JPS59632Y2 - 回路素子挾持装置 - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 本考案は、回路素子の測定に用いられる挟持装置に関す
る。

例えば゛高周波（１００〜５００ Ｍｎ２）で゛用いら
れる回路素子においては電気的特性を維持するため、そ
の外形寸法およびリードの寸法は極限まで短かくし、ま
た該リードの形状も極限まで小さくなるように構成され
ている。

この種の回路素子のパラメータを高精度で測定するため
には、該素子と測定器の測定用端子との接続においても
、同様に接続経路を極限にまで短かくする必要がある。

第１図は、回路素子であるチップコンテ゛ンサの斜視図
である。

第２図は、第１図に示したチップ。コンデンサの測定に
利用する従来の挟持装置の概略断面図である。

図において、絶縁体１０を挾んで同軸形状に形成された
中心導体１２と外側導体１４とは測定器（図示せず）の
測定用端子となっている。

供試チップコンデンサ１６は、Ｌ字状に形成された外側
導体の肩部上を矢印ａ方向に印加された接触圧によって
滑る導電性接触子１８と中心導体１２とにそれぞれ端子
１，３が接触するように挾持［される。

そして、コンテ゛ンサ１６と側導体１２．１４とを最短
距離で且つ確実に電気的に接触させるためには、充分な
矢印す方向の接触圧を必要とするために接触子１８をね
じ締めあるいははんだ付けなどによって固定していた。

そのため、多数のコンデンサを連続して測定するには極
めて能率が悪い欠点があった。

本考案は上述欠点を解消するためになされたもので、操
作が容易で能率的な測定ができ且つ構成簡単な回路素子
挟持装置を提供せんとするものである。

第３図は本考案の一実施例による回路素子挟持装置の斜
視図、第４図あるいは第５図はそれぞれ第３図に示した
装置に供試チップコンデンサを装着する前、後の概略側
面図である。

第３〜５図を参照する。

外側導体１４と一体形成された基台２２の側面にガイド
溝２４が形成されている。

一方基台２２の他方側に取付けられた支持部２６の孔に
貫通された中心棒２７には、レバー２Ｂが具わっている
。

また、中心棒２７は座３０および導電性のＬ字形接触子
３２の縦片３２ ａを貫通しており、そしてその先端に
ストッパ３４が固着されている。

前記支持部２６と接触子３０との間で中心棒２７に周回
されたばね３６は圧縮されている。

Ｌ字形接触子３２の角部に設けたピン３８はガイド溝２
４に挿入されており、該接触子３２の横片３２ ｂは外
側導体１４に対向するように伸長している。

先ずレバー２８をばね３６の弾性力に抗して矢印Ｃ方向
に引けは゛、ピン３Ｂはガイド溝２４によって案内され
るので接触子３２は直線運動すると共にばね３６は更に
圧縮される。

この運動中、接触子３２の縦片３２ ａはストッパ３４
に押されるので、該接触子３２の横片３２ ｂは基台２
２の面と平行に保たれる。

接触子３２と外側導体１４との間隔ｔがわずかに生じる
ように、ガイド溝およびピン３８の位置が決めである。

従って、接触子３２の運動中外側導体１４との接触が起
らないから両者が摩耗することはない。

レバー２Ｂを引いた状態で供試チップコンデンサ１６を
中心導体１２と接触子３２との間に置いた後該レバー２
Ｂを復帰させると該両者間に前記コンテ゛ンサ１６は挾
持される。

コンデンサ１６の端子１．３のそれぞれと接触子３２．
中心導体１２との電気的接触は、ばね３６の押圧力によ
って確実に行われる。

なお、座３０の突起部５２を介してばね３６によって接
触子３２は更に押圧されるため、ピン３８の回りに偶力
を生じ、接触子３２の先端は図の下方に向って押し下げ
られる。

従って、接触子３２の先端は、測定端子たる外側導体１
４に最短距離をもって接触される。

ここで座３０の突起部５２が接触子３２を押す点からピ
ン３８までの距離と、該ピン３８から接触子３２の先端
までの距離とを略々等しくすると、該先端と供試チップ
コンテ゛ンサ１６との間の接触圧と、該先端の下部と外
側導体１４との間の接触圧とは同程度となる。

このようにして供試チップコンデンサ１６を１操作で挟
持装着し測定でき、また該コンデンサの離脱も容易にで
きる。

従って、極めて能率よく測定が行える。

第６図は本考案の別実施例を示す概略側面図であり、供
試チップコンデンサ１６が挟着された状態にある。

図において、第５図と異なる点はガイド溝２４およびピ
ン３８を用いないで、座１０の長さをＬ字形接触子３２
の縦片３２ ａよりわずかに大きくし、カバー６２を覆
ったことである。

また、座３０を低摩擦係数で耐摩耗性のよい材料（例え
ばポリアセタール）で成形している。

通常状態では、基台２２に座３０の下部が接触するが接
触子３２は接触しないように、レバー２Ｂと銭座３０お
よび接触子３２とが保合装着されている。

供試チップコンテ゛ンサ１６の着脱時のレバー２８の操
作時には、支持部２６と中心棒２７との接触点が支点と
なって座３０が引き上げられるので、銭座３０の上部が
カバー６２の下面に沿って動く。

そして挟着時には、カバー６２の下面に当った座３０の
上部が支点となって、ばね３６の復旧力によって接触子
３２の先端が押下げられて外側導体１４に接触する。

以上の説明より明らかな如く、本考案によれば、接触子
をねし止めあるいは半田付けすることなく、回路素子の
両端子と測定端子中心導体、接触子との接触がばねの復
旧力による十分な圧力をもって行われ、そして該回路素
子の両端子と面測定端子との電気的接触は最短経路で確
実に行われる。

【図面の簡単な説明】

第１図は供試チップコンテ゛ンサの斜視図、第２図は従
来の挟持装置、第３図は本考案の一実施例による挟持装
置の斜視図、第４図および第５図は第３図に示した装置
の既略側面図、第６図は本考案の他実施例を示す既略側
面図で、１２，１４：測定端子の導体、１６：供試チッ
プコンデンサ、１８．３２ ：接触子、２２：基台、２
８ニレバー、３６：ばねである。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. それぞれの接触面が直交し且つ離隔的に配置された２つ
   の測定端子の一方との間隔が可変となる接触子と、供試
   素子の両端子を前記一方の測定端子と接触子とに接触す
   るように前記接触子を加圧する手段と、前記供試素子を
   挾持すると前記加圧力を前記両測定端子のそれぞれの接
   触面に対して垂直に分力する手段と、で成り、前記供試
   素子の挟持時に前記接触子が前記測定端子の他方に接触
   するようにした回路素子挟持装置。