JPH05148595A - 軟磁性合金薄膜 - Google Patents
軟磁性合金薄膜Info
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- JPH05148595A JPH05148595A JP3315036A JP31503691A JPH05148595A JP H05148595 A JPH05148595 A JP H05148595A JP 3315036 A JP3315036 A JP 3315036A JP 31503691 A JP31503691 A JP 31503691A JP H05148595 A JPH05148595 A JP H05148595A
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01F—MAGNETS; INDUCTANCES; TRANSFORMERS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR MAGNETIC PROPERTIES
- H01F10/00—Thin magnetic films, e.g. of one-domain structure
- H01F10/08—Thin magnetic films, e.g. of one-domain structure characterised by magnetic layers
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- H01F10/131—Amorphous metallic alloys, e.g. glassy metals containing iron or nickel
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 高飽和磁束密度、熱的安定性を有する軟磁性
合金薄膜を提供する。 【構成】 組成式がFeaCobMcOdで示され、MはZ
r、Hfの内少なくとも一種の元素または混合物であ
り、Feは鉄、Coはコバルト、Oは酸素を表わし、組
成比 a,b,c,d は原子%で、13≦a≦86、10≦b
≦50、1≦c≦12、3≦d≦25、a+b+c+d
=100なる関係を満足する組成よりなる軟磁性合金薄
膜。 【効果】 高い飽和磁束密度、耐食性及び熱的安定性を
有したMIGヘッドへの使用が有効な軟磁性合金薄膜を
提供できる。
合金薄膜を提供する。 【構成】 組成式がFeaCobMcOdで示され、MはZ
r、Hfの内少なくとも一種の元素または混合物であ
り、Feは鉄、Coはコバルト、Oは酸素を表わし、組
成比 a,b,c,d は原子%で、13≦a≦86、10≦b
≦50、1≦c≦12、3≦d≦25、a+b+c+d
=100なる関係を満足する組成よりなる軟磁性合金薄
膜。 【効果】 高い飽和磁束密度、耐食性及び熱的安定性を
有したMIGヘッドへの使用が有効な軟磁性合金薄膜を
提供できる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、磁気ヘッドに好適な高
い飽和磁束密度、熱的安定性そして優れた耐食性を有す
る軟磁性合金薄膜に関する。
い飽和磁束密度、熱的安定性そして優れた耐食性を有す
る軟磁性合金薄膜に関する。
【0002】
【従来の技術】磁気記録の分野において、記録密度を高
めるために磁気テープ等の記録媒体の高保持力化が推進
されているが、それに対応する磁気ヘッド用の軟磁性薄
膜材料として飽和磁束密度(Bs)の高いものが要求さ
れている。従来の軟磁性材料(膜)としては、Ni−F
e(パーマロイ)及びFe−Si−Al合金(センダス
ト)、Co系アモルファス合金などが知られている。こ
れらの材料において、軟磁性を維持できる範囲での飽和
磁束密度の最大値は、パーマロイでは、ほぼ10000
G、センダストでは、ほぼ13000G、Co系アモル
ファス合金では13000〜15000Gである。
めるために磁気テープ等の記録媒体の高保持力化が推進
されているが、それに対応する磁気ヘッド用の軟磁性薄
膜材料として飽和磁束密度(Bs)の高いものが要求さ
れている。従来の軟磁性材料(膜)としては、Ni−F
e(パーマロイ)及びFe−Si−Al合金(センダス
ト)、Co系アモルファス合金などが知られている。こ
れらの材料において、軟磁性を維持できる範囲での飽和
磁束密度の最大値は、パーマロイでは、ほぼ10000
G、センダストでは、ほぼ13000G、Co系アモル
ファス合金では13000〜15000Gである。
【0003】上記の中ではCo系アモルファス合金が有
望であるが、飽和磁束密度を上げると熱的安定性が低く
なり、磁気ヘッド製造工程での高温処理(ガラス溶着な
ど)により軟磁性が劣化したり、またヘッドとしての信
頼性において問題がある。このように現在知られている
磁気ヘッド用コア材料では高保磁力媒体の能力を十分に
引き出すことが難しく、今後の高密度磁気記録の実現に
対しては、より飽和磁束密度の高い軟磁性材料の開発が
望まれている。
望であるが、飽和磁束密度を上げると熱的安定性が低く
なり、磁気ヘッド製造工程での高温処理(ガラス溶着な
ど)により軟磁性が劣化したり、またヘッドとしての信
頼性において問題がある。このように現在知られている
磁気ヘッド用コア材料では高保磁力媒体の能力を十分に
引き出すことが難しく、今後の高密度磁気記録の実現に
対しては、より飽和磁束密度の高い軟磁性材料の開発が
望まれている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】15000G以上の飽
和磁束密度を持つ材料としては、FeあるいはFeを主
成分とする合金(Fe−Al,Fe−Siなど)が知ら
れている。しかし、高密度磁気記録用ヘッドのコア材料
等に使用する目的で、スパッタ法などの通常の成膜技術
により、前記FeあるいはFeを主成分とする合金の磁
性膜を作製した場合、飽和磁束密度は15000G以上
と大きくすることができるが、保磁力が大きくなり十分
な軟磁性を得ることが困難であった。この課題を解決す
るため、多層化することなどが行なわれているが、特性
が十分でなく、また製造工程が複雑になるなどの問題が
残されている。
和磁束密度を持つ材料としては、FeあるいはFeを主
成分とする合金(Fe−Al,Fe−Siなど)が知ら
れている。しかし、高密度磁気記録用ヘッドのコア材料
等に使用する目的で、スパッタ法などの通常の成膜技術
により、前記FeあるいはFeを主成分とする合金の磁
性膜を作製した場合、飽和磁束密度は15000G以上
と大きくすることができるが、保磁力が大きくなり十分
な軟磁性を得ることが困難であった。この課題を解決す
るため、多層化することなどが行なわれているが、特性
が十分でなく、また製造工程が複雑になるなどの問題が
残されている。
【0005】このような背景から本願発明者らは、特願
平2−268051号において、前記の問題を解決した
軟磁性合金膜を特許出願している。特願平2−2680
51号明細書において特許出願している軟磁性合金膜
は、組成式がFexMyOzで示され、MはZr,Hfの
内1種以上であって、組成比xは原子%で70〜96、
yは1〜12、zは3〜25、よりなる組成関係を満足
するものであった。
平2−268051号において、前記の問題を解決した
軟磁性合金膜を特許出願している。特願平2−2680
51号明細書において特許出願している軟磁性合金膜
は、組成式がFexMyOzで示され、MはZr,Hfの
内1種以上であって、組成比xは原子%で70〜96、
yは1〜12、zは3〜25、よりなる組成関係を満足
するものであった。
【0006】こうして先に特許出願で提供した軟磁性合
金膜は、15000G以上の高い飽和磁束密度と良好な
軟磁性特性を同時に実現するものであるが耐熱温度が4
00℃以下で、かつ耐蝕性が不十分であって、メタルイ
ンギャップヘッド(MIGヘッド)への使用が困難であ
るなどの問題を有していた。本発明は上述の問題点を解
決し、本願発明者らが先に提供した軟磁性合金膜より高
い飽和磁束密度を有するとともに、より高い温度の熱処
理に耐え、耐蝕性にも優れた軟磁性合金薄膜を提供する
ことにある。
金膜は、15000G以上の高い飽和磁束密度と良好な
軟磁性特性を同時に実現するものであるが耐熱温度が4
00℃以下で、かつ耐蝕性が不十分であって、メタルイ
ンギャップヘッド(MIGヘッド)への使用が困難であ
るなどの問題を有していた。本発明は上述の問題点を解
決し、本願発明者らが先に提供した軟磁性合金膜より高
い飽和磁束密度を有するとともに、より高い温度の熱処
理に耐え、耐蝕性にも優れた軟磁性合金薄膜を提供する
ことにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】請求項1に記載した発明
は前記課題を解決するために、組成式がFeaCobMc
Odで示され、MはZr、Hfの内少なくとも一種の元
素または混合物であり、Feは鉄、Coはコバルト、O
は酸素を表わし、組成比 a,b,c,d は原子%で、13≦
a≦86、10≦b≦50、1≦c≦12、3≦d≦2
5、a+b+c+d=100なる関係を満足する組成よ
りなる軟磁性合金薄膜である。
は前記課題を解決するために、組成式がFeaCobMc
Odで示され、MはZr、Hfの内少なくとも一種の元
素または混合物であり、Feは鉄、Coはコバルト、O
は酸素を表わし、組成比 a,b,c,d は原子%で、13≦
a≦86、10≦b≦50、1≦c≦12、3≦d≦2
5、a+b+c+d=100なる関係を満足する組成よ
りなる軟磁性合金薄膜である。
【0008】請求項2に記載した発明は前記課題を解決
するために、組成式がFeaCobMcOdXeで示され、
MはZr、Hfの内少なくとも一種の元素または混合物
であり、XはY、Al、Si、Bの内少なくとも一種の
元素または混合物であり、Feは鉄、Coはコバルト、
Oは酸素を表わし、組成比 a,b,c,d,e は原子%で、1
3≦a≦85、10≦b≦50、1≦c≦12、3≦d
≦25、e≦26なる関係を満足する組成よりなる軟磁
性合金薄膜である。
するために、組成式がFeaCobMcOdXeで示され、
MはZr、Hfの内少なくとも一種の元素または混合物
であり、XはY、Al、Si、Bの内少なくとも一種の
元素または混合物であり、Feは鉄、Coはコバルト、
Oは酸素を表わし、組成比 a,b,c,d,e は原子%で、1
3≦a≦85、10≦b≦50、1≦c≦12、3≦d
≦25、e≦26なる関係を満足する組成よりなる軟磁
性合金薄膜である。
【0009】
【作用】以下に本発明を更に詳細に説明する。前記合金
薄膜の生成方法としては、合金薄膜をスパッタ、蒸着等
の薄膜形成装置により作製する。スパッタ装置として
は、RF2極スパッタ、DCスパッタ、マグネトロンス
パッタ、3極スパッタ、イオンビームスパッタ、対向タ
ーゲット式スパッタ等の既存のものを使用することがで
きる。
薄膜の生成方法としては、合金薄膜をスパッタ、蒸着等
の薄膜形成装置により作製する。スパッタ装置として
は、RF2極スパッタ、DCスパッタ、マグネトロンス
パッタ、3極スパッタ、イオンビームスパッタ、対向タ
ーゲット式スパッタ等の既存のものを使用することがで
きる。
【0010】Oは膜中に添加する方法としては、Ar等
の不活性ガス中にO2ガスを混合したAr+O2混合雰囲
気ガスでスパッタを行なう反応性スパッタが有効であ
る。また、Fe、Fe−M(MはZr、Hfの内少なく
とも一種の元素)あるいは、Fe−M−X(MはZr、
Hfの内少なくとも一種の元素、XはY、Al、Si、
Bの内少なくとも一種の元素)合金ターゲットの上にF
eあるいはMの酸化物を配置した複合ターゲットを用い
て、Ar等の不活性ガス中で製作することもできる。
の不活性ガス中にO2ガスを混合したAr+O2混合雰囲
気ガスでスパッタを行なう反応性スパッタが有効であ
る。また、Fe、Fe−M(MはZr、Hfの内少なく
とも一種の元素)あるいは、Fe−M−X(MはZr、
Hfの内少なくとも一種の元素、XはY、Al、Si、
Bの内少なくとも一種の元素)合金ターゲットの上にF
eあるいはMの酸化物を配置した複合ターゲットを用い
て、Ar等の不活性ガス中で製作することもできる。
【0011】以下、本発明において前記のように成分を
限定した理由について述べる。Fe、Coは主成分であ
り磁性を担う元素である。図2にCo濃度とHc(保磁
力)の変化を示しているが、約2Oe以下の低いHcを
得るためには、Co濃度を10at%〜50at%の範
囲とすることが必要である。
限定した理由について述べる。Fe、Coは主成分であ
り磁性を担う元素である。図2にCo濃度とHc(保磁
力)の変化を示しているが、約2Oe以下の低いHcを
得るためには、Co濃度を10at%〜50at%の範
囲とすることが必要である。
【0012】また、元素M(即ちZr,Hfの内少なく
とも1つの元素)とO(酸素)は軟磁性特性を得るため
に必要な元素であり、FeにMとOを同時に、しかもM
及びOの割合が特定の値を取るように添加することによ
って、膜の軟磁性特性は著しく向上する。軟磁性特性を
得るためには、膜中のM及びOの割合が1≦c≦12、
3≦d≦25の組成よりなる時に、好適な軟磁性特性を
有する薄膜を得ることができる。ここで、Fe濃度は、
10≦b≦50at%、1≦c≦12at%、3≦d≦
25at%、より13≦a≦86at%となる。
とも1つの元素)とO(酸素)は軟磁性特性を得るため
に必要な元素であり、FeにMとOを同時に、しかもM
及びOの割合が特定の値を取るように添加することによ
って、膜の軟磁性特性は著しく向上する。軟磁性特性を
得るためには、膜中のM及びOの割合が1≦c≦12、
3≦d≦25の組成よりなる時に、好適な軟磁性特性を
有する薄膜を得ることができる。ここで、Fe濃度は、
10≦b≦50at%、1≦c≦12at%、3≦d≦
25at%、より13≦a≦86at%となる。
【0013】さらに、元素X(即ちY,Al,Si,
B)の内Al、Siは、Feを主成分とする結晶がもつ
結晶磁気異方性エネルギーを低下させて、軟磁気特性を
向上させることができる。さらに、元素Xは電気抵抗を
高くして、渦電流損失による高周波透磁率の低下を改善
する働きもある。15000G以上の高い飽和磁束密度
を得るためには、a+b≧70at%であることが望ま
しく、また、1≦c≦12、3≦d≦25よりX成分の
濃度は、e≦26at%と必然的になる。また、図1、
表2に示したように、Coを添加することによって飽和
磁束密度の向上、さらには、耐摩耗性の改善を図ること
ができる。
B)の内Al、Siは、Feを主成分とする結晶がもつ
結晶磁気異方性エネルギーを低下させて、軟磁気特性を
向上させることができる。さらに、元素Xは電気抵抗を
高くして、渦電流損失による高周波透磁率の低下を改善
する働きもある。15000G以上の高い飽和磁束密度
を得るためには、a+b≧70at%であることが望ま
しく、また、1≦c≦12、3≦d≦25よりX成分の
濃度は、e≦26at%と必然的になる。また、図1、
表2に示したように、Coを添加することによって飽和
磁束密度の向上、さらには、耐摩耗性の改善を図ること
ができる。
【0014】
(1)成膜 高周波マグネトロンスパッタ装置を用いて、後記の表1
に示す組成の合金薄膜を形成した。使用したターゲット
は、Fe100-AHfA (A=3〜7)合金ターゲット(a
t%)、あるいはこれにB、Si、Y、Al等の各種ペ
レットを適宜配置して構成した複合ターゲットを用い、
Ar+(0.1〜1.0)%O2雰囲気中でスパッタを
行ない、膜厚が2μmになるようにスパッタ時間を調整
した。主なスパッタ条件を以下に示す。 予備排気 1×10-5Pa以下 高周波電力 400W Arガス圧 1.0Pa 基板 結晶化ガラス基板(間接水冷) 電極間距離 70mm
に示す組成の合金薄膜を形成した。使用したターゲット
は、Fe100-AHfA (A=3〜7)合金ターゲット(a
t%)、あるいはこれにB、Si、Y、Al等の各種ペ
レットを適宜配置して構成した複合ターゲットを用い、
Ar+(0.1〜1.0)%O2雰囲気中でスパッタを
行ない、膜厚が2μmになるようにスパッタ時間を調整
した。主なスパッタ条件を以下に示す。 予備排気 1×10-5Pa以下 高周波電力 400W Arガス圧 1.0Pa 基板 結晶化ガラス基板(間接水冷) 電極間距離 70mm
【0015】(2)熱処理 成膜後、膜の軟磁性を改善するため真空中で、500℃
〜700℃の範囲で60分間保持するアニールを行なっ
た。
〜700℃の範囲で60分間保持するアニールを行なっ
た。
【0016】(3)測定 測定1 前記のように製造された合金薄膜の膜の組成は、誘導結
合プラズマ(ICP)発光分析法及び、不活性ガス融解
赤外線吸収法、X線マイクロアナライザー(EPMA)
により決定した。そしてさらに飽和磁束密度と保磁力は
VSMにより測定した。前記のように製造した合金薄膜
の飽和磁束密度(Bs)、650℃〜700℃で60分
間アニール処理した合金薄膜の保磁力(Hs)さらに5
00℃〜700℃の温度範囲でアニール処理した合金の
比抵抗(ρ、μΩ・m)の測定結果を表1に示した。
合プラズマ(ICP)発光分析法及び、不活性ガス融解
赤外線吸収法、X線マイクロアナライザー(EPMA)
により決定した。そしてさらに飽和磁束密度と保磁力は
VSMにより測定した。前記のように製造した合金薄膜
の飽和磁束密度(Bs)、650℃〜700℃で60分
間アニール処理した合金薄膜の保磁力(Hs)さらに5
00℃〜700℃の温度範囲でアニール処理した合金の
比抵抗(ρ、μΩ・m)の測定結果を表1に示した。
【0017】
【表1】
【0018】表1でサンプル1及び2の比較例は、本発
明者らが先に特許出願しているものであるが、650℃
〜750℃のアニール後でHc25Oeと軟磁気特性は
悪くなる。本発明に係わる合金薄膜(サンプル3〜5)
は、いずれもサンプル1及び2よりHcが小さく2Oe
以下の値を示し、かつBsは大きくなっている。
明者らが先に特許出願しているものであるが、650℃
〜750℃のアニール後でHc25Oeと軟磁気特性は
悪くなる。本発明に係わる合金薄膜(サンプル3〜5)
は、いずれもサンプル1及び2よりHcが小さく2Oe
以下の値を示し、かつBsは大きくなっている。
【0019】また、表1より本発明の特許請求項1に記
載の組成よりなるサンプル3〜5と特許請求項2に記載
の組成よりなるサンプル6〜9を比較すると、特許請求
項2に記載の組成よりなるサンプルは特許請求項1に記
載の組成よりなるサンプルより比抵抗が高くなってお
り、高周波領域での軟磁気特性の改善が期待できる。従
って、このような高Bs、Hcの熱的安定性、高周波特
性の改善を図ることにより、本発明による軟磁性合金薄
膜のMIGヘッドへの応用が可能となる。
載の組成よりなるサンプル3〜5と特許請求項2に記載
の組成よりなるサンプル6〜9を比較すると、特許請求
項2に記載の組成よりなるサンプルは特許請求項1に記
載の組成よりなるサンプルより比抵抗が高くなってお
り、高周波領域での軟磁気特性の改善が期待できる。従
って、このような高Bs、Hcの熱的安定性、高周波特
性の改善を図ることにより、本発明による軟磁性合金薄
膜のMIGヘッドへの応用が可能となる。
【0020】 測定2 また、上記のように製造した合金薄膜Fe100-x-a-bC
oxHfaOb(a=2〜3、b=4〜15)において、
前記合金薄膜中のCo濃度(at%)に対するBs(k
G)を測定し、その結果を図1に示した。この結果より
明らかなように、本発明の合金薄膜においては膜中のC
o濃度が50at%以下の範囲に限定して高いBs値を
得られることがわかる。
oxHfaOb(a=2〜3、b=4〜15)において、
前記合金薄膜中のCo濃度(at%)に対するBs(k
G)を測定し、その結果を図1に示した。この結果より
明らかなように、本発明の合金薄膜においては膜中のC
o濃度が50at%以下の範囲に限定して高いBs値を
得られることがわかる。
【0021】 測定3 また、上記のように製造した合金薄膜Fe100-x-a-bC
oxHfaOb(a=2〜4、b=6〜10)において、
650℃〜700℃で60分間アニール後の前記合金薄
膜中のCo濃度(at%)に対するHc(Oe)を測定
し、その結果を図2に示した。この結果より、本発明の
合金薄膜においては、膜中のCo濃度が10〜50at
%の範囲に限定して低いHc値を得られることがわか
る。
oxHfaOb(a=2〜4、b=6〜10)において、
650℃〜700℃で60分間アニール後の前記合金薄
膜中のCo濃度(at%)に対するHc(Oe)を測定
し、その結果を図2に示した。この結果より、本発明の
合金薄膜においては、膜中のCo濃度が10〜50at
%の範囲に限定して低いHc値を得られることがわか
る。
【0022】 測定4 次に膜の耐蝕性(耐環境性)の評価として、上記のよう
に製造された本発明による組成の合金薄膜を生理食塩水
(1mol%、NaCl溶液)中に5分間浸し、これを
環境温度80℃、相対湿度90%の環境下の試験槽内に
入れて表面の腐食状況(膜の変色の程度)を目視で判断
した。その結果を表2に示す。
に製造された本発明による組成の合金薄膜を生理食塩水
(1mol%、NaCl溶液)中に5分間浸し、これを
環境温度80℃、相対湿度90%の環境下の試験槽内に
入れて表面の腐食状況(膜の変色の程度)を目視で判断
した。その結果を表2に示す。
【0023】
【表2】
【0024】表2から明らかなように、本発明によるF
e−Co−M−O膜は、Co成分を含まないFe−M−
O膜に比較して耐環境性に優れていることが判明した。
e−Co−M−O膜は、Co成分を含まないFe−M−
O膜に比較して耐環境性に優れていることが判明した。
【0025】
【発明の効果】上述したように、本発明は、FeにM
(Mは少なくともZr、Hfの内少なくとも一つの元
素)とOを同時に、そしてある特定の組成範囲で添加す
ることによって、15000G以上の高い飽和磁束密度
を得るとともに膜の軟磁性特性をも同時に実現可能する
ものであるが、さらにCo成分を加えることによって、
飽和磁束密度を高め、Hcの熱的安定性を向上させ耐蝕
性にも優れた特性を有する。またさらに、上記組成にX
(Xは少なくともY、Al、Si、Bの内少なくとも一
つの元素)が添加されることにより電気抵抗を高くし、
渦電流損失による高周波透磁率の低下を改善することが
できる。
(Mは少なくともZr、Hfの内少なくとも一つの元
素)とOを同時に、そしてある特定の組成範囲で添加す
ることによって、15000G以上の高い飽和磁束密度
を得るとともに膜の軟磁性特性をも同時に実現可能する
ものであるが、さらにCo成分を加えることによって、
飽和磁束密度を高め、Hcの熱的安定性を向上させ耐蝕
性にも優れた特性を有する。またさらに、上記組成にX
(Xは少なくともY、Al、Si、Bの内少なくとも一
つの元素)が添加されることにより電気抵抗を高くし、
渦電流損失による高周波透磁率の低下を改善することが
できる。
【0026】従って、本発明による軟磁性合金薄膜は、
熱的安定性の問題の改善により、従来より広く磁気ヘッ
ドに用いられているMIGヘッド等への応用が可能であ
る。
熱的安定性の問題の改善により、従来より広く磁気ヘッ
ドに用いられているMIGヘッド等への応用が可能であ
る。
【図1】本発明による実施例の軟磁性合金薄膜中のCo
成分濃度に対する飽和磁束密度を示す図である。
成分濃度に対する飽和磁束密度を示す図である。
【図2】本発明による実施例の軟磁性合金薄膜を650
℃〜700℃で熱処理した後における膜中のCo成分濃
度に対する保磁力を示す図である。
℃〜700℃で熱処理した後における膜中のCo成分濃
度に対する保磁力を示す図である。
Claims (2)
- 【請求項1】 組成式がFeaCobMcOdで示され、M
はZr、Hfの内少なくとも一種の元素または混合物で
あり、Feは鉄、Coはコバルト、Oは酸素を表わし、
組成比 a,b,c,d は原子%で、 13≦a≦86 10≦b≦50 1≦c≦12 3≦d≦25 a+b+c+d=100 なる関係を満足する組成よりなる軟磁性合金薄膜。 - 【請求項2】 組成式がFeaCobMcOdXeで示さ
れ、MはZr、Hfの内少なくとも一種の元素または混
合物であり、XはY、Al、Si、Bの内少なくとも一
種の元素または混合物であり、Feは鉄、Coはコバル
ト、Oは酸素を表わし、組成比 a,b,c,d,e は原子%
で、 13≦a≦85 10≦b≦50 1≦c≦12 3≦d≦25 e≦26 なる関係を満足する組成よりなる軟磁性合金薄膜。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3315036A JP2996553B2 (ja) | 1991-11-28 | 1991-11-28 | 軟磁性合金薄膜 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3315036A JP2996553B2 (ja) | 1991-11-28 | 1991-11-28 | 軟磁性合金薄膜 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05148595A true JPH05148595A (ja) | 1993-06-15 |
| JP2996553B2 JP2996553B2 (ja) | 2000-01-11 |
Family
ID=18060654
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3315036A Expired - Lifetime JP2996553B2 (ja) | 1991-11-28 | 1991-11-28 | 軟磁性合金薄膜 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2996553B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6815096B2 (en) | 2001-05-16 | 2004-11-09 | Tdk Corporation | Soft magnetic thin film and thin film magnetic head using the same |
| US6828046B2 (en) | 2001-04-13 | 2004-12-07 | Fujitsu Limited | Soft magnetic film of FeCoMO having a high saturation flux density, a moderate soft magnetism and a uniaxial magnetic anisotropy |
-
1991
- 1991-11-28 JP JP3315036A patent/JP2996553B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6828046B2 (en) | 2001-04-13 | 2004-12-07 | Fujitsu Limited | Soft magnetic film of FeCoMO having a high saturation flux density, a moderate soft magnetism and a uniaxial magnetic anisotropy |
| US6815096B2 (en) | 2001-05-16 | 2004-11-09 | Tdk Corporation | Soft magnetic thin film and thin film magnetic head using the same |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2996553B2 (ja) | 2000-01-11 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19990928 |