JPH05136830A - Linear transmission circuit - Google Patents
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- JPH05136830A JPH05136830A JP899591A JP899591A JPH05136830A JP H05136830 A JPH05136830 A JP H05136830A JP 899591 A JP899591 A JP 899591A JP 899591 A JP899591 A JP 899591A JP H05136830 A JPH05136830 A JP H05136830A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明は出力段のFET増幅回路に加えるド
レイン電圧を電圧制御データに従つて可変にする線形送
信回路に関し、どのような特性のFET増幅回路に対し
ても正確な電圧制御データを提供でき、かつ該データの
温度補償が行えると共に、全体としてのLSI化が容易
な線形送信回路の提供を目的とする。
【構成】 送信信号I(t)及びQ(t)に基づきその
直交振幅変調出力の包絡線に比例する疑似包絡線データ
SEを生成し、このデータSEでRAM500の電圧制
御データRDを読み出すと共に、このデータRDでFE
T増幅回路200に加えるドレイン電圧VDDを制御す
る。一方、この疑似包絡線データSEと出力信号O
(t)より検出した包絡線データとの差を求めると共
に、該差に応じて前記RAM500の電圧制御データR
Dを補正したデータWDを求めてこれをRAM500の
前記疑似包絡線データSEが指すアドレスに書き込む。
(57) [Summary] [Object] The present invention relates to a linear transmission circuit that makes a drain voltage applied to an output stage FET amplifier circuit variable according to voltage control data, and is accurate for any FET amplifier circuit of any characteristics. It is an object of the present invention to provide a linear transmission circuit which can provide various voltage control data, can perform temperature compensation of the data, and can be easily integrated into an LSI as a whole. A pseudo envelope data SE proportional to the envelope of the quadrature amplitude modulation output is generated based on the transmission signals I (t) and Q (t), and the voltage control data RD of the RAM 500 is read with this data SE. FE with this data RD
The drain voltage V DD applied to the T amplifier circuit 200 is controlled. On the other hand, the pseudo envelope data SE and the output signal O
The difference from the envelope data detected from (t) is obtained, and the voltage control data R of the RAM 500 is calculated according to the difference.
Data WD in which D is corrected is obtained, and this is written in the address indicated by the pseudo envelope data SE of the RAM 500.
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は線形送信回路に関し、更
に詳しくは、出力段のFET増幅回路に加えるドレイン
電圧を送信信号の包絡線変動に応じて可変にする線形送
信回路に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a linear transmission circuit, and more particularly to a linear transmission circuit which makes a drain voltage applied to an FET amplifier circuit at an output stage variable according to envelope fluctuation of a transmission signal.
【0002】今日、携帯電話等の移動無線装置において
は、電池で動作する必要から、その出力段で効率の高い
電力増幅を行うことが要望されている。In mobile radio devices such as mobile phones, it is nowadays necessary to carry out power amplification with high efficiency at the output stage because they must be operated by batteries.
【0003】[0003]
【従来の技術】図6は従来の線形送信回路の回路図で、
図において1はカットオフ周波数がロールオフ整形又は
ルートロールオフ整形された送信ベースバンド信号I
(t)及びQ(t)によりキャリア信号cosωc t及
びsinωc tを直交振幅変調(QAM)する直交振幅
変調回路、2は直交振幅変調回路1の出力変調信号M
(t)を後述の誤差信号DEに従つて減衰させる可変減
衰器、3は可変減衰器2の出力信号M(t)´を増幅す
るFET増幅回路、4はFET増幅回路3に加えるドレ
イン電圧VDDを後述の電圧制御データRDに従つて変化
させる可変電圧回路、5は前記ベースバンド信号I
(t)及びQ(t)に基づいてその直交振幅変調出力の
包絡線に比例する疑似包絡線データSEを生成する包絡
線生成回路、6は前記疑似包絡線データSEに基づくイ
ンパルス信号を濾波等して疑似包絡線信号SE´を形成
する検波器、7はFET増幅回路3の出力信号O(t)
をダイオード検波して包絡線信号OE´を出力する検波
器、8は検波器6及び7の両出力の差を増幅した誤差信
号DEを出力する演算増幅器、9は疑似包絡線データS
Eをアドレス入力として対応する電圧制御データRDを
読み出すROMである。2. Description of the Related Art FIG. 6 is a circuit diagram of a conventional linear transmission circuit.
In the figure, 1 is a transmission baseband signal I whose cutoff frequency is roll-off shaped or root-rolled-off shaped.
(T) and Q (t) by quadrature amplitude modulation of the carrier signal cos .omega c t and sinω c t (QAM) is Quadrature Amplitude Modulation circuit, 2 is the output modulated signal of the quadrature amplitude modulation circuit 1 M
Variable attenuator for attenuating (t) according to an error signal DE described later, 3 is an FET amplifier circuit for amplifying the output signal M (t) 'of the variable attenuator 2, and 4 is a drain voltage V applied to the FET amplifier circuit 3. A variable voltage circuit 5 for changing DD according to voltage control data RD described later is used for the baseband signal I.
An envelope generating circuit for generating pseudo envelope data SE proportional to the envelope of the quadrature amplitude modulation output based on (t) and Q (t), and 6 filtering an impulse signal based on the pseudo envelope data SE. And a detector 7 for forming a pseudo envelope signal SE ′, and 7 is an output signal O (t) of the FET amplifier circuit 3.
Is detected by diode to output an envelope signal OE ', 8 is an operational amplifier which outputs an error signal DE obtained by amplifying a difference between both outputs of the detectors 6 and 7, and 9 is a pseudo envelope data S.
The ROM is a ROM for reading the corresponding voltage control data RD using E as an address input.
【0004】直交振幅変調回路1は、具体的には{I
(t)cosωc t−Q(t)sinωc t}の直交振
幅変調を行う回路であり、その出力変調信号M(t)は
{(I 2 (t)+Q2 (t))1/2 cos(ωc t+φ
(t))}と表せ、但し、φ(t)はtan-1(Q
(t)/I(t))で、このうちの(I2 (t)+Q2
(t))1/2 は信号I(t)とQ(t)との合成ベクト
ルの大きさを示し、かつ出力変調信号M(t)の包絡線
信号の振幅に対応している。The quadrature amplitude modulation circuit 1 is specifically, {I
(T) cosωc t-Q (t) sinωc orthogonal vibration of t}
The output modulation signal M (t) is a circuit that performs width modulation.
{(I 2 (T) + Q2 (T))1/2 cos (ωc t + φ
(T))}, where φ (t) is tan-1(Q
(T) / I (t)), of which (I2 (T) + Q2
(T))1/2 Is the combined vector of the signals I (t) and Q (t)
And the envelope of the output modulation signal M (t).
It corresponds to the amplitude of the signal.
【0005】図7はπ/4シフトQPSKを用いた場合
の図6の変調信号ベクトルの遷移を説明する図で、ここ
ではI,Qを座標軸とするQPSK(各信号点を「〇」
で表す)と、I´,Q´を座標軸とするQPSK(各信
号点を「×」で表す)とが1ビット毎に交互に行われ
る。例えば、I,Qを座標軸とする(1,1)の信号点
からI´,Q´を座標軸とする(−1,0)の信号点に
遷移した時は、その変調信号ベクトルは図7のから
を経てに遷移し、これに従つて包絡線信号の振幅も変
化する。FIG. 7 is a diagram for explaining the transition of the modulation signal vector of FIG. 6 when the π / 4 shift QPSK is used. Here, QPSK having I and Q as coordinate axes (each signal point is “◯”).
) And QPSK (representing each signal point by “x”) having I ′ and Q ′ as coordinate axes are alternately performed for each bit. For example, when a signal point of (1,1) having I and Q as coordinate axes transits to a signal point of (-1,0) having I ′ and Q ′ as coordinate axes, the modulation signal vector thereof is as shown in FIG. And the amplitude of the envelope signal changes accordingly.
【0006】図8は図7の直交振幅変調信号の一例を示
す図で、この直交振幅変調信号の包絡線の振幅は図7の
変調信号ベクトルの遷移に伴って変化することが解る。
そして、この包絡線の最大振幅と最小振幅との差は例え
ば出力において略14dBである。FIG. 8 is a diagram showing an example of the quadrature amplitude modulation signal of FIG. 7, and it can be seen that the amplitude of the envelope of this quadrature amplitude modulation signal changes with the transition of the modulation signal vector of FIG.
The difference between the maximum amplitude and the minimum amplitude of this envelope is, for example, about 14 dB at the output.
【0007】図9は従来のFET増幅回路の回路図で、
Cはカップリングコンデンサ、Rはゲートバイアス抵
抗、Qはガリウム砒素(Ga As)等で作られたディプ
レッション型のNチャネルMOSFET、Lはチョーク
である。FIG. 9 is a circuit diagram of a conventional FET amplifier circuit.
C is the coupling capacitor, R represents the gate bias resistor, Q is a depletion type N-channel MOSFET made of gallium arsenide (G a A s), etc., L is a choke.
【0008】図において、FET増幅回路3をAB級又
はB級で動作させると共に、該FET増幅回路3に加え
るドレイン電圧VDDを送信信号O(t)の包絡線変動に
応じて可変にすれば、該FET増幅回路3からは必要な
出力信号電力P0 が極めて高い効率で得られる。そこ
で、通常はこのドレイン電圧VDDは直交振幅変調信号M
(t)の包絡線に比例するように制御されるが、図10
の一例のFET素子のドレイン特性に示すように、該F
ET素子に加えるドレイン電圧VDDが大きい動作領域で
は、そのドレイン電流ID (出力電力PO )とドレイン
電圧VDDとが比例関係にないため、これを比例関係に補
正する必要がある。In the figure, if the FET amplifier circuit 3 is operated in class AB or class B, and the drain voltage V DD applied to the FET amplifier circuit 3 is made variable according to the envelope variation of the transmission signal O (t). The required output signal power P 0 can be obtained from the FET amplifier circuit 3 with extremely high efficiency. Therefore, this drain voltage V DD is usually the quadrature amplitude modulation signal M.
It is controlled so as to be proportional to the envelope of (t).
As shown in the drain characteristic of the FET element of
In the operating region where the drain voltage V DD applied to the ET element is large, the drain current I D (output power P O ) and the drain voltage V DD are not in a proportional relationship, so it is necessary to correct this in a proportional relationship.
【0009】従来は、図6のROM9によってドレイン
電圧VDDと出力電力PO とを比例させるような電圧制御
データRDを得ていた。しかし、FET増幅回路3のド
レイン電圧−出力電力特性は使用するFET素子毎に異
なるので、従来はFET素子毎に異なるROMが必要に
なり、製造時、試験時の工数が多くなっていた。Conventionally, the ROM 9 shown in FIG. 6 obtains the voltage control data RD that makes the drain voltage V DD and the output power P O proportional. However, since the drain voltage-output power characteristics of the FET amplifier circuit 3 are different for each FET element used, a different ROM is conventionally required for each FET element, and the man-hours at the time of manufacturing and testing are large.
【0010】また、FET素子は温度により特性が変化
するが、従来はROMを使用しているために電圧制御デ
ータRDが固定されてしまい、該電圧制御データRDの
温度補償が行えなかった。Although the characteristics of the FET element change depending on the temperature, the voltage control data RD is fixed because the ROM is conventionally used, and the temperature compensation of the voltage control data RD cannot be performed.
【0011】また、このような線形送信回路をLSI化
して装置を小形化しようとしても、従来はROMを使用
しているためにチップ毎に異なるROMを実装するのが
困難である上、ROMの実装密度があまり高くできない
こともあって、装置の小形化を困難にしていた。Further, even if an attempt is made to miniaturize the device by making such a linear transmission circuit into an LSI, it is difficult to mount a different ROM for each chip because a ROM is conventionally used. Since the packaging density cannot be increased so much, it has been difficult to make the device compact.
【0012】[0012]
【発明が解決しようとする課題】上記のように従来の線
形送信回路では、電圧制御データRDをROM9から得
ているので、FET素子毎に異なるROMが必要にな
り、また温度変化に対応できず、さらにLSI化が困難
であった。As described above, in the conventional linear transmission circuit, since the voltage control data RD is obtained from the ROM 9, a different ROM is required for each FET element, and it is not possible to cope with temperature changes. Further, it was difficult to make an LSI.
【0013】本発明の目的は、どのような特性のFET
増幅回路に対しても正確な電圧制御データを提供でき、
かつ該データの温度補償が行えると共に、全体としての
LSI化が容易な線形送信回路を提供することにある。The object of the present invention is to obtain a FET having any characteristics.
It can provide accurate voltage control data to the amplifier circuit,
Another object of the present invention is to provide a linear transmission circuit that can perform temperature compensation of the data and can be easily integrated into an LSI.
【0014】[0014]
【課題を解決するための手段】上記の課題は図1の構成
により解決される。即ち、本発明の線形送信回路は、直
交するキャリア信号i(t)及びq(t)を送信ベース
バンド信号I(t)及びQ(t)で直交振幅変調する直
交振幅変調回路100と、該直交振幅変調回路100の
出力変調信号M(t)を増幅するFET増幅回路200
と、該FET増幅回路200に加えるドレイン電圧VDD
を電圧制御データRDに従つて変化する可変電圧回路3
00とを備える線形送信回路において、前記送信ベース
バンド信号I(t)及びQ(t)に基づいてその直交振
幅変調出力の包絡線に比例する疑似包絡線データSEを
生成する包絡線生成回路400と、この疑似包絡線デー
タSEをアドレス入力として該アドレスの電圧制御デー
タRDを読み出すRAM500と、前記疑似包絡線デー
タSEと前記FET増幅回路200の出力信号O(t)
より検出した該出力信号O(t)の包絡線に比例する包
絡線データとの差を求めると共に、該差に応じて前記R
AM500から読み出した電圧制御データRDを補正し
たデータWDを該RAM500に書き込むRAM更新回
路600とを備える。The above problems can be solved by the structure shown in FIG. That is, the linear transmission circuit of the present invention includes a quadrature amplitude modulation circuit 100 that performs quadrature amplitude modulation on quadrature carrier signals i (t) and q (t) with transmission baseband signals I (t) and Q (t). FET amplifier circuit 200 for amplifying the output modulation signal M (t) of the quadrature amplitude modulation circuit 100.
And the drain voltage V DD applied to the FET amplification circuit 200
The variable voltage circuit 3 that changes according to the voltage control data RD.
In the linear transmission circuit including 00, an envelope generation circuit 400 that generates pseudo envelope data SE proportional to the envelope of the quadrature amplitude modulation output based on the transmission baseband signals I (t) and Q (t). A RAM 500 for reading the voltage control data RD of the address using the pseudo envelope data SE as an address input; the pseudo envelope data SE and the output signal O (t) of the FET amplifier circuit 200;
The difference from the envelope data proportional to the envelope of the detected output signal O (t) is obtained, and the R
The RAM update circuit 600 is provided for writing the data WD obtained by correcting the voltage control data RD read from the AM 500 into the RAM 500.
【0015】[0015]
【作用】本発明の線形送信回路においては、送信ベース
バンド信号I(t)及びQ(t)に基づいてその直交振
幅変調出力の包絡線に比例する疑似包絡線データSEを
生成し、該生成した疑似包絡線データSEをRAM50
0のアドレス入力として該アドレスの電圧制御データR
Dを読み出すと共に、前記生成した疑似包絡線データS
EとFET増幅回路200の出力信号O(t)より検出
した該出力信号O(t)の包絡線に比例する包絡線デー
タとの差を求め、かつこの差に応じて前記RAM500
から読み出した電圧制御データRDを補正したデータW
Dを求めることにより、この補正データWDをRAM5
00に書き込んで電圧制御データRDの更新を行う。In the linear transmission circuit of the present invention, the pseudo envelope data SE proportional to the envelope of the quadrature amplitude modulation output is generated based on the transmission baseband signals I (t) and Q (t), and the generation is performed. The pseudo envelope data SE that was created is stored in the RAM 50.
As the address input of 0, the voltage control data R of the address
D is read out and the generated pseudo envelope data S is generated.
The difference between E and the envelope data proportional to the envelope of the output signal O (t) detected from the output signal O (t) of the FET amplifier circuit 200 is obtained, and the RAM 500 is calculated according to the difference.
Data W obtained by correcting the voltage control data RD read from
By obtaining D, the correction data WD is stored in the RAM 5
00 to update the voltage control data RD.
【0016】好ましくは、この電圧制御データRDの更
新処理を、本線形送信回路の電源投入時には、生成した
疑似包絡線データSEと出力から検出した包絡線データ
との差が略零になるまで集中的に行い、また本線形送信
回路の動作中は、該更新処理を間欠的に行うことによ
り、RAM500の電圧制御データRDの内容は常に本
線形送信回路の使用環境に応じた内容に収束し、これに
よりFET増幅回路200におけるドレイン電圧−出力
電力特性は常時補償された状態に保たれる。Preferably, the updating process of the voltage control data RD is concentrated when the power of the linear transmission circuit is turned on until the difference between the generated pseudo envelope data SE and the envelope data detected from the output becomes substantially zero. By performing the update process intermittently during the operation of the linear transmission circuit, the content of the voltage control data RD of the RAM 500 always converges to the content according to the usage environment of the linear transmission circuit. As a result, the drain voltage-output power characteristic of the FET amplifier circuit 200 is always kept in a compensated state.
【0017】[0017]
【実施例】以下、添付図面に従つて本発明による実施例
を詳細に説明する。図2は実施例の線形送信回路の回路
図で、全図を通して同一符号は同一又は相当部分を示
し、1は直交振幅変調回路(図1の100)、2は可変
減衰器、3はFET増幅回路(同200)、4は可変電
圧回路(同300)、5は包絡線生成回路(同40
0)、6は検波器、7は検波器、8は演算増幅器、10
は後述の書込制御回路からの制御信号S1に従つて演算
増幅器8の出力と所定電圧Vr とを切り替えるスイッチ
回路、11は疑似包絡線データSEをアドレス入力とし
て該アドレスの電圧制御データRDを読み出すRAM
(同500)、12は疑似包絡線データSEと出力から
検出した包絡線データOEとの差△Eを求めると共に、
該差△EとRAM11から読み出した電圧制御データR
Dとの和WDを該RAM11に書き込むRAM更新回路
(同600)である。Embodiments of the present invention will be described in detail below with reference to the accompanying drawings. FIG. 2 is a circuit diagram of a linear transmission circuit of the embodiment, in which the same reference numerals denote the same or corresponding parts throughout the drawings, 1 is a quadrature amplitude modulation circuit (100 in FIG. 1), 2 is a variable attenuator, and 3 is FET amplification. Circuit (same as 200), 4 variable voltage circuit (same 300), 5 envelope generation circuit (same 40)
0), 6 are detectors, 7 is detector, 8 is operational amplifier, 10
Is a switch circuit for switching between the output of the operational amplifier 8 and the predetermined voltage V r according to a control signal S1 from a write control circuit, which will be described later, and 11 is a voltage control data RD of the address using the pseudo envelope data SE as an address input. RAM to read
(Same as 500), 12 obtains the difference ΔE between the pseudo envelope data SE and the envelope data OE detected from the output, and
The difference ΔE and the voltage control data R read from the RAM 11
It is a RAM updating circuit (600 of the same) for writing the sum WD of D to the RAM 11.
【0018】またRAM更新回路12において、13は
A/D変換器(A/D)、14は減算器、15は加算
器、16は書込制御回路である。図3は実施例のRAM
更新回路の動作タイミングチャートで、まず、包絡線生
成回路5は、信号I(t)及びQ(t)を所定周期でサ
ンプリングしていると共に、これらの直交振幅変調出力
の包絡線に比例する疑似包絡線データSEn を、例えば
{K×(I2 (t)+Q2 (t))1/2 }を行う演算回
路で求め、これをタイミング信号TSと共に出力する。
ここで、定数Kは例えばFET増幅回路3の電圧増幅度
である。In the RAM updating circuit 12, 13 is an A / D converter (A / D), 14 is a subtractor, 15 is an adder, and 16 is a write control circuit. FIG. 3 shows the RAM of the embodiment
In the operation timing chart of the update circuit, first, the envelope generation circuit 5 samples the signals I (t) and Q (t) at a predetermined cycle, and at the same time, generates a pseudo proportional to the envelope of these quadrature amplitude modulation outputs. Envelope data SE n is obtained by an arithmetic circuit that performs, for example, {K × (I 2 (t) + Q 2 (t)) 1/2 } and outputs it together with the timing signal TS.
Here, the constant K is, for example, the voltage amplification degree of the FET amplifier circuit 3.
【0019】これにより、RAM11からはアドレスS
En に記憶されていた電圧制御データRDn が読み出さ
れ、可変電圧回路4は該電圧制御データRDn に対応す
るドレイン電圧VDDn を出力し、FET増幅回路3は該
ドレイン電圧VDDn の下で変調信号M(t)´を増幅
し、検波器7からはこの時点の出力信号O(t)に対応
する検波信号OE´が得られる。そして、A/D変換器
13はこの検波信号OE´をA/D変換して変換出力O
En を出力し、減算器14は疑似包絡線データSEn と
該変換出力OEn との差△En (=SEn −OEn )を
出力する。そして、この時点の電圧制御データRDn が
FET増幅回路3におけるドレイン電圧−出力電圧特性
を補償できていない場合は前記の差△En は零でなく、
加算器15はこの差△En と現時点の電圧制御データR
Dn との和WDn (=RDn +△E n )を求め、そし
て、この和WDn は書込制御回路16からの書込パルス
信号WPn によってRAM11のアドレスSEn に書き
込まれる。これにより、RAM11のアドレスSEn の
電圧制御データRDはこれまでのRDn からRDn ´
(=RDn +△En )に更新される。As a result, from the RAM 11 the address S
En Control data RD stored inn Read out
The variable voltage circuit 4 controls the voltage control data RD.n Corresponds to
Drain voltage VDDn And the FET amplifier circuit 3 outputs
Drain voltage VDDn The modulated signal M (t) 'under
The output signal O (t) from the detector 7 at this time
A detection signal OE 'is obtained. And A / D converter
Reference numeral 13 denotes A / D conversion of this detection signal OE ′ and conversion output O
En And the subtractor 14 outputs the pseudo envelope data SEn When
The conversion output OEn Difference with ΔEn (= SEn -OEn )
Output. Then, the voltage control data RD at this pointn But
Drain voltage-output voltage characteristics in the FET amplifier circuit 3
If the above cannot be compensated, the above difference ΔEn Is not zero,
The adder 15 has this difference ΔE.n And current voltage control data R
Dn Sum WDn (= RDn + △ E n ) And then
And this sum WDn Is a write pulse from the write control circuit 16
Signal WPn By the address SE of RAM11n Write on
Get caught. As a result, the address SE of the RAM 11n of
The voltage control data RD is the previous RDn To RDn ´
(= RDn + △ En ) Is updated.
【0020】こうして、アドレスSEn の電圧制御デー
タRDが更新されると、可変電圧回路4はFET増幅回
路3に加えるドレイン電圧VDDをこれまでのVDDn から
VDD n ´に変更し、これにより出力信号O(t)の検波
信号OE´も図示の如く変化する。そして、A/D変換
器13は変化した検波信号OE´のA/D変換出力OE
n ´を出力するが、この例では、疑似包絡線データSE
n と変換出力OEn ´とが等しくなったために、減算器
14はこれらの差△En ´=0を出力する。そして、加
算器15はこの差0とこの時点の電圧制御データRDn
´との和WDn´(=RDn ´+0)を求めるが、書込
制御回路16は△En ´=0を検出したことにより書込
パルス信号WPn ´を出力しないので、このアドレスS
En におけるそれ以上の更新は行われないことになる。In this way, when the voltage control data RD of the address SE n is updated, the variable voltage circuit 4 changes the drain voltage V DD applied to the FET amplifier circuit 3 from the previous V DDn to V DD n ′. Accordingly, the detection signal OE 'of the output signal O (t) also changes as shown in the figure. Then, the A / D converter 13 outputs the A / D conversion output OE of the changed detection signal OE ′.
n'is output, but in this example, the pseudo envelope data SE
Since n is equal to the converted output OE n ′, the subtractor 14 outputs the difference ΔE n ′ = 0. Then, the adder 15 receives the difference 0 and the voltage control data RD n at this time.
'Sum WD n and' (= RD n '+ 0) to determine, but the write control circuit 16 △ E n' does not output the write pulse signal WP n 'by detecting the = 0, the address S
No further updates in E n will be made.
【0021】こうして、もし包絡線生成回路5による信
号I(t)及びQ(t)のサンプリング周期が上記のR
AM11の1更新サイクルよりも十分に長く取れる場合
には、1サンプリング期間中に3サイク以上の更新処理
を行うことも可能である。こうすれば1サンプリング期
間中に殆どの電圧制御データRDはその補償値に収束す
ることになる。また1サンプリング期間中に1サイクル
の更新処理しか行えないような場合でも、本線形送信回
路の動作中には、同一の疑似包絡線データSE n が何度
も発生するから、ある期間にわたって上記の更新処理を
行えば、やがてアドレスSEn の電圧制御データRDは
その補償値に収束する。In this way, if the envelope generation circuit 5
The sampling periods of the signals I (t) and Q (t) are R above.
When it can be taken sufficiently longer than one update cycle of AM11
Update processing of 3 cycles or more during 1 sampling period
It is also possible to do. In this way, one sampling period
Most of the voltage control data RD converges to its compensation value during the period.
Will be. Also, one cycle during one sampling period
Even if only the update process of
During the operation of the road, the same pseudo envelope data SE n How many times
Will also occur, so the update process above for a certain period
If you do, address SEn The voltage control data RD of
It converges to the compensation value.
【0022】さらに、包絡線生成回路5が次の信号I
(t)及びQ(t)をサンプリングしてその疑似包絡線
データSEn+1 を出力すると、上記と同様にしてRAM
11のアドレスSEn+1 の電圧制御データRDn+1 が更
新され、こうして本線形送信回路の動作中に発生する全
ての疑似包絡線データSEに対応してRAM11のアド
レスSEの電圧制御データRDが更新される。Further, the envelope generating circuit 5 outputs the following signal I
When (t) and Q (t) are sampled and the pseudo envelope data SE n + 1 is output, the RAM is processed in the same manner as described above.
The voltage control data RD n + 1 of the address SE n + 1 of 11 is updated, and thus the voltage control data RD of the address SE of the RAM 11 corresponding to all the pseudo envelope data SE generated during the operation of the linear transmission circuit. Will be updated.
【0023】なお、上記のRAM更新動作を開始するに
当たり、書込制御回路16が外部からの制御信号CS1
により付勢されると、該書込制御回路16はまず制御信
号S1を出力してスイッチ回路10の接点cを接点bに
接続し、これにより可変減衰器2に所定電圧Vr を加え
てその減衰量を一定にし、これにより該可変減衰器2が
上記の電圧制御データRDの更新処理に影響を与えない
ようにしている。そして、電圧制御データRDの更新処
理が終了し、書込制御回路16が外部からの制御信号C
S1により消勢されると、該書込制御回路16は制御信
号S1を出力してスイッチ回路10の接点cを接点aに
接続し、以後は図6の回路と同様の動作モードで動作す
る。At the time of starting the RAM updating operation, the write control circuit 16 causes the external control signal CS1.
When it is energized by the write control circuit 16, the write control circuit 16 first outputs the control signal S1 to connect the contact c of the switch circuit 10 to the contact b, thereby applying a predetermined voltage V r to the variable attenuator 2 and The amount of attenuation is made constant so that the variable attenuator 2 does not affect the updating process of the voltage control data RD. Then, the updating process of the voltage control data RD ends, and the write control circuit 16 receives the control signal C from the outside.
When the write control circuit 16 is turned off by S1, the write control circuit 16 outputs the control signal S1 to connect the contact c of the switch circuit 10 to the contact a, and thereafter operates in the same operation mode as the circuit of FIG.
【0024】図4は他の実施例のRAM更新回路の回路
図で、図2と同一符号は同一又は相当部分を示し、17
はRAM更新回路、18は後述の書込制御回路からの制
御信号S2に従つて加算器15の出力と疑似包絡線デー
タSEとを切り替えるスイッチ回路、19は書込制御回
路である。FIG. 4 is a circuit diagram of a RAM updating circuit according to another embodiment, in which the same reference numerals as those in FIG.
Is a RAM update circuit, 18 is a switch circuit for switching between the output of the adder 15 and the pseudo envelope data SE according to a control signal S2 from a write control circuit described later, and 19 is a write control circuit.
【0025】例えば本線形送信回路に電源投入したこと
により書込制御回路19が制御信号CS1で付勢される
と、該書込制御回路19はまず制御信号S2を出力して
スイッチ回路18の接点cと接点bとを接続し、これに
より疑似包絡線データSEはRAM11のアドレス入力
端子ADDとデータ入力端子DIとに入力する。When the write control circuit 19 is energized by the control signal CS1 by turning on the power supply to the linear transmission circuit, for example, the write control circuit 19 first outputs the control signal S2 to contact the switch circuit 18. By connecting c and the contact b, the pseudo envelope data SE is input to the address input terminal ADD and the data input terminal DI of the RAM 11.
【0026】従つて、その後に包絡線発生回路5から疑
似包絡線データSEが発生した時は、RAM11の疑似
包絡線データSEが指すアドレスにその疑似包絡線デー
タSEが書き込まれることとなり、これによりRAM1
1はとりあえず疑似包絡線データSEと同値の電圧制御
データRDを記憶することになる。Therefore, when the pseudo envelope data SE is subsequently generated from the envelope generating circuit 5, the pseudo envelope data SE is written to the address indicated by the pseudo envelope data SE in the RAM 11. RAM1
In the meantime, 1 stores the voltage control data RD having the same value as the pseudo envelope data SE.
【0027】なお、その際には、実際の通信で発生する
全ての疑似包絡線データSEが所定期間内に集中的に発
生するように、即ち、所定期間内に符号(I,Q)の全
ての組み合わせが生じるよう外部で符号系列を発生する
のが好ましい。これにより、RAM11の全使用エリア
は電源投入時に初期化されるので、その後に行われる図
3について述べたRAM11の更新時間は著しく短縮さ
れることになる。At this time, all the pseudo-envelope data SE generated in the actual communication are intensively generated within a predetermined period, that is, all the codes (I, Q) are generated within the predetermined period. It is preferable to generate the code sequence externally so that the combination of As a result, the entire use area of the RAM 11 is initialized when the power is turned on, so that the subsequent update time of the RAM 11 described with reference to FIG. 3 is significantly shortened.
【0028】書込制御回路19は、外部からの制御信号
CS1により消勢されると制御信号S2を出力してスイ
ッチ回路18の接点cを接点aに接続し、以後は図2の
回路と同様の動作モードで動作する。When the write control circuit 19 is deenergized by the control signal CS1 from the outside, it outputs the control signal S2 to connect the contact c of the switch circuit 18 to the contact a, and thereafter, the same as the circuit of FIG. It operates in the operation mode of.
【0029】図5は他の実施例のRAM更新回路の回路
図で、20は外部からの制御信号CS2に従つてRAM
更新回路12又は17に加える電源VCCを開閉するスイ
ッチ回路である。FIG. 5 is a circuit diagram of a RAM updating circuit of another embodiment, in which 20 is a RAM according to a control signal CS2 from the outside.
It is a switch circuit that opens and closes the power supply V CC applied to the update circuit 12 or 17.
【0030】図において、制御信号CS2を手操作又は
タイマ等により間欠的にONとすれば、RAM更新回路
12又は17には電圧制御データRDの更新を行なう時
のみ電源VCCを供給でき、これによりRAM更新回路1
2又は17による電力消費が節約される。[0030] In view, if the control signal CS2 by manual operation or a timer or the like and intermittently ON, the RAM update circuit 12 or 17 can be supplied only power V CC when updating the voltage control data RD, which RAM update circuit 1
Power consumption by 2 or 17 is saved.
【0031】[0031]
【発明の効果】以上述べた如く本発明によれば、疑似包
絡線データSEをアドレス入力として該アドレスの電圧
制御データRDを読み出すRAM500と、この疑似包
絡線データSEとFET増幅回路200の出力信号O
(t)より検出した該出力信号O(t)の包絡線に比例
する包絡線データとの差を求めると共に、該差に応じて
前記RAM500から読み出した電圧制御データRDを
補正したデータWDを該RAM500に書き込むRAM
更新回路600とを備えるので、FET増幅回路200
のドレイン電圧−出力電力特性がFET素子毎に異なっ
ても、また温度や経時変化等で変化しても、該ドレイン
電圧−出力電力特性が自動的に補償される効果がある。As described above, according to the present invention, the RAM 500 for reading the voltage control data RD of the pseudo envelope data SE as an address input, the pseudo envelope data SE and the output signal of the FET amplifier circuit 200. O
The difference from the envelope data proportional to the envelope of the output signal O (t) detected from (t) is obtained, and the data WD obtained by correcting the voltage control data RD read from the RAM 500 according to the difference is obtained. RAM to write to RAM500
Since the update circuit 600 is provided, the FET amplifier circuit 200
Even if the drain voltage-output power characteristic of the FET is different for each FET element, or changes due to temperature, aging, etc., the drain voltage-output power characteristic is automatically compensated.
【図1】図1は本発明の原理的構成図である。FIG. 1 is a principle configuration diagram of the present invention.
【図2】図2は実施例の線形送信回路の回路図である。FIG. 2 is a circuit diagram of a linear transmission circuit according to an embodiment.
【図3】図3は実施例のRAM更新回路の動作タイミン
グチャートである。FIG. 3 is an operation timing chart of the RAM updating circuit according to the embodiment.
【図4】図4は他の実施例のRAM更新回路の回路図で
ある。FIG. 4 is a circuit diagram of a RAM updating circuit according to another embodiment.
【図5】図5は他の実施例のRAM更新回路の回路図で
ある。FIG. 5 is a circuit diagram of a RAM updating circuit according to another embodiment.
【図6】図6は従来の線形送信回路の回路図である。FIG. 6 is a circuit diagram of a conventional linear transmission circuit.
【図7】図7はπ/4シフトQPSKを用いた場合の図
6の変調信号ベクトルの遷移を説明する図である。FIG. 7 is a diagram for explaining transition of the modulation signal vector of FIG. 6 when using π / 4 shift QPSK.
【図8】図8は図7の直交振幅変調信号の一例を示す図
である。FIG. 8 is a diagram showing an example of the quadrature amplitude modulation signal of FIG. 7.
【図9】図9は従来のFET増幅回路の回路図である。FIG. 9 is a circuit diagram of a conventional FET amplifier circuit.
【図10】図10は一例のFET素子のドレイン特性を
示す図である。FIG. 10 is a diagram showing drain characteristics of an example FET element.
100 直交振幅変調回路 200 FET増幅回路 300 可変電圧回路 400 包絡線生成回路 500 RAM 600 RAM更新回路 100 quadrature amplitude modulation circuit 200 FET amplification circuit 300 variable voltage circuit 400 envelope generation circuit 500 RAM 600 RAM update circuit
Claims (3)
(t)を送信ベースバンド信号I(t)及びQ(t)で
直交振幅変調する直交振幅変調回路(100)と、該直
交振幅変調回路(100)の出力変調信号M(t)を増
幅するFET増幅回路(200)と、該FET増幅回路
(200)に加えるドレイン電圧VDDを電圧制御データ
RDに従つて変化する可変電圧回路(300)とを備え
る線形送信回路において、 前記送信ベースバンド信号I(t)及びQ(t)に基づ
いてその直交振幅変調出力の包絡線に比例する疑似包絡
線データSEを生成する包絡線生成回路(400)と、 前記疑似包絡線データSEをアドレス入力として該アド
レスの電圧制御データRDを読み出すRAM(500)
と、 前記疑似包絡線データSEと前記FET増幅回路(20
0)の出力信号O(t)より検出した該出力信号O
(t)の包絡線に比例する包絡線データとの差を求める
と共に、該差に応じて前記RAM(500)から読み出
した電圧制御データRDを補正したデータWDを該RA
M(500)に書き込むRAM更新回路(600)とを
備えることを特徴とする線形送信回路。1. Orthogonal carrier signals i (t) and q
A quadrature amplitude modulation circuit (100) that quadrature amplitude modulates (t) with transmission baseband signals I (t) and Q (t), and an output modulation signal M (t) of the quadrature amplitude modulation circuit (100) is amplified. A linear transmission circuit comprising a FET amplification circuit (200) and a variable voltage circuit (300) that changes a drain voltage V DD applied to the FET amplification circuit (200) according to voltage control data RD, wherein the transmission baseband signal An envelope generation circuit (400) for generating pseudo envelope data SE proportional to the envelope of the quadrature amplitude modulation output based on I (t) and Q (t), and the pseudo envelope data SE as an address input. RAM (500) for reading the voltage control data RD of the address
And the pseudo envelope data SE and the FET amplifier circuit (20
0) output signal O (t) detected from the output signal O (t)
The difference from the envelope data proportional to the envelope of (t) is obtained, and the data WD obtained by correcting the voltage control data RD read from the RAM (500) according to the difference is used as the RA.
A linear transmission circuit comprising a RAM update circuit (600) for writing to M (500).
疑似包絡線データSEをアドレス入力とする前記RAM
(500)に該疑似包絡線データSEを書き込むRAM
初期化回路(18,19)を備えることを特徴とする請
求項1の線形送信回路。2. The RAM update circuit (600), wherein the RAM receives the pseudo envelope data SE as an address input.
RAM for writing the pseudo envelope data SE in (500)
Linear transmission circuit according to claim 1, characterized in that it comprises an initialization circuit (18, 19).
電源を間欠的に供給する電源制御回路(20,CS2)
を備えることを特徴とする請求項1の線形送信回路。3. A power supply control circuit (20, CS2) for intermittently supplying power to the RAM update circuit (600).
The linear transmission circuit according to claim 1, further comprising:
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP899591A JPH05136830A (en) | 1991-01-29 | 1991-01-29 | Linear transmission circuit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP899591A JPH05136830A (en) | 1991-01-29 | 1991-01-29 | Linear transmission circuit |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05136830A true JPH05136830A (en) | 1993-06-01 |
Family
ID=11708273
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP899591A Withdrawn JPH05136830A (en) | 1991-01-29 | 1991-01-29 | Linear transmission circuit |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05136830A (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08102768A (en) * | 1994-09-30 | 1996-04-16 | Nec Corp | Transmitter |
| EP2083542A2 (en) | 2008-01-25 | 2009-07-29 | Fujitsu Limited | Power amplifying apparatus with bandwidth limitation processing on variable power supply |
-
1991
- 1991-01-29 JP JP899591A patent/JPH05136830A/en not_active Withdrawn
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08102768A (en) * | 1994-09-30 | 1996-04-16 | Nec Corp | Transmitter |
| EP2083542A2 (en) | 2008-01-25 | 2009-07-29 | Fujitsu Limited | Power amplifying apparatus with bandwidth limitation processing on variable power supply |
| US8489037B2 (en) | 2008-01-25 | 2013-07-16 | Fujitsu Limited | Power amplifying apparatus with bandwidth limitation processing on variable power supply |
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19980514 |