JPH05114635A - 集積回路試験装置用の配線基板 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 集積回路用ＡＴＥのパフォーマンスボードと
計測器評価用治具の基板とを互換性あるものにする。 【構成】 ＡＴＥパフォーマンスボードの外側に計測器
と接続するための接続パターン領域１を設け、計測器評
価に用いた基板の余剰部分を切り取り線４に沿って切り
取り、その後試験装置との接続パターン領域２を使用可
能とする構成とする。これにより、ＡＴＥによる試験と
計測器による評価とが同一基板で行うことができ、互換
性が高まる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、集積回路試験装置用の
配線基板に関し、特に高速動作または高精度なアナログ
信号の試験に最適な配線基板に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来の集積回路試験装置用の配線基板は
図４に示すように、方形の被試験集積回路５と、その外
部素子配置領域３と、その周囲を取り囲む集積回路試験
装置との接続パターン領域２とを有している。

【０００３】さらに、集積回路試験装置との接続パター
ン領域２には、図５に示す集積回路試験用の接点パター
ン６を有している。

【０００４】図５の接点パターン６は、配線基板上のプ
リントパターンとして形成されており、通常の配線パタ
ーンの一部に円形の接点パターンが付加されている。

【０００５】このように形成された図５の接点パターン
６は、図６の集積回路試験装置の配線基板接点付近の構
造図に示されるようにして集積回路試験装置と接続され
る。

【０００６】図６では、集積回路試験装置用配線基板８
の裏面にプリントパターン９が形成され、かつプリント
パターン９の端部は、図５の接続パターン形状を有して
おり、この接続パターン円形部付近にピン状接点装置１
０が接している。

【０００７】ピン状接点装置１０は、伸縮するピンと、
これを保護するガイド部とから構成されている。集積回
路試験装置の多くは、数十〜数百の端子を有する集積回
路を試験するもので、よって、集積回路試験装置用配線
基板との接点数も数十から数百に及び、このように多数
の接点を通常のコネクターにより接続することは物理的
に大きな配線基板を必要とすることから、図６に示され
るような接点構造か又は特異な形状をもつコネクターが
採用されている。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】この従来の集積回路試
験装置用の配線基板では、通常の計測器を用いた集積回
路評価との互換性が取りにくいという問題があった。

【０００９】すなわち、通常の計測器の接点接続は図６
のように、ピン状接点装置又は集積回路試験装置に用い
られる特異なコネクターを用いたものではなく、一般の
コネクターを用いて行われるため、従来の集積回路試験
装置用の配線基板には直接接続し得ない。

【００１０】よって、通常の計測器による評価は、別途
配線基板を用意することとなるが、高速または高精度な
アナログ特性は、配線基板のパターン形状により変動す
ることが多く、別途用意された配線基板は、集積回路試
験装置用の配線基板とは互換性を持たないものが多い。

【００１１】また、異なる方法として集積回路試験装置
用の配線基板と計測器を接続する治具を用いた方法もあ
り、図７はこうした治具を用いた接続事例を示す構造図
である。

【００１２】図７の構造は、被試験集積回路５が搭載さ
れた集積回路試験装置用配線基板８と、ピン状接点装置
１０、コネクター１２を付加されたシャーシ１１とより
構成され、かつピン状接点装置１０とコネクター１２
は、電気的に接続され、集積回路試験装置用配線基板８
は、ピン状接点装置１０の上に配置されている。

【００１３】このように構成された図７の治具では、集
積回路５はピン状接点装置１０とコネクター１２により
計測器に接続することが可能となる。

【００１４】すなわち、従来の集積回路試験用配線基板
では、計測器を用いた評価と互換性が得にくいか、また
は特異な治具を必要とする欠点があった。

【００１５】本発明の目的は、同一基板を集積回路試験
装置及び計測器に接続可能とした集積回路試験装置用の
配線基板を提供することにある。

【００１６】

【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明に係る集積回路試験装置用の配線基板におい
ては、集積回路と、集積回路の外部素子を配置する領域
と、集積回路試験装置との接続パターンの領域と、計測
器との接続パターンの領域とを有するものである。

【００１７】また、集積回路試験装置との接続パターン
の領域には、コネクターの取付パターン又はピン状接点
装置用の接点パターンを有するものである。

【００１８】また、計測器との接続パターンの領域に
は、コネクターの取付パターンを有するものである。

【００１９】また、集積回路試験装置との接続パターン
の領域の形状は、長方形であり、かつ計測器との接続パ
ターンの領域は、集積回路試験装置との接続パターンの
辺に接して配置されるか、または周囲を囲むように配置
されたものである。

【００２０】また、集積回路試験装置との接続パターン
の領域は、円又は楕円形状をしており、かつ計測器との
接続パターンの領域は、これを囲むように配置されたも
のである。

【００２１】

【作用】集積回路試験装置との接続パターンと、計測器
との接続パターンとを同一基板上に有し、両接続パター
ンを選択的に使用する。

【００２２】

【実施例】次に本発明について図面を参照して説明す
る。

【００２３】（実施例１）図１は、本発明の実施例１に
係る配線基板の配置図である。

【００２４】図１に示す実施例では、２つの計測器との
接続パターン領域１，１と、集積回路試験装置との接続
パターン領域２と、集積回路５と、その外部素子配置領
域３とを有しており、該領域３は方形に形成され、さら
に、これを囲み、かつ方形に集積回路試験装置との接続
パターン領域２が形成され、かつ、領域２の２辺に接し
て２つの計測器との接続パターン領域１，１が配置され
ている。

【００２５】また、切り取り位置を示す線４は、計測器
との接続パターン領域１と、集積回路試験装置との接続
パターン領域２との境界に引かれている。

【００２６】図２は、図１の実施例の電極付近を示すプ
リント配線形状図である。

【００２７】図２において、切り取り位置を示す線４を
境として、集積回路試験装置用の接点パターン６−１，
６−２と、コネクター接続用パターン７とが配され、接
点パターン６−１は、コネクター接続用パターン７の信
号電極に、接点パターン６−２は、コネクター接続用パ
ターン７の接地電極にそれぞれ接続されている。

【００２８】このように構成された図１の実施例におい
て、計測器による集積回路評価は、コネクター接続用パ
ターン７にコネクター１２を取り付け、これに計測器を
接続することにより行われる。

【００２９】また、集積回路用試験装置に用いるときは
切り取り位置を示す線４に沿って、計測器との接続パタ
ーン領域１を切り離して使われる。

【００３０】（実施例２）図３は、本発明の実施例２を
示す図である。

【００３１】図３の実施例は、円形の集積回路試験装置
用配線基板に適用したものである。

【００３２】図３の実施例は、計測器との接続パターン
領域１と、集積回路試験装置との接続パターン領域２
と、集積回路５と、その外部素子配置領域３とを有して
おり、領域３は円形に形成され、これを囲み、かつ円形
に集積回路試験装置との接続パターン領域２が形成さ
れ、かつ該領域を囲むように計測器との接続パターン領
域１が形成されている。

【００３３】また、切り取り位置を示す線４は、計測器
との接続パターン領域１と、集積回路試験装置との接続
パターン領域２との境界に引かれている。

【００３４】図３の実施例においても、電極付近のプリ
ント配線形状は図２と同様である。従って、計測器によ
る集積回路評価は、コネクター接続用パターン７にコネ
クター１２を取りつけ、これに計測器を接続することに
より行われ、また集積回路用試験装置に用いるときは切
り取り位置を示す線４に沿って、計測器との接続パター
ン領域１を切り離して使われる。

【００３５】

【発明の効果】以上説明したように本発明は、同一の配
線基板を集積回路試験装置にも、計測器にも接続可能と
することにより、同一の配線形状で集積回路試験と評価
とを実施可能とし、両者の互換性もよく、かつ特異な治
具等を必要としないという効果を有する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施例１を示す配線基板配置図であ
る。

【図２】図１の実施例における電極付近のプリント配線
形状図である。

【図３】本発明の実施例２を示す配線基板配置図であ
る。

【図４】従来の集積回路試験装置用配線基板配置図であ
る。

【図５】図４の配線基板配置図における電極付近のプリ
ント配線形状図である。

【図６】集積回路試験装置の配線基板接点付近の構造図
である。

【図７】図４の配線基板を計測器に接続するための治具
の構造図である。

【符号の説明】

１ 計測器との接続パターン領域 ２ 集積回路試験装置との接続パターン領域 ３ 集積回路の外部素子配置領域 ４ 切り取り位置を示す線 ５ 集積回路 ６，６−１，６−２ 集積回路試験装置用の接点パター
ン ７ コネクター接続用パターン ８ 集積回路試験装置用配線基板 ９ プリントパターン １０ ピン状接点装置 １１ シャーシ １２ コネクター

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 集積回路と、 集積回路の外部素子を配置する領域と、 集積回路試験装置との接続パターンの領域と、 計測器との接続パターンの領域とを有することを特徴と
   する集積回路試験装置用の配線基板。
2. 【請求項２】 前記請求項１に記載の集積回路試験装置
   用の配線基板であって、 集積回路試験装置との接続パターンの領域には、コネク
   ターの取付パターン又はピン状接点装置用の接点パター
   ンを有することを特徴とする集積回路試験装置用の配線
   基板。
3. 【請求項３】 前記請求項１に記載の集積回路試験装置
   用の配線基板であって、 計測器との接続パターンの領域には、コネクターの取付
   パターンを有することを特徴とする集積回路試験装置用
   の配線基板。
4. 【請求項４】 前記請求項１〜３に記載の集積回路試験
   装置用の配線基板であって、 集積回路試験装置との接続パターンの領域の形状は、長
   方形であり、かつ計測器との接続パターンの領域は、集
   積回路試験装置との接続パターンの辺に接して配置され
   るか、または周囲を囲むように配置されたことを特徴と
   する集積回路試験装置用の配線基板。
5. 【請求項５】 前記請求項１〜３に記載の集積回路試験
   装置用の配線基板であって、 集積回路試験装置との接続パターンの領域は、円又は楕
   円形状をしており、かつ計測器との接続パターンの領域
   は、これを囲むように配置されたことを特徴とする集積
   回路試験装置用の配線基板。