JPS63277960A - ねじ口部の欠陥検査方法 - Google Patents

ねじ口部の欠陥検査方法

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JPS63277960A
JPS63277960A JP11239987A JP11239987A JPS63277960A JP S63277960 A JPS63277960 A JP S63277960A JP 11239987 A JP11239987 A JP 11239987A JP 11239987 A JP11239987 A JP 11239987A JP S63277960 A JPS63277960 A JP S63277960A
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JP
Japan
Prior art keywords
bottle
image
pattern
defect
container
Prior art date
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Pending
Application number
JP11239987A
Other languages
English (en)
Inventor
Toshio Hara
利雄 原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
SHOKUHIN SANGYO ONRAIN SENSOR GIJUTSU KENKYU KUMIAI
Original Assignee
SHOKUHIN SANGYO ONRAIN SENSOR GIJUTSU KENKYU KUMIAI
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Filing date
Publication date
Application filed by SHOKUHIN SANGYO ONRAIN SENSOR GIJUTSU KENKYU KUMIAI filed Critical SHOKUHIN SANGYO ONRAIN SENSOR GIJUTSU KENKYU KUMIAI
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Publication of JPS63277960A publication Critical patent/JPS63277960A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/90—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
    • G01N21/9054—Inspection of sealing surface and container finish

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、光透過部材からなりねじ口部をもつびん容
器の、ねじ口部に存在するひびや欠は等の欠陥を検査す
るための検査方法に関する。
〔従来の技術〕
従来、ねじ口部を持たないびん容器については、例えば
容器の中心軸に沿う中心軸ラインのグレースケールレベ
ル（光量レベル）が、その周方向にわたり略一定である
ことを利用し、このグレースケールレベルに変化があっ
たら不良として検出する方法が知られている。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかしながら、ねじ口がある場合にはグレースケールレ
ベルが場所によって変わるため、上記の如き方法では検
出できないと云う問題がある。
したがって、この発明はねじ口部をもつびん容器につい
ても欠陥検査ができるようにすることを目的とする。
〔問題点を解決するための手段〕
光透過部材からなりねじ口部をもつ容器を照明器により
一方向から照明し、ねじ口部を含む平面に対し所定角度
をなす他方向に撮像装置を配置して容器のねじ口部を撮
像し、その容器中心軸に沿う軸方向の撮像信号からねじ
口部の始端位置を検出し、該始端位置を基準点として容
器と撮像装置とを相対的に回転させて得られる撮像信号
を予め記憶されている辞書信号パターンと比較してねじ
口部に存在する欠陥の検査を行なう。
〔作用〕
ねじ口部をもつ容器の中心軸に沿う画像パターンは周方
向位置によって異なるので、ねじ０始端位置を周方向の
基準点として一周分の辞書パターンを予め用意しておく
ことにより、ねじ口部がある場合でも簡単かつ迅速に欠
陥検査ができるようにする。
〔実施例〕
第１図はこの発明の詳細な説明するための説明図、第２
図は゛この発明が適用される装置と対象物との関係を示
す概要図である。なお、第１図において、ｌは検査対象
となるびん容器、ＩＡはねじ部先端、ＩＢはねじ谷部、
ＩＣは天面部、ＩＤはねじ山部をそれぞれ示す。また、
第２図において、１はびん容器、２は拡散板、３は光源
、４はびんｌの位置決めと回転のための基台、５は１次
元または２次元カメラの如き撮像装置、６は画像処理装
置である。
以下、これらの図を参照して説明する。
第２図に示すように、びん１のねじ口部は拡散板２およ
び光源３により拡散照明される一方、その透過光が斜め
上方に配置された撮像装置５によって撮像される。なお
、このようにするのはねじの山と谷を鮮明に出すためで
ある。撮像装置５としてはこ−では、例えばＣＯＤ　（
Ｃｈａｒｇｅ　ＣｏｕｐｌｅｄＤｅｖｉｃｅ　）からな
る１次元カメラを想定しており、びん１の中心軸Ｃ上の
点Ａから点Ｂの範囲の視野をカバーするものとする。撮
像装置５からの撮像信号は画像処理装置６に与えられ、
こ＼で次のように処理される。
第１図（イ）にびん口部の画像を示す。上記の如く撮像
すると、びんの天面部ＩＣおよびねじ山部ＩＤでは透過
光がねし谷部ＩＣに比べて少ないため、同図のようにね
じ山部ＩＤと他の部分との区別がつく、そこで、中心軸
Ｃ上に視野がセットされた撮像装置５とびん１とを相対
的に回転させることにより、ねじの始端位置ＩＡを探す
。すなわち、中心軸方向に画像の明るさく濃度）を調べ
ると、例えば第１図（ロ）の如くなり、このような作業
を周方向に１周以上行なえば、ねじの始端位置直前では
第１図（ロ）に示す幅Ｗが最大となり、始端位置では狭
くなるので、この関係を利用してねじの始端位置ＩＡを
求める。そして、この始端位置ＩＡがわかれば、これを
基準点としてびんを１曲転させたときの画像パターンを
、予め標準のびんについて求めておいたグレースケール
パターンまたは２値化パターン等の辞書パターンと比較
することにより、欠けやひび等の欠陥を検出することが
可能になる。なお、第１図（イ）に示す量ｘ、ム７．ｘ
□８．ｙ、□はびんの中心軸Ｃおよび画像のｙ軸上の先
端部を所定の位置に位置決めするためのもので、図示さ
れない光学系によって検出される。
このように、基準位置を決めることにより、ねじ部をも
つ容器についても、その欠陥検査を行なうことが可能と
なる。
〔発明の効果〕・ この発明によれば、びん口ねし部の山と谷が明瞭となる
ように撮像し、びん容器と撮像装置とを相対的に回転さ
せてねじ口部の始端位置を求め、これを基準にして１回
転して得られる画像パターンを用いて欠陥を検査するよ
うにしたので、ねじ口部をもつ容器についても簡単かつ
高速にひびや欠は等の欠陥を検出し得る利点がもたらさ
れる。
【図面の簡単な説明】
第１図はこの発明の詳細な説明するための説明図、第２
図はこの発明が適用される装置と対象物との関係を示す
概要図である。 符号説明 １・・・びん容器、ＩＡ・・・口ねし先端位置、ＩＢ・
・・ねじ谷部、ＩＣ・・・天面部、ＩＤ・・・ねじ山部
、２・・・拡散板、３・・・光源、４・・・基台、５・
・・撮像装置、６・・・画像処理装置、Ｃ・・・中心軸
。 代理人　弁理士　並　木　昭　夫 代理人　弁理士　松　崎　　　清 第　ＩＷＪ （イ） 第２図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 光透過部材からなりねじ口部をもつ容器を照明器により
    一方向から照明し、該ねじ口部を含む平面に対し所定角
    度をなす他方向に撮像装置を配置して前記容器のねじ口
    部を撮像し、その容器中心軸に沿う軸方向の撮像信号か
    らねじ口部の始端位置を検出し、該始端位置を基準点と
    して容器と撮像装置とを相対的に回転させて得られる撮
    像信号パターンを予め記憶されている辞書信号パターン
    と比較してねじ口部に存在する欠陥を検査することを特
    徴とするねじ口部の欠陥検査方法。
JP11239987A 1987-05-11 1987-05-11 ねじ口部の欠陥検査方法 Pending JPS63277960A (ja)

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