JPH051077Y2 - - Google Patents
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- JPH051077Y2 JPH051077Y2 JP2583688U JP2583688U JPH051077Y2 JP H051077 Y2 JPH051077 Y2 JP H051077Y2 JP 2583688 U JP2583688 U JP 2583688U JP 2583688 U JP2583688 U JP 2583688U JP H051077 Y2 JPH051077 Y2 JP H051077Y2
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- lacquer
- resist
- coating
- nozzle
- device hole
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- Coating Apparatus (AREA)
- Manufacturing Of Printed Circuit Boards (AREA)
- Wire Bonding (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本考案は、半導体部品のTAB(Tape
Automatic Bonding)フイルムにおけるデバイ
スホールにレジスト用ラツカー類を塗布する装
置、詳しくは塗布時におけるラツカー内への気泡
の巻き込み防止とデバイスホール部へのみ部分的
にラツカー類を塗布するレジスト塗布装置に関す
るものである。[Detailed explanation of the invention] [Industrial application field] This invention is a TAB (tape) for semiconductor components.
This equipment applies resist lacquer to device holes in (Automatic Bonding) film, and more specifically, it relates to resist coating equipment that prevents air bubbles from getting into the lacquer during coating and partially applies lacquer only to device holes. be.
[従来の技術]
従来、TABフイルムにおけるデバイスホール
にレジスト用ラツカー類を塗布する装置として
は、走行中のTABフイルムに対しスキージ型ノ
ズルを一定距離に近ずけ、このノズルにラツカー
類を供給することによつて、デバイスホールも含
めて連続的にラツカー類をフイルム上に塗布する
装置が知られている。その一般的な装置として
は、第3図に示すようにスキージノズル21の先
端部に、スリツト状の吐出口22を設け、ノズル
21の斜面上にラツカー類23を供給して、
TABフイルム12のデバイスホール13を含め
て帯状に連続塗布する機構であつた。[Prior art] Conventionally, a device for applying resist lacquer to device holes in a TAB film involves bringing a squeegee-type nozzle close to a certain distance from the running TAB film and supplying the lacquer to this nozzle. In particular, an apparatus is known that continuously applies a lacquer to a film including device holes. As shown in FIG. 3, a typical device for this purpose is to provide a slit-shaped discharge port 22 at the tip of a squeegee nozzle 21, and supply a lacquer 23 onto the slope of the nozzle 21.
It was a mechanism that continuously coated the TAB film 12 in a strip including the device holes 13.
[考案が解決しようとする課題]
従来の塗布装置では、不必要なデバイスホール
以外にも連続してラツカー類の塗布を行なうた
め、ラツカー類のコストがかさむ上、エツチング
後の剥離液の使用量にも問題がある。またレジス
ト乾燥工程において赤外線を使用する場合、デバ
イスホールとその周辺部に温度勾配が生じ、ラツ
カー類がデバイスホール外に流動しながら固定さ
れるため、その膜厚に斑が発生し、膜の強度低下
を引き起こすという問題がある。その上、スキー
ジノズル21がデバイスホール13の段差を通過
する際にラツカー中に空気の気泡を巻き込み、乾
燥後TABフイルムにエツチング処理を行なう場
合、銅箔に侵食を起こすという問題があつた。[Problems to be solved by the invention] With conventional coating equipment, the lacquer is applied continuously to areas other than unnecessary device holes, which increases the cost of the lacquer and reduces the amount of stripping liquid used after etching. There is also a problem. Furthermore, when infrared rays are used in the resist drying process, a temperature gradient occurs in the device hole and its surroundings, and the lacquer is fixed while flowing outside the device hole, resulting in unevenness in the film thickness and the strength of the film. There is a problem of causing a decline. Furthermore, when the squeegee nozzle 21 passes through the step of the device hole 13, air bubbles are drawn into the lacquer, causing corrosion of the copper foil when etching the TAB film after drying.
本考案は、従来の技術を有するこのような問題
点に鑑みてなされたものであり、その目的とする
ところは、ラツカー類内部に気泡の混入を防止
し、さらにラツカー類の膜厚の均一化を計り、か
つその使用量、その他の削減を計つた塗布装置を
提供しようとするものである。 The present invention was developed in view of these problems with conventional technology, and its purpose is to prevent air bubbles from entering the lacquer, and to make the film thickness of the lacquer uniform. The purpose of the present invention is to provide a coating device that measures the amount of water used and reduces its usage and other aspects.
[課題を解決するための手段]
上記目的を達成するために、本考案におけるレ
ジスト塗布装置は、レジスト用ラツカー類の溜め
部を有する先端形状が円筒状の塗布ノズルと、こ
の塗布ノズル開口部を上下させTABフイルムの
デバイスホールに対しラツカー類の液滴をスポツ
ト接触させる駆動機構と、この駆動速度を制限す
る機構から構成され、ラツカー類自身の濡れ性で
デバイスホール内を塗布するようにしたものであ
る。[Means for Solving the Problems] In order to achieve the above object, the resist coating device of the present invention includes a coating nozzle with a cylindrical tip having a reservoir for resist lacquer, and an opening of the coating nozzle. It consists of a drive mechanism that brings droplets of lacquer into spot contact with the device hole of the TAB film by moving it up and down, and a mechanism that limits the speed of this drive, so that the inside of the device hole is coated using the wettability of the lacquer itself. It is.
[作用]
このように構成されたレジスト塗布装置におい
て、塗布ノズルの開口部に適当量に供給されたレ
ジスト用ラツカー類は吐出口下端において液滴を
形成すると、これが開口部を塞ぐ形となり、ラツ
カー類の表面張力と釣り合う量のラツカー類が開
口部に溜まる。そこで塗布ノズルの開口部を下げ
て開口部の液滴をデバイスホールに接触させる
と、開口部内のラツカー類が流出し、その濡れ性
により拡散してデバイスホール内のみに拡がり塗
布される。したがつて、従来のようにノズル位置
が固定しているのと異なり、デバイスホールの段
差をノズルが通過する際、ラツカー類内部に気泡
の巻き込みが防止できる。また、ラツカー類の流
動に段差内側(デバイスホール)のみに溜めら
れ、外部への流出が防止でき膜厚むらも減少でき
る。[Function] In the resist coating device configured as described above, when the resist lacquer supplied in an appropriate amount to the opening of the coating nozzle forms droplets at the lower end of the discharge port, the droplets block the opening and the lacquer is removed. An amount of lattice molecules that balances the surface tension of the particles accumulates in the opening. Therefore, when the opening of the coating nozzle is lowered and the droplets at the opening come into contact with the device hole, the lacquer in the opening flows out and is diffused due to its wettability, spreading and coating only inside the device hole. Therefore, unlike the conventional nozzle position which is fixed, when the nozzle passes through the step of the device hole, it is possible to prevent air bubbles from getting caught inside the lacquer. In addition, the flowing lacquer is collected only on the inside of the step (device hole), preventing it from flowing out to the outside, and reducing unevenness in film thickness.
[実施例]
第1図、第2図において、1は塗布ノズルで吐
出口2の横断面が円筒状で、その下側はレジスト
用ラツカー類の溜め部を形成させるため上側より
細径となつている。この吐出口2の開口部とラツ
カー類供給口3は溝4によつて結ばれている。こ
の塗布ノズル1は固定プレート5に固定されてお
り、押し板6と支点シヤフト7によつて連結され
ている。この押し板6の両端は駆動機構を構成す
るエアシリンダ8a,8bによつて左右交互に押
し上げられ、シヤフト7を中心に回動運動が可能
になつている。しかし、その回動量はボルト9の
上下位置によつて制限され、また回動速度はエア
シリンダ8aに付属したスピードコントローラ1
0及びシヨツクアブソーバ11によつて制限され
る。なお、12はTABフイルムで、例えばレー
ザ式光電スイツチ等でデバイスホール(図示せ
ず)を検出しながらフイルム12を1ピツチずつ
移動させる。[Example] In Figs. 1 and 2, 1 is a coating nozzle whose discharge port 2 has a cylindrical cross section, and the lower side has a smaller diameter than the upper side in order to form a reservoir for the resist lacquer. ing. The opening of the discharge port 2 and the lacquer supply port 3 are connected by a groove 4. This coating nozzle 1 is fixed to a fixed plate 5 and connected to a push plate 6 by a fulcrum shaft 7. Both ends of the push plate 6 are pushed up alternately on the left and right sides by air cylinders 8a and 8b constituting a drive mechanism, making it possible to rotate around the shaft 7. However, the amount of rotation is limited by the vertical position of the bolt 9, and the rotation speed is limited by the speed controller attached to the air cylinder 8a.
0 and the shock absorber 11. Note that 12 is a TAB film, and the film 12 is moved one pitch at a time while detecting device holes (not shown) using, for example, a laser photoelectric switch or the like.
以上のように構成されたレジスト塗布装置は、
レジスト用ラツカー類の供給口3に供給されたラ
ツカー類が溝4を通り、吐出口2に達する。この
ラツカー類は吐出口2の下端において、液滴を形
成するが、これが吐出口2を塞ぐ形となり、ラツ
カー類の表面張力に釣り合う量のラツカー類が吐
出口2に溜まることができる。 The resist coating device configured as described above is
The lacquers supplied to the resist lacquer supply port 3 pass through the groove 4 and reach the discharge port 2. These lacquers form droplets at the lower end of the ejection port 2, which block the ejection port 2, and an amount of lacquer that is balanced by the surface tension of the lacquer can accumulate in the ejection port 2.
したがつて、駆動機構を構成する右側のエアシ
リンダ8aを押し上げた場合、塗布ノズル1の左
端が下り、吐出口2の液滴がTABフイルム12
のデバイスホールに接触し、吐出口2内のラツカ
ー類が流出する。この流出したラツカー類は、そ
の濡れ性により拡散し、デバイスホール内のみに
拡がることになる。その後、左側のエアシリンダ
8bを押し上げ、吐出口2を上に押し上げる。 Therefore, when the right air cylinder 8a constituting the drive mechanism is pushed up, the left end of the coating nozzle 1 descends, and the droplets from the discharge port 2 reach the TAB film 12.
The lacquer in the discharge port 2 flows out. This leaked lacquer is diffused due to its wettability and spreads only within the device hole. After that, the left air cylinder 8b is pushed up, and the discharge port 2 is pushed up.
この場合、従来技術のようにノズルが固定して
いると、デバイスホールの段差をノズルが通過す
る際、ラツカー類内部に気泡の巻き込みが発生す
るが、本考案のようにノズルは段差部には接触し
ないため、気泡の巻き込みは防止される。また、
乾燥工程においてデバイスホールの外部にラツカ
ー類が存在しないため、ラツカー類の流動は段差
内側のみに留められ、外部への流出が防止でき、
膜厚むらを減少できる。しかし、吐出口2の先端
に形成されるラツカー類の液滴がデバイスホール
に接触する速度によつては、接触時にラツカー類
内部に空気の気泡が混入される場合があるので、
接触速度が10mm/s以下に制限できるよう、駆動
系にスピードコントローラ15及びシヨツクアブ
ソーバ16を設置しておくとよい。 In this case, if the nozzle is fixed as in the conventional technology, air bubbles will be trapped inside the lattice when the nozzle passes through the step of the device hole, but as in the present invention, the nozzle is not fixed at the step. Since there is no contact, entrainment of air bubbles is prevented. Also,
During the drying process, since no lacquer exists outside the device hole, the flow of lacquer is confined only to the inside of the step, preventing it from flowing outside.
Film thickness unevenness can be reduced. However, depending on the speed at which the lacquer droplet formed at the tip of the discharge port 2 contacts the device hole, air bubbles may be mixed into the lacquer upon contact.
It is preferable to install a speed controller 15 and a shock absorber 16 in the drive system so that the contact speed can be limited to 10 mm/s or less.
この装置を用いて、TABフイルムのレジスト
塗布を期間1ケ月で60000ピースで行なつたが、
従来法では14ピースの気泡巻き込みによる銅箔の
侵食(欠け)が発生したが、本考案では皆無であ
つた。またレジスト使用量は5000ピース当り、従
来法では180c.c.であり、本考案では85c.c.であつた。
さらに、レジスト膜厚のばらつきも目標膜厚
50μmに対し従来法では13〜88μmあるのに対し本
考案では45〜55μmであつた。 Using this equipment, we coated 60,000 pieces of TAB film with resist over a period of one month.
In the conventional method, erosion (chipping) of the copper foil occurred in the 14 pieces due to the inclusion of air bubbles, but in the present invention, there was no corrosion. Further, the amount of resist used per 5000 pieces was 180 c.c. in the conventional method, and 85 c.c. in the present invention.
Furthermore, variations in resist film thickness can also be adjusted to the target film thickness.
50 μm, the conventional method had a thickness of 13 to 88 μm, whereas the present invention had a thickness of 45 to 55 μm.
[考案の効果]
本考案は、以上説明したようにデバイスホール
内側のみにラツカー類の液滴を接触させ、その濡
れ性によつて塗布を行うため、気泡の巻き込みを
完全に防止できる。またラツカー類がデバイスホ
ール外に流動しないため、ラツカー類の膜厚の均
一化が計れる。その上、ラツカー類等の使用量を
大幅に削減することができる等の効果がある。[Effects of the Invention] As explained above, in the present invention, droplets of lacquer are brought into contact only with the inside of the device hole, and coating is performed by the wettability of the droplets, so that entrainment of air bubbles can be completely prevented. Furthermore, since the lacquer does not flow out of the device hole, the film thickness of the lacquer can be made uniform. In addition, there are effects such as the ability to significantly reduce the amount of lacquer used.
第1図はこの考案によるデバイスホールのレジ
スト塗布装置の一実施例を示す正面図、第2図は
塗布ノズルの断面図、第3図は従来の塗布装置の
断面図である。
1……塗布ノズル、2……吐出口、3……ラツ
カー類供給口、4……溝、5……固定プレート、
6……押し板、7……支点シヤフト、8a,8b
……エアシリンダ、9……ボルト、10……スピ
ードコントローラ、11……シヨツクアブソー
バ、12……TABフイルム、13……デバイス
ホール、21……スキージノズル、22……吐出
口、23……ラツカー類(レジスト)。
FIG. 1 is a front view showing an embodiment of a device hole resist coating apparatus according to this invention, FIG. 2 is a sectional view of a coating nozzle, and FIG. 3 is a sectional view of a conventional coating apparatus. 1... Application nozzle, 2... Discharge port, 3... Lacquer supply port, 4... Groove, 5... Fixed plate,
6... Push plate, 7... Fulcrum shaft, 8a, 8b
... Air cylinder, 9 ... Bolt, 10 ... Speed controller, 11 ... Shock absorber, 12 ... TAB film, 13 ... Device hole, 21 ... Squeegee nozzle, 22 ... Discharge port, 23 ... Racker class (resist).
Claims (1)
状が円筒状の塗布ノズルと、この塗布ノズル開口
部を上下させ、TABフイルムのデバイスホール
に対しラツカー類の液滴をスポツト接触させる駆
動機構と、この駆動速度を制限する機構とよりな
り、ラツカー類自身の濡れ性でデバイスホール内
をレジスト塗布するTABフイルムにおけるデバ
イスホールのレジスト塗布装置。 A coating nozzle with a cylindrical tip having a reservoir for resist lacquer; a drive mechanism that moves the coating nozzle opening up and down to bring droplets of lacquer into spot contact with the device hole of the TAB film; A resist coating device for device holes in TAB film that has a speed-limiting mechanism and uses the wettability of the lacquer itself to coat the inside of the device hole.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2583688U JPH051077Y2 (en) | 1988-02-27 | 1988-02-27 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2583688U JPH051077Y2 (en) | 1988-02-27 | 1988-02-27 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01129871U JPH01129871U (en) | 1989-09-04 |
| JPH051077Y2 true JPH051077Y2 (en) | 1993-01-12 |
Family
ID=31246923
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2583688U Expired - Lifetime JPH051077Y2 (en) | 1988-02-27 | 1988-02-27 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH051077Y2 (en) |
-
1988
- 1988-02-27 JP JP2583688U patent/JPH051077Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01129871U (en) | 1989-09-04 |
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