JPH0512779Y2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0512779Y2 JPH0512779Y2 JP1148687U JP1148687U JPH0512779Y2 JP H0512779 Y2 JPH0512779 Y2 JP H0512779Y2 JP 1148687 U JP1148687 U JP 1148687U JP 1148687 U JP1148687 U JP 1148687U JP H0512779 Y2 JPH0512779 Y2 JP H0512779Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- shoot
- roof
- lead
- measurement
- push
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 39
- 230000006835 compression Effects 0.000 claims description 2
- 238000007906 compression Methods 0.000 claims description 2
- 230000032258 transport Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本考案は、ICハンドラに設けられたIC測定ソ
ケツトに対してICのリードを押圧導通せしめる
プレス機構に関するものである。
ケツトに対してICのリードを押圧導通せしめる
プレス機構に関するものである。
［従来の技術］
ICハンドラは、多数のICを順次に搬送してIC
測定ソケツトに装着して電気的性能の検査に供
し、かつ、上記測定ソケツトから離脱せしめた
ICを検査結果に従つて級別に分類して搬出する
自動機器である。
測定ソケツトに装着して電気的性能の検査に供
し、かつ、上記測定ソケツトから離脱せしめた
ICを検査結果に従つて級別に分類して搬出する
自動機器である。
第２図はシユートレール１によつてSOP形IC
２を搬送している状態の一部破断斜視図である。
２aはICのパツケージ、２bは同じくリードであ
る。
２を搬送している状態の一部破断斜視図である。
２aはICのパツケージ、２bは同じくリードであ
る。
上記パツケージ２aの頂面に対向せしめ、微小
クリアランスを介してシユートルーフ３が設けら
れている。
クリアランスを介してシユートルーフ３が設けら
れている。
第２図に示した状態の横断面を第３図に示す。
第４図は、シユートレール１とシユートルーフ
３とによつてSOP形IC２を垂直方向に案内し、
自重によつて滑降させている状態を模式的に描い
た断面図である。
３とによつてSOP形IC２を垂直方向に案内し、
自重によつて滑降させている状態を模式的に描い
た断面図である。
第５図は、測定ソケツト４付近の模式的断面図
である。シユートレール１が測定ソケツト４に対
向している部分は、固定部１aから分割されてシ
ユートレール可動部１bが構成され、図示しない
案内手段によつて図の左右方向に（即ち測定ソケ
ツト４に対して接近・離間する方向に）案内さ
れ、図示しないスプリングによつて弾性的に図示
の位置に保たれている。
である。シユートレール１が測定ソケツト４に対
向している部分は、固定部１aから分割されてシ
ユートレール可動部１bが構成され、図示しない
案内手段によつて図の左右方向に（即ち測定ソケ
ツト４に対して接近・離間する方向に）案内さ
れ、図示しないスプリングによつて弾性的に図示
の位置に保たれている。
シユートルーフ３が測定ソケツト４に対向して
いる部分は、固定部３aから分割されてシユート
ルーフ可動部が構成され、図の左右方向に案内さ
れ、図示しないスプリングによつて弾性的に図示
の位置に保持されている。
いる部分は、固定部３aから分割されてシユート
ルーフ可動部が構成され、図の左右方向に案内さ
れ、図示しないスプリングによつて弾性的に図示
の位置に保持されている。
本第５図に示した−面による断面を第６図
に示す。
に示す。
シユートレール可動部１bは、スプリング１cに
付勢されて図示の位置に支承されている。
付勢されて図示の位置に支承されている。
測定ソケツト４には、リード２bに対向せしめ
るように測定端子４aが設けられている。
るように測定端子４aが設けられている。
リード２bを介して上記測定端子４aに正対する
位置にリードプツシヤ５が配置され、シユートル
ーフ可動部３bに固着されている。
位置にリードプツシヤ５が配置され、シユートル
ーフ可動部３bに固着されている。
シユートルーフ可動部３bが矢印Ｐの如くプレ
スされると、該シユートルーフ可動部はスプリン
グ１cを圧縮しつつSOP形ICを測定ソケツト４に
接近せしめる。そしてリードプツシヤ５がリード
２bを押圧して、測定端子４aに接近，導通せしめ
る。
スされると、該シユートルーフ可動部はスプリン
グ１cを圧縮しつつSOP形ICを測定ソケツト４に
接近せしめる。そしてリードプツシヤ５がリード
２bを押圧して、測定端子４aに接近，導通せしめ
る。
SOP形IC２は、第６図の紙面と垂直方向に搬
入されて、前記の如く測定ソケツト４に装着（リ
ード２bが測定端子４aに導通）され、測定が行わ
れた後、紙面と垂直方向に搬出される。
入されて、前記の如く測定ソケツト４に装着（リ
ード２bが測定端子４aに導通）され、測定が行わ
れた後、紙面と垂直方向に搬出される。
［考案が解決しようとする問題点］
SOP形IC２のリード２b′が第７図に示すように
変形していると、該変形リード２b′がリードプツ
シヤ５と干渉して搬入を妨げられる。
変形していると、該変形リード２b′がリードプツ
シヤ５と干渉して搬入を妨げられる。
ICハンドラは高速で作動する自動機器である
から、１個のICがジヤムすると、装置全体が自
動的に停止してしまう。
から、１個のICがジヤムすると、装置全体が自
動的に停止してしまう。
本考案の目的は、リードが多少変形していても
支障なく搬入され得る、IC測定部のプレス機構
を提供することを目的とする。
支障なく搬入され得る、IC測定部のプレス機構
を提供することを目的とする。
［問題点を解決するための手段］
従来例における不具合状況を示した第７図から
理解して得る如く、変形したリード２b′によつて
ICの搬入を妨げないようにするため、本考案の
機構は、リードプツシヤ５を自動的に突出・退避
させる。
理解して得る如く、変形したリード２b′によつて
ICの搬入を妨げないようにするため、本考案の
機構は、リードプツシヤ５を自動的に突出・退避
させる。
上述の原理を実用面に適用する為の具体的構成
として、本考案に係るIC測定部のプレス機構は、
ICを案内するシユートレール及びシユートルー
フ、並びに、上記シユートレールによつて案内さ
れたICのリードに対向する測定端子を備え、か
つ、前記シユートレール及びシユートルーフが上
記測定端子に対向している部分を、測定端子に対
して接近・離間し得る如く支承するとともに、前
記のシユートルーフに、ICのリードに当接して
測定端子に向けて押圧するリードプツシヤを設け
たIC測定部のプレス機構に適用され、 (a) シユートルーフが測定ソケツトの測定端子に
対向している個所に、シユート面に直交する複
数個の透孔を設け、 (b) 上記の透孔に摺動自在に嵌合する複数個のプ
ツシユロツドを構成し、 (c) 上記複数個のプツシユロツドをそれぞれプツ
シユプレートに固着して断面コの字形のリード
プツシヤを構成し、 (d) 上記プツシユプレートとシユートルーフとの
間に圧縮バネを介装したこと、 を特徴とする。
として、本考案に係るIC測定部のプレス機構は、
ICを案内するシユートレール及びシユートルー
フ、並びに、上記シユートレールによつて案内さ
れたICのリードに対向する測定端子を備え、か
つ、前記シユートレール及びシユートルーフが上
記測定端子に対向している部分を、測定端子に対
して接近・離間し得る如く支承するとともに、前
記のシユートルーフに、ICのリードに当接して
測定端子に向けて押圧するリードプツシヤを設け
たIC測定部のプレス機構に適用され、 (a) シユートルーフが測定ソケツトの測定端子に
対向している個所に、シユート面に直交する複
数個の透孔を設け、 (b) 上記の透孔に摺動自在に嵌合する複数個のプ
ツシユロツドを構成し、 (c) 上記複数個のプツシユロツドをそれぞれプツ
シユプレートに固着して断面コの字形のリード
プツシヤを構成し、 (d) 上記プツシユプレートとシユートルーフとの
間に圧縮バネを介装したこと、 を特徴とする。
［作用］
上記の構成において、プツシユプレートを介し
てシユートルーフ可動部を押動すると、この操作
に伴つてプツシユロツドがシユートルーフの案内
面側からICのリードに向けて突出し、該リード
を測定端子に押しつける。上記の押動操作を開始
する迄の間は、プツシユロツドの先端はシユート
ルーフの案内面よりも引つ込んでいて、ICの搬
入を妨げない。
てシユートルーフ可動部を押動すると、この操作
に伴つてプツシユロツドがシユートルーフの案内
面側からICのリードに向けて突出し、該リード
を測定端子に押しつける。上記の押動操作を開始
する迄の間は、プツシユロツドの先端はシユート
ルーフの案内面よりも引つ込んでいて、ICの搬
入を妨げない。
［実施例］
次に、本考案の１実施例を第１図について説明
する。
する。
この実施例は、第６図に示した従来例に本考案
を適用して改良したものであつて、上図と同一の
図面参照番号を付したものは前記従来例における
と同様乃至類似の構成部分である。
を適用して改良したものであつて、上図と同一の
図面参照番号を付したものは前記従来例における
と同様乃至類似の構成部分である。
次に、前記従来例と異なる点について説明す
る。
る。
シユートルーフ可動部３b′の、測定端子４aに
正対している個所に透孔３b-1を設ける。
正対している個所に透孔３b-1を設ける。
一般にリードの数は複数個であり、測定端子の
数も複数個（十数個乃至数十個）であるから、透
孔３b-1の数も複数個となる。
数も複数個（十数個乃至数十個）であるから、透
孔３b-1の数も複数個となる。
上記複数個の透孔３b-1は、シユートルーフの
案内面に直交せしめて設け、かつ、該透孔３b-1
と摺動自在に嵌合する複数個のプツシユロツド６
を設ける。
案内面に直交せしめて設け、かつ、該透孔３b-1
と摺動自在に嵌合する複数個のプツシユロツド６
を設ける。
上記複数個のプツシユロツド６の根元側を、プ
ツシユプレート７に固着して一体的に連設する。
このようにして、プツシユプレート７とプツシユ
ロツド６とは、断面形状がコの字形をなす一体の
部材を形成する。
ツシユプレート７に固着して一体的に連設する。
このようにして、プツシユプレート７とプツシユ
ロツド６とは、断面形状がコの字形をなす一体の
部材を形成する。
本考案を実施する際、プツシユプレート７は必
ずしも板状であることを要せず、要するに機構学
的に板状部材と等価なる部材であれば良い。
ずしも板状であることを要せず、要するに機構学
的に板状部材と等価なる部材であれば良い。
断面がコの字形を為すとは、シユートルーフの
幅方向に対向する一対のプツシユロツド６が、平
行を保つように基端部同志を連結された構造であ
ることの意である。
幅方向に対向する一対のプツシユロツド６が、平
行を保つように基端部同志を連結された構造であ
ることの意である。
シユートルーフ可動部３b′とプツシユプレート
７との間に、スプリング８を圧縮介装する。
７との間に、スプリング８を圧縮介装する。
プツシユプレート７に押圧力矢印Ｐを加えない
とき、該プツシユプレート７はスプリング８に付
勢されてシユートルーフ可動部３b′から離間し、
これに伴つてプツシユロツド６は実線で示したよ
うにシユートルーフ案内面よりも引つ込んで退避
する。従つて、仮想線２b′の如くリードが歪んで
いても、紙面に垂直方向の搬入，搬出作動が妨げ
られない。
とき、該プツシユプレート７はスプリング８に付
勢されてシユートルーフ可動部３b′から離間し、
これに伴つてプツシユロツド６は実線で示したよ
うにシユートルーフ案内面よりも引つ込んで退避
する。従つて、仮想線２b′の如くリードが歪んで
いても、紙面に垂直方向の搬入，搬出作動が妨げ
られない。
プツシユプレート７を矢印Ｐの如く押圧する
と、スプリング８を撓ませて、該プツシユプレー
ト７がシユートルーフ可動部３b′に当接する。
と、スプリング８を撓ませて、該プツシユプレー
ト７がシユートルーフ可動部３b′に当接する。
上記の作動に伴つて、プツシユロツド６はシユ
ートルーフ案内面に突出し（図において下方に、
仮想線で示す如く突出し），リード２bに当接す
る。
ートルーフ案内面に突出し（図において下方に、
仮想線で示す如く突出し），リード２bに当接す
る。
プツシユプレート７を更に矢印Ｐ方向にプレス
すると、シユートルーフ可動部３b′はスプリング
１cを撓ませながらSOP形IC２を測定ソケツト４
に接近させ、これに伴つてプツシユロツド６はリ
ード２bを測定端子４ａに押圧し、接触導通させ
る。
すると、シユートルーフ可動部３b′はスプリング
１cを撓ませながらSOP形IC２を測定ソケツト４
に接近させ、これに伴つてプツシユロツド６はリ
ード２bを測定端子４ａに押圧し、接触導通させ
る。
押圧力矢印Ｐを消失させると、スプリング１c
およびスプリング８の付勢力によつて第１図に実
線で示した状態に復元する。これにより、SOP
形IC２の搬出（紙面と垂直方向）が可能になる。
およびスプリング８の付勢力によつて第１図に実
線で示した状態に復元する。これにより、SOP
形IC２の搬出（紙面と垂直方向）が可能になる。
［考案の効果］
以上詳述したように、本考案を適用すると、
ICのリードが若干変形していても、IC測定部に
支障無く搬入され、測定，搬出を行うことが出来
る。
ICのリードが若干変形していても、IC測定部に
支障無く搬入され、測定，搬出を行うことが出来
る。
第１図は本考案の１実施例を示す断面図であ
る。第２図はシユートルーフによるICの搬送状
態を示す斜視図、第３図は同じく横断面図、第４
図は同じく縦断面図、第５図は同じく測定ソケツ
ト付近の縦断面図である。第６図は第５図の−
断面図である。第７図は従来例の不具合の説明
図である。 １……シユートレール、１a……同固定部、１b
……同可動部、２……SOP形IC、２a……パツケ
ージ、２b……リード、３……シユートルーフ、
３a……同固定部、３b……同可動部、４……測定
ソケツト、４a……測定端子、５……従来形のリ
ードプツシヤ、６……本考案を適用して構成した
プツシユロツド、７……プツシユプレート。
る。第２図はシユートルーフによるICの搬送状
態を示す斜視図、第３図は同じく横断面図、第４
図は同じく縦断面図、第５図は同じく測定ソケツ
ト付近の縦断面図である。第６図は第５図の−
断面図である。第７図は従来例の不具合の説明
図である。 １……シユートレール、１a……同固定部、１b
……同可動部、２……SOP形IC、２a……パツケ
ージ、２b……リード、３……シユートルーフ、
３a……同固定部、３b……同可動部、４……測定
ソケツト、４a……測定端子、５……従来形のリ
ードプツシヤ、６……本考案を適用して構成した
プツシユロツド、７……プツシユプレート。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 ICを案内するシユートレール及びシユートル
ーフ、並びに、上記シユートレールによつて案内
されたICのリードに対向する測定端子を備え、
かつ、前記シユートレール及びシユートルーフが
上記測定端子に対向している部分を、測定端子に
対して接近・離間し得る如く支承するとともに、
前記のシユートルーフに、ICのリードに当接し
て測定端子に向けて押圧するリードプツシヤを設
けたIC測定部のプレス機構において、 (a) シユートルーフが測定ソケツトの測定端子に
対向している個所に、シユート面に直交する複
数個の透孔を設け、 (b) 上記の透孔に摺動自在に嵌合する複数個のプ
ツシユロツドを構成し、 (c) 上記複数個のプツシユロツドをそれぞれプツ
シユプレートに固着して断面コの字形のリード
プツシヤを構成し、 (d) 上記プツシユプレートとシユートルーフとの
間に圧縮バネを介装したこと を特徴とする、IC測定部のプレス機構。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1148687U JPH0512779Y2 (ja) | 1987-01-30 | 1987-01-30 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1148687U JPH0512779Y2 (ja) | 1987-01-30 | 1987-01-30 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63120179U JPS63120179U (ja) | 1988-08-03 |
| JPH0512779Y2 true JPH0512779Y2 (ja) | 1993-04-02 |
Family
ID=30798746
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1148687U Expired - Lifetime JPH0512779Y2 (ja) | 1987-01-30 | 1987-01-30 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0512779Y2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2600392B2 (ja) * | 1989-09-22 | 1997-04-16 | 日立電子エンジニアリング株式会社 | Ｉｃデバイスのコンタクト機構 |
| JP2535051Y2 (ja) * | 1990-07-11 | 1997-05-07 | 株式会社アドバンテスト | Ｉｃ搬送装置におけるｉｃ素子のｉｃソケット接触機構 |
-
1987
- 1987-01-30 JP JP1148687U patent/JPH0512779Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63120179U (ja) | 1988-08-03 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4979291A (en) | Apparatus and method of terminating a wire to a two part insulated terminal | |
| JP2002170609A (ja) | 通電用クリップ及びこの通電用クリップを用いた給放電試験装置 | |
| US6296504B1 (en) | Socket for electrical parts | |
| JPS59501926A (ja) | 平形ケーブル用コネクタ及びコネクタ接続装置 | |
| WO2002019471A1 (en) | Ic test socket | |
| JP3158418B2 (ja) | チップ型電子部品の挟持装置 | |
| JPH0373551A (ja) | チップトレイ | |
| JP3341473B2 (ja) | 板材の折り曲げ応力測定装置 | |
| JP3469357B2 (ja) | 電子部品におけるリード端子の曲げ加工装置 | |
| JPS5844797A (ja) | コンタクトを支持基板に挿入するための挿入装置 | |
| JPS59632Y2 (ja) | 回路素子挾持装置 | |
| JPH09145781A (ja) | プリント回路カードおよびまたはフラットモジュールの検査装置 | |
| JPH10239389A (ja) | 半導体装置の測定用ソケットおよび半導体装置の 測定方法 | |
| JP3772526B2 (ja) | 電極挿入装置 | |
| JPH0158632B2 (ja) | ||
| JPH0634708A (ja) | Ｓｏｐ型半導体部品の試験装置 | |
| JP2821626B2 (ja) | Ｑｆｐｉｃのコンタクト押え装置 | |
| JPH02310477A (ja) | 部品の搬送機構 | |
| JPH034939Y2 (ja) | ||
| JPH1151994A (ja) | 電気接続補助装置 | |
| JPH06281698A (ja) | Ｉｃオートハンドラ方法 | |
| JPH0519823Y2 (ja) | ||
| JPS60187100A (ja) | 選別装置 | |
| JPS6167299A (ja) | 電子部品の打抜き収納装置 | |
| JPS605479Y2 (ja) | スイッチ装置 |