JPH0513572A - 半導体集積回路の自動レイアウト用セル情報の検証装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 半導体集積回路の自動レイアウトに用いるセ
ル情報をメンバーとして構成された複数のセルライブラ
リ間で、内容の同一性を検証すること。 【構成】 セルライブラリ１，２は、半導体集積回路の
自動レイアウトに用いるセル情報をメンバーとして構成
されている。分類手段３は、セルライブラリ１を構成す
る各メンバーのセル名とセルライブラリ２を構成する各
メンバーのセル名とを比較し、この双方に存在するセル
名をもったセル情報を分類する。この分類されたセル情
報の１組が、第１のバッファ手段４に保持され、これと
同一のセル名を有する１組のセル情報が、第２のバッフ
ァ手段５に保持される。両バッファ手段の内容は、比較
手段で比較される。分類手段３による分類結果および比
較手段６による比較結果は、出力手段７から出力され
る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、半導体集積回路の自動
レイアウト用セル情報の検証装置、特に、半導体集積回
路の自動レイアウトに用いるセル情報をメンバーとする
複数のセルライブラリ間におけるセル情報の同一性を検
証する装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】半導体集積回路のマスクパターンのレイ
アウトには、フルカスタム・レイアウト、標準セル方式
自動レイアウト、ゲートアレイ方式自動レイアウト、な
どの方式が行われている。このような自動レイアウトで
は、１つの論理回路を構成する論理セルや、この論理セ
ルを組み合わせて１つの機能を実現できるようにした機
能ブロックセル、といった基本的なセルを予め用意して
おき、これらのセルを組み合わせることにより所望の集
積回路マスクパターンについてのレイアウト設計を行う
方法が採られている。このようなレイアウト設計を行う
上で必要とされる情報は、各セルについての、大きさ、
端子の名前、端子の位置、の情報（以下、これらの情報
を「セル情報」と呼ぶ）であり、セル内部のマスクパタ
ーン自身は必要とされない。したがって、このセル情報
は、セル内部のマスクパターンを示すデータとは別個に
準備される。通常は、複数のセル情報を１グループにま
とめてセルライブラリとして準備する。設計者は、この
セルライブラリから必要なセルについてのセル情報を抽
出して、所望の集積回路を組み立ててゆく。このような
セルライブラリを用いれば、セル内部のマスクパターン
を考慮することなしに、セル情報のみに基づいて、所望
の集積回路のレイアウト設計を行うことができるため、
効率良い設計が可能になる。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】一般に、ライブラリ内
のセル情報は、多数の設計者によって利用される。しか
も、各設計者は、あるライブラリ内のセル情報を流用し
て、別個のライブラリを作成することが多い。このよう
に、いくつものライブラリが派生していった場合、これ
らの複数のライブラリは、自動レイアウトシステムを起
動するコンピュータによって、必ずしも一元管理される
とは限らない。すると、複数のライブラリ間に不一致が
生じることになる。

【０００４】たとえば、プロセス１の設計者が構築した
ライブラリ１には、Ａ，Ｂ，Ｃというセル名をもつセル
情報が含まれていたとする。一方、プロセス２の設計者
は、このライブラリ１から、セル名Ｂをもつセル情報を
流用し、更に独自のセル情報、すなわち、Ｄ，Ｅという
セル名をもつセル情報を追加し、別のライブラリ２を構
築したものとする。この場合、ライブラリ１はＡ，Ｂ，
Ｃなるセル名をもつセル情報からなり、ライブラリ２は
Ｂ，Ｄ，Ｅなるセル名をもつセル情報からなる。このよ
うに、ライブラリ１と２とでは、構成メンバーが異なる
ことになる。しかも、プロセス２の設計者は、流用した
セル名Ｂのセル情報を、一部修正して用いることがあ
る。たとえば、セルの大きさを変更したり、端子名を変
更したり、端子位置を変更したりする。このような変更
が行われると、同じセル名Ｂをもったセル情報であって
も、ライブラリ１内のものと、ライブラリ２内のものと
では、内容に不一致が生じていることになる。

【０００５】このように、同じ名前がついたセル情報間
で、内容に不一致が生じていると、誤ったレイアウトが
行われる原因となる。すなわち、セル情報の内容と、セ
ル内部のマスクパターンの内容とに不一致が生じること
になり、その結果生じるマスクパターンの誤りは、後の
レイアウト検証工程まで発見されないことになる。した
がって、いくつかのライブラリへ派生していったセル情
報が、相互に一致しているか否かを検証し、これを管理
することは非常に重要である。しかしながら、一般的な
コンピュータのユーティリティとして用意されているフ
ァイル比較プログラムでは、このようなセル情報の内容
の検証を行うことは困難である。

【０００６】そこで本発明は、半導体集積回路の自動レ
イアウトに用いるセル情報をメンバーとする複数のセル
ライブラリ間で、内容の同一性を検証することができる
セル情報の検証装置を提供することを目的とする。

【０００７】

【課題を解決するための手段】本発明は、半導体集積回
路の自動レイアウトに用いるセル情報をメンバーとする
第１のセルライブラリと、同様に構成された第２のセル
ライブラリと、の同一性を検証する装置において、第１
のセルライブラリを構成する各メンバーのセル名と第２
のセルライブラリを構成する各メンバーのセル名とを比
較し、この双方に存在するセル名をもったセル情報を分
類する分類手段と、この分類されたセル情報の１組を、
第１のセルライブラリから抽出して保持する第１のバッ
ファ手段と、第１のバッファ手段に保持されているセル
情報と同一のセル名を有する１組のセル情報を、第２の
セルライブラリから抽出して保持する第２のバッファ手
段と、第１のバッファ手段に保持されているセル情報
と、第２のバッファ手段に保持されているセル情報と、
を比較する比較手段と、分類手段による分類結果および
比較手段による比較結果を出力する出力手段と、を設け
たものである。

【０００８】

【作 用】本発明による検証装置では、分類手段によ
り、２つのセルライブラリに同一セル名で登録されてい
るセル情報が認識される。そして、この同一セル名をも
つセル情報が、一方では、第１のセルライブラリから抽
出されて第１のバッファ手段に保持され、他方では、第
２のセルライブラリから抽出されて第２のバッファ手段
に保持される。最後に、両バッファ手段に保持されたセ
ル情報は、比較手段により比較される。こうして、得ら
れた分類結果および比較結果は出力手段によって出力さ
れる。したがって、設計者は、この出力結果から、２つ
のライブラリの構成メンバーの違い、および、同一セル
名をもつセル情報の内容の違いを認識することができ
る。

【０００９】

【実施例】以下、本発明を図示する実施例に基づいて説
明する。図１は、本発明による検証装置の基本構成を示
すブロック図である。この装置は、第１のセルライブラ
リ１と第２のセルライブラリ２との同一性を検証する機
能を有する。各セルライブラリ１，２には、半導体集積
回路の自動レイアウトに用いる複数のセル情報がメンバ
ーとして登録されている。このセル情報は、各セルにつ
いて、大きさ、端子の名前、端子の位置、を示す情報で
あり、図２に、このセル情報の一例を示す。図２に示す
例は、セル名「Ａ」という１セルについてのセル情報で
ある。１行目には、このセルの名が「Ａ」である旨の記
述がなされ、２行目には、このセルの大きさの単位が示
されている（この例では、１単位が１０μｍ）。続く３
行目に列記された８つの数値は、このセルの４頂点のｘ
ｙ座標値に対応する。すなわち、（０，０） （０，２
０） （１０，２０） （１０，０）という４組の座標
点を４頂点とする矩形がこのセルの輪郭となる。なお、
この座標値は、２行目に示された単位をもつ。４行目
は、これ以降に、セルの外部端子に関する情報が続くこ
とを示す記述である。すなわち、５〜１４行目は、各行
が１つの端子に関する情報を示しており、端子名、端子
の位置および幅、属性、層情報、の順に列記されてい
る。たとえば、５行目は、この端子の名前が「Ｉ１」で
あり、（２，０）なる座標位置に配置されており、幅
「１」をもち、属性は「ＩＮ：入力端子」であり、層情
報は「ＰＯＬＹ：ポリシリコン層」であることを示す。
最後の１５行目は、このセルに関するセル情報の終りを
示す記述である。

【００１０】図２は、１つのセル「Ａ」についてのセル
情報であるが、他のセルについてのセル情報も同様の形
式で記述されている。図１に示すブロック図では、第１
のセルライブラリ１には、Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆ，Ｇ
なる７つのセルについてのセル情報が登録され、第２の
セルライブラリ２には、Ａ，Ｅ，Ｆ，Ｈ，Ｉ，Ｊなる６
つのセルについてのセル情報が登録されている例が示さ
れている。

【００１１】図１に示す検証装置は、第１のセルライブ
ラリ１内のセル情報と、第２のセルライブラリ２内のセ
ル情報との内容を検証するために、次のような構成要素
を有する。まず、分類手段３は、第１のセルライブラリ
１を構成する各メンバーのセル名と第２のセルライブラ
リ２を構成する各メンバーのセル名とを比較し、この双
方に存在するセル名をもったセル情報を分類する機能を
有する。第１のバッファ手段４は、この分類されたセル
情報の１組を、第１のセルライブラリ１から抽出して保
持し、第２のバッファ手段５は、第１のバッファ手段に
保持されているセル情報と同一のセル名を有する１組の
セル情報を、第２のセルライブラリ２から抽出して保持
する。そして、比較手段６は、第１のバッファ手段４に
保持されているセル情報と、第２のバッファ手段５に保
持されているセル情報とを比較し、この比較結果および
分類手段３による分類結果は、出力手段７によって出力
される。以上がこの検証装置の基本構成である。なお、
実際には、この検証装置のハードウエア構成は、コンピ
ュータおよびこれに接続された入出力機器によって実現
され、この検証装置の動作は、このコンピュータが実行
するソフトウエアによって支配される。

【００１２】続いて、この装置の動作を、具体例に即し
て説明する。図１の例において、分類手段３は、第１の
セルライブラリ１および第２のセルライブラリ２からセ
ル名の一覧を抽出し、第１のセルライブラリ１にのみ存
在するセル名（Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｇ）、第２のセルライブラ
リ２にのみ存在するセル名（Ｈ，Ｉ，Ｊ）、そして、双
方に存在するセル名（Ａ，Ｅ，Ｆ）、に分類する。続い
て、第１のバッファ手段４には、双方に存在するセル名
をもったセル情報の１組を、第１のセルライブラリ１か
ら抽出して保持する。たとえば、図２に示すようなセル
「Ａ」のセル情報が保持される。一方、第２のバッファ
手段５には、第１のバッファ手段４に保持されているも
のと同一のセル名をもつセル情報を、第２のセルライブ
ラリ２から抽出して保持する。すなわち、同じくセル
「Ａ」のセル情報が保持される。

【００１３】続いて、これらのセル情報が、比較手段６
によって比較される。たとえば、図２に示すセル情報に
おいて、セルの大きさを比較するには、３行目の「ＯＵ
ＴＬＩＮＥ」に記された数値を両バッファ手段４，５か
ら抜き出して比較すればよい。このとき、２行目の「Ｕ
ＮＩＴ」に記された単位を考慮する必要がある。これ
は、データが完全に一致していなくても、単位系を考慮
すれば実質的に同じ値を示している場合もありうるから
である。また、各端子については、次のような比較処理
を行えばよい。まず、第１のバッファ手段４内から１つ
の端子に関するデータ、たとえば、５行目の「Ｉ１
（２，０，１） ＩＮ， ＰＯＬＹ」なるデータを抽出
し、第２のバッファ手段５内に、同じ端子名「Ｉ１」を
もったデータがあるか否かを検索する。もし、端子名
「Ｉ１」をもつデータがなければ、この端子名について
は不一致が生じていることが認識できる。端子名「Ｉ
１」をもつデータが検索できたら、更に、端子位置、
幅、属性などの各データを比較し、一致していることを
確認する。端子名「Ｉ１」のデータについての比較が完
了したら、別な端子についても同様の比較を行ってゆ
く。こうして全端子についての比較が終れば、このセル
「Ａ」についての比較処理は完了であり、セル「Ｅ」，
「Ｆ」についても同様の比較処理を行う。

【００１４】図３は、出力手段７による出力結果の一例
を示す。前述のように、出力手段７は、分類手段３によ
る分類結果と、比較手段６による比較結果とを出力す
る。この実施例では、分類結果の欄には、まず、ライブ
ラリ１を構成する全セル名と、ライブラリ２を構成する
全セル名とを記述し、続いて、ライブラリ１にのみ存在
するセル、ライブラリ２にのみ存在するセル、そして、
両ライブラリに存在するセル、という分類結果を出力し
ている。この分類結果より、設計者は各ライブラリの構
成の違いを容易に認識することができる。たとえば、ラ
イブラリ１に基づいて、ライブラリ２が作成された場
合、ライブラリ２では、どのセル情報が削除され、どの
セル情報が付加されたかということが一目で確認でき
る。

【００１５】一方、比較結果の欄には、両ライブラリに
存在するセルＡ，Ｅ，Ｆについての比較結果が記述され
ている。この実施例では、セル情報の不一致を、ワーニ
ングとエラーとの２段階に分けて取り扱うようにしてい
る。ワーニングは、実質的には一致しているが、形式的
には不一致となる場合を言い、エラーは、実質的に不一
致の場合を言う。たとえば、図３では、セルＡについて
２つのワーニングが生じた結果が示されている。ワーニ
ングの内容は「セル枠始点不一致」と「単位不一致」で
ある。「セル枠始点不一致」は、セルの大きさを示す座
標値の始点が一致していないことを示す。たとえば、図
２に示すセル情報では、３行目に（０，０） （０，２
０） （１０，２０） （１０，０）という４組の座標
値が記述されており、１組目の座標値（０，０）を始点
として、セルの輪郭矩形が定義されている。同じ輪郭矩
形は、別な始点を用いても定義できる。たとえば、
（０，２０）を始点として、（０，２０） （１０，２
０） （１０，０）（０，０）という４組の座標値でも
記述できる。始点を変えると、形式的には不一致になる
が、実質的なセルの大きさは同じである。そこで、ワー
ニングという比較結果を出力して、設計者に注意を促し
ている。「単位不一致」は、座標値の単位が一致してい
ないことを示す。たとえば、図２に示すセル情報では、
２行目に「ＵＮＩＴ：１０」なる記述があり、座標値の
単位が１０μｍとなっているが、これを５μｍとして、
セル情報の座標値をすべて２倍の値にしても、形式的に
は不一致になるが、実質的な位置は全く同じである。こ
の場合にも、ワーニングという比較結果を出力して注意
を促している。これに対して、エラーは実質的な不一致
を示している。たとえば、一方には端子Ｉ１なる端子情
報が存在するが、他方にはこれが存在しないような場合
は、図３に示すようにエラーが出力される。この他、端
子の位置や属性などが異なっていた場合にも、エラーが
出力されることになる。こうして、比較結果の欄には、
両ライブラリに存在するすべてのセルについての比較結
果が出力される。

【００１６】以上、本発明を図示する一実施例に基づい
て説明したが、本発明はこの実施例のみに限定されるも
のではなく、この他にも種々の態様で実施可能である。
特に、図２に示すセル情報のフォーマットや、図３に示
す分類結果や比較結果のフォーマットは、一例として示
すものであり、どのようなフォーマットを用いてもかま
わない。

【００１７】

【発明の効果】以上のとおり、本発明による検証装置で
は、２つのセルライブラリに同一セル名で登録されてい
るセル情報を認識し、これを比較するようにしたため、
複数のセルライブラリ間での内容の同一性を検証するこ
とができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る検証装置の基本構成を示すブロッ
ク図である。

【図２】セルライブラリに用意された一般的なセル情報
の一例を示す図である。

【図３】図１に示す装置により出力された分類結果およ
び比較結果の一例を示す図である。

【符号の説明】

１…第１のセルライブラリ ２…第２のセルライブラリ ３…分類手段 ４…第１のバッファ手段 ５…第２のバッファ手段 ６…比較手段 ７…出力手段 Ａ〜Ｊ…セル名

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 【請求項１】 半導体集積回路の自動レイアウトに用い
   るセル情報をメンバーとする第１のセルライブラリと、
   同様に構成された第２のセルライブラリと、の同一性を
   検証する装置であって、 前記第１のセルライブラリを構成する各メンバーのセル
   名と前記第２のセルライブラリを構成する各メンバーの
   セル名とを比較し、この双方に存在するセル名をもった
   セル情報を分類する分類手段と、 この分類されたセル情報の１組を、前記第１のセルライ
   ブラリから抽出して保持する第１のバッファ手段と、 前記第１のバッファ手段に保持されているセル情報と同
   一のセル名を有する１組のセル情報を、前記第２のセル
   ライブラリから抽出して保持する第２のバッファ手段
   と、 前記第１のバッファ手段に保持されているセル情報と、
   前記第２のバッファ手段に保持されているセル情報と、
   を比較する比較手段と、 前記分類手段による分類結果および前記比較手段による
   比較結果を出力する出力手段と、 を備えることを特徴とする半導体集積回路の自動レイア
   ウト用セル情報の検証装置。