JPH05117620A - 耐熱性接着剤用組成物、耐熱性接着剤、耐熱性接着剤層付きフイルム、印刷回路用基板及び半導体装置 - Google Patents
耐熱性接着剤用組成物、耐熱性接着剤、耐熱性接着剤層付きフイルム、印刷回路用基板及び半導体装置Info
- Publication number
- JPH05117620A JPH05117620A JP3277665A JP27766591A JPH05117620A JP H05117620 A JPH05117620 A JP H05117620A JP 3277665 A JP3277665 A JP 3277665A JP 27766591 A JP27766591 A JP 27766591A JP H05117620 A JPH05117620 A JP H05117620A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- heat
- resistant adhesive
- composition
- film
- adhesive layer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/50—Bond wires
- H10W72/551—Materials of bond wires
- H10W72/552—Materials of bond wires comprising metals or metalloids, e.g. silver
- H10W72/5522—Materials of bond wires comprising metals or metalloids, e.g. silver comprising gold [Au]
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W90/00—Package configurations
- H10W90/701—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
- H10W90/751—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires
- H10W90/756—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires between a chip and a stacked lead frame, conducting package substrate or heat sink
Landscapes
- Die Bonding (AREA)
- Compositions Of Macromolecular Compounds (AREA)
- Adhesives Or Adhesive Processes (AREA)
- Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)
- Wire Bonding (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 耐熱性、接着性に優れた耐熱性接着剤用組成
物を提供する。 【構成】 (A)下記一般式(I)で表される繰り返し
単位を有する芳香族ポリエーテルアミド、(B)エポキ
シ樹脂及び(C)溶媒を含んでなる耐熱性接着剤用組成
物耐熱性接着剤、耐熱性接着剤層付きフィルム及び半導
体装置。 【化1】 [式中R1、R2、R3およびR4はそれぞれ独立に水
素、低級アルキル基、低級アルコキシ基またはハロゲン
原子を示し、Xは結合、 【化2】 を示し(ここでR5およびR6はそれぞれ独立に水素、
低級アルキル基、トリフルオロメチル基、トリクロロメ
チル基またはフェニル基を示す)Xは繰り返し単位毎に
相違してもよく、Arは芳香族の3価の基を示す]
物を提供する。 【構成】 (A)下記一般式(I)で表される繰り返し
単位を有する芳香族ポリエーテルアミド、(B)エポキ
シ樹脂及び(C)溶媒を含んでなる耐熱性接着剤用組成
物耐熱性接着剤、耐熱性接着剤層付きフィルム及び半導
体装置。 【化1】 [式中R1、R2、R3およびR4はそれぞれ独立に水
素、低級アルキル基、低級アルコキシ基またはハロゲン
原子を示し、Xは結合、 【化2】 を示し(ここでR5およびR6はそれぞれ独立に水素、
低級アルキル基、トリフルオロメチル基、トリクロロメ
チル基またはフェニル基を示す)Xは繰り返し単位毎に
相違してもよく、Arは芳香族の3価の基を示す]
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は耐熱性接着剤用組成物、
耐熱性接着剤、耐熱性接着剤層付きフィルム、印刷回路
用基板及び半導体装置に関する。
耐熱性接着剤、耐熱性接着剤層付きフィルム、印刷回路
用基板及び半導体装置に関する。
【0002】
【従来の技術】現在、エレクトロニクス分野において用
いられる接着剤、例えば印刷回路用基板における金属箔
とポリイミドフィルム等の支持材との接着剤や樹脂封止
型等の半導体装置内におけるリードフレームと半導体素
子(チップ)の接着剤やいわゆるTABテープの金属箔
とポリイミドフィルムとの接着剤には、高温特性、接着
力、作業性にすぐれた材料が求められている。従来、こ
れら接着剤として用いられてきたエポキシ系、ゴム変性
エポキシ系、フェノール系、アクリル系等の樹脂はすぐ
れた接着力を示すが、耐熱性に劣るという欠点がある。
いられる接着剤、例えば印刷回路用基板における金属箔
とポリイミドフィルム等の支持材との接着剤や樹脂封止
型等の半導体装置内におけるリードフレームと半導体素
子(チップ)の接着剤やいわゆるTABテープの金属箔
とポリイミドフィルムとの接着剤には、高温特性、接着
力、作業性にすぐれた材料が求められている。従来、こ
れら接着剤として用いられてきたエポキシ系、ゴム変性
エポキシ系、フェノール系、アクリル系等の樹脂はすぐ
れた接着力を示すが、耐熱性に劣るという欠点がある。
【0003】一方、耐熱性にすぐれる樹脂として、ポリ
イミド系樹脂が知られている。しかしながらポリイミド
樹脂は、不溶、不融であり接着剤として用いるには不適
当であり、むしろその前駆体であるポリイミド酸を特定
の溶媒に溶解させた溶液の状態で用い、ついで脱溶媒、
イミド化しなければならない。しかし、この場合は脱溶
媒、イミド化時の縮合水等でボイドを発生しやすく、ま
たイミド化に高温、長時間を要するため、使用にあたっ
ては制限が多いという問題があった。
イミド系樹脂が知られている。しかしながらポリイミド
樹脂は、不溶、不融であり接着剤として用いるには不適
当であり、むしろその前駆体であるポリイミド酸を特定
の溶媒に溶解させた溶液の状態で用い、ついで脱溶媒、
イミド化しなければならない。しかし、この場合は脱溶
媒、イミド化時の縮合水等でボイドを発生しやすく、ま
たイミド化に高温、長時間を要するため、使用にあたっ
ては制限が多いという問題があった。
【0004】そこで、例えば、特開平1−26877号
公報において芳香族ポリアミド等の樹脂を溶融接着させ
ることが提案されている。しかし、この場合においては
接着温度が高く使用にあたっては制限が多い。また、こ
の方法で接着温度を低くするためには、樹脂の溶融温度
を低くすることになり、ガラス転移温度(Tg)に代表
される耐熱性の低下を招く。つまり、使用にあたって支
障のない低い温度で接着でき、なおかつ高い耐熱性を有
する接着剤は得られないという問題があった。
公報において芳香族ポリアミド等の樹脂を溶融接着させ
ることが提案されている。しかし、この場合においては
接着温度が高く使用にあたっては制限が多い。また、こ
の方法で接着温度を低くするためには、樹脂の溶融温度
を低くすることになり、ガラス転移温度(Tg)に代表
される耐熱性の低下を招く。つまり、使用にあたって支
障のない低い温度で接着でき、なおかつ高い耐熱性を有
する接着剤は得られないという問題があった。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、上記
問題を解決し、耐熱性、接着力にすぐれた耐熱性接着剤
組成物、耐熱性接着剤、耐熱性接着剤層付きフィルム、
印刷回路用基板、半導体装置を提供することにある。
問題を解決し、耐熱性、接着力にすぐれた耐熱性接着剤
組成物、耐熱性接着剤、耐熱性接着剤層付きフィルム、
印刷回路用基板、半導体装置を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は、(A)下記一
般式(I)で表される繰り返し単位を有する芳香族ポリ
エーテルアミド、(B)エポキシ樹脂及び(C)溶媒を
含んでなる耐熱性接着剤用組成物に関する。
般式(I)で表される繰り返し単位を有する芳香族ポリ
エーテルアミド、(B)エポキシ樹脂及び(C)溶媒を
含んでなる耐熱性接着剤用組成物に関する。
【化3】 [式中R1、R2、R3およびR4はそれぞれ独立に水
素、低級アルキル基、低級アルコキシ基またはハロゲン
原子を示し、Xは結合、
素、低級アルキル基、低級アルコキシ基またはハロゲン
原子を示し、Xは結合、
【化4】 を示し(ここでR5およびR6はそれぞれ独立に水素、
低級アルキル基、トリフルオロメチル基、トリクロロメ
チル基またはフェニル基を示す)、Xは繰り返し単位毎
に相違してもよく、Arは芳香族の2価の基を示す]
低級アルキル基、トリフルオロメチル基、トリクロロメ
チル基またはフェニル基を示す)、Xは繰り返し単位毎
に相違してもよく、Arは芳香族の2価の基を示す]
【0007】また、本発明は、前記耐熱性接着剤用組成
物を乾燥させてなる耐熱性接着剤に関する。
物を乾燥させてなる耐熱性接着剤に関する。
【0008】また、本発明は、支持フイルムの片面又は
両面に、前記の耐熱性接着剤用組成物を塗布し、乾燥さ
せた耐熱性接着剤層付きフィルムに関する。
両面に、前記の耐熱性接着剤用組成物を塗布し、乾燥さ
せた耐熱性接着剤層付きフィルムに関する。
【0009】また、本発明は、支持材と金属箔とを前記
の耐熱性接着剤用組成物を用いて接着させてなる印刷回
路用基板に関する。
の耐熱性接着剤用組成物を用いて接着させてなる印刷回
路用基板に関する。
【0010】また、本発明は、リードフレームと半導体
素子とを、前記の耐熱性接着剤用組成物を乾燥させて得
られる耐熱性接着剤層を介して接着させてなる半導体装
置に関する。
素子とを、前記の耐熱性接着剤用組成物を乾燥させて得
られる耐熱性接着剤層を介して接着させてなる半導体装
置に関する。
【0011】また、本発明は、リードフレームと半導体
素子とを、前記の耐熱性接着剤層付きフィルムを介して
接着させてなる半導体装置に関する。
素子とを、前記の耐熱性接着剤層付きフィルムを介して
接着させてなる半導体装置に関する。
【0012】また、本発明は、リードフレームのインナ
ーリードと半導体素子とを、前記の耐熱性接着剤用組成
物を乾燥させて得られる耐熱性接着剤層を介して接着さ
せてなる半導体装置に関する。
ーリードと半導体素子とを、前記の耐熱性接着剤用組成
物を乾燥させて得られる耐熱性接着剤層を介して接着さ
せてなる半導体装置に関する。
【0013】また、本発明は、リードフレームのインナ
ーリードと半導体素子とを、前記の耐熱性接着剤層付き
フィルムを介して接着させてなる半導体装置に関する。
ーリードと半導体素子とを、前記の耐熱性接着剤層付き
フィルムを介して接着させてなる半導体装置に関する。
【0014】本発明において用いられる(A)前記一般
式(I)で表される繰り返し単位を有する芳香族ポリエ
ーテルアミドは、芳香族ジカルボン酸若しくはその反応
性誘導体と一般式(II)
式(I)で表される繰り返し単位を有する芳香族ポリエ
ーテルアミドは、芳香族ジカルボン酸若しくはその反応
性誘導体と一般式(II)
【化5】 [式中R1、R2、R3およびR4はそれぞれ独立に水
素、低級アルキル基、低級アルコキシ基またはハロゲン
を示し、Xは結合、
素、低級アルキル基、低級アルコキシ基またはハロゲン
を示し、Xは結合、
【化6】 を示し(ここでR5およびR6はそれぞれ独立に水素、
低級アルキル基、トリフルオロメチル基、トリクロロメ
チル基またはフェニル基を示す。)]で表される芳香族
ジアミンを重縮合させて得られる。
低級アルキル基、トリフルオロメチル基、トリクロロメ
チル基またはフェニル基を示す。)]で表される芳香族
ジアミンを重縮合させて得られる。
【0015】本発明における芳香族ジカルボン酸は、芳
香核に2つのカルボキシル基が結合されているものであ
る。もちろん、この芳香環はヘテロ環の導入されたもの
でもよく、また芳香環同士がアルキレン、酸素、カルボ
ニル基などと結合されていてもよい。さらに芳香環に、
たとえば、アルコキシ、アリルオキシ、アルキルアミ
ノ、ハロゲンなどの縮合反応に関与しない置換基が導入
されていてもよい。
香核に2つのカルボキシル基が結合されているものであ
る。もちろん、この芳香環はヘテロ環の導入されたもの
でもよく、また芳香環同士がアルキレン、酸素、カルボ
ニル基などと結合されていてもよい。さらに芳香環に、
たとえば、アルコキシ、アリルオキシ、アルキルアミ
ノ、ハロゲンなどの縮合反応に関与しない置換基が導入
されていてもよい。
【0016】上記芳香族ジカルボン酸としては、例え
ば、テレフタル酸、イソフタル酸、4,4′−ジフェニ
ルエーテルジカルボン酸、4,4′−ジフェニルスルホ
ンジカルボン酸、4,4′−ジフェニルジカルボン酸、
1,5−ナフタレンジカルボン酸が用いられ、入手が容
易な点からテレフタル酸及びイソフタル酸が好ましい。
芳香族ジカルボン酸の反応性誘導体とは、前記芳香族ジ
カルボン酸のジクロライド、ジブロマイド、ジエステル
等をあげることができる。テレフタル酸ジクロライド、
イソフタル酸ジクロライドが好ましい。
ば、テレフタル酸、イソフタル酸、4,4′−ジフェニ
ルエーテルジカルボン酸、4,4′−ジフェニルスルホ
ンジカルボン酸、4,4′−ジフェニルジカルボン酸、
1,5−ナフタレンジカルボン酸が用いられ、入手が容
易な点からテレフタル酸及びイソフタル酸が好ましい。
芳香族ジカルボン酸の反応性誘導体とは、前記芳香族ジ
カルボン酸のジクロライド、ジブロマイド、ジエステル
等をあげることができる。テレフタル酸ジクロライド、
イソフタル酸ジクロライドが好ましい。
【0017】前記一般式(II)で表される芳香族ジア
ミンとしては、2,2−ビス[4−(4−アミノフェノ
キシ)フェニル]プロパン、2,2−ビス[3−メチル
−4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]プロパン、
2,2−ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニ
ル]ブタン、2,2−ビス[3−メチル−4−(4−ア
ミノフェノキシ)フェニル]ブタン、2,2−ビス
[3,5−ジメチル−4−(4−アミノフェノキシ)フ
ェニルブタン、2,2−ビス[3,5−ジブロモ−4−
(4−アミノフェノキシ)フェニル]ブタン、1,1,
1,3,3,3−ヘキサフルオロ−2,2−ビス[4−
(4−アミノフェノキシ)フェニル]プロパン、1,
1,1,3,3,3−ヘキサフルオロ−2,2−ビス
[3−メチル−4−(4−アミノフェノキシ)フェニ
ル]プロパン、1,1−ビス[4−(4−アミノフェノ
キシ)フェニル]シクロヘキサン、1,1−ビス[4−
(4−アミノフェノキシ)フェニル]シクロペンタン、
ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]スルホ
ン、ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]エ
ーテル、4,4′カルボニルビス(p−フェニレンオキ
シ)ジアニリン、4,4′−ビス(4−アミノフェノキ
シ)ビフェニル等がある。これらのうちでは、2,2−
ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]プロパ
ンが好ましい。必要に応じて上記の芳香族ジアミンは2
種以上を用いることができる。
ミンとしては、2,2−ビス[4−(4−アミノフェノ
キシ)フェニル]プロパン、2,2−ビス[3−メチル
−4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]プロパン、
2,2−ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニ
ル]ブタン、2,2−ビス[3−メチル−4−(4−ア
ミノフェノキシ)フェニル]ブタン、2,2−ビス
[3,5−ジメチル−4−(4−アミノフェノキシ)フ
ェニルブタン、2,2−ビス[3,5−ジブロモ−4−
(4−アミノフェノキシ)フェニル]ブタン、1,1,
1,3,3,3−ヘキサフルオロ−2,2−ビス[4−
(4−アミノフェノキシ)フェニル]プロパン、1,
1,1,3,3,3−ヘキサフルオロ−2,2−ビス
[3−メチル−4−(4−アミノフェノキシ)フェニ
ル]プロパン、1,1−ビス[4−(4−アミノフェノ
キシ)フェニル]シクロヘキサン、1,1−ビス[4−
(4−アミノフェノキシ)フェニル]シクロペンタン、
ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]スルホ
ン、ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]エ
ーテル、4,4′カルボニルビス(p−フェニレンオキ
シ)ジアニリン、4,4′−ビス(4−アミノフェノキ
シ)ビフェニル等がある。これらのうちでは、2,2−
ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]プロパ
ンが好ましい。必要に応じて上記の芳香族ジアミンは2
種以上を用いることができる。
【0018】更に本発明においては、一般式(II)で
表される芳香族ジアミン以外の公知のジアミン、例え
ば、4,4′−ジアミノジフェニルエーテル、4,4′
−ジアミノジフェニルメタン、4,4′−ジアミノジフ
ェニルスルホン、メタフェニレンジアミン、ピペラジ
ン、ヘキサメチレンジアミン、ヘプタメチレンジアミ
ン、テトラメチレンジアミン、p−キシリレンジアミ
ン、m−キシリレンジアミン、3−メチルヘプタメチレ
ンジアミン、1,3−ビス(3−アミノプロピル)テト
ラメチルジシロキサン等を併用することができる。これ
らのジアミンのジアミン成分全体に対する割合としては
30モル%以下であることが好ましい。この割合が30
モル%を越えると熱安定性、熱溶融性あるいは溶解性が
悪くなる傾向がある。
表される芳香族ジアミン以外の公知のジアミン、例え
ば、4,4′−ジアミノジフェニルエーテル、4,4′
−ジアミノジフェニルメタン、4,4′−ジアミノジフ
ェニルスルホン、メタフェニレンジアミン、ピペラジ
ン、ヘキサメチレンジアミン、ヘプタメチレンジアミ
ン、テトラメチレンジアミン、p−キシリレンジアミ
ン、m−キシリレンジアミン、3−メチルヘプタメチレ
ンジアミン、1,3−ビス(3−アミノプロピル)テト
ラメチルジシロキサン等を併用することができる。これ
らのジアミンのジアミン成分全体に対する割合としては
30モル%以下であることが好ましい。この割合が30
モル%を越えると熱安定性、熱溶融性あるいは溶解性が
悪くなる傾向がある。
【0019】本発明において、芳香族ジカルボン酸また
はその反応性誘導体の酸成分はジアミン成分の総量に対
して80〜120モル%使用するのが好ましく、特に9
5〜105モル%が好ましい。これらを等モル使用した
ときもっとも高分子量のものが得られる。ジアミン成分
に対して上記酸成分が多すぎても少なすぎても分子量が
低下して機械的強度、耐熱性等が低下する傾向がある。
はその反応性誘導体の酸成分はジアミン成分の総量に対
して80〜120モル%使用するのが好ましく、特に9
5〜105モル%が好ましい。これらを等モル使用した
ときもっとも高分子量のものが得られる。ジアミン成分
に対して上記酸成分が多すぎても少なすぎても分子量が
低下して機械的強度、耐熱性等が低下する傾向がある。
【0020】芳香族ジカルボン酸又はその反応性誘導体
とジアミンとの重縮合反応は、常法により行うことがで
きる。
とジアミンとの重縮合反応は、常法により行うことがで
きる。
【0021】2種以上の芳香族ジアミンを使用するこ
と、あるいは2種以上の芳香族ジカルボン酸又はその反
応性誘導体を使用することにより前記一般式(I)で表
される繰り返し単位が相違する重合体を得ることができ
る。
と、あるいは2種以上の芳香族ジカルボン酸又はその反
応性誘導体を使用することにより前記一般式(I)で表
される繰り返し単位が相違する重合体を得ることができ
る。
【0022】重合体は、ジメチルホルムアミド0.2重
量%溶液における30℃での還元粘度が0.2〜2.0
dl/gであるのが好ましい。この還元粘度が小さすぎ
ると、耐熱性、機械的強度が低下する傾向があり、大き
すぎると溶融粘度が低下する傾向がある。
量%溶液における30℃での還元粘度が0.2〜2.0
dl/gであるのが好ましい。この還元粘度が小さすぎ
ると、耐熱性、機械的強度が低下する傾向があり、大き
すぎると溶融粘度が低下する傾向がある。
【0023】本発明で使用される(B)エポキシ樹脂
は、1分子中に2個以上のエポキシ基を有する化合物で
あり、例えば、ビスフェノールAのグリシジルエーテ
ル、ノボラック樹脂またはクレゾールノボラック樹脂の
ポリグリシジルエーテル、ポリカルボン酸のポリグリシ
ジルエステル、脂肪族環状エポキシ等が挙げられる。ビ
スフェノール系エポキシ樹脂としてはシェル社製エピコ
ート828、1001、1004、1007等が、ノボ
ラック系エポキシ樹脂としてはダウケミカル社製DEN
438が、クレゾールノボラック系エポキシ樹脂として
は日本化薬(株)製EOCN−102Sが、複素環含有
エポキシ樹脂としては日産化学(株)製TEPIC(ト
リスグリシジルイソシアヌレート)が、脂環式エポキシ
樹脂としてはUCC社製ERL−4221が市販されて
いる。
は、1分子中に2個以上のエポキシ基を有する化合物で
あり、例えば、ビスフェノールAのグリシジルエーテ
ル、ノボラック樹脂またはクレゾールノボラック樹脂の
ポリグリシジルエーテル、ポリカルボン酸のポリグリシ
ジルエステル、脂肪族環状エポキシ等が挙げられる。ビ
スフェノール系エポキシ樹脂としてはシェル社製エピコ
ート828、1001、1004、1007等が、ノボ
ラック系エポキシ樹脂としてはダウケミカル社製DEN
438が、クレゾールノボラック系エポキシ樹脂として
は日本化薬(株)製EOCN−102Sが、複素環含有
エポキシ樹脂としては日産化学(株)製TEPIC(ト
リスグリシジルイソシアヌレート)が、脂環式エポキシ
樹脂としてはUCC社製ERL−4221が市販されて
いる。
【0024】本発明において、(A)芳香族ポリエーテ
ルアミドと(B)エポキシ樹脂の配合割合は、両者を合
計した固形分全体に対し、(B)エポキシ樹脂の配合割
合を10〜60重量%にすることが好ましい。エポキシ
樹脂が10重量%未満の場合には、耐熱性接着剤の溶融
性が低く接着温度が高くなり加工性が低下する傾向があ
り、また60重量%を越える場合には機械的強度が低下
する傾向がある。
ルアミドと(B)エポキシ樹脂の配合割合は、両者を合
計した固形分全体に対し、(B)エポキシ樹脂の配合割
合を10〜60重量%にすることが好ましい。エポキシ
樹脂が10重量%未満の場合には、耐熱性接着剤の溶融
性が低く接着温度が高くなり加工性が低下する傾向があ
り、また60重量%を越える場合には機械的強度が低下
する傾向がある。
【0025】また本発明において接着性、機械強度の点
から硬化剤、硬化促進剤を添加して使用してもよい。硬
化剤としては、例えば、ポリカルボン酸無水物、ポリア
ミン、ノボラック樹脂、ポリビニルフェノール類、イミ
ダゾール類、3級アミンおよびその塩、ジシアンジアミ
ドヒドラジッド化合物等のいわゆる潜在性硬化剤などが
あげられる。また、硬化促進剤としては、例えば、フェ
ノール化合物、3級アミン、3級アミン塩、4級アンモ
ニウム塩、4級フォスフォニウム塩、金属アルコラー
ト、有機金属塩、ルイス酸等が使用できる。
から硬化剤、硬化促進剤を添加して使用してもよい。硬
化剤としては、例えば、ポリカルボン酸無水物、ポリア
ミン、ノボラック樹脂、ポリビニルフェノール類、イミ
ダゾール類、3級アミンおよびその塩、ジシアンジアミ
ドヒドラジッド化合物等のいわゆる潜在性硬化剤などが
あげられる。また、硬化促進剤としては、例えば、フェ
ノール化合物、3級アミン、3級アミン塩、4級アンモ
ニウム塩、4級フォスフォニウム塩、金属アルコラー
ト、有機金属塩、ルイス酸等が使用できる。
【0026】本発明において使用される、(C)溶媒と
しては、例えば、テトラヒドロフラン、ジオキサン、ジ
エチレングリコールメチルエーテル、ジメチルホルムア
ミド、ジメチルアセトアミド、N−メチル−2−ピロリ
ドンなどが挙げられる。これらは、2種以上を使用して
もよい。
しては、例えば、テトラヒドロフラン、ジオキサン、ジ
エチレングリコールメチルエーテル、ジメチルホルムア
ミド、ジメチルアセトアミド、N−メチル−2−ピロリ
ドンなどが挙げられる。これらは、2種以上を使用して
もよい。
【0027】本発明の耐熱性接着剤用組成物をガラス
板、ステンレス板等に流延し乾燥(通常、80〜170
℃で1〜120分間)し引き剥すことにより本発明の耐
熱性接着剤をフィルム状として得ることができる。
板、ステンレス板等に流延し乾燥(通常、80〜170
℃で1〜120分間)し引き剥すことにより本発明の耐
熱性接着剤をフィルム状として得ることができる。
【0028】また、この耐熱性接着剤用組成物をポリイ
ミドフィルム、ポリエステルフィルム、ポリカーボネー
トフィルム等の支持フィルムの片面または両面に塗工し
乾燥させることにより本発明の耐熱性接着剤層付きフィ
ルムを得ることができる。また、この耐熱性接着剤用組
成物をそのまま被着物に塗布し乾燥し他の被着物と加熱
溶融圧着することができる。本発明の耐熱性接着剤は、
被着体と重ねた後、軟化点以上の温度で加熱溶融圧着
し、更に加熱することにより硬化し、耐熱性、接着強度
にすぐれた接着剤となる。
ミドフィルム、ポリエステルフィルム、ポリカーボネー
トフィルム等の支持フィルムの片面または両面に塗工し
乾燥させることにより本発明の耐熱性接着剤層付きフィ
ルムを得ることができる。また、この耐熱性接着剤用組
成物をそのまま被着物に塗布し乾燥し他の被着物と加熱
溶融圧着することができる。本発明の耐熱性接着剤は、
被着体と重ねた後、軟化点以上の温度で加熱溶融圧着
し、更に加熱することにより硬化し、耐熱性、接着強度
にすぐれた接着剤となる。
【0029】本発明の耐熱性接着剤用組成物には、三酸
化アンチモン、水酸化アルミニウム、ホウ酸バリウム等
の難燃性無機化合物、シリカ、アルミナ、マイカ、酸化
チタン、ジルコニア、珪酸カルシウム、水酸化マグネシ
ウム、酸化マグネシウム、酸化鉄、炭酸カルシウム、炭
化珪素、窒化ホウ素、銀粉、金粉、銅粉、ニッケル粉等
の無機フィラーを接着剤総量に対して70重量%以下の
割合で含有させてもよい。これら無機フィラーが70重
量%を越えると、接着剤フローが小さくなり接着強度が
低下する傾向がある。これら以外の充填剤、安定剤、界
面活性剤、溶剤などを目的に応じて含んでいてもよい。
化アンチモン、水酸化アルミニウム、ホウ酸バリウム等
の難燃性無機化合物、シリカ、アルミナ、マイカ、酸化
チタン、ジルコニア、珪酸カルシウム、水酸化マグネシ
ウム、酸化マグネシウム、酸化鉄、炭酸カルシウム、炭
化珪素、窒化ホウ素、銀粉、金粉、銅粉、ニッケル粉等
の無機フィラーを接着剤総量に対して70重量%以下の
割合で含有させてもよい。これら無機フィラーが70重
量%を越えると、接着剤フローが小さくなり接着強度が
低下する傾向がある。これら以外の充填剤、安定剤、界
面活性剤、溶剤などを目的に応じて含んでいてもよい。
【0030】本発明における支持材としては、例えば、
紙フェノール系支持材、エポキシ系支持材、ポリイミド
系支持材等が挙げられる。
紙フェノール系支持材、エポキシ系支持材、ポリイミド
系支持材等が挙げられる。
【0031】本発明における金属箔としては銅箔、アル
ミ箔、鉄ニッケル合金箔等が挙げられる。
ミ箔、鉄ニッケル合金箔等が挙げられる。
【0032】支持材と金属箔とを耐熱性接着剤用組成物
を用いて(例えば、耐熱性接着剤からなるシート状接着
剤を介して)接着させてなる印刷回路用基板は有用であ
る。例えば、シート状接着材を支持材と金属箔の間に挾
み170〜230℃、好ましくは170〜210℃で5
〜100kgf/cm21秒間〜15分間加圧して圧着
し、ついで190〜370℃、好ましくは190〜23
0℃、より好ましくは190〜200℃で1〜20時間
硬化反応を進め接着を完了することにより印刷回路用基
板を製造できる。この時耐熱性接着剤層付きフィルム
(支持フィルムがポリイミドフィルムのもの)を用いれ
ばフレキシブル印刷回路用基板を容易に生産性良く製造
することができる。
を用いて(例えば、耐熱性接着剤からなるシート状接着
剤を介して)接着させてなる印刷回路用基板は有用であ
る。例えば、シート状接着材を支持材と金属箔の間に挾
み170〜230℃、好ましくは170〜210℃で5
〜100kgf/cm21秒間〜15分間加圧して圧着
し、ついで190〜370℃、好ましくは190〜23
0℃、より好ましくは190〜200℃で1〜20時間
硬化反応を進め接着を完了することにより印刷回路用基
板を製造できる。この時耐熱性接着剤層付きフィルム
(支持フィルムがポリイミドフィルムのもの)を用いれ
ばフレキシブル印刷回路用基板を容易に生産性良く製造
することができる。
【0033】また、耐熱性接着剤層付きフィルムを用い
れば、高容量の半導体で信頼性の優れたものを作業性、
歩留り良く簡便に製造することができる。例えば、支持
フィルムとしてポリイミドフィルムを用いた耐熱性接着
剤層付きフィルム(両面接着剤層付き)を所定の大きさ
に打ち抜くか、切りとったもの(フィルム片)を、リー
ドフレームと半導体素子の間に挾み170〜230℃、
好ましくは200〜220℃、より好ましくは200〜
210℃、5〜100kgf/cm2で1秒間〜15分
間加圧して圧着し、ついで190〜210℃、好ましく
は190〜200℃で1〜20時間硬化反応を進め、そ
の後リードフレームと半導体素子を金線等で接合しエポ
キシ樹脂等の樹脂封止材でトランスファ成形して封止す
ることにより半導体装置を製造することができる。リー
ドフレームのインナーリードに前記フィルム片を適用し
た場合も、同様にして半導体装置を製造することができ
る。
れば、高容量の半導体で信頼性の優れたものを作業性、
歩留り良く簡便に製造することができる。例えば、支持
フィルムとしてポリイミドフィルムを用いた耐熱性接着
剤層付きフィルム(両面接着剤層付き)を所定の大きさ
に打ち抜くか、切りとったもの(フィルム片)を、リー
ドフレームと半導体素子の間に挾み170〜230℃、
好ましくは200〜220℃、より好ましくは200〜
210℃、5〜100kgf/cm2で1秒間〜15分
間加圧して圧着し、ついで190〜210℃、好ましく
は190〜200℃で1〜20時間硬化反応を進め、そ
の後リードフレームと半導体素子を金線等で接合しエポ
キシ樹脂等の樹脂封止材でトランスファ成形して封止す
ることにより半導体装置を製造することができる。リー
ドフレームのインナーリードに前記フィルム片を適用し
た場合も、同様にして半導体装置を製造することができ
る。
【0034】
【実施例】次に、本発明を実施例により説明するが、本
発明はこれらにより制限されるものではない。
発明はこれらにより制限されるものではない。
【0035】実施例1 温度計、撹拌機、窒素導入管及び分留頭をとりつけた4
つ口フラスコに窒素雰囲気下で、2,2−ビス[4−
(4−アミノフェノキシ)フェニル]プロパン205g
(0.5モル)及びプロピレンオキサイド69.6g
(1.2モル)を入れN−メチル−2−ピロリドン12
00gに溶解した。この溶液を−5℃に冷却し、この温
度でイソフタル酸ジクロライド101.5g(0.5モ
ル)を温度が20℃を越えないように添加し、室温で3
時間撹拌した。得られた反応液をメタノール中に投入し
て、重合体を単離させた。これを乾燥した後ジメチルホ
ルムアミドに溶解し、これをメタノール中に投入してポ
リエーテルアミド重合体を精製し、減圧乾燥した。この
重合体の還元粘度(ηsp/c)(ジメチルホルムアミド
0.2重量%溶液、30℃で測定、以下は同様)は1.
02dl/gであった。得られたポリエーテルアミド粉
末60gと日本化薬(株)製エポキシ樹脂EOCN−1
02S(オルソクレゾールノボラック型、エポキシ当量
205〜225)40gをジエチレングリコールジメチ
ルエーテル200gに溶解してワニスを得た。
つ口フラスコに窒素雰囲気下で、2,2−ビス[4−
(4−アミノフェノキシ)フェニル]プロパン205g
(0.5モル)及びプロピレンオキサイド69.6g
(1.2モル)を入れN−メチル−2−ピロリドン12
00gに溶解した。この溶液を−5℃に冷却し、この温
度でイソフタル酸ジクロライド101.5g(0.5モ
ル)を温度が20℃を越えないように添加し、室温で3
時間撹拌した。得られた反応液をメタノール中に投入し
て、重合体を単離させた。これを乾燥した後ジメチルホ
ルムアミドに溶解し、これをメタノール中に投入してポ
リエーテルアミド重合体を精製し、減圧乾燥した。この
重合体の還元粘度(ηsp/c)(ジメチルホルムアミド
0.2重量%溶液、30℃で測定、以下は同様)は1.
02dl/gであった。得られたポリエーテルアミド粉
末60gと日本化薬(株)製エポキシ樹脂EOCN−1
02S(オルソクレゾールノボラック型、エポキシ当量
205〜225)40gをジエチレングリコールジメチ
ルエーテル200gに溶解してワニスを得た。
【0036】このワニスをガラス板上に90μmの厚さ
に流延し、100℃で15分乾燥後、ガラス板から引き
剥し、鉄枠に固定し150℃で30分乾燥して厚さ25
μmの接着剤フィルムを得た。得られたフィルムを、厚
さ50μmのポリイミドフィルム(Dupont社製カ
プトン)と厚さ35μmの片面粗化銅箔の間にはさんで
210℃の温度で50kgf/cm2の圧力で10分間
加圧して圧着し更に200℃で10時間硬化反応を進め
フレキシブル銅張板を得た。特性を表1に示した。
に流延し、100℃で15分乾燥後、ガラス板から引き
剥し、鉄枠に固定し150℃で30分乾燥して厚さ25
μmの接着剤フィルムを得た。得られたフィルムを、厚
さ50μmのポリイミドフィルム(Dupont社製カ
プトン)と厚さ35μmの片面粗化銅箔の間にはさんで
210℃の温度で50kgf/cm2の圧力で10分間
加圧して圧着し更に200℃で10時間硬化反応を進め
フレキシブル銅張板を得た。特性を表1に示した。
【0037】実施例2 温度計、撹拌機、窒素導入管及び分留頭をとりつけた4
つ口フラスコに窒素雰囲気下で、2,2−ビス[4−
(4−アミノフェノキシ)フェニル]プロパン164g
(0.4モル)、1,3−ビス(アミノプロピル)テト
ラメチルジシロキサン24.8g(0.1モル)及びプ
ロピレンオキサイド69.6g(1.2モル)を入れN
−メチル−2−ピロリドン1200gに溶解した。この
溶液を−5℃に冷却し、この温度でイソフタル酸ジクロ
ライド101.5g(0.5モル)を温度が20℃を越
えないように添加し、室温で3時間撹拌した。得られた
反応液をメタノール中に投入して、重合体を単離させ
た。これを乾燥した後ジメチルホルムアミドに溶解し、
これをメタノール中に投入してポリエーテルアミド重合
体を精製し、減圧乾燥した。この重合体の還元粘度は
0.82dl/gであった。
つ口フラスコに窒素雰囲気下で、2,2−ビス[4−
(4−アミノフェノキシ)フェニル]プロパン164g
(0.4モル)、1,3−ビス(アミノプロピル)テト
ラメチルジシロキサン24.8g(0.1モル)及びプ
ロピレンオキサイド69.6g(1.2モル)を入れN
−メチル−2−ピロリドン1200gに溶解した。この
溶液を−5℃に冷却し、この温度でイソフタル酸ジクロ
ライド101.5g(0.5モル)を温度が20℃を越
えないように添加し、室温で3時間撹拌した。得られた
反応液をメタノール中に投入して、重合体を単離させ
た。これを乾燥した後ジメチルホルムアミドに溶解し、
これをメタノール中に投入してポリエーテルアミド重合
体を精製し、減圧乾燥した。この重合体の還元粘度は
0.82dl/gであった。
【0038】得られたポリエーテルアミド粉末60gと
ダウ社製エポキシ樹脂DEN431(フェノールノボラ
ック型、エポキシ当量172〜179)40gをジエチ
レングリコールジメチルエーテル200gに溶解してワ
ニスを得た。このワニスを50μmの厚さのポリイミド
フィルム(Dupont社製カプトン)に90μmの厚
さに流延し、100℃で15、150℃で30分乾燥し
て厚さ25μmの接着剤層の付いたポリイミドフィルム
を得た。得られた接着剤層付きポリイミドフィルムを、
厚さ35μmの片面粗化銅箔と180℃の温度で30k
gf/cm2の圧力で10分間加圧して圧着し更に20
0℃で10時間硬化反応を進めフレキシブル銅張板を得
た。特性を表1に示した。
ダウ社製エポキシ樹脂DEN431(フェノールノボラ
ック型、エポキシ当量172〜179)40gをジエチ
レングリコールジメチルエーテル200gに溶解してワ
ニスを得た。このワニスを50μmの厚さのポリイミド
フィルム(Dupont社製カプトン)に90μmの厚
さに流延し、100℃で15、150℃で30分乾燥し
て厚さ25μmの接着剤層の付いたポリイミドフィルム
を得た。得られた接着剤層付きポリイミドフィルムを、
厚さ35μmの片面粗化銅箔と180℃の温度で30k
gf/cm2の圧力で10分間加圧して圧着し更に20
0℃で10時間硬化反応を進めフレキシブル銅張板を得
た。特性を表1に示した。
【0039】実施例3 温度計、撹拌器、窒素導入管及び冷却管をとりつけた4
つ口フラスコに窒素雰囲気下で、2,2−ビス[4−
(4−アミノフェノキシ)フェニル]プロパン205g
(0.5モル)及びプロピレンオキサイド69.6g
(1.2モル)を入れN−メチル−2−ピロリドン12
00gに溶解した。この溶液を−5℃に冷却し、この温
度でイソフタル酸ジクロライド50.75g(0.25
モル)及びテレフタル酸ジクロライド50.75g
(0.25モル)の混合物を温度が20℃を越えないよ
うに添加し、室温で3時間撹拌を続けた。得られた反応
液をメタノール中に投入して、重合体を単離させた。こ
れを乾燥した後ジメチルホルムアミドに溶解し、これを
メタノール中に投入してポリエーテルアミド重合体を精
製し、減圧乾燥した。この重合体の還元粘度は0.75
dl/gであった。得られたポリエーテルアミド粉末6
0gとシェル社製エポキシ樹脂エピコート828(ビス
フェノールA型、エポキシ当量184〜194)40g
をジメチルアセトアミド200gに溶解してワニスを得
た。このワニスをガラス板上に90μmの厚さに流延
し、100℃で15分乾燥後、ガラス板から引き剥し、
鉄枠に固定し200℃で10分乾燥して厚さ25μmの
接着剤フィルムを得た。得られたフィルムを、厚さ50
μmのポリイミドフィルム(宇部興産社製ユーピレック
スS)と厚さ35μmの片面粗化銅箔の間にはさんで2
10℃の温度で50Kg/cm2の圧力で10分間加圧
して圧着し更に200℃で5時間硬化反応を進めフレキ
シブル銅張板を得た。特性を表1に示した。
つ口フラスコに窒素雰囲気下で、2,2−ビス[4−
(4−アミノフェノキシ)フェニル]プロパン205g
(0.5モル)及びプロピレンオキサイド69.6g
(1.2モル)を入れN−メチル−2−ピロリドン12
00gに溶解した。この溶液を−5℃に冷却し、この温
度でイソフタル酸ジクロライド50.75g(0.25
モル)及びテレフタル酸ジクロライド50.75g
(0.25モル)の混合物を温度が20℃を越えないよ
うに添加し、室温で3時間撹拌を続けた。得られた反応
液をメタノール中に投入して、重合体を単離させた。こ
れを乾燥した後ジメチルホルムアミドに溶解し、これを
メタノール中に投入してポリエーテルアミド重合体を精
製し、減圧乾燥した。この重合体の還元粘度は0.75
dl/gであった。得られたポリエーテルアミド粉末6
0gとシェル社製エポキシ樹脂エピコート828(ビス
フェノールA型、エポキシ当量184〜194)40g
をジメチルアセトアミド200gに溶解してワニスを得
た。このワニスをガラス板上に90μmの厚さに流延
し、100℃で15分乾燥後、ガラス板から引き剥し、
鉄枠に固定し200℃で10分乾燥して厚さ25μmの
接着剤フィルムを得た。得られたフィルムを、厚さ50
μmのポリイミドフィルム(宇部興産社製ユーピレック
スS)と厚さ35μmの片面粗化銅箔の間にはさんで2
10℃の温度で50Kg/cm2の圧力で10分間加圧
して圧着し更に200℃で5時間硬化反応を進めフレキ
シブル銅張板を得た。特性を表1に示した。
【0040】比較例1 実施例1においてエポキシ樹脂40gを0gに、ワニス
を得るときの溶剤ジエチレングリコールジメチルエーテ
ル200gを140gに変更する以外は実施例1と同様
にして銅張板を得ようとしたが該加熱圧着条件では接着
できなかった。
を得るときの溶剤ジエチレングリコールジメチルエーテ
ル200gを140gに変更する以外は実施例1と同様
にして銅張板を得ようとしたが該加熱圧着条件では接着
できなかった。
【0041】比較例2 実施例1においてエポキシ樹脂40gを0gに、ワニス
を得るときの溶剤ジエチレングリコールジメチルエーテ
ル200gを140gに変更する以外は実施例1と同様
にして接着フィルムを得、加熱圧着条件を350℃の温
度で50Kg/cm2の圧力で1分間加圧し銅張板を得
た。特性を表1に示した。
を得るときの溶剤ジエチレングリコールジメチルエーテ
ル200gを140gに変更する以外は実施例1と同様
にして接着フィルムを得、加熱圧着条件を350℃の温
度で50Kg/cm2の圧力で1分間加圧し銅張板を得
た。特性を表1に示した。
【0042】比較例3 実施例1において得られたポリエーテルアミド粉末60
gを30gに、エポキシ樹脂40gを70gに変更する
以外は実施例1と同様にして接着フィルムを得ようとし
たが脆くてフィルム化できなかった。
gを30gに、エポキシ樹脂40gを70gに変更する
以外は実施例1と同様にして接着フィルムを得ようとし
たが脆くてフィルム化できなかった。
【0043】実施例4 実施例2において、得られたポリエーテルアミド粉末と
エポキシ樹脂をジエチレングリコールジメチルエーテル
に溶解して接着剤用ワニスを得るとき、硬化剤として四
国化成(株)製2E4MZ(2−エチル−4−メチルイ
ミダゾール)を0.8g加える以外は実施例1と同様に
して銅張板を得た。特性を表1に示した。
エポキシ樹脂をジエチレングリコールジメチルエーテル
に溶解して接着剤用ワニスを得るとき、硬化剤として四
国化成(株)製2E4MZ(2−エチル−4−メチルイ
ミダゾール)を0.8g加える以外は実施例1と同様に
して銅張板を得た。特性を表1に示した。
【0044】実施例5 実施例2において、得られたポリエーテルアミド粉末と
エポキシ樹脂をジエチレングリコールジメチルエーテル
に溶解して接着剤用ワニスを得るとき、硬化剤として丸
善石油化学(株)製レジンM(ポリビニルフェノール)
を4.0g加える以外は実施例1と同様にして銅張板を
得た。特性を表1に示した。
エポキシ樹脂をジエチレングリコールジメチルエーテル
に溶解して接着剤用ワニスを得るとき、硬化剤として丸
善石油化学(株)製レジンM(ポリビニルフェノール)
を4.0g加える以外は実施例1と同様にして銅張板を
得た。特性を表1に示した。
【0045】実施例6 実施例2において、得られたポリエーテルアミド粉末と
エポキシ樹脂をジエチレングリコールジメチルエーテル
に溶解して接着剤用ワニスを得るとき、硬化剤として無
水トリメリット酸0.4g加える以外は実施例1と同様
にして銅張板を得た。特性を表1に示した。
エポキシ樹脂をジエチレングリコールジメチルエーテル
に溶解して接着剤用ワニスを得るとき、硬化剤として無
水トリメリット酸0.4g加える以外は実施例1と同様
にして銅張板を得た。特性を表1に示した。
【0046】実施例7〜8 実施例1において、得られたポリエーテルアミド粉末と
エポキシ樹脂の配合料を表1のように変更する以外は実
施例1と同様にして銅張板を得た。特性を表1に示し
た。
エポキシ樹脂の配合料を表1のように変更する以外は実
施例1と同様にして銅張板を得た。特性を表1に示し
た。
【0047】
【表1】
【0048】硬化後の接着剤のTg(ガラス転移温度)
は動的粘弾性測定装置((株)レオロジ社製FTレオス
ペクトラー)により周波数10Hz、昇温速度2℃/m
inで測定したときの損失弾性率のピークより求めた。
銅箔引き剥し強さは、23℃において引張り速度50m
m/minで90°引き剥し強さを測定した。はんだ耐
熱性は20mm角の試験片をはんだ浴上に銅箔を下側に
して浮かべた後、ふくれの有無を観察した。表1におい
て〇はふくれ無し、×はふくれ有りを示す。
は動的粘弾性測定装置((株)レオロジ社製FTレオス
ペクトラー)により周波数10Hz、昇温速度2℃/m
inで測定したときの損失弾性率のピークより求めた。
銅箔引き剥し強さは、23℃において引張り速度50m
m/minで90°引き剥し強さを測定した。はんだ耐
熱性は20mm角の試験片をはんだ浴上に銅箔を下側に
して浮かべた後、ふくれの有無を観察した。表1におい
て〇はふくれ無し、×はふくれ有りを示す。
【0049】実施例9 実施例1で得られた接着剤用ワニスを支持フィルムとし
ての50μmの厚さのポリイミドフィルム3A(宇部興
産(株)製ユーピレックスS)に50μmの厚さに流延
し100℃で15分乾燥し、引き続きポリイミド面に接
着剤用ワニスを50μmの厚みに流延し100℃で15
分、200℃で30分乾燥して表裏各10μmの耐熱性
接着剤層3Bの付いたポリイミドフィルムを得た。得ら
れた耐熱性接着剤層付きポリイミドフィルムを打ち抜き
図2に示すようにリードフレーム2と半導体素子4の間
に挾み210℃の温度で5kg/cm2の圧力で10分
間加圧して圧着し更に200℃で5時間硬化反応を進め
た。その後、リードフレームと半導体素子をボンディン
グワイヤ(金線)5で接合しエポキシ樹脂封止材6でト
ランスファ成形し封止した。この樹脂封止型半導体装置
1の80℃、90%RH、1000時間後の故障率は0
/100(100個のうち0個)と優れていた。図1
は、この半導体装置の平面模式図であり、図2は図1に
おけるI−I線断面図である。図1及び図2において、
1は半導体装置、2はリードフレーム、3Aは支持フィ
ルム、3Bは耐熱性接着剤層、4は半導体素子、5はボ
ンディングワイヤ及び6は樹脂封止材である。
ての50μmの厚さのポリイミドフィルム3A(宇部興
産(株)製ユーピレックスS)に50μmの厚さに流延
し100℃で15分乾燥し、引き続きポリイミド面に接
着剤用ワニスを50μmの厚みに流延し100℃で15
分、200℃で30分乾燥して表裏各10μmの耐熱性
接着剤層3Bの付いたポリイミドフィルムを得た。得ら
れた耐熱性接着剤層付きポリイミドフィルムを打ち抜き
図2に示すようにリードフレーム2と半導体素子4の間
に挾み210℃の温度で5kg/cm2の圧力で10分
間加圧して圧着し更に200℃で5時間硬化反応を進め
た。その後、リードフレームと半導体素子をボンディン
グワイヤ(金線)5で接合しエポキシ樹脂封止材6でト
ランスファ成形し封止した。この樹脂封止型半導体装置
1の80℃、90%RH、1000時間後の故障率は0
/100(100個のうち0個)と優れていた。図1
は、この半導体装置の平面模式図であり、図2は図1に
おけるI−I線断面図である。図1及び図2において、
1は半導体装置、2はリードフレーム、3Aは支持フィ
ルム、3Bは耐熱性接着剤層、4は半導体素子、5はボ
ンディングワイヤ及び6は樹脂封止材である。
【0050】
【発明の効果】本発明の耐熱性接着剤用組成物は、乾燥
して耐熱性接着剤を得ることができ、また、この耐熱性
接着剤は低い温度で加熱溶融接着ができ、さらに加熱溶
融圧着後、硬化反応を進めることですぐれた接着力、耐
熱性、耐湿性、絶縁性を示す。本発明の耐熱性接着剤
は、あらかじめフィルム状として使用することができ
る。このフィルム状の耐熱性接着剤は、強じんなもので
あり、打ち抜き加工してもバリがでないハンドリング性
の高いものである。また、ポリイミドフィルム等の支持
フィルムに塗布乾燥し、耐熱性接着剤層付きフィルムと
し、これを他の被着体と加熱溶融接着することもでき
る。そして、本発明の耐熱性接着剤を用いた印刷回路用
基板は、耐熱性、接着力、絶縁性、耐湿性にすぐれ、高
温にさらされてもすぐれた性能を発揮する信頼性の高い
ものである。本発明の耐熱性接着剤層付きフィルムを用
いることにより、極めて簡便に高容量で信頼性の優れた
半導体装置を製造することができる。
して耐熱性接着剤を得ることができ、また、この耐熱性
接着剤は低い温度で加熱溶融接着ができ、さらに加熱溶
融圧着後、硬化反応を進めることですぐれた接着力、耐
熱性、耐湿性、絶縁性を示す。本発明の耐熱性接着剤
は、あらかじめフィルム状として使用することができ
る。このフィルム状の耐熱性接着剤は、強じんなもので
あり、打ち抜き加工してもバリがでないハンドリング性
の高いものである。また、ポリイミドフィルム等の支持
フィルムに塗布乾燥し、耐熱性接着剤層付きフィルムと
し、これを他の被着体と加熱溶融接着することもでき
る。そして、本発明の耐熱性接着剤を用いた印刷回路用
基板は、耐熱性、接着力、絶縁性、耐湿性にすぐれ、高
温にさらされてもすぐれた性能を発揮する信頼性の高い
ものである。本発明の耐熱性接着剤層付きフィルムを用
いることにより、極めて簡便に高容量で信頼性の優れた
半導体装置を製造することができる。
【図1】実施例8における耐熱性接着剤層付きフィルム
を用いた半導体装置平面模式図。
を用いた半導体装置平面模式図。
【図2】図1のI−I線断面図。
1 半導体装置 2 リードフレーム 2A インナーリード 2B アウターリード 3A 支持フィルム 3B 耐熱性接着剤層 4 半導体素子 4A 外部端子 5 ボンディングワイヤ 6 樹脂封止材
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 向山 吉之 千葉県市原市五井南海岸14番地 日立化成 工業株式会社五井工場内 (72)発明者 森永 喬 千葉県市原市五井南海岸14番地 日立化成 工業株式会社五井工場内
Claims (9)
- 【請求項1】 (A)下記一般式(I)で表される繰り
返し単位を有する芳香族ポリエーテルアミド、(B)エ
ポキシ樹脂及び(C)溶媒を含んでなる耐熱性接着剤用
組成物。 【化1】 [式中R1、R2、R3およびR4はそれぞれ独立に水
素、低級アルキル基、低級アルコキシ基またはハロゲン
原子を示し、Xは結合、 【化2】 を示し(ここでR5およびR6はそれぞれ独立に水素、
低級アルキル基、トリフルオロメチル基、トリクロロメ
チル基またはフェニル基を示す)、Xは繰り返し単位毎
に相違してもよく、Arは芳香族の2価の基を示す] - 【請求項2】 前記(A)芳香族ポリエーテルアミドと
前記(B)エポキシ樹脂の重量比(A)/(B)が90
/10〜40/60である請求項1記載の耐熱性接着剤
用組成物。 - 【請求項3】 請求項1又は2記載の耐熱性接着剤用組
成物を乾燥させてなる耐熱性接着剤。 - 【請求項4】 支持フィルムの片面又は両面に、請求項
1又は2記載の耐熱性接着剤用組成物を塗布し、乾燥さ
せた耐熱性接着剤層付きフィルム。 - 【請求項5】 支持材と金属箔とを、請求項1又は2記
載の耐熱性接着剤用組成物を用いて接着させてなる印刷
回路用基板。 - 【請求項6】 リードフレームと半導体素子とを、請求
項1又は2記載の耐熱性接着剤用組成物を乾燥させて得
られる耐熱性接着剤層を介して接着させてなる半導体装
置。 - 【請求項7】 リードフレームと半導体素子とを、請求
項4記載の耐熱性接着剤層付きフィルムを介して接着さ
せてなる半導体装置。 - 【請求項8】 リードフレームのインナーリードと半導
体素子とを、請求項1又は2記載の耐熱性接着剤用組成
物を乾燥させて得られる耐熱性接着剤層を介して接着さ
せてなる半導体装置。 - 【請求項9】 リードフレームのインナーリードと半導
体素子とを、請求項4記載の耐熱性接着剤層付きフィル
ムを介して接着させてなる半導体装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3277665A JPH05117620A (ja) | 1991-10-24 | 1991-10-24 | 耐熱性接着剤用組成物、耐熱性接着剤、耐熱性接着剤層付きフイルム、印刷回路用基板及び半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3277665A JPH05117620A (ja) | 1991-10-24 | 1991-10-24 | 耐熱性接着剤用組成物、耐熱性接着剤、耐熱性接着剤層付きフイルム、印刷回路用基板及び半導体装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05117620A true JPH05117620A (ja) | 1993-05-14 |
Family
ID=17586596
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3277665A Pending JPH05117620A (ja) | 1991-10-24 | 1991-10-24 | 耐熱性接着剤用組成物、耐熱性接着剤、耐熱性接着剤層付きフイルム、印刷回路用基板及び半導体装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05117620A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001207022A (ja) * | 2000-01-26 | 2001-07-31 | Sumitomo Bakelite Co Ltd | 半導体用樹脂ペースト及びそれを用いた半導体装置 |
-
1991
- 1991-10-24 JP JP3277665A patent/JPH05117620A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001207022A (ja) * | 2000-01-26 | 2001-07-31 | Sumitomo Bakelite Co Ltd | 半導体用樹脂ペースト及びそれを用いた半導体装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP4743732B2 (ja) | 線材被覆用接着性積層フィルム | |
| TWI780992B (zh) | 聚醯亞胺、黏著劑、薄膜狀黏著材料、黏著層、黏著片、附有樹脂之銅箔、覆銅積層板、印刷線路板、以及多層線路板及其製造方法 | |
| TWI795394B (zh) | 聚醯亞胺、黏著劑、薄膜狀黏著材料、黏著層、黏著片、附有樹脂之銅箔、覆銅積層板、印刷線路板、以及多層線路板及其製造方法 | |
| TWI460249B (zh) | 黏合組成物、黏合膜及製造半導體元件的方法 | |
| US5773509A (en) | Heat resistant resin composition, heat resistant film adhesive and process for producing the same | |
| KR100568569B1 (ko) | 폴리이미드 접착제용 조성물 및 이를 이용한 폴리이미드접착테이프 | |
| TW201402751A (zh) | 聚醯亞胺系黏著劑組成物、硬化物、黏著薄片、積層體及可撓性印刷基板 | |
| JP5533354B2 (ja) | シールドフィルム及びシールド配線板 | |
| WO1993024583A1 (fr) | Adhesif sous forme de film et production de cet adhesif | |
| JP2009155640A (ja) | はんだ耐熱性の高い接着性ポリイミド | |
| JPWO1999057170A1 (ja) | 変性ポリアミド樹脂およびそれを含む耐熱性樹脂組成物 | |
| JP2004182792A (ja) | ポリアミドイミド樹脂及びそれを用いた接着剤組成物 | |
| JPH05331424A (ja) | フィルム接着剤 | |
| JPH0827427A (ja) | 耐熱性フィルム接着剤及びその製造方法 | |
| JPH05112760A (ja) | エレクトロニクス用フイルム接着剤 | |
| JP3779334B2 (ja) | 耐熱性接着剤、耐熱性接着剤層付きフィルムおよび熱可塑性樹脂の製造法 | |
| JP2007246886A (ja) | 接着剤組成物、接着フィルム及び半導体装置の製造方法 | |
| JPH0598232A (ja) | 耐熱性接着剤用組成物、耐熱性接着剤、耐熱性接着剤層付きフイルム、印刷回路用基板及び半導体装置 | |
| JP2866654B2 (ja) | ホツトメルト接着剤,ホツトメルト接着剤層付ポリイミドフイルム及び印刷回路用基板 | |
| JPH05121464A (ja) | 耐熱性接着剤用組成物、耐熱性接着剤、耐熱性接着剤層付きフイルム、印刷回路用基板及び半導体装置 | |
| JPH0834968A (ja) | 低温加工性の優れた耐熱性フィルム接着剤及びその製造方法 | |
| JP3439262B2 (ja) | 高温時の物性が改良されたフィルム接着剤及びその製造方法 | |
| JP3532792B2 (ja) | 電子部品用接着剤及び接着テープ | |
| JP4406271B2 (ja) | 金属積層体および半導体パッケージ | |
| JPH06172714A (ja) | フィルム接着剤およびその製造方法 |