JPH05135331A - 磁気デイスク装置 - Google Patents
磁気デイスク装置Info
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- JPH05135331A JPH05135331A JP4059895A JP5989592A JPH05135331A JP H05135331 A JPH05135331 A JP H05135331A JP 4059895 A JP4059895 A JP 4059895A JP 5989592 A JP5989592 A JP 5989592A JP H05135331 A JPH05135331 A JP H05135331A
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Abstract
装置を提供する。 【構成】磁気抵抗効果膜の感磁部に、縦バイアス磁界を
印加する反強磁性膜の他、磁気抵抗効果膜と反強磁性膜
との中間に自発磁化を磁気抵抗効果膜より小とした磁性
膜を介在させた磁区制御構造を含む磁気ヘッドを磁気デ
ィスク装置に搭載する。 【効果】動作温度範囲内で安定に使用できる高記録密度
の磁気ディスク装置が実現できる。
Description
を搭載した磁気ディスク装置に関し、特に、ノイズレ
ス,高感度で再生できる磁気ディスク装置に関する。
号には、磁気抵抗効果膜全面に反強磁性膜を形成するこ
とが記載されている。
抗効果膜端部に反強磁性膜を形成することが記載されて
いる。
れも、磁気抵抗効果膜に直接接して反強磁性膜が形成さ
れているため、バルクハウゼンノイズは抑制できるもの
の、結合磁界が大きすぎ、磁気ヘッドの磁気応答特性、
いわゆる再生感度が劣化するという問題点があった。
ノイズを抑制し、磁気応答特性を高めた高出力の磁気抵
抗効果型磁気ヘッドを搭載した磁気ディスク装置を提供
することにある。
置は、内周側から外周側に向かって周速度が大きくなる
ように回転する磁気ディスクと、該磁気ディスクに記録
された磁気的信号を磁気抵抗効果を用いて電気的信号に
変換する磁気ヘッドとを有するものであって、再生時
に、前記磁気ディスクから得られる前記電気的信号のベ
ースライン変動を抑制する手段を有することを特徴とす
る。
量が前記電気的信号のピーク値に対して3%以下、特
に、2〜0.01% であることが好ましい。
からの磁気的信号がない場合の再生電圧をゼロとし、前
記磁気的信号がない場合にも再生電圧がゼロでないとき
のそのゼロ点からのシフト量をいう。さらに、ベースラ
イン変動量は、そのゼロ点からのシフト量を前記電気的
信号のピーク値で割り、100倍したパーセンテージで
定義する。
気ヘッドが前記磁気ディスクからの磁気的信号を読み取
る際に生じるバルクハウゼンノイズに起因するものであ
ることを見い出した。本発明は、高出力,ノイズレスで
再生できる磁気ディスク装置を実現するには、磁気ヘッ
ドか信号処理回路の少なくとも一方に該ノイズを抑制す
る手段を設けなければならないという知見に基づくもの
である。
に、磁気ディスク装置に電気的信号のベースライン変動
を抑制する手段を設けることを特徴とする。さらには、
前記ノイズを抑制するだけでなく、これと同時に高出力
で再生できる手段を設けることが好ましい。
抵抗効果を用いて磁気的信号を電気的信号に変換する前
記磁気抵抗効果膜と、磁気抵抗効果膜に信号検出電流を
流すための一対の電極とを有する磁気ヘッドを搭載した
ものであって、一対の電極に挾まれた領域に、磁気抵抗
効果膜に接して配置された磁区制御層を有し、磁区制御
層が、磁気抵抗効果膜との界面で発生する交換結合と称
する磁気的な結合を利用して磁気抵抗効果膜に長手方向
の縦バイアス磁界を印加するための第一の磁性膜と、第
一の磁性膜と磁気抵抗効果膜との間に形成され、磁気抵
抗効果膜と第一の磁性膜との磁気的な結合の大きさ、す
なわち縦バイアス磁界の大きさを、所望の大きさに調節
する第二の磁性膜とを有する磁気ヘッドを搭載したもの
である。本発明の磁気ディスク装置は、搭載された磁気
ヘッドの磁区制御層が二つの交換結合、一つは第一の磁
性膜と第二の磁性膜で、他の一つは第二の磁性膜と磁気
抵抗効果膜で交換結合を形成することに特徴がある。こ
れによりノイズレス,高出力で再生できる磁気ディスク
装置を提供することができる。
抗効果膜に付与される縦バイアス磁界は、前記磁気ディ
スクから得られる電気的信号をノイズレスとし、高出力
の電気的信号とする。つまり、これは第二の磁性膜の飽
和磁束密度を小とし、第一の磁性膜から二つの交換結合
により磁気抵抗効果膜に付与される縦バイアス磁界の大
きさを、磁気抵抗効果膜の磁気モーメントの回転が容易
となるまで縦バイアス磁界を小とすることにより達成さ
れる。
望の面記録密度に応じ、前記ノイズが発生しない範囲
で、磁気抵抗効果膜に付与される縦バイアス磁界値を小
として磁気抵抗効果膜内の磁気モーメントの回転を容易
としていることに最も特徴がある。
縦バイアス磁界を付与するための第一の磁性膜は、反強
磁性膜,フェリ磁性膜,永久磁石膜が好ましく、反強磁
性膜,永久磁石膜が最も望ましい。また、磁気抵抗効果
膜と第一の磁性膜との間の縦バイアス磁界を高感度にす
べく調節するための第二の磁性膜は、強磁性膜,フェリ
磁性膜が好ましく、強磁性膜が最も望ましい。
で構成することが好ましい。すなわち、自発磁化を所持
していることが必要である。第二の磁性膜が、常磁性な
どの非磁性で構成される場合には、磁気抵抗効果膜と第
一の磁性膜との磁気交換結合が消滅し、磁気抵抗効果膜
に縦バイアス磁界が付与できなくなるからである。
磁性膜の膜厚より前記磁気抵抗効果膜の膜厚が厚いこと
が好ましい。
録密度を有する磁気ディスク装置が実現できる。
抵抗効果膜に通電する電流(以下、「センス電流」と称
する)、磁気ヘッドと磁気ディスクとの間の距離(以
下、「浮上量」と称する)を考慮して前記磁気ディスク
に記録された情報を再生した場合、周囲温度が変化して
も、同じ情報に対しては、ほぼ同じ電気的信号の形状及
び/又はピーク値が得られる手段を有することを特徴と
する。
度による前記ピーク値変動量が、5%以下、特に、4〜
0.01% であることが好ましい。
気ディスクからの同じ情報に対しては、常にほぼ同じ電
気的信号の形状及び/又はピーク値を所持して再生でき
るようにするには、前記磁気抵抗効果膜の磁気モーメン
トの回転の容易性を動作温度範囲内で一定に保つ手段を
有すればよいという知見を見い出し、本発明は、このよ
うな知見に基づくものである。
抵抗効果を用いて磁気的信号を電気的信号に変換する磁
気抵抗効果膜と、前記磁気抵抗効果膜に信号検出電流を
流すための一対の電極を有する磁気ヘッドを搭載したも
のであって、一対の電極に挾まれた領域に、磁気抵抗効
果膜に接して配置された磁区制御層を有し、磁気抵抗効
果膜の磁気モーメントの回転の容易性を動作温度範囲内
で一定とするため、前記磁区制御層から磁気抵抗効果膜
に付与される縦バイアス磁界の大きさを動作温度範囲内
で一定とする手段を有することを特徴とする。
た磁気ヘッドの磁区制御層と磁気抵抗効果膜との縦バイ
アス磁界の大きさの温度依存性を動作温度範囲内で小と
することにより達成される。さらには、室温での縦バイ
アス磁界を小とし、かつ、磁区制御層と磁気抵抗効果膜
との間の交換結合が消失する温度、いわゆる、ブロッキ
ング温度を動作温度範囲に比べて大としたことにより達
成される。
抵抗効果を用いて磁気的信号を電気的信号に変換する磁
気抵抗効果膜と、前記磁気抵抗効果膜に信号検出電流を
流すための一対の電極とを有する磁気ヘッドを搭載した
ものであって、前記一対の電極に挾まれた領域に、前記
磁気抵抗効果膜に接して配置された磁区制御層を有し、
前記磁区制御層が、反強磁性膜と、前記反強磁性膜と前
記磁気抵抗効果膜との間に形成される磁性膜とを有し、
前記磁性膜の自発磁化より前記反強磁性膜の自発磁化が
小さいことを特徴とする。
抵抗効果を用いて磁気的信号を電気的信号に変換する磁
気抵抗効果膜と、前記磁気抵抗効果膜に信号検出電流を
流すための一対の電極とを有する磁気ヘッドを搭載した
ものであって、前記一対の電極に挾まれた領域に、前記
磁気抵抗効果膜に接して配置された磁区制御層を有し、
前記磁区制御層が、永久磁石膜と、前記永久磁石膜と前
記磁気抵抗効果膜との間に形成される磁性膜とを有し、
前記磁性膜の自発磁化より前記永久磁石膜の自発磁化が
大きいことを特徴とする。
抵抗効果を用いて磁気的信号を電気的信号に変換するN
iFe膜と、前記NiFe膜に信号検出電流を流すため
の一対の電極とを有する磁気ヘッドを搭載したものであ
って、前記一対の電極に挾まれた領域に、前記NiFe
膜に接して配置された磁区制御層を有し、前記磁区制御
層が、CoPt又はNiOからなる第一膜と、前記第一
膜と前記NiFe膜との間に形成されたNiFeNbか
らなる第二膜とを有することを特徴とする。
ドは、読み取り専用の再生ヘッドと該再生ヘッドの上方
に電磁誘導型の書き込み専用の記録ヘッドとを形成して
なる記録再生分離型磁気ヘッドである。
れた情報を読み込む場合、電磁誘導型の磁気ヘッドで読
み込む場合と比較すると、浮上量,磁気ディスク媒体等
を同じ条件としたときには、同じトラック幅当りで、5
〜10倍の再生出力がノイズレスで得られる。
により、記録ヘッドの磁気コア材に高飽和磁束密度の材
料を使用することが可能となり、強い書き込み磁界で磁
気ディスクに情報を書き込むことを可能とする。
気ディスク媒体の使用が可能となり、トラック密度及び
線記録密度(「ビット密度」ともいう)を大として書き
込むことができる。
出力を大とすることができるため、磁気ヘッドのトラッ
ク幅を小としても充分な再生出力を持つ電気的信号が得
られる。しかも、その電気的信号はノイズレスである。
また、線記録密度を大としても、充分に再生出力を得る
ことができる。
トラック密度との両方を高めることができ、高記録密度
であって大容量の磁気ディスク装置が実現できる。
信号をノイズレスとできるため、得られた電気的信号を
即信号処理でき、ノイズ処理回路などの特別な信号処理
回路を使用しない磁気ディスク装置を達成できる。そし
て、このような信号処理回路で処理する時間を省くこと
ができるため、再生時のデータの転送速度を大にでき
る。
時のデータの転送速度を大にできる要因である。
とにより、アクセス時間を小にできる。
周速度に依存しないため、磁気ディスク径を小さくして
も再生出力を大に維持できる。これにより、磁気ディス
ク径を小としても高出力の電気的信号を得ることができ
る。このため、磁気ディスク径を小として、小型磁気デ
ィスク装置に要求される装置容量を満足するまで記録密
度を大にしても、充分に読み込み動作ができるので、磁
気ディスク径を極力小とした磁気ディスク装置が実現で
きる。
磁気ディスクと、該磁気ディスクを3500〜5000
rpmで回転させる回転手段と、該磁気ディスクに記録
された磁気的信号を磁気抵抗効果膜によって電気的信号
に変換する磁気ヘッドと、を有し、前記磁気ディスクに
トラック密度2.6〜20.0ktpi及びビット密度60〜
200kbpiで記録された情報を、転送速度6〜9MB/
s及びアクセス時間5〜10msで再生することを特徴
とする磁気ディスク装置が実現できる。
気ディスクに記録された磁気的信号を磁気抵抗効果を用
いて電気的信号に変換する磁気ヘッドを搭載した小型の
磁気ディスク装置が実現できる。
スク装置4000の構成を示す概略図である。同図に示
すように、磁気ディスク装置4000は、等間隔で一軸
(スピンドル)上に積層された複数の磁気ディスク12
と、スピンドルを駆動するモータ11と、移動可能なキ
ャリッジ14に保持された磁気ヘッド群13と、このキ
ャリッジ14を駆動するボイスコイルモータ15と、こ
れらを支持するベースとを備えて構成される。また、磁
気ディスク制御装置などの上位装置から送出される信号
に従って、ボイスコイルモータ15を制御するボイスコ
イルモータ制御回路を備えている。また、上位装置から
送られてきたデータを書き込み方式に対応し、磁気ヘッ
ドに流すべき電流に変換する機能と、磁気ディスク13
から送られてきたデータを増幅し、ディジタル信号に変
換する機能とを持つリード/ライト回路を備え、このリ
ード/ライト回路は、インターフェイスを介して、上位
装置と接続されている。
作を、読み出しの場合を例として説明する。上位装置か
ら、インターフェイスを介して、ボイスコイルモータ制
御回路15に、読み出すべきデータの指示を与える。ボ
イスコイルモータ制御回路からの制御電流によって、ボ
イスコイルモータ15がキャリッジ14を駆動させ、指
示されたデータが記憶されているトラックの位置に、磁
気ヘッド群13を高速で移動させ、正確に位置付けす
る。この位置付けは、ボイスコイルモータ制御回路と接
続されている位置決め用磁気ヘッド13aが、磁気ディ
スク12上の位置を検出して提供し、データ用磁気ヘッ
ド13の位置制御を行うことによって行われる。また、
ベースに指示されたモータ11は、スピンドルに取り付
けた複数の磁気ディスク12を回転させる。次に、ライ
ト/リード回路からの信号に従って、指示された所定の
磁気ヘッドを選択し、指示された領域の先頭位置を検出
後、磁気ディスク上のデータ信号を読み出す。この読み
出しは、ライト/リード回路に接続されているデータ用
磁気ヘッド13が、磁気ディスク12との間で信号の授
受を行うことにより行われる。読み出されたデータは、
所定の信号に変換され、上位装置に送られる。
は1インチ当り2600〜20000 トラックである。線記
録密度は1インチ当り65〜200キロビットである。
そして、これらの積で定まる面記録密度を1平方インチ
当り170〜4000メガビットとすることができる。
気ヘッドは、たとえば図6に記載した記録再生分離ヘッ
ド3000である。記録再生分離型磁気ヘッド3000
は、記録を電磁誘導型薄膜磁気ヘッド2000で行い、
再生を磁気抵抗効果型磁気ヘッド(以下、MRヘッドと
称す。)1000で行う。
位トラック幅当りの再生出力は、浮上量,磁気ディスク
媒体の種類などを同じとして再生動作を行った場合、従
来の記録再生兼用の電磁誘導型薄膜磁気ヘッドの5〜1
0倍とできる。しかも、その再生出力は磁気ディスクの
周速に依存しない優れた利点を持つ。
ク幅を小としても、すなわち、磁気ディスク媒体のトラ
ック密度を大としても、高い再生出力が維持できる。ま
た、磁気ディスク媒体の線記録密度を大としても、高い
再生出力が維持できる。
スクからの電気的信号に発生しやすいバルクハウゼンノ
イズを抑止し、何れのディスク回転数とセンス電流と浮
上量においても該ノイズに起因して発生する再生波形の
ベースライン変動量を3%以下に抑えているため、ノイ
ズレスの電気的信号とでき、高S/N比を確保でき高感
度で情報を再生できる。
で安定性よく、高出力,ノイズレスの電気的信号を得る
ことができる。
生ヘッドを分離することにより、記録ヘッド2000の
磁気コア材130を高飽和磁束密度Bsを所持した材料
とでき、書き込み磁界が大とでき、かつ、シャープとで
き、高い線記録密度で記録することができる。また、ト
ラック幅を小としても高い書き込み磁界が維持でき、高
いトラック密度で記録できる。また、これに伴い磁気デ
ィスク媒体の保磁力を大とできる。
0を含んで磁気ディスク装置を構成することにより、デ
ィスク径の大小にかかわらず、高出力、かつ、ノイズレ
スで再生できる磁気ディスク装置が実現できる。
高密度記録が可能となり、本発明の磁気ディスク装置で
はディスク径を1.5インチ〜6.5インチと小型化して
も、磁気ディスク回転数3500〜5000rpmで、
トラック密度2.6〜20.0ktpi、及び線記録密度60
〜200ktpiで記録、及び再生が可能となり、1平方イ
ンチあたり170〜4000メガビットの面記録密度を
達成した磁気ディスク装置が実現できる。
る装置容量を満足するために高ビット密度,高トラック
密度とし、ディスク径を1.5〜3.0インチまで小型化
しても、充分に読み込み、および書き込み動作ができる
ので、該サイズのディスク径まで小型化でき、大容量の
小型磁気ディスク装置が実現できる。
なってもデータの転送速度がその分遅くなったのでは利
用価値が少ない。データの転送速度は、線記録密度が高
いほど大である。本発明では線記録密度を1インチ当り
60〜200キロビットにでき、転送速度を大にでき
る。
0の磁気コア材130に高Bs材を用いており、これに
より、導体コイル110のターン数を少なくしても十分
強い書き込み磁界を維持できるためターン数を少なくで
き(図6)、これにより、記録ヘッド2000のインダ
クタンスが小にでき、高周波でも情報の書き込み動作が
充分にできる。
せず、高周波で情報の読み込み動作ができる。
を用いて得られる前記電気的信号はノイズレスである。
このため、得られた電気的信号を前記バルクハウゼンノ
イズを処理する特別な回路を通過させることなく、即、
ディジタル信号に変換することができる。
度を6〜9メガバイト/秒とすることができる。
は、データ転送速度の増大に伴って短縮する必要があ
り、本発明では、5〜10ミリ秒とすることが望まし
い。
ち時間は、データ転送速度との関連から回転数3500
rpm以上、回転待ち時間は平均6m秒以下とするのが
望ましい。ここで、回転待ち時間とは、所定のトラック
位置まで移動した磁気ヘッドが、そのトラックの所定の
位置に情報を書き込む或いは所定の位置から情報を読み
出すために静止して磁気ディスクが回転されるのを待っ
ているのを意味する。本発明によれば、磁気ディスク径
を小型化できるため高速シークができ、さらに、MRヘ
ッド1000のバルクハウゼンノイズ抑止ができるた
め、アクセス時間を短くできる。
読み出す際、バルクハウゼンノイズ(ベースライン変
動)が生じると、磁気ディスク上からのデータ信号を再
度読み出さなければならない。この際、上述したサイク
ルで読み出しの動作が再度行われる。たとえば、バルク
ハウゼンノイズが1/2の確率で発生するMRヘッドを
備えて磁気ディスク装置を構成した場合、1/30秒ア
クセス時間が遅れる。本発明の磁気ディスク装置では、
MRヘッドのバルクハウゼンノイズを抑止できたため、
アクセス時間を5〜10ミリ秒とすることができる。
のスペースに収納した状態を斜視図で示す。
71及び電子回路部72でヘッド・ディスクアッセンブ
リ・ユニット(HDU)73を形成し、容器700の内
部に収納されている。容器700は、底の一辺の長さが
0.3〜1.5m、高さは装置容量に応じ0.2〜2m と
している。図3において、AおよびBはHDA及びHD
U内の回路板に清浄な空気を供給するための空気の流れ
である。
ドを所定のスライダに形成した状態を斜視図で示す。符
号81はスライダであり、例えば非磁性セラミクスなど
である。符号3000は記録再生分離型磁気ヘッドであ
り、詳細は図6に示した形状を有する。また、記録ヘッ
ドと再生ヘッドを分離したため、記録再生分離型磁気ヘ
ッドの電流端子は4つである。符号83は媒体対向面を
示し、磁気ディスクと対向する面である。
上に形成した記録再生分離型磁気ヘッドを斜視図で示
す。
アームを示す。符号93はジンバルバネであり、磁気デ
ィスクとの距離を一定に保つ作用をするものである。こ
の磁気ディスクをスライダ81の先端に形成された記録
再生分離型磁気ヘッド3000との、磁気ディスク装置の起
動状態における距離は、一般に浮上量といわれ磁気ディ
スク装置の性能の重要な要素の一つである。本発明の磁
気ディスク装置ではこの浮上量を0.2μm 以下とする
ことができる。
された記録再生分離ヘッド3000である。非磁性セラ
ミクス基板101上に再生専用のMRヘッド1000を
形成し、その上方に記録専用の電磁誘導型の記録ヘッド
2000を形成している。尚、図6では記録ヘッド20
00の右側半分と、MRヘッド1000の右側半分の信
号検出電極60上方に形成される各層を省略してある。
号130は上下磁気コア材である。また、これらの間に
電気的絶縁をとるため符号120で示す絶縁膜が形成さ
れる。
000では、記録ヘッド2000で読み込み動作を行わ
ないため、磁気コア材130には読み込み時に要求され
る高透磁率,低磁歪特性を必要とせず、書き込み時に要
求される高Bs特性のみが必要とされる。これにより、
上記したように上下磁気コア材130を高Bs材で構成
することができる。さらに、書き込み特性は磁気コア材
130の磁歪定数にほとんど依存しないため、材料の選
定、および、材料組成のマージンが広がり、記録ヘッド
2000の製造を容易にできる。これはスループット向
上,歩留まり向上ができる。さらに、材料の選定、およ
び材料組成のマージンを広げることができ、耐食性を向
上するための元素添加、たとえばCr等添加ができ、耐
食性に優れる記録ヘッド2000の製造ができる。
されたMRヘッドの一実施例を示すものであり、媒体対
向面側からみた拡大斜視図である。尚、図1ではMRヘ
ッドの右側半分で上部ギャップ膜70と上部シールド膜
80を省略した。
ミクス基板101の上に下部シールド膜10と、この下
部シールド膜10の上側に形成される下部ギャップ膜2
0と、この下部ギャップ膜20の上側に、少なくとも一
対の信号検出用電極60に挾まれる領域に形成され、第
一の磁性膜45とする反強磁性膜と、この反強磁性膜の
上側に形成され、自発磁化を所有する第二の磁性膜77
と、第二の磁性膜77の上に形成される磁気抵抗効果膜
40と、この磁気抵抗効果膜40の上に、磁気抵抗効果
膜40の磁気応答特性を高めるために配置されるシャン
ト膜50とソフト膜55と、このソフト膜55の上に形
成される上部ギャップ膜70と、この上部ギャップ膜7
0の上に形成される上部磁気シールド膜80を備えて形
成される。
する。
一対の信号検出電極60間の距離であり、1〜10μm
の範囲にある。また、磁気抵抗効果膜40のこの領域を
感磁部といい、この部分で磁気ディスクからの磁気的信
号の読み取りを行う。
0は、磁気抵抗効果膜40に信号磁界以外の磁界が影響
するのを防止し、MRヘッド1000の信号分解能を高
める作用を行う。その材料は、NiFe合金,NiCo
合金,Co系の非晶質合金などの軟磁性であり、その膜
厚はおよそ0.5〜3μm である。
配置される上部ギャップ膜、および下部ギャップ膜7
0,20は磁気抵抗効果素子と、上部および下部シール
ド膜80,10を電気的,磁気的に隔離する作用をし、
ガラス,アルミナなどの非磁性,絶縁物よりなる。上
部,下部ギャップ膜70,20の膜厚は、MRヘッド1
000の再生分解能に影響するため、磁気ディスク装置
に望まれる記録密度に依存し、通常0.4〜0.1μmの
範囲にある。
に形成される磁気抵抗効果素子は、磁界に対してその電
気抵抗が変化する磁気抵抗効果膜40と、磁気ディスク
からの磁気的信号を高出力の電気的信号とするため、磁
気抵抗効果膜40に横バイアス磁界を印加すべく形成さ
れるシャント膜50,ソフト膜55と、磁気抵抗効果膜
40に信号検出電流を流すための信号検出電極60と、
少なくとも磁気抵抗効果膜40感磁部を単磁区化するに
充分な縦バイアス磁界を印加するための第一の磁性膜4
5と、第一の磁性膜45と磁気抵抗効果膜40の中間に
配置され、第一の磁性膜45から付与される強すぎる縦
バイアス磁界の大きさを、高出力の電気的信号となるよ
う調整するために設けられる第二の磁性膜77とからな
る。これら、再生出力調整層を兼ねた磁区制御層100
とする第二の磁性膜77と第一の磁性膜45の詳細は後
述する。
iCo合金,NiFeCo合金のような、磁化の方向に
よって電気抵抗が変化する強磁性薄膜で形成される。そ
の膜厚は、約0.01〜0.045μmである。
に十分な電流、たとえば1×106〜2×107A/cm2
を流すため、通常、電気抵抗が小さいCu,Au,N
b,Taなどの薄膜が用いられる。
高感度とするに十分なレベルに、横バイアス磁界を印加
する作用を行う。このバイアス印加方向は、上記した磁
区制御層によって付与される方向と垂直である。横バイ
アス磁界を印加するために、シャント膜を用いる方法を
シャントバイアス法という。シャントバイアス法におい
ては、シャント膜として、磁気抵抗効果膜40上に、T
i,Nb,Ta,Mo,Wなどの薄い金属膜を形成す
る。通常、その膜厚は、0.01〜0.04μmである。
また、シャント膜に流れる電流によって横バイアス磁界
が変化するので、シャント膜50の膜厚とともに、比抵
抗も調整することが必要である。この比抵抗の値は、通
常、磁気抵抗効果膜40の比抵抗の値の1〜4倍程度で
ある。
気記録用のMRヘッドに適した、磁気抵抗効果膜40を
高感度にするに十分なレベルに、横バイアス磁界を印加
する方法として、たとえば、セルフバイアス法とソフト
膜バイアス法とがある。いずれの方法も、横バイアス磁
界を印加する層を、磁気抵抗効果素子に隣接して形成す
る方法である。
流れる電流によって発生する磁界を利用する方法であ
り、隣接して形成された磁気シールド膜によって、横バ
イアス磁界が増強されるので、磁気抵抗効果膜を磁気シ
ールド膜に近接して形成するのが重要である。
て、磁気抵抗効果膜に隣接して、軟磁気特性を有する強
磁性膜を形成し、磁気抵抗効果膜に流れる電流によって
発生する磁界を、効率よく、磁気抵抗効果膜に印加する
方法である。ソフト膜55としては、NiFeRu,N
iFeTa,NiFeRh,CoZrCr,MnZnフ
ェライトなどの材料が用いられる。
1のようにシャント膜50(非磁性膜)の上にソフト膜
55を形成した複合バイアス法が効果的であり、本発明
に係るMRヘッド1000では、複合バイアス法を採用
した。
いて説明する。尚、下記の薄膜形成法およびパターニン
グ方法は、スパッタリング法やエッチング,フォトリソ
グラフィー法を用いた。
e合金を2μmの厚さに形成し、その後、その上部に、
下部ギャップ膜20とするアルミナを0.3μm の厚さ
に形成する。そして、この下部シールド膜10と下部ギ
ャップ膜20とを所定の形状に加工する。ここで、下部
シールド膜10の端部は、図1に示すように、基板面に
対して傾斜するように加工する。これは、下部磁気シー
ルド膜10を覆う形に形成される信号検出電極60が、
下部シールド膜10の端部で断線するのを防止するため
である。次に、下部ギャップ膜20上に0.1μm の第
一の磁性膜45とするNiO膜を形成する。NiOター
ゲットを用い、スパッタリング室を0.3〜3×10-6tor
rに排気した後、Arガス圧0.4〜2mtorr の低ガス
圧で形成する。基板温度は室温である。次に、別のスパ
ッタ室で第一の磁性膜45上の所定の位置に、第二の磁
性膜77とするNiFeNb膜を200Åの厚さに形成
する。NiFeNb膜はNiFeNb合金ターゲットを
用いて形成し、基板温度は室温である。次に、磁気抵抗
効果膜40とするNiFe合金膜を400Åの厚さに形
成し、続いて、シャント膜40とするNb膜を400Å
の厚さに形成し、ソフト膜55とするCoZrNb膜を
400Åの厚さに形成する。その後、信号検出電極60
とする金とチタンの2層膜を0.1μm の厚さに形成し
た後、加工し、さらに、その上部に、上部ギャップ膜7
0とするアルミナを0.3μm の厚さに形成する。次
に、上部磁気シールド膜80とするNiFe合金膜を2
μmの厚さに形成し、保護膜としてアルミナを形成し、
MRヘッド1000の作成を完了する。
抵抗効果膜40感磁部に磁区制御層100を所有し、第
一の磁性膜45と磁気抵抗効果膜40の中間に自発磁化
を所持する第二の磁性膜77を介在させてあるところに
最も特徴がある。第一の磁性膜45が反強磁性膜である
場合、自発磁化の大きさは、磁気抵抗効果膜40が最も
大きく、第二の磁性膜77,第一の磁性膜45の順でな
ければならない。第一の磁性膜45は、第二の磁性膜7
7を介して磁気抵抗効果膜40に縦バイアス磁界を付与
して磁気抵抗効果膜を単磁区化し、第二の磁性膜77
は、第一の磁性膜45と磁気抵抗効果膜40が直接接し
た場合に大きくなりすぎる結合磁界(縦バイアス磁界)
を弱め、磁気抵抗効果膜40内の磁気モーメントの磁化
回転を容易としてMRヘッドを高出力とする作用をす
る。したがって、本発明に係る磁区制御層100は、再
生出力調整層も兼ねることができ、これを含む磁気ヘッ
ドとすることにより、バルクハウゼンノイズ抑止と再生
出力向上を同時に行うことができる。さらには、磁気デ
ィスクからの磁気的信号を高出力,ノイズレスの電気的
信号にできる磁気ディスク装置が実現できる。
て説明する。
機能を説明するため、媒体対向面から見た磁気抵抗効果
膜40と、磁区制御層100の構成要素である第一の磁
性膜45と自発磁化を所持する第二の磁性膜77の拡大
断面図を示す。ここで、第一の磁性膜45は反強磁性膜
とした。上記ノイズを抑止すべく、磁気抵抗効果膜40
への縦バイアス磁界の付与過程を詳述するため、各膜の
磁気モーメントの方向を示した。符号401と771と
451はそれぞれ、磁気抵抗効果膜40と第二の磁性膜
77と第一の磁性膜45の磁気モーメントの方向を模式
的に示したものである。
451は、第二の磁性膜77の磁気モーメント771と
反強磁性−強磁性の交換結合を形成し、第二の磁性膜7
7の磁気モーメントは符号771に向くことができる。
その結果、第二の磁性膜77に縦バイアス磁界を付与す
ることができる。次に、第二の磁性膜77上に磁気抵抗
効果膜40を形成すると第二の磁性膜77と磁気抵抗効
果膜40で強磁性−強磁性の交換結合を形成し、磁気抵
抗効果膜40内の磁気モーメントは符号401の方向に
向くことができる。その結果、磁気抵抗効果膜40に縦
バイアス磁界を付与でき、バルクハウゼンノイズの抑止
ができる。
気ヘッドの再生出力が小さい場合は、高密度磁気ディス
ク装置を実現できない。高密度となるにつれ、磁気ディ
スクからの磁気的信号が小となり、磁気ヘッドを高出力
にしなければならないからである。そこで、本発明のバ
ルクハウゼンノイズを抑止しつつ、再生出力を大とする
方法を説明する。
気抵抗効果膜40に付与する縦バイアス磁界を大きくし
なければならない。一方、縦バイアス磁界を大きくしす
ぎると再生出力が小さくなってしまう。縦バイアス磁界
が大きいと磁気抵抗効果膜40内の磁気モーメントが磁
気ディスクからの信号磁界に応じて急峻に回転できなく
なるためである。このため、高出力でノイズレスの電気
的信号が得られる磁気ディスク装置を実現するには、バ
ルクハウゼンノイズを抑止できる範囲で磁気抵抗効果膜
40に付与される縦バイアス磁界を小さくした磁気ヘッ
ドを搭載し、磁気ディスク装置に望まれる面記録密度に
応じて、所望の縦バイアス磁界値に調節した磁気ヘッド
を搭載しなければならない。
一の磁性膜45が直接接したときに生じる大きすぎる縦
バイアス磁界を、これらの中間に磁気抵抗効果膜40よ
り自発磁化が小さい第二の磁性膜77を介在させ、その
飽和磁束密度Bs値を調整することにより、容易に最適
縦バイアス磁界値を得ることができた。
第二の磁性膜77は、上記シャント膜50と同様にシャ
ントバイアスの効果がある。しかし、図1のように磁気
抵抗効果膜40を介してシャント膜50の反対側に第二
の磁性膜77を形成する場合、磁気抵抗効果膜40に
は、シャント膜50によって付与されるバイアス方向と
は逆方向の横バイアス磁界が印加される。この場合、磁
気抵抗効果膜40を高感度にできない。これに対処すべ
く、本発明では、第二の磁性膜77の比抵抗を100μ
Ωcm以上とし、磁気抵抗効果膜40に比べて薄い膜とし
て、第二の磁性膜77の導電性を小さくし、逆方向横バ
イアス磁界の発生を防止してある。
出力とした上記一実施例を説明する。磁気抵抗効果膜4
0,第二の磁性膜77,第一の磁性膜45に、それぞ
れ、NiFe合金膜,(Ni81Fe19)100-XNbX膜,N
iO膜を用いた場合を示した。
Fe19)100-XNbX膜の飽和磁束密度BsのNb量依存
性である。Nb量増加とともに、飽和磁束密度Bsを小
さくできることを明らかにした。
Fe19)100-XNbXの比抵抗のNb量依存性である。N
b量増加とともに比抵抗を大きくでき、約8原子%以上
で100μΩcm以上の比抵抗とできた。
も小とした(Ni81Fe19)100-XNbX膜をNiFe合金膜
とNiO膜の中間に介在させた。図10に、交換結合し
たこれら3層膜の結合磁界Heと異方性磁界Hkの関係
を示した。ここで、結合磁界Heは、図中(a)の容易
軸励磁の磁化曲線において、原点からのシフト量として
観察される。異方性磁界Hkは、図中(b)の困難軸励
磁において、磁化が飽和するのに必要な大きさである。
結合磁界Heと異方性磁界Hkは比例的な関係がある。
結合磁界Heが大きくなると、磁気抵抗効果膜40の磁
気モーメントが磁化回転しにくくなるため、異方性磁界
Hkも大きくなるからである。そして、この異方性磁界
Hkの大きさは、磁気ヘッドの再生出力と反比例の関係
にある。このため、該再生出力を大とするには異方性磁
界Hkを小さくするのが必須である。本発明によると、
1平方インチあたりの面記録密度を170メガビット以
上とした磁気ディスク装置を実現するには、結合磁界H
eを調整し、異方性Hkの値を少なくとも20Oe以下
にする必要があった。さらなる高面記録密度とするに
は、10Oe以下にするのが望ましかった。
二の磁性膜77とする(Ni81Fe19)100-XNbX 膜の
Nb量増加とともに異方性磁界Hk,結合磁界Heを小
さくすることができた。Nb量を約6原子%以上とする
ことによりHkを、20Oe以下にでき、約10原子%
以上とすることにより、10Oe以下にできた。これに
より、磁気ヘッドの再生出力を高くでき、磁気ディスク
装置の面記録密度を1平方インチあたり170メガビッ
ト以上にできた。
Heと第二の磁性膜77の飽和磁束密度Bsの関係を示
したものである。本発明では、第二の磁性膜77の飽和
磁束密度Bsを0.6T 以下とすることにより、異方性
磁界Hkを20Oe以下にでき、約0.4T 以下とする
ことにより、異方性磁界Hkを10Oe以下にできた。
これにより、磁気ヘッドの再生出力を高くでき、磁気デ
ィスク装置の面記録密度を1平方インチあたり170メ
ガビット以上にできた。
た上記磁区制御層100を含む磁気抵抗効果素子の磁気
抵抗変化曲線を示す。縦軸は抵抗変化ΔVであり、横軸
は印加磁界Hである。図12では、該磁区制御層を含む
ことにより、バルクハウゼンノイズ抑止ができることを
明らかにした。これにより、バルクハウゼンノイズ抑止
と再生出力の向上が同時に達成できた。さらに、Hkを
6Oeとしても依然バルクハウゼンノイズは発生してお
らず、さらに、MRヘッドを高感度にでき、磁気ディス
ク装置の面記録密度を1平方インチあたり約4000メ
ガビットにできた。
た、本発明に係る上記磁区制御層100を含むMRヘッ
ド1000を磁気ディスク装置に搭載して得られた磁気
ディスクからの電気的信号である。横軸は時間t、縦軸
は出力電圧Vである。波形歪,波形のジャンプなどが観
測されておらず、また、いずれのディスク回転数(周波
数)とセンス電流と浮上量において、ベースライン変動
を2%以下に抑えることができ、バルクハウゼンノイズ
抑止が達成できた。
隣接して形成された磁気抵抗効果膜の磁区観察を行っ
た。図12と図13でバルクハウゼンノイズが発生しな
かったほとんどの試料では、磁気抵抗効果膜40は単一
磁区状態であった。また、完全に単一磁区状態になって
いなくても、少なくとも磁気抵抗効果膜40感磁部が単
一磁区状態にあればバルクハウゼンノイズは出現しなか
った。したがって、本発明は、少なくとも感磁部を単一
磁区状態とすれば、バルクハウゼンノイズが抑止できる
ことを含まなければならない。
載された上記交換結合3層膜(NiFe合金膜とNiFeN
b合金膜とNiO膜)のブロッキング温度を測定した実
施結果である。ブロッキング温度は、中間の第二の磁性
膜77の介在の有無に係らず約200℃と一定であり、
中間に介在させた(Ni81Fe19)100-XNbX膜の飽和磁
束密度およびNb量を変化させても一定で、約200℃
と高温にすることができた。さらに、自発磁化を所持す
る第二の磁性膜77の種類を変えても約200℃と高温
にすることができた。
0℃と高い値に保持しながら、第二の磁性膜77の種
類,組成,飽和磁束密度を変えることにより、結合磁界
Heおよび異方性磁界Hkの値を自由に調節することが
できたため、容易に、磁気ディスク装置の面記録密度に
応じたこれらの所望の値を得ることができた。そして、
高い再生出力を得ることができたと同時に、バルクハウ
ゼンノイズ抑止、すなわち、ベースライン変動の抑止が
できたため、高S/N比の電気的信号を得ることがで
き、かつ、ブロッキング温度を高くできたため、高密度
で信頼性のある磁気ディスク装置が実現できた。
すなわち、ベースライン変動を抑止し、かつ、再生出力
を高めるための異方性磁界Hkおよび結合磁界Heの最
適値は、媒体の種類,磁気ヘッドの浮上量により、磁気
抵抗効果膜40,第二の磁性膜77,第一の磁性膜45
の種類と膜厚により、また、磁気抵抗効果素子の形状,
大きさにより、また、磁気抵抗効果膜40,第二の磁性
膜77,第一の磁性膜45の各層間の接触面積により、
などに依存して変動する。この場合、本発明の上記手法
で自発磁化を所持する第二の磁性膜77の飽和磁束密度
Bsを調節し、磁気ディスク装置に望まれる面記録密度
に応じて所望の最適値に調節すればよい。
含まなければならない。磁気抵抗効果膜40に均一な縦
バイアス磁界を印加するため、ひとたび、第一の磁性膜
45とする反強磁性膜のブロッキング温度TB 以上に加
熱し、一方向の磁界を印加しながらブロッキング温度以
下に冷却する工程を含めなければならない。この着磁工
程は成膜終了時に行われてもよく、MRヘッド、あるい
は、記録ヘッド製造工程上のどの製造工程で行ってもよ
い。ただ、製造工程中、ブロッキング温度以上の熱履歴
を与えた場合には、必ず、一方向の磁界中で冷却し、ブ
ロッキング温度を通過させる工程を含めなければならな
い。
の磁性膜77,磁気抵抗効果膜40の形成時あるいは形
成後、ブロッキング温度以上に加熱されると、第一の磁
性膜45が常磁性状態となり、第一の磁性膜45と第二
の磁性膜77の交換結合は消失する。このまま冷却する
と第一の磁性膜45内の磁気モーメントがランダムに配
列するため、第二の磁性膜77に隣接した磁気抵抗効果
膜40に縦バイアス磁界を付与することはできない。一
方、一方向の外部磁界を印加しながらこれらの層が冷却
され、ブロッキング温度TB まで冷却されると、第一の
磁性膜45はふたたび常磁性状態から反強磁性状態とな
り、このとき、第二の磁性膜77の内部磁界によって、
第一の磁性膜45内の磁気モーメントが第二の磁性膜7
7内部の磁気モーメントを一方向に向けるように配列す
ることができる。ひとたび、第一の磁性膜45内の磁気
モーメントが整列すると反強磁性膜の磁気異方性は極め
て大きいため、その方向にしっかりと固定され、第二の
磁性膜77に一方向異方性、すなわち、縦バイアス磁界
を付与することができる。そして、第二の磁性膜77と
交換結合する磁気抵抗効果膜40にも縦バイアス磁界が
付与でき、単一磁区状態が実現できる。
する各磁性層の磁気特性において、第二の磁性膜77の
キュリー温度Tcが第一の磁性膜45とする反強磁性膜
のブロッキング温度TB よりも高いことを含めなければ
ならない。ここで、キュリー温度Tcとは、強磁性体の
強磁性状態が常磁性状態に転移する温度である。図15
に磁区制御層100を用いて上記理由を模式的に説明す
る。
膜,第二の磁性膜77,磁気抵抗効果膜40の3層膜を
反強磁性膜のブロッキング温度TB 以上に加熱する。こ
の加熱を、一方向の外部磁界を印加しながら行う。ブロ
ッキング温度TB 以上に加熱された図15(a)では、
反強磁性膜は、常磁性状態にあるので、磁気モーメント
は符号451のようにランダムである。また、常磁性状
態にあるため、第二の磁性膜77との交換結合は消失し
ている。図15(a)の状態から一方向の磁界を印加し
ながら反強磁性膜のブロッキング温度TB 以下に冷却す
ると反強磁性膜は、その上方に配置されている第二の磁
性膜77と交換結合を形成しようとする。第二の磁性膜
77のキュリー温度Tcがブロッキング温度TB よりも
小さい図15(b)場合、周囲温度がブロッキング温度
通過時、第二の磁性膜77は常磁性状態にあるため、一
方向の交換結合を形成できずバイアス磁界の方向はラン
ダムとなり、磁気抵抗効果膜40に付与されるバイアス
磁界の方向はランダムとなる。このため、磁気抵抗効果
膜40に縦バイアス磁界を付与することができなくな
り、バルクハウゼンノイズを抑止できなくなってしま
う。一方、第二の磁性膜77のキュリー温度Tcがブロ
ッキング温度TB よりも大きい図15(c)の場合、周
囲温度がブロッキング温度のとき、第二の磁性膜77は
強磁性状態である。この場合、一方向の外部磁界が印加
されていると、まず、磁気抵抗効果膜40,第二の磁性
膜77の磁気モーメント401,771が外部磁場の方
向に向き、ついで、第二の磁性膜77の内部磁界に誘導
されて反強磁性膜が符号451のように配列する。ひと
たび、符号451のように配列すると、反強磁性膜の磁
気異方性は極めて大きいため、その配列はしっかりと固
定される。このため、第二の磁性膜77の磁気モーメン
トを符号771に向けた状態で交換結合を形成すること
ができる。そして、第二の磁性膜77に隣接し、交換結
合している磁気抵抗効果膜40にも縦バイアス磁界が付
与でき、バルクハウゼンノイズ抑止ができる。したがっ
て、キュリー温度Tcがブロッキング温度TB より高い
場合に限り、磁気抵抗効果膜40に縦バイアス磁界を付
与でき、バルクハウゼンノイズ抑止ができる。
一の磁性膜45とするNiO膜の最適膜厚を決定するた
め、NiO膜上にNiFe膜を形成し、交換結合特性を
調べた実施結果を図16に示す。Heは結合磁界、すな
わち、縦バイアス磁界である。結合磁界は、NiO膜厚
とともに増加し、400Å以上で一定となる。図17
は、ブロッキング温度TB のNiO膜厚依存性を調べた
実施結果である。ブロッキング温度TB も400Å以上
で一定となって約200℃を示し、1500Å以上で若
干増加する。このため、NiO膜厚は良好な交換結合特
性を示し、かつ、それらの特性の安定する400Å以上
とするのが望ましい。一方、MRヘッド1000では、
NiO膜は、図1のように下部シールド膜20と磁気抵
抗効果膜40の中間に配置されるため、これらの間隔を
大きくした場合、MRヘッドの分解能を落としてしま
う。このため、NiO膜厚は2000Å以下とするのが
望ましい。したがって、本発明は、NiOの最適膜厚が
400〜2000Åの範囲にあることを含めなければな
らない。
た磁区制御層100の構成要素である第一の磁性膜4
5,自発磁化を持つ第二の磁性膜77の各材料について
説明する。
抗効果膜40と第一の磁性膜45の両方に磁気交換結合
しなければならない。このため、第二の磁性膜77は自
発磁化を持っていなければならない。さらに、大きな磁
気抵抗変化率を示さない方が望ましい。磁気ディスクか
らの信号磁界に応じて第二の磁性膜77と磁気抵抗効果
膜40の磁気モーメントが同時に等しい角度で回転する
とは限らず、再生波形にノイズが生じる場合があるから
である。さらに、上述したように磁気抵抗効果膜40へ
の逆方向横バイアス磁界の発生を抑止するため、比抵抗
値100μΩcm以上を必要とする。さらに、高キュリー
温度を必要とする。さらに、耐食性,耐熱性が要求され
る。
は、上記NiFeNb合金膜の他、下記に示す材料でも
代用可能である。
た強磁性膜がよく、所望の縦バイアス磁界の大きさに調
整すべく、Bs値を適度とするためこれに非磁性元素を
0〜20%添加した強磁性膜がよい。非磁性元素を添加
することにより、第二の磁性膜77の飽和磁束密度Bs
および磁気抵抗効果を小さくでき、合金化することによ
り比抵抗を100μΩcm以上とできる。さらに、Fe,
Co,Niの2種以上を主成分とし、これに非磁性元素
を0〜20%添加した強磁性膜で構成してもよい。さら
に、自発磁化を持っていれば結晶質であっても非晶質で
あってもよい。非磁性元素としては、たとえば、Nb,
Mo,Ta,W,Ti,V,Cr,Rh,Ruのうちい
ずれの元素を添加してもよい。さらに、上記元素のう
ち、2種以上の元素を添加してもよい。この場合、比抵
抗をさらに大きくできる効果があり、磁気抵抗効果膜4
0への逆方向横バイアス磁界の発生をさらに小とでき
る。
抵抗効果膜40,第二の磁性膜77,第一の磁性膜45
の種類,組成,膜厚などに依存するので、その都度、所
望の結合磁界になるように本発明の上記手法で調整しな
ければならない。
0〜500Åである。MRヘッドの再生出力を大とする
ためには、逆方向横バイアス磁界の発生を防ぐべく、磁
性膜77の導電性を小とすべく、薄くする方が望ましい
が、膜が薄すぎる場合には均一な連続膜とすることがで
きない。一方、厚くすると逆方向の横バイアス磁界の発
生が大となって、再生出力が小さくなってしまう。従っ
て、第二の磁性膜77の膜厚は50〜500Åの範囲で
構成するのが望ましい。
る場合、高出力の電気的信号とすべく第二の磁性膜77
は磁気抵抗効果膜40より薄くなければならない。
上記NiOの他、磁気抵抗効果膜40と優れた磁気交換
結合特性を示す下記の材料で構成しても上記目的は達成
可能である。
金,FeMnPt合金,FeMnRh合金,FeMnIr
合金,FeMnRu合金,FeMnOs合金,FeMn
Re合金,FeMnCr合金,FeMnCr合金,Tb
Fe合金,GdFe合金,GdFe合金,GdCo合
金,α−Fe2O3でも代用可能である。
−Fe2O3に少量のCo,Niを添加しても上記目的は
達成可能である。さらに、NiOやα−Fe2O3に少量
の希土類元素La,Ce,Pr,Nd,Pm,Sm,G
d,Tb,Dy,Ho,Er,Tm,Ybを添加しても
上記目的は達成可能である。
部で磁区制御を行うことにより下記の効果がある。
録密度に応じ、所望の縦バイアス磁界値の大きさに自
由、かつ、容易に調節可能である。感磁部を磁区制御し
ているために、MRヘッドに所望の交換結合特性を容易
に所持させることができる。しかも、再現性よくでき
る。
ヘッドは、たとえば、図1と図6に示すように磁気抵抗
効果膜40上方に信号検出電極60が形成され、その上
方に、上部ギャップ膜70,上部シールド膜80、さら
には、記録ヘッド2000が積層される。発明者らは、
これにより磁気抵抗効果膜40が複雑で大きな応力を受
けていることを確認した。一般に、強磁性体に応力が加
わると磁気異方性が発生する。この物理現象を応力誘起
磁気異方性、あるいは逆磁歪効果という。この大きさ
は、強磁性体に印加されている応力の大きさと、強磁性
体の磁歪定数と、強磁性体の飽和磁束密度に比例する。
また、異方性の方向は応力の印加されている方向と磁歪
定数の正負によって定まる。本発明によると、磁気抵抗
効果膜40の磁歪定数を小としている(10-7程度)。
しかし、磁気抵抗効果膜40の信号検出電極60付近で
は、かなり大きな応力が印加されていたため、たとえ、
磁気抵抗効果膜40の磁歪定数を小さくしても、磁区制
御が不十分な場合には一方向異方性を乱す応力誘起磁気
異方性が発生した。
40感磁部を上記磁区制御層100により直接磁区制御
しているため、一方向異方性の方が応力誘起異方性より
も優勢であり、安定性よく単一磁区状態が維持できた。
さらに、感磁部を直接磁区制御しているため、より小さ
な縦バイアス磁界で単一磁区状態とできた。すなわち、
小さな縦バイアス磁界でもバルクハウゼンノイズを安定
性よく抑止できる効果があった。さらに、これにより、
MRヘッドの高出力化を有利とする効果があった。さら
に、これにより、磁気ディスク装置の高記録密度化を有
利とする効果もあった。
7の磁歪定数も小としている。これは、一方向異方性を
安定性よく維持する効果があり、バルクハウゼンノイズ
を安定性よく抑止できる効果がある。
00に搭載する上記第二の磁性膜77を、Niを主成分
とした強磁性膜とすると下記の効果がある。上記磁区制
御層100は、第一の磁性膜45の上方に第二の磁性膜
77を形成し、その上方に磁気抵抗効果膜40を形成し
て構成される。磁気抵抗効果膜40はF.C.C.の結晶
構造を所有している。一方、Ni主成分の強磁性膜も
F.C.C.の結晶構造を所有している。磁気抵抗効果膜
40の下側がF.C.C.の結晶構造を有する場合、磁気
抵抗効果膜40はエピタキシャル成長できる。この場
合、磁気抵抗効果膜40の結晶性が上昇し、磁気抵抗効
果膜40の磁気特性を向上できる効果があった。この場
合、MRヘッド1000の磁気的応答性を向上できる効
果があった。
磁性膜のうち、本発明に係るブロッキング温度を大とし
たNiO膜(約200℃)を用いることにより下記の効
果がある。
ドは自己発熱する。該自己発熱により、磁気ヘッドがブ
ロッキング温度以上に上昇した場合、上記ノイズを抑止
するための縦バイアス磁界は消失してしまう。本発明
は、ブロッキング温度が該自己発熱による温度上昇より
も大きいことを含めなければならない。該発熱量は、磁
気抵抗効果素子に通電する電流密度に依存し、高電流密
度で通電するほど大である。一方、高電流密度で通電す
るほどMRヘッドの再生出力を大にできるため、再生出
力を大とするには高電流密度で通電した方が望ましい。
しかし、極端に高電流密度で通電すると、エレクトロマ
イグレーション現象が発生する。エレクトロマイグレー
ション現象とは、磁気抵抗効果素子を構成する各原子が
多量の電子にはじき出され、原子が陽極に移動し、しま
いには磁気抵抗効果素子が断線してしまう現象である。
本発明は、MRヘッドがエレクトロマイグレーション現
象が発生しない許容電流密度下で使用することを含まな
ければならない。そして、その最大発熱量は約80℃以
下に抑えてある。本発明に係るNiO膜のブロッキング
温度は、約200℃と最大発熱温度80℃に比べ大であ
り、該自己発熱により磁気ヘッド温度が上昇しても、縦
バイアス磁界が消失することはなく、信頼性のある磁気
ディスク装置を提供できる効果がある。
0Oeに低減したNi72.7Fe17.4Nb9.9を第二の磁性膜77
とした結合磁界の温度依存性を見ると、室温から80℃
で結合磁界Heの温度変化が小さいことを確認できる。
見方を変えると、異方性磁界Hkをほぼ同じに保つこと
ができる。そして、磁気ディスク装置の動作温度範囲で
ある室温から80℃で異方性磁界Hkをほぼ一定に保て
るので、周囲温度が該温度範囲で変動しても、磁気ディ
スクに記録された同一情報からは、つねに同一の電気的
信号およびピーク値が得られ、信頼性のある再生動作と
できる効果がある。さらに、温度による前記電気的信号
のピーク値変動幅を5%以内に抑えることができる。
る、ノイズレス,高出力とした磁気ディスク装置が実現
できる。
効果がある。
面の研磨工程で第一の磁性膜45は腐食環境にさらされ
る。実際の研磨加工は、pH4〜8の領域で行われる。
第一の磁性膜45は、このpH範囲で耐食性のよい材料
で構成するのが望ましい。
験結果である。比較のため、磁気抵抗効果膜40の1例
であるNiFe膜の浸漬試験結果を示した。酸性側は純
水に塩酸を滴下してpH値を調整し、アルカリ側は水酸
化ナトリウムを滴下して調節した。その後、各水溶液を
80℃に加熱し、上記試験片を3時間浸漬し、腐食前後
の膜厚の段差を測定し、浸漬時間で割ることにより腐食
速度とした。図18では、NiO膜はpH4〜8の範囲
で全く腐食されないことを確認した。この実施結果よ
り、本発明に係るNiO膜を用いることにより、磁気ヘ
ッドの耐食性を向上できる効果があることを明らかにし
た。
食性がよいため、磁気ディスク装置の製造コストを安く
できる効果もある。
いる場合、FeMn系の反強磁性膜は酸化しやすいた
め、磁気ディスク装置内部の環境を低湿下に保持する必
要がある。また、製造工程でも腐食及び酸化を防止する
ための特別の対策,注意を払わなければならない。一
方、本発明はNiO膜が30〜80%の湿度に耐えられ
ることを含むが、これにより、磁気ディスク装置内部を
低湿下に保持する装置を設けなくてもすむ。これによ
り、磁気ディスク装置の製造コストおよび、動作時の消
費電力が削減でき、低コストで信頼性のある磁気ディス
ク装置が実現できる。さらに、小型磁気ディスク装置の
大きさを小とするのに有利にできる。
性膜45とすることにより、製造工程上下記の利点があ
る。
発明は、NiO膜をひとたび大気中に取り出しても第二
の磁性膜77との磁気交換結合を維持できることを含む
が、これにより、製造プロセス上連続積層しなければな
らないという制約が解除できる。これにより、設備導入
など必要とせず、従来の膜形成装置で対応できる利点が
ある。
と第二の磁性膜77と磁気交換結合を形成する前に、N
iO膜を大気中に取り出すことができるので、NiO膜
を第二の磁性膜77或は磁気抵抗効果膜40と異なる形
状に加工できる利点がある。これにより、種々のプロセ
スを可能とし、さらに、NiO膜を用いて、磁気ヘッド
に付加機能を持たせることができる。これらは、代案と
して後述する。
は別々のスパッタリング室,真空装置で形成できるた
め、次の利点がある。酸化物膜と金属膜を同一のスパッ
タリング室,真空装置で形成する場合、酸化物により排
気速度が極度に落ちる。また、到達真空度が悪くなる。
これは、第二の磁性膜77,磁気抵抗効果膜40の磁気
特性を劣化させてしまう。また、スループットも悪くし
てしまう。特に、磁気抵抗効果膜40のMR特性が劣化
し、MRヘッドの再生出力を著しく劣化させる原因とな
る。本発明は、NiO膜と他の磁性膜は別のスパッタリ
ング室、または、真空装置で形成することを含む。これ
により、磁気抵抗効果膜40形成時、不純物混入を防ぐ
ことができ、高出力とした磁気抵抗効果膜40が製造で
きる。
成される場合、本発明に係る第二の磁性膜77は酸化物
反強磁性膜から磁気抵抗効果膜40への酸素拡散を防止
する効果もある。
は不定比化合物である。NiOは、通常Niが不足し、
酸素過剰になっている。しかも、NiOはアルミナのよ
うに酸素との親和力はそれほど大きくない。このため、
NiOを熱処理すると酸素が出入りする可能性がある。
実際、磁気交換結合した磁気抵抗効果膜40とNiO膜
の2層膜を熱処理したところ、熱処理後、磁気抵抗効果
膜40の磁気特性が劣化した。著者らは、この劣化の原
因を調べるために、オージェ電子分光を試みたところ、
NiO膜の酸素が磁気抵抗効果膜40に拡散しているこ
とを明らかにした。磁気抵抗効果膜40に酸素などの不
純物が存在する場合、磁気抵抗効果膜40の磁気抵抗変
化率が減少した。一方、磁気ヘッドの製造にあたって
は、多数の熱処理工程が含まれる。最高で250℃程度
の熱処理が含まれる。これにより、磁気抵抗効果膜40
とNiO膜が直接接した構造とした場合には、NiO膜
中の酸素が磁気抵抗効果膜40に侵入する。したがっ
て、磁気抵抗効果膜中への酸素混入を防止しなければな
らない。
記酸素混入を防止していることを含む。
の中間に本発明に係る第二の磁性膜77を介在させ、交
換結合したこれら3層膜を耐熱試験した実施結果を示
す。熱処理は真空中で各温度3時間行った。図19で
は、熱処理前の各磁気物性値を1として熱処理後の値を
規格化した。図19では、250℃,3時間の熱処理で
は結合磁界Heと容易軸保磁力Hceと困難軸保磁力H
chと異方性磁界Hkの値は熱処理前に比べて全く変化
しないことを明らかにした。さらに、275℃でもほと
んど変化がなかった。これより、本発明に係る第二の磁
性膜77は、NiO膜から磁気抵抗効果膜40への酸素
侵入を効果的にブロックするのに有効であることを明ら
かにした。したがって、第一の磁性膜45が酸化物反強
磁性膜で構成される場合、本発明に係る第二の磁性膜7
7は酸化物反強磁性膜から磁気抵抗効果膜40への酸素
拡散を防止するのに有効であり、MRヘッドの再生出力
劣化を抑えることができる効果があった。
侵入した酸素を含んでおり、これにより、第二の磁性膜
77だけで測定した比抵抗値よりも実質的には大きな値
を持つことができた。このため、磁気抵抗効果膜40へ
の逆方向の横バイアス磁界の発生をさらに小さくでき、
磁気抵抗効果膜40を高出力とできる効果があり、これ
と同時に、磁気抵抗効果膜40への電流の分流比を大と
できるため、MRヘッドの再生出力を大きくできる効果
もあった。
は、第一の磁性膜45の上側に自発磁化を持つ第二の磁
性膜77を形成し、その上に磁気抵抗効果膜40を形成
したが、これらの層構成を反転し、磁気抵抗効果膜40
上に第二の磁性膜77を形成し、この上に第一の磁性膜
45を形成して磁区制御層とし、これを含むMRヘッド
構造として磁気ディスク装置に搭載しても上記目的は達
成できる。
代わりにCoPt合金,CoPtCr合金などの永久磁石
膜で構成しても目的は達成できる。この場合、自発磁化
の大きさは磁気抵抗効果膜40が最も大きく、ついで、
第一の磁性膜45,第二の磁性膜77が最も小さくなけ
ればならない。
成り、これらの層に反強磁性体が析出した層で構成して
も代用可能である。
100において、磁気抵抗効果膜40に印加すべき縦バ
イアス磁界の大きさは、第二の磁性膜77の厚さを変え
ることによっても調節可能である。磁気抵抗効果膜4
0,第二の磁性膜77の膜厚を厚くしても、磁気抵抗効
果膜40への縦バイアス磁界を所望値まで小さくでき、
バルクハウゼンノイズを抑止できる範囲で再生出力を高
めることができる。さらに、磁気抵抗効果膜40,第二
の磁性膜77の飽和磁束密度と膜厚を同時に変えても目
的は達成可能である。
図16に示すようなNiO膜厚依存性があるので、Ni
O膜厚を変えることにより、所望の縦バイアス磁界値に
調整することが可能である。
発磁化を所持する磁性膜としてもよい。
は、磁気抵抗効果膜40の上方に信号検出電極60を配
置しているが、磁気抵抗効果膜40の下方に配置しても
よい。
効果膜40感磁部でこれに隣接して第二の磁性膜77を
形成し、これに隣接して第一の磁性膜45を形成した
が、これら第二の磁性膜77と第一の磁性膜45を、磁
気抵抗効果膜40が複雑な応力を受けている電極部に配
置して電極を兼ねた構造とし、これを含むMRヘッド構
造としても目的は達成できると推定される。この場合、
磁気抵抗効果膜40に隣接する信号検出電極として、は
じめに第二の磁性膜77、次に第一の磁性膜45が隣接
した層を含む信号検出電極構造にしなければならない。
程において、第一の磁性膜45とするNiO膜を少なく
とも磁気抵抗効果膜40の感磁部にパターニングしてか
ら、第二の磁性膜77,磁気抵抗効果膜40,シャント
膜50,ソフト膜55を所定の位置に形成してもよい。
膜40,シャント膜50,ソフト膜55を順次積層した
後、一括してこれらの膜をイオンミリング法により所定
の位置にパターニングして、第一の磁性膜45とするN
iO膜だけをベタ膜状態として残存させてもよい。
磁性膜45とするNiO膜を形成後、これらの膜を図1
に示す下部シールド膜20と同じ形状に一括加工してか
ら、第二の磁性膜77,磁気抵抗効果膜40,シャント
膜50,ソフト膜55を形成し、これらを一括してパタ
ーニングしてもよい。
性体である場合、酸化物反強磁性ターゲット(NiO,
酸化鉄)上に、少量のFe,Co,Niチップ、あるい
は希土類元素であるLa,Ce,Pr,Nd,Pm,S
m,Gd,Tb,Dy,Ho,Er,Tm,Ybやこれ
らの酸化物チップを配置してスパッタリングを行って
も、目的を満たす第一の磁性膜45の製造が可能であ
る。
O,酸化鉄)中にこれらの元素を含んだものを用い、こ
れをスパッタリングしても目的を満たす第一の磁性膜4
5の製造が可能である。
するNiOは室温で形成したが、NiOおよび上記第3
元素を含んだNiOを室温から250℃の温度範囲で形
成してもよい。また、放電ガス種としてはArのほかに
Ar+O2 であってもよかった。
ターゲット上に、少量のFe,Co,Niチップ,上記
希土類元素より構成されるチップ、または、これらの酸
化物チップを配置し、放電用ガス種としてAr+O2 を
用いてリアクティブスパッタを行っても目的を満たす第
一の磁性膜45の形成が可能であった。
スあるいはヘリウムガスを混入することにより、酸化物
反強磁性膜を緻密にすることが可能となり、良質の酸化
物反強磁性膜の製造ができると推定される。
がら酸化物反強磁性膜を成膜すると緻密な膜が成膜で
き、良質な酸化物反強磁性膜の製造が可能になると推定
できる。
Fe,Co,Ni,Fe−Co合金,Co−Ni合金,
Ni−Fe合金などのターゲットを用い上記の非磁性金
属のチップを適量配置してスパッタリングを行ってもよ
く、上記非磁性金属を適量含んだ合金ターゲットを用い
てもよい。
o,Niの一種以上を主成分とし、Sc,Mn,Zn,
Y,Zr,Tc,Pd,Ag,Hf,Re,Os,I
r,Pt,Au,ランタノイド元素から一種以上選ばれ
た合金膜で構成しても目的を満たす第二の磁性膜77の
形成が可能であると推定できる。
形成時、放電用ガス種にArを用いたが、Ar+N2 を
用いてスパッタリングを行っても目的を満たす第二の磁
性膜77の形成が可能であった。
範囲のいずれの温度でスパッタリングを行っても目的を
満たす第二の磁性膜77の形成が可能であった。
第二の磁性膜77はイオンビームスパッタ法,真空蒸着
法,メッキ法などの他の成膜手段を用いても形成が可能
である。
において、第一の磁性膜45とする反強磁性膜、あるい
は第二の磁性膜77、あるいは磁気抵抗効果膜40のい
ずれか一部接してCoPt合金,CoPtCr合金のよ
うな永久磁石膜を配置することにより、下記の利点があ
る。
温度以上の熱履歴を万が一受けた場合、磁気抵抗効果膜
40に付与されている縦バイアス磁界が消失してしま
う。しかし、ブロッキング温度以下に冷却されるとき、
永久磁石膜と接している反強磁性膜或は第二の磁性膜7
7或は磁気抵抗効果膜40の何れかの膜が永久磁石膜と
交換結合できる。このことにより、ブロッキング温度以
上の熱履歴を受けても磁気抵抗効果膜40に付与されて
いる縦バイアス磁界を維持できる。さらに、CoPt合金膜
等は一方向に強い磁束を発生するので、磁気抵抗効果膜
40の単磁区化に有利とできる。さらに、ソフト膜バイ
アス法,複合バイアス法を用いる場合、ソフト膜の磁区
制御ができるため、磁気抵抗効果膜40を安定性よく磁
区制御することが可能になる。
たとえば、NiO膜は絶縁性を示すため、MRヘッド1
000において、下部ギャップ膜20をNiO膜で構成
してもよい。この場合、下部ギャップ膜20の製造工程
がなくなるので製造コストを下げることができる。さら
に、MRヘッド1000は製造終了時、磁気抵抗効果膜
40内の磁気モーメントを一方向に揃えるため、磁界中
で熱処理する工程が含まれる。MRヘッド1000で
は、上部,下部シールド膜80,10が備えてあり、こ
れらの膜厚および膜面積は、磁気抵抗効果膜40に比べ
て極めて大きい。このため、印加磁界が小さいと、この
磁界はすべてこれらの磁気シールド膜に吸収されてしま
う。したがって、磁界中熱処理時、磁気抵抗効果膜40
内部の磁気モーメントを整列させるためにはかなりの強
磁界が必要となる。しかし、NiO膜が下部ギャップ膜
20をかねている場合、磁気抵抗効果膜40内の磁気モ
ーメントの方向を整列させるために必要な磁界は、結合
磁界に相当する磁界、すなわち、数〜数10Oe程度で
よい。NiO膜が磁気抵抗効果膜40と下部シールド膜
10の両方に磁気交換結合しているからである。このた
め、結合磁界の大きさ程度の外部磁界で熱処理すれば磁
気抵抗効果膜40内部の磁気モーメントの方向を揃えら
れることになる。これは、磁界中熱処理時に必要な消費
電力を大幅に下げることとなり、MRヘッドの製造コス
トを大幅に下げることができる。
ば、MRヘッド1000において、上部ギャップ膜70
の下側に、ソフト膜55と信号検出電極60の上側に、
本発明に係る酸化物反強磁性膜を介在させると次の利点
がある。この場合、酸化物反強磁性膜とソフト膜55が
磁気交換結合するので、ソフト膜55の磁区制御を行う
ことができる。ソフト膜が多磁区状態になっている場
合、ソフト膜55に近接して配置されている磁気抵抗効
果膜40にノイズを誘導しやすくなる。ソフト膜55を
酸化物反強磁性膜で磁区制御し、ソフト膜55を単一磁
区状態に維持することにより、磁気抵抗効果膜40に発
生するノイズを安定性よく抑止することが可能となる。
さらに、この場合、上部ギャップ膜70を本発明に係る
酸化物反強磁性膜が兼ねてもよい。さらに、第二の磁性
膜77を介して酸化物反強磁性膜を設けてもよい。
ルド膜を備えてMRヘッドを構成しているが、ノンシー
ルド型MRヘッド,ヨークタイプMRヘッド,バーバー
ポール型MRヘッド、さらに、単なる強磁性膜の磁気抵
抗効果を利用した磁気センサーにも、本発明は適用可能
である。
ほか、横バイアス磁界の印加にも適用は可能である。
磁区制御ばかりでなく、従来の電磁誘導タイプの磁気ヘ
ッドにも適用は可能である。電磁誘導タイプの磁気ヘッ
ドにおいて、上部磁気コア、及び下部磁気コアに本発明
の磁区制御法を適用することにより、これらの磁性膜の
磁区制御が可能になると推定できる。
において、強磁性膜に一方向異方性を付与するのにも適
用は可能であると推定できる。
再生できる磁気ディスク装置を提供できる。
で安定に、ノイズレス,高出力で再生できる磁気ディス
ク装置を提供できる。
気ディスクと、該磁気ディスクを3500〜5000r
pmで回転させる手段と、該磁気ディスクに記録させた
磁気的信号を磁気抵抗効果膜によって電気的信号に変換
する磁気ヘッドと、を有する磁気ディスク装置であっ
て、前記磁気ディスクのトラック密度を2.6〜20.0tpi
及びビット密度60〜200ktpiとし、転送速度6〜
9MB/s及びアクセス時間5〜10msで再生するこ
とを特徴とする磁気ディスク装置を提供できる。
テムの構成を示す概略図。
図。
に形成した斜視図。
を示す斜視図。
存性を示す図。
示す図。
のNb添加量の関係を示す図。
の飽和磁束密度の関係を示す図。
の磁気抵抗変化曲線を示す図。
波形を示す図。
す図。
ー温度がブロッキング温度よりも高い必要があることを
説明する図。
NiO膜厚依存性を示す図。
O膜厚依存性を示す図。
図。
スク、13…磁気ヘッド、14…キャリッジ、15…ボ
イスコイルモータ、20…下部ギャップ膜、40…磁気
抵抗効果膜、45…第一の磁性膜、50…シャント膜、
55…ソフト膜、60…信号検出電極、70…上部ギャ
ップ膜、71…ヘッド・ディスクアッセンブリ、72…
電子回路部、73…ヘッド・ディスクアッセンブリ・ユ
ニット、77…第二の磁性膜、80…上部シールド膜、
81…スライダ、83…媒体対抗面、91…荷重アー
ム、93…ジンバルバネ、100…磁区制御層、101
…非磁性基板、110…導体コイル、120…絶縁膜、
130…磁気コア、700…磁気ディスク装置の容器、
1000…MRヘッド、2000…記録ヘッド、300
0…記録再生分離型磁気ヘッド、4000…磁気ディス
ク装置。
Claims (12)
- 【請求項1】磁気抵抗効果を用いて磁気的信号を電気的
信号に変換する磁気抵抗効果膜と、 前記磁気抵抗効果膜に信号検出電流を流すための一対の
電極とを有する磁気ヘッドを搭載した磁気ディスク装置
であって、 前記一対の電極に挾まれた領域に、前記磁気抵抗効果膜
に接して配置された磁区制御層を有し、 前記磁区制御層が、前記磁気抵抗効果膜に長手方向のバ
イアス磁界を印加する第一の磁性膜と、前記第一の磁性
膜と前記磁気抵抗効果膜との間に形成され、前記磁気抵
抗効果膜と前記第一の磁性膜との磁気的な結合の大きさ
を調節する第二の磁性膜と有する磁気ヘッドを搭載した
ことを特徴とする磁気ディスク装置。 - 【請求項2】請求項1記載の磁気ディスク装置におい
て、前記第二の磁性膜の膜厚より前記磁気抵抗効果膜の
膜厚が厚いことを特徴とする磁気ディスク装置。 - 【請求項3】内周側から外周側に向かって周速度が大き
くなるように回転する磁気ディスクと、該磁気ディスク
に記録された磁気的信号を磁気抵抗効果を用いて電気的
信号に変換する磁気ヘッドとを有する磁気ディスク装置
であって、前記電気的信号のベースライン変動を抑制す
る手段を有する磁気ディスク装置。 - 【請求項4】請求項3記載の磁気ディスク装置におい
て、前記電気的信号のベースラインの変動量が前記電気
的信号のピーク値に対して3%以下であることを特徴と
する磁気ディスク装置。 - 【請求項5】内周側から外周側に向かって周速度が大き
くなるように回転する磁気ディスクと、該磁気ディスク
に記録された磁気的信号を磁気抵抗効果を用いて電気的
信号に変換する磁気ヘッドとを有する磁気ディスク装置
であって、該磁気ディスク装置の動作温度範囲内で、前
記磁気ディスクに記録された同一の情報に対して、ほぼ
同一の電気的信号の形状及び/又はピーク値となる手段
を有することを特徴とする磁気ディスク装置。 - 【請求項6】請求項5記載の磁気ディスク装置におい
て、前記電気的信号のピーク値の変動量が5%以下であ
ることを特徴とする磁気ディスク装置。 - 【請求項7】直径が1.5〜6.5インチの磁気ディスク
と、 該磁気ディスクを3500〜5000rpmで回転させ
る回転手段と、 該磁気ディスクに記録された磁気的信号を磁気抵抗効果
膜によって電気的信号に変換する磁気ヘッドと、を有す
る磁気ディスク装置であって、 前記磁気ディスクにトラック密度2.6〜20.0ktpi及
びビット密度60〜200kbpiで記録された情報を、転
送速度6〜9MB/s及びアクセス時間5〜10msで
再生することを特徴とする磁気ディスク装置。 - 【請求項8】磁気抵抗効果を用いて磁気的信号を電気的
信号に変換する磁気抵抗効果膜と、 前記磁気抵抗効果膜に信号検出電流を流すための一対の
電極とを有する磁気ヘッドを搭載した磁気ディスク装置
であって、 前記一対の電極に挾まれた領域に、前記磁気抵抗効果膜
に接して配置された磁区制御層を有し、 前記磁区制御層が、反強磁性膜と、前記反強磁性膜と前
記磁気抵抗効果膜との間に形成される磁性膜とを有し、
前記磁性膜の自発磁化より前記反強磁性膜の自発磁化が
小さいことを特徴とする磁気ヘッドを搭載した磁気ディ
スク装置。 - 【請求項9】磁気抵抗効果を用いて磁気的信号を電気的
信号に変換する磁気抵抗効果膜と、 前記磁気抵抗効果膜に信号検出電流を流すための一対の
電極とを有する磁気ヘッドを搭載した磁気ディスク装置
であって、 前記一対の電極に挾まれた領域に、前記磁気抵抗効果膜
に接して配置された磁区制御層を有し、 前記磁区制御層が、永久磁石膜と、前記永久磁石膜と前
記磁気抵抗効果膜との間に形成される磁性膜とを有し、
前記磁性膜の自発磁化より前記永久磁石膜の自発磁化が
大きいことを特徴とする磁気ヘッドを搭載した磁気ディ
スク装置。 - 【請求項10】磁気抵抗効果を用いて磁気的信号を電気
的信号に変換するNiFe膜と、 前記NiFe膜に信号検出電流を流すための一対の電極
とを有する磁気ヘッドを搭載した磁気ディスク装置であ
って、 前記一対の電極に挾まれた領域に、前記NiFe膜に接
して配置された磁区制御層を有し、 前記磁区制御層が、NiO又はCoPtからなる第一膜
と、前記第一膜と前記NiFe膜との間に形成されたN
iFeNbからなる第二膜とを有することを特徴とする
磁気ヘッドを搭載した磁気ディスク装置。 - 【請求項11】磁気ディスクに記録された磁気的信号を
磁気抵抗効果によって電気的信号に変換する磁気ヘッド
を用いて、前記磁気ディスクから読み取った信号を即信
号処理することを特徴とする磁気ディスク装置。 - 【請求項12】直径が1.5〜3 インチの磁気ディスク
に記録された磁気的信号を磁気抵抗効果を用いて電気的
信号に変換する磁気ヘッドを搭載した磁気ディスク装
置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4059895A JP2817501B2 (ja) | 1991-09-18 | 1992-03-17 | 磁気ディスク装置及びそれに用いる磁気ヘッド |
| US08/400,457 US5726838A (en) | 1991-09-18 | 1995-03-07 | Magnetic disc apparatus with head having magneto-resistance effect |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
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|---|---|---|---|---|
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| US6913836B1 (en) * | 1999-06-03 | 2005-07-05 | Alps Electric Co., Ltd. | Spin-valve type magnetoresistive sensor and method of manufacturing the same |
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| JP2012028001A (ja) * | 2010-07-27 | 2012-02-09 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands Bv | クロストラック方向に磁気的にバイアスした、巻き付け式トレーリング磁気シールドを有する垂直磁気書き込みヘッド |
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Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5959809A (en) * | 1994-07-29 | 1999-09-28 | Fujitsu Limited | Magnetoresistive head and method of manufacturing the same and magnetic recording apparatus |
| US6913836B1 (en) * | 1999-06-03 | 2005-07-05 | Alps Electric Co., Ltd. | Spin-valve type magnetoresistive sensor and method of manufacturing the same |
| JP2008227024A (ja) * | 2007-03-09 | 2008-09-25 | Taiyo Yuden Co Ltd | 高周波用磁性薄膜及びそれを利用した高周波用磁性デバイス |
| JP2012028001A (ja) * | 2010-07-27 | 2012-02-09 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands Bv | クロストラック方向に磁気的にバイアスした、巻き付け式トレーリング磁気シールドを有する垂直磁気書き込みヘッド |
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