) * | 2019-08-06 | 2019-10-29 | 哈尔滨工业大学 | 大口径反射镜表面颗粒污染物离线暗场检测装置 |
-
1985
- 1985-03-20 JP JP5707685A patent/JPS61213752A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61213752A (ja) | 1986-09-22 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |