JPH0510913A - 複室容器の独立室間の密閉不良検査装置 - Google Patents
複室容器の独立室間の密閉不良検査装置Info
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- JPH0510913A JPH0510913A JP19108891A JP19108891A JPH0510913A JP H0510913 A JPH0510913 A JP H0510913A JP 19108891 A JP19108891 A JP 19108891A JP 19108891 A JP19108891 A JP 19108891A JP H0510913 A JPH0510913 A JP H0510913A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 複室容器の境界にできる密閉不良を確実に検
出する。 【構成】 電極１を独立室７に接近させ、電極１でもっ
て、独立室７の液体に交流を印加する。独立室７に印加
された交流によって、独立室の境界８に密閉不良がある
と、ここに侵入する液体によって漏れ電流が流れる。こ
の漏れ電流を検出して、密閉不良を検出する。また、境
界に密閉不良があってここに集中して電流が流れると発
光する。この発光を光センサー４で検出して微細な密閉
不良を検出する。 【効果】 複室容器の境界にできる密閉不良を、正確に
検出して、液の侵入を極減する。
出する。 【構成】 電極１を独立室７に接近させ、電極１でもっ
て、独立室７の液体に交流を印加する。独立室７に印加
された交流によって、独立室の境界８に密閉不良がある
と、ここに侵入する液体によって漏れ電流が流れる。こ
の漏れ電流を検出して、密閉不良を検出する。また、境
界に密閉不良があってここに集中して電流が流れると発
光する。この発光を光センサー４で検出して微細な密閉
不良を検出する。 【効果】 複室容器の境界にできる密閉不良を、正確に
検出して、液の侵入を極減する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、複数に区画された独
立室を有する複室容器の独立室間の密閉不良を検出する
装置に関する。
立室を有する複室容器の独立室間の密閉不良を検出する
装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来より、複数の物質を分離して密封
し、使用直前に、これ等を混合することのできる複室容
器が色々検討されている。とくに、医薬品の分野におい
ては、上記複室容器は、ブトウ糖液とアミノ酸液のよう
に、相互作用により着色等の経時変化や、劣化を起こす
複数の薬剤をひとつの複室容器に充填するのが重要視さ
れている。複室容器は、複数の薬液を別個に密封でき、
混合操作を無菌的に簡便に行うことができるからであ
る。とりわけ、輸液バックに関しては複数室の連通手段
について色々研究されており、例えば、特開昭５７−５
２４５５号公報のように、破断可能なチューブなどを採
用したものや、特開平２−４６７１号公報のように、弱
シール方法を採用したものなどが挙げられる。
し、使用直前に、これ等を混合することのできる複室容
器が色々検討されている。とくに、医薬品の分野におい
ては、上記複室容器は、ブトウ糖液とアミノ酸液のよう
に、相互作用により着色等の経時変化や、劣化を起こす
複数の薬剤をひとつの複室容器に充填するのが重要視さ
れている。複室容器は、複数の薬液を別個に密封でき、
混合操作を無菌的に簡便に行うことができるからであ
る。とりわけ、輸液バックに関しては複数室の連通手段
について色々研究されており、例えば、特開昭５７−５
２４５５号公報のように、破断可能なチューブなどを採
用したものや、特開平２−４６７１号公報のように、弱
シール方法を採用したものなどが挙げられる。
【０００３】これらの複室容器において最も重要な点
は、各独立室間の連通部分を確実に密封することであ
る。独立室の境界に不完全溶着等による密閉不良があっ
てはならない。それは、密閉不良によって、独立室の薬
液が混合するからである。複室容器を製造するにあた
り、境界部分の密閉不良を検査することは、製造現場に
おいて不可欠である。
は、各独立室間の連通部分を確実に密封することであ
る。独立室の境界に不完全溶着等による密閉不良があっ
てはならない。それは、密閉不良によって、独立室の薬
液が混合するからである。複室容器を製造するにあた
り、境界部分の密閉不良を検査することは、製造現場に
おいて不可欠である。
【０００４】ところで、密封包装体の外部に連通するピ
ンホール等の不良検査方法として、従来より色々な仕組
みのものが考えられており、例えば、特開昭５０−６９
９８号公報、特公昭５５−１９４９０号公報、特開昭５
６−１３３６５４号公報、特公昭５７−３７０２７号公
報、特開平１−１１４７４４号公報等が例示できる。こ
れ等の公報に記載されるピンホール検査方法は、容器の
ピンホールから外部に漏れる液体による閃絡電流を測定
している。
ンホール等の不良検査方法として、従来より色々な仕組
みのものが考えられており、例えば、特開昭５０−６９
９８号公報、特公昭５５−１９４９０号公報、特開昭５
６−１３３６５４号公報、特公昭５７−３７０２７号公
報、特開平１−１１４７４４号公報等が例示できる。こ
れ等の公報に記載されるピンホール検査方法は、容器の
ピンホールから外部に漏れる液体による閃絡電流を測定
している。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】これら従来の装置は、
ピンホールから外部に漏れた液体による閃絡電流を測定
するので、複室容器の独立室の境界における密封不良検
査には使用できない。近年、複室容器の重要性が益々高
まっており、連通部分の密閉不良検査方法の開発が業界
で熱望されている。
ピンホールから外部に漏れた液体による閃絡電流を測定
するので、複室容器の独立室の境界における密封不良検
査には使用できない。近年、複室容器の重要性が益々高
まっており、連通部分の密閉不良検査方法の開発が業界
で熱望されている。
【０００６】この発明は、このことを実現することを目
的に開発されたもので、この発明の重要な目的は、複室
容器の境界にできる密閉不良を確実に検出できる密閉不
良検査装置を提供するにある。
的に開発されたもので、この発明の重要な目的は、複室
容器の境界にできる密閉不良を確実に検出できる密閉不
良検査装置を提供するにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】この発明の複室容器６の
独立室７間の密閉不良検査装置は、前述の目的を達成す
るために、下記のまたはの構成を備えている。
独立室７間の密閉不良検査装置は、前述の目的を達成す
るために、下記のまたはの構成を備えている。
【０００８】 密閉不良検査装置は、区画された独立
室７に接近して配設される電極１と、この電極１に接続
された交流電源２と、電極間の交流電流を測定する電流
測定手段３とを備えている。この構造の密閉不良検査装
置は、電流測定手段３の測定電流で独立室７間の密閉不
良を検出することができる。複室容器６の境界８に密閉
不良がないと、電極間の電流が少なく、境界８に密閉不
良があると、電極間の電流が増加する。
室７に接近して配設される電極１と、この電極１に接続
された交流電源２と、電極間の交流電流を測定する電流
測定手段３とを備えている。この構造の密閉不良検査装
置は、電流測定手段３の測定電流で独立室７間の密閉不
良を検出することができる。複室容器６の境界８に密閉
不良がないと、電極間の電流が少なく、境界８に密閉不
良があると、電極間の電流が増加する。
【０００９】 密閉不良検査装置は、区画された独立
室７に接近して配設される電極１と、この電極１に接続
された交流電源２と、独立室７の境界８に配設された光
センサー４と、光センサー４の出力を検出する光強度測
定手段５とを備えている。この構造の密閉不良検査装置
は、光強度測定手段５が境界８における光強度を測定し
て独立室７間の密閉不良を検出する。複室容器６の境界
８に密閉不良がないと、境界８を通過して電流が流れな
い。境界８に密閉不良があると、この密閉不良を通過し
て電流が流れる。密閉不良が小さいと電流が集中して流
れるので、この部分が加熱されて発光する。光センサー
４がこの発光を検出して密閉不良を検出する。
室７に接近して配設される電極１と、この電極１に接続
された交流電源２と、独立室７の境界８に配設された光
センサー４と、光センサー４の出力を検出する光強度測
定手段５とを備えている。この構造の密閉不良検査装置
は、光強度測定手段５が境界８における光強度を測定し
て独立室７間の密閉不良を検出する。複室容器６の境界
８に密閉不良がないと、境界８を通過して電流が流れな
い。境界８に密閉不良があると、この密閉不良を通過し
て電流が流れる。密閉不良が小さいと電流が集中して流
れるので、この部分が加熱されて発光する。光センサー
４がこの発光を検出して密閉不良を検出する。
【００１０】
【実施例】以下、この発明の実施例を図面に基づいて説
明する。但し、以下に示す実施例は、この発明の技術思
想を具体化する為の密閉不良検査装置を例示すものであ
って、この発明の装置は、構成部品の材質、形状、構
造、配置を下記の構造に特定するものでない。この発明
の装置は、特許請求の範囲に於て、種々の変更を加える
ことができる。
明する。但し、以下に示す実施例は、この発明の技術思
想を具体化する為の密閉不良検査装置を例示すものであ
って、この発明の装置は、構成部品の材質、形状、構
造、配置を下記の構造に特定するものでない。この発明
の装置は、特許請求の範囲に於て、種々の変更を加える
ことができる。
【００１１】更に、この明細書は、特許請求の範囲を理
解し易いように、実施例に示される部材に対応する番号
を、「特許請求の範囲」、および「課題を解決する為の
手段の欄」に示される部材に付記している。ただ、特許
請求の範囲に示される部材を、実施例の部材に特定する
ものでは決してない。
解し易いように、実施例に示される部材に対応する番号
を、「特許請求の範囲」、および「課題を解決する為の
手段の欄」に示される部材に付記している。ただ、特許
請求の範囲に示される部材を、実施例の部材に特定する
ものでは決してない。
【００１２】図１に示す複室容器の独立室の間の密閉不
良検査装置は、図４に示すように、複数の独立室７を有
する容器の境界８にできる密閉不良を検出する。この装
置が密閉不良を測定できる容器は、導電性のない合成樹
脂等の容器である。容器が硬質であるか軟質であるかは
問わない。さらに、複室容器は、２以上の独立室を備え
ており、独立室７は境界８で独立した室に区画されてい
る。
良検査装置は、図４に示すように、複数の独立室７を有
する容器の境界８にできる密閉不良を検出する。この装
置が密閉不良を測定できる容器は、導電性のない合成樹
脂等の容器である。容器が硬質であるか軟質であるかは
問わない。さらに、複室容器は、２以上の独立室を備え
ており、独立室７は境界８で独立した室に区画されてい
る。
【００１３】複室容器６の境界８にできる密閉不良を測
定する装置は、独立室７に接近させる電極１と、電極１
に交流電圧を加える交流電源２と、電極間に流れる電流
を測定する電流測定手段３と、境界８の不良部位の発光
を検出する光センサー４と、光センサー４の出力を検出
する光強度測定手段５とを備えている。
定する装置は、独立室７に接近させる電極１と、電極１
に交流電圧を加える交流電源２と、電極間に流れる電流
を測定する電流測定手段３と、境界８の不良部位の発光
を検出する光センサー４と、光センサー４の出力を検出
する光強度測定手段５とを備えている。
【００１４】電極１は板状で、複室容器６に接近して配
設されて、独立室７の液体に交流を印加する。電極１は
直接に独立室７の液体に電気的に接触することはない。
電極１と液体とは、静電的に結合される。
設されて、独立室７の液体に交流を印加する。電極１は
直接に独立室７の液体に電気的に接触することはない。
電極１と液体とは、静電的に結合される。
【００１５】電極１と容器と液体との等価回路を図２に
示している。この等価回路において、コンデンサーＣ1
は、電極１と液体との間の静電容量である。コンデンサ
ーＣ1の静電容量は、液体と電極１との距離と、液体に
対向する電極面積と、容器の誘電率とで決定される。電
極１が液体に接近し、電極面積が大きく、容器の誘電率
が大きいと静電容量が大きくなる。コンデンサーＣ1の
静電容量を大きくするために、電極１は板状で、好まし
くは、面積を１ｃｍ2以上とする。
示している。この等価回路において、コンデンサーＣ1
は、電極１と液体との間の静電容量である。コンデンサ
ーＣ1の静電容量は、液体と電極１との距離と、液体に
対向する電極面積と、容器の誘電率とで決定される。電
極１が液体に接近し、電極面積が大きく、容器の誘電率
が大きいと静電容量が大きくなる。コンデンサーＣ1の
静電容量を大きくするために、電極１は板状で、好まし
くは、面積を１ｃｍ2以上とする。
【００１６】交流電源２は、コンデンサーＣ1を介して
液体に交流を伝送する。交流電源２の周波数は、好まし
くは、数十Ｈｚ〜数ＭＨｚの範囲に設計される。交流電
源２の周波数を高くすると、コンデンサーＣ1のインピ
ーダンスを小さくできる。言いかえると、図３において
コンデンサーＣ1を短絡した状態に近くできる。反対に
交流電源２の周波数が高すぎると、電流測定が難しくな
る。
液体に交流を伝送する。交流電源２の周波数は、好まし
くは、数十Ｈｚ〜数ＭＨｚの範囲に設計される。交流電
源２の周波数を高くすると、コンデンサーＣ1のインピ
ーダンスを小さくできる。言いかえると、図３において
コンデンサーＣ1を短絡した状態に近くできる。反対に
交流電源２の周波数が高すぎると、電流測定が難しくな
る。
【００１７】電流測定手段３は、電極１と交流電源２と
の間に接続されて、電極１に流れる交流電流を電圧に変
換して測定する。電流測定手段３には、電極１に流れる
電流を測定する全ての回路を利用できる。
の間に接続されて、電極１に流れる交流電流を電圧に変
換して測定する。電流測定手段３には、電極１に流れる
電流を測定する全ての回路を利用できる。
【００１８】光センサー４は、境界部分の不良部位から
でる光を受光するので、受光面を複室容器６の境界８に
向けて配設する。光センサー４には単結晶シリコン光セ
ンサー、あるいは、アモルファスシリコン光センサー等
が使用できる。単結晶光センサーとアモルファスシリコ
ン光センサーの分光感度を図５に示している。この図に
示すように、単結晶シリコン光センサーは、可視光線か
ら赤外線に受光感度を有し、複室容器の不良部位から放
射される光を広い波長範囲で検出できる特長がある。ま
た、アモルファスシリコン光センサーは、長波長側で人
間の視感度に近い状態で光を検出することができる。
でる光を受光するので、受光面を複室容器６の境界８に
向けて配設する。光センサー４には単結晶シリコン光セ
ンサー、あるいは、アモルファスシリコン光センサー等
が使用できる。単結晶光センサーとアモルファスシリコ
ン光センサーの分光感度を図５に示している。この図に
示すように、単結晶シリコン光センサーは、可視光線か
ら赤外線に受光感度を有し、複室容器の不良部位から放
射される光を広い波長範囲で検出できる特長がある。ま
た、アモルファスシリコン光センサーは、長波長側で人
間の視感度に近い状態で光を検出することができる。
【００１９】不良部位の発光は、局部に集中して流れる
電流のジュール熱による発光である。この発光は、可視
光線から赤外線に分布する。このため、光センサー４
に、可視光線から赤外線に受光感度の高いのものを使用
すると、より正確に密閉不良を検出できる。
電流のジュール熱による発光である。この発光は、可視
光線から赤外線に分布する。このため、光センサー４
に、可視光線から赤外線に受光感度の高いのものを使用
すると、より正確に密閉不良を検出できる。
【００２０】単結晶シリコン光センサーや、アモルファ
スシリコン光センサーは、受光する光の強度に比例して
出力電流が大きくなる。光センサー４の出力電流は、光
強度測定手段５で検出する。光センサー４が一定強度よ
りも強い光を受光すると、複室容器６に密閉不良がある
ことになる。したがって、光強度測定手段５は、光セン
サー４の出力が一定の大きさ以上であるかどうかを検出
できる全ての回路を使用できる。
スシリコン光センサーは、受光する光の強度に比例して
出力電流が大きくなる。光センサー４の出力電流は、光
強度測定手段５で検出する。光センサー４が一定強度よ
りも強い光を受光すると、複室容器６に密閉不良がある
ことになる。したがって、光強度測定手段５は、光セン
サー４の出力が一定の大きさ以上であるかどうかを検出
できる全ての回路を使用できる。
【００２１】不良部位の発光を正確に測定するために
は、外光を遮断するのがよい。このため、図１の鎖線で
示すように、複室容器６と光センサー４とをケーシング
９に内蔵し、暗室に設置して発光を測定する。
は、外光を遮断するのがよい。このため、図１の鎖線で
示すように、複室容器６と光センサー４とをケーシング
９に内蔵し、暗室に設置して発光を測定する。
【００２２】図１に示す密閉不良検査装置は下記の状態
で密閉不良を検出する。 図に示すように、電極１を
隣接する独立室７に接近して配設する。この状態で、電
極１は、コンデンサーＣ1を介して交流的に独立室７の
液体に連結される。
で密閉不良を検出する。 図に示すように、電極１を
隣接する独立室７に接近して配設する。この状態で、電
極１は、コンデンサーＣ1を介して交流的に独立室７の
液体に連結される。
【００２３】 交流電源２によって電極１に交流を印
加する。交流に対する等価回路を図２に示している。図
においてコンデンサーＣ1は、電極１と液体との静電容
量、コンデンサーＣ2は、境界８を介して結合される液
体間の静電容量、抵抗Ｒは、液体の電気抵抗である。コ
ンデンサーＣ1の静電容量はコンデンサーＣ2に比較して
相当に大きく、コンデンサーＣ1のインピーダンスは極
めて小さくなる。このため、コンデンサーＣ1は、交流
的には短絡状態に近くなる。したがって、等価回路は、
２個の抵抗Ｒと、コンデンサーＣ2の直列回路となる。
さらに、コンデンサーＣ2のインピーダンスは、抵抗Ｒ
の電気抵抗に比較して大きく、この回路の電流は、ほと
んどコンデンサーＣ2の大きさで決定される。コンデン
サーＣ2は相当に小さい。このため、コンデンサーＣ2の
インピーダンスは高く、密閉不良がないときに電極１に
流れる電流は極めて小さい。
加する。交流に対する等価回路を図２に示している。図
においてコンデンサーＣ1は、電極１と液体との静電容
量、コンデンサーＣ2は、境界８を介して結合される液
体間の静電容量、抵抗Ｒは、液体の電気抵抗である。コ
ンデンサーＣ1の静電容量はコンデンサーＣ2に比較して
相当に大きく、コンデンサーＣ1のインピーダンスは極
めて小さくなる。このため、コンデンサーＣ1は、交流
的には短絡状態に近くなる。したがって、等価回路は、
２個の抵抗Ｒと、コンデンサーＣ2の直列回路となる。
さらに、コンデンサーＣ2のインピーダンスは、抵抗Ｒ
の電気抵抗に比較して大きく、この回路の電流は、ほと
んどコンデンサーＣ2の大きさで決定される。コンデン
サーＣ2は相当に小さい。このため、コンデンサーＣ2の
インピーダンスは高く、密閉不良がないときに電極１に
流れる電流は極めて小さい。
【００２４】正常な状態の等価回路は図２に示すように
なるが、複室容器６に密閉不良があると等価回路は、図
３に示すようになる。図３において、コンデンサーＣ2
に並列に接続された抵抗ＲPは、境界８の密閉不良が原
因で発生する。抵抗ＲPは、不良部位に侵入した液体の
電気抵抗である。不良部位が大きいと、ここに侵入する
液体量が多くなり、抵抗ＲPは小さくなる。
なるが、複室容器６に密閉不良があると等価回路は、図
３に示すようになる。図３において、コンデンサーＣ2
に並列に接続された抵抗ＲPは、境界８の密閉不良が原
因で発生する。抵抗ＲPは、不良部位に侵入した液体の
電気抵抗である。不良部位が大きいと、ここに侵入する
液体量が多くなり、抵抗ＲPは小さくなる。
【００２５】抵抗ＲPが小さくなると、電極１に流れる
電流が増加する。表１は、不良部位の大きさに対して、
電極電流がどのように変化するかを示している。ただ
し、この表において、電極電流は、電圧に変換して表示
している。この表に示すように、直径が１０００〜４０
００μｍの密閉不良が境界８にある複室容器６は、電極
電流を電圧に変換した値が９０ｍＶとなる。密閉不良が
小さくなって５０μｍとなると電極電流を電圧に変換し
た値は１０〜７０ｍＶとなる。密閉不良のない複室容器
６は、この電圧がほぼ０Ｖ（０．１ｍＶ未満）となり、
電圧によって密閉不良を検出することができる。
電流が増加する。表１は、不良部位の大きさに対して、
電極電流がどのように変化するかを示している。ただ
し、この表において、電極電流は、電圧に変換して表示
している。この表に示すように、直径が１０００〜４０
００μｍの密閉不良が境界８にある複室容器６は、電極
電流を電圧に変換した値が９０ｍＶとなる。密閉不良が
小さくなって５０μｍとなると電極電流を電圧に変換し
た値は１０〜７０ｍＶとなる。密閉不良のない複室容器
６は、この電圧がほぼ０Ｖ（０．１ｍＶ未満）となり、
電圧によって密閉不良を検出することができる。
【００２６】
ただし、この表は、電極１の面積を２０ｍｍ×２０ｍ
ｍとし、交流電源２の周波数を１０００Ｈｚとして測定
したものである。
ｍとし、交流電源２の周波数を１０００Ｈｚとして測定
したものである。
【００２７】 さらに光センサー４は、複室容器６の
境界８に密閉不良があると、ここを通過する電流によっ
て発光する。不良部位の発光は、光センサー４で検出さ
れて光強度測定手段５に入力される。表１は、不良部位
の大きさに対する光強度測定手段５の出力電圧を示して
いる。この表に示すように、密閉不良が１０００〜４０
００μｍでは、光強度測定手段５の出力は、密閉不良の
ない複室容器６と同じになる。ところが、密閉不良が５
００μｍ以下になると、光強度測定手段５の出力は１〜
５Ｖと大きくなり、微細な密閉不良を検出できる。
境界８に密閉不良があると、ここを通過する電流によっ
て発光する。不良部位の発光は、光センサー４で検出さ
れて光強度測定手段５に入力される。表１は、不良部位
の大きさに対する光強度測定手段５の出力電圧を示して
いる。この表に示すように、密閉不良が１０００〜４０
００μｍでは、光強度測定手段５の出力は、密閉不良の
ない複室容器６と同じになる。ところが、密閉不良が５
００μｍ以下になると、光強度測定手段５の出力は１〜
５Ｖと大きくなり、微細な密閉不良を検出できる。
【００２８】このように、電極電流と発光の両方で密閉
不良を測定する装置は、微細な密閉不良から大きな密閉
不良まで正確に検出できる特長がある。
不良を測定する装置は、微細な密閉不良から大きな密閉
不良まで正確に検出できる特長がある。
【００２９】
【発明の効果】この発明の複室容器の独立室間の密閉不
良検査装置は、簡単な装置で独立室の境界にある密閉不
良を確実に検出できる特長がある。それは、独立室に電
極を接近させ、電極を介して隣接する独立室に交流電圧
を加え、不良部位を流れる電流を検出し、あるいは、不
良部位に集中して流れる電流による発光を測定して密閉
不良を検出するからである。電極間の電流を測定する装
置は、直径が５０μｍ以上の密閉不良を正確に測定でき
る。それは、密閉不良が大きくなるにしたがって電極間
電流が大きくなることが理由である。また、不良部位の
発光を測定する装置は、５００μｍ以下の小さい密閉不
良の測定に最適である。それは、密閉不良が小さくなる
と電流が局部に集中して流れて発光するからである。こ
のため、電極間電流と不良部位の発光の両方を測定する
装置は、極めて小さい密閉不良から大きい密閉不良まで
正確に測定できる理想的な特性を実現する。
良検査装置は、簡単な装置で独立室の境界にある密閉不
良を確実に検出できる特長がある。それは、独立室に電
極を接近させ、電極を介して隣接する独立室に交流電圧
を加え、不良部位を流れる電流を検出し、あるいは、不
良部位に集中して流れる電流による発光を測定して密閉
不良を検出するからである。電極間の電流を測定する装
置は、直径が５０μｍ以上の密閉不良を正確に測定でき
る。それは、密閉不良が大きくなるにしたがって電極間
電流が大きくなることが理由である。また、不良部位の
発光を測定する装置は、５００μｍ以下の小さい密閉不
良の測定に最適である。それは、密閉不良が小さくなる
と電流が局部に集中して流れて発光するからである。こ
のため、電極間電流と不良部位の発光の両方を測定する
装置は、極めて小さい密閉不良から大きい密閉不良まで
正確に測定できる理想的な特性を実現する。
【図１】この発明の一実施例を示す複室容器の独立室間
の密閉不良検査装置の概略側面図
の密閉不良検査装置の概略側面図
【図２】密閉不良のない複室容器を測定する等価回路図
【図３】密閉不良のある複室容器を測定する等価回路図
【図４】この発明の検査装置で密閉不良を検査する複室
容器の一例を示す平面図
容器の一例を示す平面図
【図５】光センサーの分光感度を示すグラフ
１…電極 ２…交流電源
３…電流測定手段 ４…光センサ
ー ５…光強度測定手段 ６…複室容器 ７…独立室 ８…境界 ９…ケーシング
ー ５…光強度測定手段 ６…複室容器 ７…独立室 ８…境界 ９…ケーシング
Claims (2)
- 【請求項１】 区画された独立室(7)に接近して配設さ
れる電極(1)と、この電極(1)に接続された交流電源(2)
と、電極(1)の間の交流電流を測定する電流測定手段(3)
とを備えており、電流測定手段(3)の測定電流で独立室
間の密閉不良を検出するように構成されたことを特徴と
する複室容器の独立室間の密閉不良検査装置。 - 【請求項２】 区画された独立室(7)に接近して配設さ
れる電極(1)と、この電極(1)に接続された交流電源(2)
と、独立室(7)の境界に配設された光センサー(4)と、光
センサー(4)の出力を検出する光強度測定手段(5)とを備
えており、光強度測定手段(5)が境界における光強度を
測定して独立室間の密閉不良を検出するように構成され
たことを特徴とする複室容器の独立室間の密閉不良検査
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3191088A JP2852572B2 (ja) | 1991-07-04 | 1991-07-04 | 複室容器の独立室間の密閉不良検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3191088A JP2852572B2 (ja) | 1991-07-04 | 1991-07-04 | 複室容器の独立室間の密閉不良検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0510913A true JPH0510913A (ja) | 1993-01-19 |
| JP2852572B2 JP2852572B2 (ja) | 1999-02-03 |
Family
ID=16268662
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3191088A Expired - Fee Related JP2852572B2 (ja) | 1991-07-04 | 1991-07-04 | 複室容器の独立室間の密閉不良検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2852572B2 (ja) |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55101063A (en) * | 1978-12-26 | 1980-08-01 | Furukawa Electric Co Ltd:The | Detecting method for defect part of power cable |
| JPS63223547A (ja) * | 1987-03-12 | 1988-09-19 | Toray Eng Co Ltd | シ−ト状物の欠陥部の検出方法、及び装置 |
| JPH01114744A (ja) * | 1987-10-29 | 1989-05-08 | Otsuka Pharmaceut Factory Inc | 密封包装体のピンホール検査装置 |
| JPH03189531A (ja) * | 1989-12-20 | 1991-08-19 | Material Eng Tech Lab Inc | ピンホールを検査する方法 |
-
1991
- 1991-07-04 JP JP3191088A patent/JP2852572B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55101063A (en) * | 1978-12-26 | 1980-08-01 | Furukawa Electric Co Ltd:The | Detecting method for defect part of power cable |
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| JPH01114744A (ja) * | 1987-10-29 | 1989-05-08 | Otsuka Pharmaceut Factory Inc | 密封包装体のピンホール検査装置 |
| JPH03189531A (ja) * | 1989-12-20 | 1991-08-19 | Material Eng Tech Lab Inc | ピンホールを検査する方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2852572B2 (ja) | 1999-02-03 |
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