JPH0511009U - 坪量計 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 ピンポイントの幅のシ―ト状物質の坪量を測
定することができる。 【構成】 被測定物質（2)と、フレ―ム（1)に左右に移
動可能に組付けられ走行する前記被測定物質を挟んで上
下に対峙して設けられる上部検出ヘッド（31）と下部検
出ヘッド（32）とから成り前記被測定物質の厚さプロフ
ァイルを測定する光厚さ計（3)と、前記フレ―ムのバッ
クワ―ド・スタンド側又はフォワ―ド・スタンド側に設
置され或は又前記光厚さ計と共に移動するように設置さ
れる放射線式厚さ計（4)とから成り、前記光厚さ計から
得られた信号に前記放射線式厚さ計からの信号で補正を
かけて絶対値坪量信号を得るようにした坪量計である。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

本考案は、紙の厚さ即ち坪量を測定する坪量計に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】

従来のこの種の技術としては、例えば、放射性同位元素等を用いた放射線源か ら放射されシ―ト状物質を透過してくる放射線を放射線検出器で検出して放射線 の減衰量からシ―ト状物質の坪量を測定する放射線応用測定装置（特開平１−１ ５３９０５号公報参照）、β線線源によるβ線を被測定物質であるシ―ト状物質 に照射したときの透過β線を検出し、β線のエネルギ―に対応した波高のパルス 信号を検出して所定の処理をして厚さを求める「β線厚さ計」（実開昭６１−１ ０５０８号公報参照）、或はレ―ザのようなコヒ―レント光源，光学系からの単 色光を透明なシ―ト状物質に照射し、シ―ト状物質の裏表面における単色光によ る繰返し反射干渉作用によって生じた干渉縞を光学系を介してＣＣＤで計測して シ―ト状物質の厚さを測定する透明なシ―ト状物質の厚さ測定装置（実開昭５９ −４４０６号公報参照）等が知られている。

【０００３】

【考案が解決しようとする課題】

このような従来の技術にあってはいずれも測定面積は大きく（幅１０〜２５mm 程度）、現状では更に幅の狭い坪量測定が可能な装置の出現が望まれている。

【０００４】 本考案は、従来の技術の有するこのような問題点に鑑みてなされたものであり 、その目的とするところは、ピンポイントの幅のシ―ト状物質（以下「紙」とい う）の坪量を測定することができる坪量計を提供するものである。

【０００５】

【課題を解決するための手段】

上記目的を達成するために、本考案は、被測定物質（2)と、フレ―ム（1)に左 右に移動可能に組付けられ走行する前記被測定物質を挟んで上下に対峙して設け られる上部検出ヘッド（31）と下部検出ヘッド（32）とから成り前記被測定物質 の厚さプロファイルを測定する光厚さ計（3)と、前記フレ―ムのバックワ―ド・ スタンド側又はフォワ―ド・スタンド側に設置され或は又前記光厚さ計と共に移 動するように設置される放射線式厚さ計（4)とから成り、前記光厚さ計から得ら れた信号を前記放射線式厚さ計の信号で補正をかけて絶対値坪量信号を得るよう にした坪量計である。

【０００６】

【作用】

坪量が大きいと検出光量が減少する。しかし又坪量が同じであっても、散乱し やすい材質であれば、検出光量は減少する。そこで、放射線式厚さ計と光厚さ計 （例えばレ―ザ光を用いた光透過型の散乱状態測定装置）とを組合せた構成とし て、光厚さ計から得られた信号に放射線式厚さ計からの信号で補正をかけて、こ れによって得られる絶対値坪量信号を、非常に幅の狭い測定幅で坪量測定した信 号とする（紙の材料の影響を受けずに絶対値測定をする）こととした坪量の測定 装置とする。

【０００７】

【実施例】

実施例について図面を参照して説明する。 図１は本考案の坪量計の具体的な実施例を示す図である。 図２は図１の上面図である。 図３は光厚さ計の説明に供する図である。

【０００８】 図１乃至図３において、坪量計を、例えば、フレ―ム1 、紙2 、光源としてレ ―ザ光源Ｌを搭載した上部検出ヘッド31と検出器Ｍを搭載し紙2 を透過してくる 光を検出してアンプＱを介して出力するように構成される下部検出ヘッド32とか ら成り、フレ―ム1 上を左右にスキャンする細い光ビ―ム透過型厚さ計を搭載し たタイプの光厚さ計3 、放射線式厚さ計4 で絶対値の厚さ計が構成できる。

【０００９】 このときに、光厚さ計3 を、フレ―ム1 上左右にスキャンさせて紙1 の厚さプ ロファイルを測定することとなるが、１回透過光について測定して紙の厚さ測定 をした場合の光厚さ計の測定値では紙質の影響を受け、即ち、光で測定を行うと 坪量に対する検出結果の指数関数的に減衰していくその特性値はパルプの種類に より吸収係数が異なるところから変化することとなるので、綺麗に式で展開する ことができず、絶対値の厚さ計とはならない。そこで、フレ―ム1 のＢ（バック ワ―ド）スタンド側［尚、Ｆ（フォワ―ド）スタンド側）でもよい］に放射線式 厚さ計4 を設置する構成とする。

【００１０】 このような構成において、光厚さ計3 で１スキャン毎に同一ポイントを測定す ることとし、放射線式厚さ計4 の指示値と同一値になるように（言替えれば放射 線式厚さ計4 の信号に一致するように）光厚さ計3 の値を放射線式厚さ計4 の信 号に対して“＋”，“−”して校正する。放射線式厚さ計4 は測定面積は大きい が紙質の影響は受けにくいから、そのことにより、光厚さ計3 の測定面積は小さ く応答が早いという特徴を有効に生かしたまま絶対値厚さ測定が可能となる。

【００１１】 尚、本考案は以上述べた構成に限定されるものではない。例えば、光厚さ計3 の光源としてはレ―ザ光源以外のものを用いてもよく、又、放射線式厚さ計4 に ついても固定する構成でなく、光厚さ計と一緒にスキャンさせて、平均値が同一 となるように補正演算（前記したと同様に“＋”，“−”して）するようにして もよい。

【００１２】

【考案の効果】

本考案は、以上説明したように構成されているので、非常に測定幅の小さな且 つ紙質の影響を受けない坪量測定が可能となるという実用上の効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

【図１】図１は本考案の坪量計の具体的な実施例を示す
図である。

【図２】図１の上面図である。

【図３】光厚さ計の説明に供する図である。

【符号の説明】

1 フレ―ム 2 紙（シ―ト状物質） 3 光厚さ計 4 放射線式厚さ計

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 【請求項１】 被測定物質（2)と、フレ―ム（1)に左右
   に移動可能に組付けられ走行する前記被測定物質を挟ん
   で上下に対峙して設けられる上部検出ヘッド（31）と下
   部検出ヘッド（32）とから成り前記被測定物質の厚さプ
   ロファイルを測定する光厚さ計（3)と、前記フレ―ムの
   バックワ―ド・スタンド側又はフォワ―ド・スタンド側
   に設置され或は又前記光厚さ計と共に移動するように設
   置される放射線式厚さ計（4)とから成り、前記光厚さ計
   から得られた信号を前記放射線式厚さ計の信号で補正を
   かけて絶対値坪量信号を得るようにした坪量計。