JPH0498626A - 光ピックアップ装置 - Google Patents
光ピックアップ装置Info
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- JPH0498626A JPH0498626A JP2214309A JP21430990A JPH0498626A JP H0498626 A JPH0498626 A JP H0498626A JP 2214309 A JP2214309 A JP 2214309A JP 21430990 A JP21430990 A JP 21430990A JP H0498626 A JPH0498626 A JP H0498626A
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- Japan
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- light
- signal
- receiving element
- semiconductor laser
- objective lens
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野コ
本発明は、半導体レーザ素子の出力レベルを所定値に制
御できる光ピックアップ装置に関する。
御できる光ピックアップ装置に関する。
[従来の技術]
例えば、光デイスク装置や光磁気ディスク装置などで、
記憶媒体にデータを記録/再生するための光ピックアッ
プ装置では、光源として用いている半導体レーザ素子の
光量を、データ記録および再生時に必要な大きさに制御
している。
記憶媒体にデータを記録/再生するための光ピックアッ
プ装置では、光源として用いている半導体レーザ素子の
光量を、データ記録および再生時に必要な大きさに制御
している。
従来では、半導体レーザ素子の外囲器に収容されている
モニタ用の受光素子の受光信号を用いて、半導体レーザ
素子の出力光量を判定するようにしていた。
モニタ用の受光素子の受光信号を用いて、半導体レーザ
素子の出力光量を判定するようにしていた。
ところで1例えば、光ピックアップ装置の内部に塵埃や
ごみなどが侵入して、内部の光学部品の表面に付着する
と、透過率や反射率が低下し、結果として記憶媒体に照
射される光強度が低下して、データ記録が不完全になっ
たり、再生信号のS/N比が低下して、再生データにデ
ータエラーが含まれるような事態を生じる。
ごみなどが侵入して、内部の光学部品の表面に付着する
と、透過率や反射率が低下し、結果として記憶媒体に照
射される光強度が低下して、データ記録が不完全になっ
たり、再生信号のS/N比が低下して、再生データにデ
ータエラーが含まれるような事態を生じる。
このような不都合を解消するものとしては、例えば、特
開昭55−8006号公報に開示されたものがある。こ
の従来装置では、半導体レーザ素子から記憶媒体上に導
かれる光束の一部をプリズムを用いて分離し、その分離
した光束を受光することで、光学系の汚れを判別するよ
うにしている。
開昭55−8006号公報に開示されたものがある。こ
の従来装置では、半導体レーザ素子から記憶媒体上に導
かれる光束の一部をプリズムを用いて分離し、その分離
した光束を受光することで、光学系の汚れを判別するよ
うにしている。
[発明が解決しようとする課題]
しかしながら、このような従来装置では、次のような不
都合を生じていた。
都合を生じていた。
すなわち、光束の一部を分離するプリズムが、プリズム
を通過した光束を対物レンズに導くためのガルバノミラ
−の手前に配置されているために、ガルバノミラ−が汚
れた場合に対処することができず、半導体レーザ素子の
光量制御を適切に行なうことができないという不都合を
生じていた。
を通過した光束を対物レンズに導くためのガルバノミラ
−の手前に配置されているために、ガルバノミラ−が汚
れた場合に対処することができず、半導体レーザ素子の
光量制御を適切に行なうことができないという不都合を
生じていた。
本発明は、このような従来装置の不都合を解消し、半導
体レーザ素子の光lf制御を適切に行なうことのできる
光ピックアップ装置を提供することを目的としている。
体レーザ素子の光lf制御を適切に行なうことのできる
光ピックアップ装置を提供することを目的としている。
[課題を解決するための手段]
本発明は、偏向プリズムから対物レンズまでの光路中に
配設されてその光束を受光する受光素子と、この受光素
子の受光信号に基づいて半導体レーザ素子の駆動電流を
制御する制御手段を備えたものである。
配設されてその光束を受光する受光素子と、この受光素
子の受光信号に基づいて半導体レーザ素子の駆動電流を
制御する制御手段を備えたものである。
また、偏向プリズムから対物レンズまでの光路中に配設
されてその光束を受光する第1の受光素子と、半導体レ
ーザ素子から出力された信号光の一部を受光する第2の
受光素子と、第1の受光素子から出力される受光信号と
第2の受光素子から出力される受光素子の差を算出する
差動アンプと、この差動アンプの出力を所定値と比較す
る比較器と、この比較器の出力信号に応じて第1の受光
素子の受光信号または第2の受光素子の受光信号のいず
れか一方を選択する選択手段と、この選択手段により選
択された受光信号に基づいて半導体レーザ素子の駆動電
流を制御する制御手段を備えたものである。
されてその光束を受光する第1の受光素子と、半導体レ
ーザ素子から出力された信号光の一部を受光する第2の
受光素子と、第1の受光素子から出力される受光信号と
第2の受光素子から出力される受光素子の差を算出する
差動アンプと、この差動アンプの出力を所定値と比較す
る比較器と、この比較器の出力信号に応じて第1の受光
素子の受光信号または第2の受光素子の受光信号のいず
れか一方を選択する選択手段と、この選択手段により選
択された受光信号に基づいて半導体レーザ素子の駆動電
流を制御する制御手段を備えたものである。
また、偏向プリズムから対物レンズまでの光路中に配設
されてその光束を受光する受光素子と。
されてその光束を受光する受光素子と。
この受光素子の受光信号の初期値を出力する初期値設定
手段と、受光素子の受光信号と初期値設定手段の設定値
の偏差に基づいて受光素子の受光信号の基準値を算出す
る基準値算出手段と、この基準値算出手段が算出した基
準値と受光素子の受光信号の偏差に基づいて半導体レー
ザ素子の駆動電流を制御する制御手段を備えたものであ
る。
手段と、受光素子の受光信号と初期値設定手段の設定値
の偏差に基づいて受光素子の受光信号の基準値を算出す
る基準値算出手段と、この基準値算出手段が算出した基
準値と受光素子の受光信号の偏差に基づいて半導体レー
ザ素子の駆動電流を制御する制御手段を備えたものであ
る。
[作用]
したがって、受光素子により対物レンズに入射される直
前で、半導体レーザ素子から出力された光束を検出して
いるので、記憶媒体に照射される光束を適切に検出でき
、半導体レーザ素子の光量を適切に制御することができ
る。
前で、半導体レーザ素子から出力された光束を検出して
いるので、記憶媒体に照射される光束を適切に検出でき
、半導体レーザ素子の光量を適切に制御することができ
る。
また、分離光学系を備えた光ピックアップ装置で、固定
光学系側に設けられた光束検出用の受光素子の受光信号
と、分離光学系側に設けられた光束検出用の受光素子の
受光信号の偏差に基づいて、半導体レーザ素子の光量制
御のために使用する検出信号を選択しているので、固定
光学系と分離光学系の間に異物が侵入したような事態で
も、適切に半導体レーザ素子の光量制御を行なうことが
できる。
光学系側に設けられた光束検出用の受光素子の受光信号
と、分離光学系側に設けられた光束検出用の受光素子の
受光信号の偏差に基づいて、半導体レーザ素子の光量制
御のために使用する検出信号を選択しているので、固定
光学系と分離光学系の間に異物が侵入したような事態で
も、適切に半導体レーザ素子の光量制御を行なうことが
できる。
また、光学系の光量変動に応じて、光量制御のために用
いる基準値を設定しているので、より精度良く半導体レ
ーザ素子の光量制御を行なうことができる。
いる基準値を設定しているので、より精度良く半導体レ
ーザ素子の光量制御を行なうことができる。
[実施例コ
以下、添付図面を参照しながら、本発明の実施例を詳細
に説明する。
に説明する。
第1図は、本発明の一実施例にかかる光ピックアップ装
置の光学系を示している。この光ピックアップ装置は、
光学系が1つの筐体に収容されているものである。
置の光学系を示している。この光ピックアップ装置は、
光学系が1つの筐体に収容されているものである。
同図において、半導体レーザ素子1から出力された光束
は、コリメートレンズ2により平行光に変換された状態
で、ビームスプリッタ3に入射され、その面3aを通過
して偏向プリズム4に導かれ、偏向プリズム4によりそ
の大部分が反射されて対物レンズ5に導かれ、対物レン
ズ5により集束されて記憶媒体6に照射される。また、
偏向プリズム4を通過する光束は受光素子7により受光
される。
は、コリメートレンズ2により平行光に変換された状態
で、ビームスプリッタ3に入射され、その面3aを通過
して偏向プリズム4に導かれ、偏向プリズム4によりそ
の大部分が反射されて対物レンズ5に導かれ、対物レン
ズ5により集束されて記憶媒体6に照射される。また、
偏向プリズム4を通過する光束は受光素子7により受光
される。
記憶媒体6からの反射光は、対物レンズ5により略平行
光に変換された後に、偏向プリズム4を反射してビーム
スプリッタ3に導かれ、ビームスプリッタ3の面3bを
反射し、集光レンズ8により集束されて、受光素子9に
受光される。
光に変換された後に、偏向プリズム4を反射してビーム
スプリッタ3に導かれ、ビームスプリッタ3の面3bを
反射し、集光レンズ8により集束されて、受光素子9に
受光される。
また、対物レンズ5には、対物レンズ5をフォーカシン
グ方向およびトラッキング方向に移動する対物レンズ移
動機構5aが付設されている。
グ方向およびトラッキング方向に移動する対物レンズ移
動機構5aが付設されている。
そして、受光素子9の受光信号に基づいて、対物レンズ
5のフォーカシング誤差信号、トラッキング誤差信号、
および、再生信号が得られる。また、フォーカシング誤
差信号およびトラッキング誤差信号に基づいて、フォー
カシングサーボ制御手段およびトラッキングサーボ制御
手段が対物レンズ移動機構5aを制御し、対物レンズ5
が集束する光束の位置決め制御を行なう。
5のフォーカシング誤差信号、トラッキング誤差信号、
および、再生信号が得られる。また、フォーカシング誤
差信号およびトラッキング誤差信号に基づいて、フォー
カシングサーボ制御手段およびトラッキングサーボ制御
手段が対物レンズ移動機構5aを制御し、対物レンズ5
が集束する光束の位置決め制御を行なう。
第2図は、半導体レーザ素子1の光量制御系の一例を示
している。なお、同図では、データ再生時の態様を示し
ている。
している。なお、同図では、データ再生時の態様を示し
ている。
同図において、受光素子7の受光信号SRは、アンプ1
0を介して差動増幅器11のプラス側入力端に加えられ
る。
0を介して差動増幅器11のプラス側入力端に加えられ
る。
この差動増幅器11のマイナス側入力端には、光ピック
アップ装置の光学部品の光学面に汚れがなく、かつ、半
導体レーザ素子1の出力光量が基準値になっているとき
に、受光素子7で得られる受光信号の大きさに相当する
基準値VRが、基準値設定器12より加えられている。
アップ装置の光学部品の光学面に汚れがなく、かつ、半
導体レーザ素子1の出力光量が基準値になっているとき
に、受光素子7で得られる受光信号の大きさに相当する
基準値VRが、基準値設定器12より加えられている。
これにより、差動増幅器11からは、基準値VRと受光
信号SRの偏差に応じた偏差信号ERが出力され、この
偏差信号ERは、半導体レーザ素子1の駆動電流を制御
する半導体レーザ素子駆動回路13に加えられている。
信号SRの偏差に応じた偏差信号ERが出力され、この
偏差信号ERは、半導体レーザ素子1の駆動電流を制御
する半導体レーザ素子駆動回路13に加えられている。
半導体レーザ素子駆動回路13は、半導体レーザ素子1
に駆動電流IDを印加するものであり、偏差信号ERが
ゼロになる方向に、半導体レーザ素子1に印加している
駆動電流IDの大きさを制御する。
に駆動電流IDを印加するものであり、偏差信号ERが
ゼロになる方向に、半導体レーザ素子1に印加している
駆動電流IDの大きさを制御する。
したがって、光ピックアップ装置の光学部品に汚れが付
着して、対物レンズ5に入射される光量が低下した場合
、その光量低下に伴って、受光素子7に入射される光量
も低下するので、受光素子7から出力される受光信号S
Rが低下する。
着して、対物レンズ5に入射される光量が低下した場合
、その光量低下に伴って、受光素子7に入射される光量
も低下するので、受光素子7から出力される受光信号S
Rが低下する。
これにより、差動増幅器11から出力される偏差信号E
Rの値は、対物レンズ5に入射される光量の低下に相当
する値になり、それによって、半導体レーザ素子能動回
路13は、対物レンズ5の入射光量が基準値に一致する
ように、駆動電流IDを変化させる。
Rの値は、対物レンズ5に入射される光量の低下に相当
する値になり、それによって、半導体レーザ素子能動回
路13は、対物レンズ5の入射光量が基準値に一致する
ように、駆動電流IDを変化させる。
これによって、対物レンズ5に入射される光量が所定の
値になるように、半導体レーザ素子1の出力光量が制御
され、その結果、対物レンズ5に入射される光量が、所
定値に制御される。
値になるように、半導体レーザ素子1の出力光量が制御
され、その結果、対物レンズ5に入射される光量が、所
定値に制御される。
ところで、偏向プリズム4の反射面に汚れが付着した場
合、反射光と透過光の光量が一致しないので、受光素子
7に入射される光量と対物レンズ5に入射される光量が
一致しない。
合、反射光と透過光の光量が一致しないので、受光素子
7に入射される光量と対物レンズ5に入射される光量が
一致しない。
すなわち、第3図(a)に示すように、偏向プリズム4
の反射面にごみGが付着しているとき、その透過光は、
入射される光束のうちごみGに遮られない部分になる。
の反射面にごみGが付着しているとき、その透過光は、
入射される光束のうちごみGに遮られない部分になる。
一方、同図(b)に示すように、反射される光束は、入
射時にごみGに遮られない部分のうち、さらに、反射時
にごみGに遮られない部分となる。
射時にごみGに遮られない部分のうち、さらに、反射時
にごみGに遮られない部分となる。
したがって、反射光は透過光よりも少なくなり、例えば
、反射光と透過光の光量比は2:5になる。
、反射光と透過光の光量比は2:5になる。
第4図は、このような反射光と透過光の光量差を解消で
きる本発明の他の実施例にかかる光量制御系を示してい
る。
きる本発明の他の実施例にかかる光量制御系を示してい
る。
同図において、受光素子7の受光信号SRは、アンプ1
0を介してアナログ/デジタル変換器15に加えられ、
このアナログ/デジタル変換器15により対応するデジ
タル受光信号DRに変換されて、光量データ保持回路1
6および比較器17に加えられている。
0を介してアナログ/デジタル変換器15に加えられ、
このアナログ/デジタル変換器15により対応するデジ
タル受光信号DRに変換されて、光量データ保持回路1
6および比較器17に加えられている。
光量データ保持回路16は5例えば、新たに装着された
記憶媒体を光ピックアップ装置がアクセスする最初のタ
イミングで、デジタル受光信号DRをサンプリングして
記憶するものであり、その記憶データDRaは、誤差検
出回路18の一方の入力端に加えられている。
記憶媒体を光ピックアップ装置がアクセスする最初のタ
イミングで、デジタル受光信号DRをサンプリングして
記憶するものであり、その記憶データDRaは、誤差検
出回路18の一方の入力端に加えられている。
初期値設定回路19は、初期状態で受光素子7が受光す
る光量に応じた初期値データRFaを記憶するものであ
り、その初期値データRFaは、誤差検出回路18に基
準データとして加えられている。
る光量に応じた初期値データRFaを記憶するものであ
り、その初期値データRFaは、誤差検出回路18に基
準データとして加えられている。
誤差検出回路18は、初期値データRFaと記憶データ
DRaの誤差を検出するものであり、その検呂結果は、
誤差信号ERaとして光量基準値設定回路20に加えら
れている。
DRaの誤差を検出するものであり、その検呂結果は、
誤差信号ERaとして光量基準値設定回路20に加えら
れている。
光量基準値設定回路20は、誤差信号ERaに基づいて
、対物レンズ5に入射される光量の誤差を判定するとと
もに、その誤差を解消するために必要な光量基準値RF
bを算出するものであり、その光量基準値RFbは、比
較器17の基準値入力端に加えられている。例えば、上
述したように、反射光と透過光の光量比が2=5の場合
、光量基準値設定回路20は、誤差信号ERaの572
倍の値を光量誤差として判定する。
、対物レンズ5に入射される光量の誤差を判定するとと
もに、その誤差を解消するために必要な光量基準値RF
bを算出するものであり、その光量基準値RFbは、比
較器17の基準値入力端に加えられている。例えば、上
述したように、反射光と透過光の光量比が2=5の場合
、光量基準値設定回路20は、誤差信号ERaの572
倍の値を光量誤差として判定する。
比較器17は、デジタル受光信号DRと光量基準値RF
bを比較するものであり、その比較結果は、制御データ
CDaとしてデジタル/アナログ変換器21に加えられ
ている。
bを比較するものであり、その比較結果は、制御データ
CDaとしてデジタル/アナログ変換器21に加えられ
ている。
デジタル/アナログ変換器21は、制御データCDaを
対応するアナログ制御信号CAaに変換するものであり
、そのアナログ制御信号CAaは、電流制御回路22に
加えられている。
対応するアナログ制御信号CAaに変換するものであり
、そのアナログ制御信号CAaは、電流制御回路22に
加えられている。
電流制御回路22は、半導体レーザ素子1に駆動電流I
Dを印加するものであり、アナログ制御信号CAaに基
づいて駆動電流IDの大きさを制御する。
Dを印加するものであり、アナログ制御信号CAaに基
づいて駆動電流IDの大きさを制御する。
このようにして、本実施例では、受光素子7の受光信号
SRに基づいて、初期値からの光量差を判定するととも
に、その判定結果に基づいて、半導体レーザ素子1に印
加する駆動電流IDを制御しているので、対物レンズ5
の入射光量が経時変化した場合、その経時変化を解消す
るように、半導体レーザ素子1に印加する駆動電流ID
が制御されるので、常に対物レンズ5の入射光量を適切
な値にすることができる。
SRに基づいて、初期値からの光量差を判定するととも
に、その判定結果に基づいて、半導体レーザ素子1に印
加する駆動電流IDを制御しているので、対物レンズ5
の入射光量が経時変化した場合、その経時変化を解消す
るように、半導体レーザ素子1に印加する駆動電流ID
が制御されるので、常に対物レンズ5の入射光量を適切
な値にすることができる。
第5図は、光ピックアップ装置の偏向プリズム4および
対物レンズ5を、他の光学部品とは別の分離筐体に収容
し、この分離筐体のみを記憶媒体の半径方向に移動する
ことで、高速なデータアクセスを実現できるようにした
ものである。なお、同図において、第1図と同一部分お
よび相当する部分には、同一符号を付している。
対物レンズ5を、他の光学部品とは別の分離筐体に収容
し、この分離筐体のみを記憶媒体の半径方向に移動する
ことで、高速なデータアクセスを実現できるようにした
ものである。なお、同図において、第1図と同一部分お
よび相当する部分には、同一符号を付している。
同図において、半導体レーザ素子1、コリメートレンズ
2、ビームスプリンタ3.受光素子9、および、ビーム
スプリッタ3の面3aを反射する光束を受光する受光素
子25は、固定筐体CAIに収容されており、偏向プリ
ズム4、対物レンズ5、対物レンズ移動機構5a、およ
び、受光素子7は、分m筐体CA2に収容されている。
2、ビームスプリンタ3.受光素子9、および、ビーム
スプリッタ3の面3aを反射する光束を受光する受光素
子25は、固定筐体CAIに収容されており、偏向プリ
ズム4、対物レンズ5、対物レンズ移動機構5a、およ
び、受光素子7は、分m筐体CA2に収容されている。
また、固定筐体CALと分離筐体CA2を連絡する光路
を保持するために、固定筐体CALおよび分離筐体CA
2に形成されている開口部には、それぞれカバーガラス
26.27が嵌合されていて、固定筐体CAIおよび分
離筐体CA2の気密を保持している。
を保持するために、固定筐体CALおよび分離筐体CA
2に形成されている開口部には、それぞれカバーガラス
26.27が嵌合されていて、固定筐体CAIおよび分
離筐体CA2の気密を保持している。
第6図は、第5図の光ピックアップ装置に適用する光量
制御系の一例を示している。なお、同図において、第2
図と同一部分および相当する部分には、同一符号を付し
ている。
制御系の一例を示している。なお、同図において、第2
図と同一部分および相当する部分には、同一符号を付し
ている。
同図において、受光素子7の受光信号SRは、アンプ3
1を介し、差動増幅器32のプラス側入力端および切換
器33の一方の切換入力端33aに加えられており、受
光素子25の受光信号SSは、アンプ34を介し、差動
増幅器32のマイナス側入力端および切換器33の他方
の切換入力端33bに加えられている。
1を介し、差動増幅器32のプラス側入力端および切換
器33の一方の切換入力端33aに加えられており、受
光素子25の受光信号SSは、アンプ34を介し、差動
増幅器32のマイナス側入力端および切換器33の他方
の切換入力端33bに加えられている。
差動増幅器32は、受光信号SRと受光信号SSの差を
演算するものであり、その演算結果は、差信号EEとし
て比較器35の比較信号入力端に加えられている。
演算するものであり、その演算結果は、差信号EEとし
て比較器35の比較信号入力端に加えられている。
基準値設定器36は、差信号EEの基準値REeを記憶
するものであり、その基準値REeは、比較器35の基
準信号入力端に加えられている。
するものであり、その基準値REeは、比較器35の基
準信号入力端に加えられている。
比較器35は、差信号EEと基準値REeを比較し、差
信号EEが基準値REeよりも大きくなると、その出力
信号BEを論理Hレベルに立上げるものであり、その信
号BEは、切換器33に加えられるとともに、エラー信
号として外部装置(例えば、制御装置)に出力される。
信号EEが基準値REeよりも大きくなると、その出力
信号BEを論理Hレベルに立上げるものであり、その信
号BEは、切換器33に加えられるとともに、エラー信
号として外部装置(例えば、制御装置)に出力される。
切換器33は、比較器35より加えられる信号BEが論
理Lレベルになっているときには、切換入力端33aに
加えられている受光信号SRを選択し、信号BEが論理
Hレベルになっているときには、切換入力端33bに加
えられている受光信号ssを選択し、その選択比力は、
差動増幅器11のプラス側入力端に加えられている6 以上の構成で、常時は、受光素子7の受光量と、受光素
子25の受光量がほぼ等しく、したがって、差像増幅器
32から出力される差信号EEが基準値REeよりも小
さい値になる。
理Lレベルになっているときには、切換入力端33aに
加えられている受光信号SRを選択し、信号BEが論理
Hレベルになっているときには、切換入力端33bに加
えられている受光信号ssを選択し、その選択比力は、
差動増幅器11のプラス側入力端に加えられている6 以上の構成で、常時は、受光素子7の受光量と、受光素
子25の受光量がほぼ等しく、したがって、差像増幅器
32から出力される差信号EEが基準値REeよりも小
さい値になる。
これにより、比較器35から出力される信号BEが論理
Lレベルになり、切換器33は受光信号SRを選択して
差動増幅器11に加える。
Lレベルになり、切換器33は受光信号SRを選択して
差動増幅器11に加える。
したがって、受光素子7の受光量に応じて、半導体レー
ザ素子1に印加される駆動電流Inが制御され、対物レ
ンズ5に入射される光量が所定値に制御される。
ザ素子1に印加される駆動電流Inが制御され、対物レ
ンズ5に入射される光量が所定値に制御される。
ここで、例えば、固定筐体CALから分離筺体CA2の
光路中に異物などが侵入して、分離筐体CA2の受光量
が大幅に低減すると、受光素子7の受光量が大幅に低下
し、それにより、差動増幅器32がら出力される差信号
EEが大幅に増大する。
光路中に異物などが侵入して、分離筐体CA2の受光量
が大幅に低減すると、受光素子7の受光量が大幅に低下
し、それにより、差動増幅器32がら出力される差信号
EEが大幅に増大する。
これにより、比較器35の出力信号BEが論理Hレベル
に立上がり、それによって、切換器33は、切換入力端
33bに加えられる受光信号SSを選択して差動増@器
11に加えるとともに、外部装置に、光学系の異常が通
知される。
に立上がり、それによって、切換器33は、切換入力端
33bに加えられる受光信号SSを選択して差動増@器
11に加えるとともに、外部装置に、光学系の異常が通
知される。
これによって、急激に変化した受光信号SRに代えて、
受光信号SRが差動槽S器11に加えられるので、半導
体レーザ素子能動回路13が半導体レーザ素子1に印加
する駆動電流IDが大幅に増大するような事態を回避で
き、半導体レーザ素子1が破損するような事故を防止す
ることができる。
受光信号SRが差動槽S器11に加えられるので、半導
体レーザ素子能動回路13が半導体レーザ素子1に印加
する駆動電流IDが大幅に増大するような事態を回避で
き、半導体レーザ素子1が破損するような事故を防止す
ることができる。
ところで、上述した実施例では、偏向プリズムの反射光
を対物レンズに導いているが、偏向プリズムの透過光を
対物レンズに導くような光ピックアップ装置にも、本発
明を同様にして適用することができる。
を対物レンズに導いているが、偏向プリズムの透過光を
対物レンズに導くような光ピックアップ装置にも、本発
明を同様にして適用することができる。
[発明の効果コ
以上説明したように、本発明によれば、受光素子により
対物レンズに入射される直前で、半導体レーザ素子から
出力された光束を検出しているので、記憶媒体に照射さ
れる光束を適切に検出でき、半導体レーザ素子の光量を
適切にmi#することができる。
対物レンズに入射される直前で、半導体レーザ素子から
出力された光束を検出しているので、記憶媒体に照射さ
れる光束を適切に検出でき、半導体レーザ素子の光量を
適切にmi#することができる。
また、分離光学系を備えた光ピックアップ装置で、固定
光学系側に設けられた光束検出用の受光素子の受光信号
と、分離光学系側に設けられた光束検出用の受光素子の
受光信号の偏差に基づいて。
光学系側に設けられた光束検出用の受光素子の受光信号
と、分離光学系側に設けられた光束検出用の受光素子の
受光信号の偏差に基づいて。
半導体レーザ素子の光量制御のために使用する検圧信号
を選択しているので、固定光学系と分離光学系の間に異
物が侵入したような事態でも、適切に半導体レーザ素子
の光量制御を行なうことができる。
を選択しているので、固定光学系と分離光学系の間に異
物が侵入したような事態でも、適切に半導体レーザ素子
の光量制御を行なうことができる。
また、光学系の光量変動に応じて、光量制御のために用
いる基準値を設定しているので、より精度良く半導体レ
ーザ素子の光量制御を行なうことができるという効果を
得る。
いる基準値を設定しているので、より精度良く半導体レ
ーザ素子の光量制御を行なうことができるという効果を
得る。
第1図は本発明の一実施例にかかる光ピックアップ装置
を示す概略構成図、第2図は第1図の装置の光量制御系
の一例を示すブロック図、第3図(a)。 (b)は反射光と透過光の光量の差を説明するための概
略図、第4図は第1図の装置の光量制御系の他の例を示
すブロック図、第5図は本発明の他の実施例にかかる光
ピックアップ装置を示す概略構成図、第6図は第5図の
装置の光量制御系の一例を示すブロック図である。 7.25・・・受光素子、11.32・・・差動増幅器
、12・・・基準値設定器、13・・・半導体レーザ素
子駆動回路、15・・・アナログ/デジタル変換器、1
6・・・光量データ保持回路、17.32・・・比較器
、18・・・誤差検出回路、19・・・初期値設定回路
、20・・・光量基準値設定回路。 21・・・デジタル/アナログ変換器、22・・・電流
制御回路、33・・・切換器。
を示す概略構成図、第2図は第1図の装置の光量制御系
の一例を示すブロック図、第3図(a)。 (b)は反射光と透過光の光量の差を説明するための概
略図、第4図は第1図の装置の光量制御系の他の例を示
すブロック図、第5図は本発明の他の実施例にかかる光
ピックアップ装置を示す概略構成図、第6図は第5図の
装置の光量制御系の一例を示すブロック図である。 7.25・・・受光素子、11.32・・・差動増幅器
、12・・・基準値設定器、13・・・半導体レーザ素
子駆動回路、15・・・アナログ/デジタル変換器、1
6・・・光量データ保持回路、17.32・・・比較器
、18・・・誤差検出回路、19・・・初期値設定回路
、20・・・光量基準値設定回路。 21・・・デジタル/アナログ変換器、22・・・電流
制御回路、33・・・切換器。
Claims (3)
- (1)半導体レーザ素子から出力された信号光の光軸を
偏向プリズムを介して対物レンズの光軸に一致させる光
ピックアップ装置において、偏向プリズムから対物レン
ズまでの光路中に配設されてその光束を受光する受光素
子と、この受光素子の受光信号に基づいて半導体レーザ
素子の駆動電流を制御する制御手段を備えたことを特徴
とする光ピックアップ装置。 - (2)半導体レーザ素子から出力された信号光の光軸を
偏向プリズムを介して対物レンズの光軸に一致させると
ともに、偏向プリズムおよび対物レンズが他の光学系か
ら分離されて記憶媒体の半径方向に移動される光ピック
アップ装置において、偏向プリズムから対物レンズまで
の光路中に配設されてその光束を受光する第1の受光素
子と、半導体レーザ素子から出力された信号光の一部を
受光する第2の受光素子と、上記第1の受光素子から出
力される受光信号と上記第2の受光素子から出力される
受光素子の差を算出する差動アンプと、この差動アンプ
の出力を所定値と比較する比較器と、この比較器の出力
信号に応じて上記第1の受光素子の受光信号または第2
の受光素子の受光信号のいずれか一方を選択する選択手
段と、この選択手段により選択された受光信号に基づい
て半導体レーザ素子の駆動電流を制御する制御手段を備
えたことを特徴とする光ピックアップ装置。 - (3)半導体レーザ素子から出力された信号光の光軸を
偏向プリズムを介して対物レンズの光軸に一致させる光
ピックアップ装置において、偏向プリズムから対物レン
ズまでの光路中に配設されてその光束を受光する受光素
子と、この受光素子の受光信号の初期値を出力する初期
値設定手段と、上記受光素子の受光信号と上記初期値設
定手段の設定値の偏差に基づいて上記受光素子の受光信
号の基準値を算出する基準値算出手段と、この基準値算
出手段が算出した基準値と上記受光素子の受光信号の偏
差に基づいて半導体レーザ素子の駆動電流を制御する制
御手段を備えたことを特徴とする光ピックアップ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2214309A JPH0498626A (ja) | 1990-08-15 | 1990-08-15 | 光ピックアップ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2214309A JPH0498626A (ja) | 1990-08-15 | 1990-08-15 | 光ピックアップ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0498626A true JPH0498626A (ja) | 1992-03-31 |
Family
ID=16653612
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2214309A Pending JPH0498626A (ja) | 1990-08-15 | 1990-08-15 | 光ピックアップ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0498626A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8687472B1 (en) * | 2011-11-08 | 2014-04-01 | Marvell International Ltd. | Method and apparatus for determining the cleanliness of a lens in an optical disc drive |
-
1990
- 1990-08-15 JP JP2214309A patent/JPH0498626A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8687472B1 (en) * | 2011-11-08 | 2014-04-01 | Marvell International Ltd. | Method and apparatus for determining the cleanliness of a lens in an optical disc drive |
| US8897111B1 (en) | 2011-11-08 | 2014-11-25 | Marvell International Ltd. | System and method for controlling a position of a lens of an optical disc drive to determine cleanliness of the lens |
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