JPH0498748A - イオン注入装置 - Google Patents
イオン注入装置Info
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- JPH0498748A JPH0498748A JP2216142A JP21614290A JPH0498748A JP H0498748 A JPH0498748 A JP H0498748A JP 2216142 A JP2216142 A JP 2216142A JP 21614290 A JP21614290 A JP 21614290A JP H0498748 A JPH0498748 A JP H0498748A
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- Japan
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- amplitude modulation
- ion beam
- direction electrode
- electrode
- waveform
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- 238000005468 ion implantation Methods 0.000 title claims description 8
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 claims abstract description 14
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 9
- 239000012535 impurity Substances 0.000 claims description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 abstract description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 2
- 238000002513 implantation Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はイオン注入装置に関し、特にイオンビームの走
査機構に関する。
査機構に関する。
従来、この種のイオン注入装置は、X方向、Y方向の偏
向電極に、周波数の異なる三角波形の電圧を印加してイ
オンビームを上下、左右に振って、半導体基板上を均一
に走査するように構成されていた。更に注入イオンを均
一にするために半導体基板を回転させる方法も実施され
ている。
向電極に、周波数の異なる三角波形の電圧を印加してイ
オンビームを上下、左右に振って、半導体基板上を均一
に走査するように構成されていた。更に注入イオンを均
一にするために半導体基板を回転させる方法も実施され
ている。
しかしながら、上述した従来のイオン注入装置は、三角
波形によるイオンビームの走査を行っているので、周波
数の組合せによってビームの走査軌跡がリサージ二図形
を描き、ドーズ量の分布が悪くなるという欠点がある。
波形によるイオンビームの走査を行っているので、周波
数の組合せによってビームの走査軌跡がリサージ二図形
を描き、ドーズ量の分布が悪くなるという欠点がある。
又、半導体基板を回転しながら上記のイオン注入を行う
と、イオンビームの走査周波数と回転速度の組合せによ
っても、注入結果が不均一になるという欠点もある。
と、イオンビームの走査周波数と回転速度の組合せによ
っても、注入結果が不均一になるという欠点もある。
本発明のイオン注入装置は、不純物からなるイオンビー
ムを偏向電極により偏向させて試料基板に注入するイオ
ン注入装置において、イオンビームが同心円を描くよう
に前記偏向電極に振幅変調手段を接続したものである。
ムを偏向電極により偏向させて試料基板に注入するイオ
ン注入装置において、イオンビームが同心円を描くよう
に前記偏向電極に振幅変調手段を接続したものである。
次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
。
。
第1図は本発明の一実施例の偏向電極近傍の斜視図であ
る。
る。
第1図において、Y方向電極1にはcos波ジェネレー
タ6と振幅変調ユニット5からなる振幅変調回路が接続
され、またX方向電極2にはsin波ジェネレータ7と
振幅変調ユニット5からなる振幅変調回路が接続されて
いる。各振幅変調回路では第2図に示す階段状波形8に
より第3図に示すVy=V・cos (t)とVX=■
・5in(t)の波形が振幅変調され第4図及び第5図
に示す電圧波形となる。
タ6と振幅変調ユニット5からなる振幅変調回路が接続
され、またX方向電極2にはsin波ジェネレータ7と
振幅変調ユニット5からなる振幅変調回路が接続されて
いる。各振幅変調回路では第2図に示す階段状波形8に
より第3図に示すVy=V・cos (t)とVX=■
・5in(t)の波形が振幅変調され第4図及び第5図
に示す電圧波形となる。
すなわち、第4に示す電圧波形vy=v(t)cos
(t)をY方向電極1へ、そして第5図に示す電圧波形
VX=V(t)−sin (t)をX方向電極2にそれ
ぞれ印加することにより、Y方向電極1及びX方向電極
2を通過するイオンビームは、半導体基板3上で同心円
状の軌跡を描くようになる。
(t)をY方向電極1へ、そして第5図に示す電圧波形
VX=V(t)−sin (t)をX方向電極2にそれ
ぞれ印加することにより、Y方向電極1及びX方向電極
2を通過するイオンビームは、半導体基板3上で同心円
状の軌跡を描くようになる。
また、ターゲットの中心から半径方向への分布を均一に
する為、第2図に示したように、階段状波形8のステッ
プタイムはWl <W2 <・・・・・\WQ、(
W。となるようにしである。従って、第4、第5図に示
すcos波、sin波のステップタイムもW′1 <W
′2 <山−<W’ n −1<w′nとなる。
する為、第2図に示したように、階段状波形8のステッ
プタイムはWl <W2 <・・・・・\WQ、(
W。となるようにしである。従って、第4、第5図に示
すcos波、sin波のステップタイムもW′1 <W
′2 <山−<W’ n −1<w′nとなる。
このように本実施例によれば、イオンビームが半導体基
板に同心円状に注入されるため、不純物イオンのドーズ
量の分布は均一なものとなる。
板に同心円状に注入されるため、不純物イオンのドーズ
量の分布は均一なものとなる。
以上説明したように本発明は、イオンビームを同心円状
に走査させることにより、ドーズ量分布をより均一にす
ることができる効果がある。又、ビームの走査軌跡は同
心円なので、原点対称となり、半導体基板を回転させて
も、ドーズ量の分布は悪くはならない。
に走査させることにより、ドーズ量分布をより均一にす
ることができる効果がある。又、ビームの走査軌跡は同
心円なので、原点対称となり、半導体基板を回転させて
も、ドーズ量の分布は悪くはならない。
第1図は本発明の一実施例の偏向電極近傍の斜視図、第
2図及び第3図は、振幅変調するための波形図、第4図
及び第5図は実施例の偏向電極に印加する電圧の波形図
である。 1・・・Y方向電極、2・・・X方向電極、3・・・半
導体基板、4・・・イオンビーム、5・・・振幅変調ユ
ニット、6、−2c o s波ジュネレータ、7−si
n波ジュネレータ、8・・・階段状波形。
2図及び第3図は、振幅変調するための波形図、第4図
及び第5図は実施例の偏向電極に印加する電圧の波形図
である。 1・・・Y方向電極、2・・・X方向電極、3・・・半
導体基板、4・・・イオンビーム、5・・・振幅変調ユ
ニット、6、−2c o s波ジュネレータ、7−si
n波ジュネレータ、8・・・階段状波形。
Claims (1)
- 不純物からなるイオンビームを偏向電極により偏向さ
せて試料基板に注入するイオン注入装置において、イオ
ンビームが同心円を描くように前記偏向電極に振幅変調
手段を接続したことを特徴とするイオン注入装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2216142A JP2665032B2 (ja) | 1990-08-16 | 1990-08-16 | イオン注入装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2216142A JP2665032B2 (ja) | 1990-08-16 | 1990-08-16 | イオン注入装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0498748A true JPH0498748A (ja) | 1992-03-31 |
| JP2665032B2 JP2665032B2 (ja) | 1997-10-22 |
Family
ID=16683934
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2216142A Expired - Fee Related JP2665032B2 (ja) | 1990-08-16 | 1990-08-16 | イオン注入装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2665032B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009182167A (ja) * | 2008-01-31 | 2009-08-13 | Dainippon Printing Co Ltd | 薄膜トランジスタの製造方法及び薄膜トランジスタ |
-
1990
- 1990-08-16 JP JP2216142A patent/JP2665032B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009182167A (ja) * | 2008-01-31 | 2009-08-13 | Dainippon Printing Co Ltd | 薄膜トランジスタの製造方法及び薄膜トランジスタ |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2665032B2 (ja) | 1997-10-22 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |