JPH049530Y2

JPH049530Y2 -

Info

Publication number: JPH049530Y2
Application number: JP7051586U
Authority: JP
Priority date: 1986-05-09
Filing date: 1986-05-09
Publication date: 1992-03-10
Also published as: JPS62182408U

Description

【考案の詳細な説明】（産業上の利用分野）本考案は，DIP型ICのように、本体部から突出
する複数の接続ピンが一方向に配列された電子部
品において、上記接続ピンの内外方向の曲がりを
検査する装置に関するものである。

（従来の技術）近年の急速な電子技術の進歩は、新しい各種セ
ンサを生み出している。その中でも、光学式変位
センサやCCD等の測定手段は、非接触で形状認
識ができるなどの利点を生かし、急速にその応用
範囲を広げている。そして、これらの測定手段
は、たとえば、第６図に示すように、本体部２の
両側にかに足状に接続ピン３が配列されたDIP型
IC等の電子部品１における上記各接続ピン３の
内外側方向の曲がりを計測する場合にも、人間の
目視検査に替わるものとして、適用することが検
討されている。

（考案が解決しようとする問題点）しかしながら、従来技術では、光学式変位セン
サやCCD等の測定手段を使用して電子部品の接
続ピンの内外側方向の曲がりを検査しようとすれ
ば、検査時に一旦電子部品を所定の位置に静止さ
あせる必要があること、また、測定制度を高める
ためには、上記測定手段に対して電子部品の導入
位置決め精度が極めて高いことが要求されること
から、検査精度を維持するためには、装置全体が
複雑になつてコストアツプとなり、また、連続測
定が難しいので、多量生産された電子部品の検査
には適応できない等の問題がある。

本考案は、上記問題点を解決するもので、接続
ピンが一列に並んだ電子部品において、その接続
ピンの内外側方向の曲がりを簡単な構成で、か
つ、精度良く検査できるようにすることを目的と
している。

（問題点を解決するための手段）本考案の電子部品の接続ピン曲がり検査装置
は、上記目的を達成するために、ベースに第１レ
バーが、この第１レバーに第２レバーがそれぞれ
前記接続ピンの移送方向と交差する方向に揺動自
在に設けられ、各レバーの一方の遊端部には、前
記接続ピンの内外側にそれぞれ接触する接触子が
対向して配置され、この両接触子は、この両接触
子の間に互いに隣接する少なくとも２つの接続ピ
ンが係入される長さを有する一方、前記第１、第
２レバーの少なくとも一方に両レバーの各遊端部
間の開き角を検出する検知センサを備える構成と
した。

（作用）したがつて、本考案の検査装置によれば、電子
部品の接続ピンが接触子間に進入して通過する
際、その接触子間には必ず２本の接続ピンが存在
する。そして、その接続ピン間の内外側方向の寸
法差に応じて接触子間が拡がるので、両レバーの
その開き角が検知センサで検知される。

（実施例）以下、本考案の一実施例を図面にしたがつて説
明する。

第１図は電子部品の接続ピン曲がり検査装置を
示す平面図、第２図は第１図の−線矢視図で
ある。

この実施例の接続ピン曲がり検査装置は、ベー
ス４の上面に第１レバー５が軸６により、また、
この第１レバー５に第２レバー７が軸８により、
それぞれ電子部品一の接続ピン３の移送方向（図
中矢印Ｂ方向）と交差する方向（図中矢印A₁，
A₂方向）に揺動自在に設けられている。そして、
第１レバー５と第２レバー７の一方の遊端部に
は、接続ピン３の内外側にそれぞれ接触する接触
子９，１０が互いに対向して配置されている。こ
の両接触子９，１０は、移送方向Ｂから送出され
てくる電子部品１に対して、両接触子９，１０の
間に互いに隣接する少なくとも２つの接続ピン３
が係入される長さに設定されており、さらに、こ
れらの接触子９，１０間に接続ピン３を円滑に導
入させるために、その接続ピン導入端部にガイド
テーパ面１１，１２が形成されている。

ベース４と第１レバー５の他方の遊端部側とに
それぞれ設けた突部４ａ，５ａ間に第１圧縮ばね
１３が介装され、この第１圧縮ばね１３によつて
第１レバー５がベース４に対して矢印A₁方向に
回転付勢され、ベース４の位置決めピン１６に突
部５ａを当接させている。また、第１レバー５に
設けた他の突部５ｂと第２レバー７の他方の遊端
部との間に第２圧縮ばね１７が介装され、この第
２圧縮ばね１７によつて第２レバー７が第１レバ
ー５に対して矢印A₃方向に回転付勢され、第１
レバー５の位置決めピン位置８に第２レバー７を
当接させている。この状態では、接触子９，１０
の間に接続ピン３が通れる程度の小さな間隙が形
成されている。また、位置決めピン１６，１８
は、移送方向Ｂと直行する方向（矢印Ｃ方向）の
微調整機構（図示省略）を備えている。

第１レバー５には、断面コの字状のセンサ台１
９が設けられており、このセンサ台１９の内部に
第２レバー７の他方の遊端部の開き角を検知する
検知センサ２０が配置されている。この検知セン
サ２０は、本例では、発光素子２１と受光素子２
２が上下に相対向して設けられたフオトインタラ
プタで構成されており、両素子２１，２２間に第
２レバー７の他方の遊端部がセンサアクチユエー
タフラツグ２３として介入される。検知センサ２
０としては、本例のフオトインタラプタに限ら
ず、その他磁気センサ等を適用することもでき
る。また、検知センサ２の感度は、第２レバー１
０の軸８を基点とするスパンの比率ａ／ｂを適宜
設定することによつて調整することができる。

上記にように構成された曲がり検査装置２４
は、電子部品１の移送路となるガイドレール２５
の傾斜に沿い、かつ、ガイドレール２５を間にし
て互いに左右対象的に配置されている。ガイドレ
ール２５の傾斜角度θは、電子部品１が自重によ
り矢印Ｂ方向に滑降できる程度に設定されてい
る。また、曲がり検査装置２４，２４の上方に
は、電子部品１の本体部２をその両側から挟んで
搬送するための搬送ローラ対２６が配置されてい
る。２７は搬送ローラ対２６の駆動系である、次に上記構成の動作をのべる。なお、第１図に
示された左右の曲がり検査装置２４，２４はそれ
ぞれが担当する電子部品１の角接続ピンに対して
同じ動作を行なうので、片側の検査装置２４のみ
の動作を第４図を参考に説明する。

第４図ａは、第１図の状態に相当するもので、
検査を受ける電子部品１のガイドレール２５に沿
つて矢印Ｂ方向に滑降することにより、本体部２
が搬送ローラ対２６に挟まれ、片側のピン列２８
が一方の接触子９のガイドテーパ面１１の突き当
たつた状態を示す。電子部品１は、ハンガー９に
よりさらに矢印Ｂ方向に送出される。このとき、
台４図ｂのように、先頭の接続ピン３がガイドテ
ーパ面１１を押して両接触子９，１０間に進入す
ることにより、第１レバー５が軸６を中心に第１
圧縮ばね１３に抗して矢印A₂方向に回動する。
これは、接触子９が接続ピン３の内側を確実にト
レースする基準側となることを意味する。そし
て、台４図ｂにおいて、各接続ピン３の内外側方
向曲がりが許容範囲にあれば、接続ピン３の外側
をトレースする接触子１０の位置は変化しない。
すなわち、第２レバー７のセンサアクチユエータ
フラツグ２３と検知センサ２０の相対位置関係は
変化しない。

これに対し、台４図Ｃのように、電子部品１の
ピン列２８に、ピン内外側方向に許容範囲以上に
曲がつた接続ピン３ａがあれば、これに隣接する
他の接続ピン３ｂとの関係で、接触子９，１０の
間隙は広がる。すなわち、許容範囲内にある接続
ピン３ｂと曲がつた接続ピンａの間の寸法差δに
対応した分だけ、第２レバー７が軸８を中心に第
２圧縮ばね１７に抗して矢印A₄方向へ回動する。
その結果、第１レバー５と第２レバー７の遊端部
の開き角が大きくなり、両者間の相対的な変化量
（差動分）が検知センサ２０とセンサアクチユエ
ータフラツグ２３の位置関係のずれとなつて現わ
れて検知センサ２０の検出信号レベルが変化する
ため、接続ピン３ａが許容範囲以上に曲がつてい
るということが判別される。

また、この検査装置は、接続ピン３がある曲率
Ｒをもつ場合の良、不良を検査する場合にも適用
することができる。すなわち、第５図ａのよう
に、各接続ピン３間の内外測方向の寸法差δが許
容範囲内であれば“良”とし、これに対して台５
図ｂのように、接続ピン３が１本だけでも許容範
囲δをこえた曲がりがあれば、その接続ピン３を
“不良”として検知することができる。

なお、この実施例では、電子部品として複数の
接続ピン３が並列配置されたDIP型ICに適用した
場合について説明したが、これに限定されるもの
ではなく、その他、SIP型IC等の接続ピンが一方
向に揃つて配置されたものに本考案を広く適用で
きるのは勿論である。

（効果）以上にように、本考案によれば、DIP型IC等の
電子部品の内外方向の接続ピンの曲がり異常を簡
単な構成で、かつ、精度良く検査することができ
るようになる。このため、光学式変位センサや
ccd等の測定手段に比べて安価であり、しかも、
電子部品の導入位置決め精度が要求されないの
で、検査が容易になる。さらに、検査時には、電
子部品を停止させることなく連続測定が可能とな
るので、多量生産された電子部品の検査に適応で
きる等の優れた効果が発揮される。

【図面の簡単な説明】

第１図は本考案の一実施例にかかる電子部品に
おける接続ピンの曲がり検査装置の平面図、第２
図は第１図−線矢視図、第３図は第２図の
−線矢視図、第４図ａ，ｂおよびｃは各動作説
明図、第５図ａおよびｂは本考案の他の実施例に
かかる電子部品用接続ピンの説明図、第６図は電
子部品の斜視図である。１……電子部品、３……接続ピン４……ベー
ス、５……第１レバー、７……第２レバー、９，
１０……接触子、２０……検知センサ。

Claims

【実用新案登録請求の範囲】一方向に配列された複数の接続ピンを有する電
子部品の移送路の少なくとも一側にあつて、前記
接続ピンの内外側方向の曲がりを検査する装置で
あつて、ベースに第１レバーが、この第１レバーに第２
レバーがそれぞれ前記接続ピンの移送方向と交差
する方向に揺動自在に設けられ、各レバの一方の
遊端部には、前記接続ピンの内外側にそれぞれ接
触する接触子が対向して配置され、この両接触子
は、両接触子の間に互いに隣接する少なくとも２
つの接続ピンが係入される長さを有し、前記第
１、第２レバーの少なくとも一方に両レバーの各
遊端部間の開き角を検出する検知センサを備える
ことを特徴とする電子部品の接続ピン曲がり検査
装置。