JPH0514972B2

JPH0514972B2 -

Info

Publication number: JPH0514972B2
Application number: JP2388084A
Authority: JP
Inventors: Tooru Ootsuka
Original assignee: Sony Corp
Current assignee: Sony Corp
Priority date: 1984-02-10
Filing date: 1984-02-10
Publication date: 1993-02-26
Also published as: JPS60170040A

Description

【発明の詳細な説明】産業上の利用分野この発明は光学式ビデオデイスクなどのような
回転デイスクのスキユー角を検出する場合に適用
して好適なスキユーエラー補正回路に関する。

背景技術とその問題点光学式デイスク再生装置ではレーザービームを
対物レンズで収束させ、信号の再生を行う。光源
としては価格が低廉で、装置の小形化にも好適な
半導体レーザーが使用される。

半導体レーザーは波長が780nｍで、ヘリウム
ネオンレーザーの波長623.8nｍよりも長い。この
ため、光源としてヘリウムネオンレーザーを用い
た場合と同程度の分解能を得ることができるよう
なスポツト径にしようとすると対物レンズのNA
（Numerical Aperture）値を0.5位に大きくしな
ければならない。

このように対物レンズのNA値を上げると、デ
イスクの記録面に対するレーザービームの光軸が
垂直でないとき、隣接トラツクからのクロストー
クが問題になる。

すなわち、第１図Ａに示すようにデイスク１の
記録面に対してレーザービームの光軸２が垂直で
あるときは、受光部における検出出力Ｄは同図に
示すように主トラツクT₀からの出力に対し隣接
トラツクT₁，T₂からのクロストークは十分小さ
いが、同図Ｂに示すようにデイスク１の記録面に
対して光軸２が垂直でなくなる（以下デイスク１
のスキユーという）と、検出出力Ｄにおける隣接
トラツク、この場合T₁からのクロストークが大
となる。

このクロストークレベルL_Cは、 L_C∝Ｗcmα（NA³／λ・α）² ただし、W_Cはコマ収差量 λはレーザービーム径 αはデイスクの半径方向のスキユー角なる関係式から明らかなように、NA値が大にな
ると無視できなくなるのである。例えば、λ＝
780nｍ、トラツクピツチ1.67μｍとし、NA＝0.5
の場合にクロストークレベルL_C＝−40dBを確保
しようとすると、α≦0.5なる条件が必要となる。

デイスク面と光軸とが垂直とならなくなるデイ
スクのスキユーの原因はスピンドル軸の曲がり、
デイスク受け台の曲がり、デイスク自体のスキユ
ー等、種々あるが、主たる原因はデイスク自体の
スキユーで、現状のデイスク自体の半径方向のス
キユー角αは1゜≦α≦2゜である。このため、半導
体レーザーを光源に用いるときは、デイスクの半
径方向のスキユー（デイスク自体のスキユー以外
の原因も含む。（以下同じ））を検出してクロスト
ークの増大に対する対策を講じる必要がある。

スキユー検出手段の一例を次に説明する。

第２図の例は光ピツクアツプ３の光源とは別に
スキユー検出手段５が設けられる。同図は検出手
段５をデイスク１の半径方向に沿つて見た図、第
３図はデイスク１の半径方向と直交する方向から
見た図（それぞれ説明のため断面図的に示した）、
第４図はデイスク１の上面側から見た図（ただし
デイスクは示さない）である。

光源は拡散光源を用い、第３図〜第５図の例で
は発光する表面で光が拡散するようにされた発光
ダイオード９が用いられる。

また、この発光ダイオード９からの光のデイス
ク１による反射光をレンズ１１を介して受光する
光検出器１０が設けられる。この光検出器１０は
光検出領域が２分割された２分割光検出器とされ
る。

発光ダイオード９、光検出器１０及びレンズ１
１は筒状体からなるハウジング部材１２に取り付
けられる。すなわち、ハウジング部材１２の一方
の開口端側にはレンズ１１が配され、他側の開口
端側にはこのレンズ１１の焦点面位置において発
光ダイオード９と光検出器１０とが、このレンズ
１１の光軸１１Ａを含む面を堺にして左右に配さ
れる。

ハウジング部材１２は、図に示すように、レン
ズ１１がデイスク１側となり、かつ、発光ダイオ
ード９と光検出器１０とがデイスク１のスキユー
検出方向に対して直交する方向に並ぶように設置
される。

この例の場合、デイスク１の半径方向のスキユ
ーを検出するものであるので、発光ダイオード９
と光検出器１０とは、デイスク１の半径方向に直
交する方向に配される。また、この場合、レンズ
１１の光軸１１Ａが、光ピツクアツプとの光軸が
垂直になつている場合におけるデイスク１の記録
面に対して垂直になるように設置される。さら
に、２分割光検出器１０の分割線１０Ｃはスキユ
ー検出方向に直交する方向、即ちデイスク１の半
径方向に対し直交する方向で、しかも、光軸１１
Ａを含む面と交わるようにされる。

第５図は発光ダイオード９と２分割光検出器１
０の斜視図を示す。

このように構成すると、光検出器１０には発光
ダイオード９の表面部の実像が第４図で斜線を付
して示す像１３として結像する。

即ち、レンズ１１の光軸１１Ａとデイスク１の
記録面とが垂直になつていれば、デイスク１の記
録面への入射光と反射光の光路は全く対象的で、
第６図のようになる。したがつて、レンズ１１の
光軸１１Ａを含み、デイスク１の半径方向に沿う
面よりも左側にある発光ダイオード９の実像が上
記面の右側においてレンズ１１の焦点面で結像す
る。この第６図においてデイスク１よりも上側に
ある部分はデイスク１の記録面で反射される部分
であるから、デイスク１の記録面で折り返すと第
７図に示すようなものとなり、発光ダイオード９
の表面部の実像が、ちようど光検出器１０の位置
において結像することになるのである。

そして、レンズ１１の光軸１１Ａとデイスク１
の記録面とが第６図のように垂直になつている状
態においては、第９図Ｂに示すように２分割光検
出器１０の各分割領域１０Ａ，１０Ｂに同じ量だ
けまたがつて像１３が結像する。したがつて、各
分割領域１０Ａ，１０Ｂからの光検出出力は等し
く、その差は零である。

デイスク１のスキユーにより、第８図に示すよ
うにレンズ１１の光軸１１Ａとデイスク１の記録
面とが垂直でなくなつたときには、同図に示すよ
うに、発光ダイオード９の像の位置は１４のよう
にこの傾いたデイスク１のため、その半径方向に
垂直な方向にずれ、このため、光検出器１０の像
１３は第９図Ｃのように領域１０Ｂ側により多く
含まれるように結像するようになる。

デイスク１が第８図の状態とは反対側に、つま
り、図の右側が下がるようなスキユーを有すると
きは、光検出器１０の像１３は第９図Ａに示すよ
うに、領域１０Ａ側により多く含まれるように結
像する。

以上のことから、光検出器１０の各領域１０
Ａ，１０Ｂからの光学像１３の検出出力によりデ
イスク１のスキユーの方向及び量を検出すること
ができる。このスキユーエラー信号は第１０図に
示す可動部４０に対するサーボ信号として使用さ
れる。

第１１図は光ピツクアツプ及びスキユー検出部
を含む可動部の構成の一例を示す。

同図で、２０は光学ブロツクを示し、これには
デイスク１のピツトによる記録情報を検出するた
めの光ピツクアツプの光学系と、スキユーを検出
するための光学系が収納されている。光ピツクア
ツプの光学系に対するフオーカスサーボ及びトラ
ツキングサーボは２軸光学駆動部２１によつて、
従来と同様にしてなされる。

そして、光ピツクアツプの光学系の光軸位置２
１Ａに対して、記録トラツクＴの長手方向に、前
述したスキユー検出手段としてのハウジング部材
１２がこのブロツク２０に対して取り付けられ
る。したがつて、レンズ１１の光軸を含む面は、
光ピツクアツプの光軸２１Ａをも含むように構成
される。

光学ブロツク２０は、その全体がデイスク１の
半径方向に直交する方向の軸２３により支持さ
れ、デイスク１の半径方向に傾動するようにされ
る。

すなわち、この例では、光学ブロツク２０の底
面にはウオームギア２４が取り付けられ、このウ
オームギア２４が支持台２５に設置されている小
形モータ２６により回転されるウオーム２７に噛
み合うように２枚の側板２８Ａ，２８Ｂの軸孔２
９Ａ，２９Ｂに軸２３が回転自在に挿通され、モ
ータ２６によりウオーム２７が回転したとき、そ
の回転に応じた回転角だけウオームギア２４が回
転し、これにより、光学ブロツク２０はデイスク
１の半径方向に傾動させられる。したがつて、モ
ータ２６をデイスク１のスキユー検出出力により
制御すれば、光ピツクアツプの光軸２１Ａがデイ
スク１の記録面に対して常に垂直となるように制
御できる。

ところで、第１１図に示すように回転軸に対し
デイスク１が軸対称に曲がつているようなスキユ
ーである場合には、デイスク１の回転方向には一
定のスキユーであるので、第１２図に示すように
半径方向のスキユー角αに対応したスキユーエラ
ー信号（DC成分）S_Eが得られる。このときはス
キユーエラー信号S_Eが所定レベルV₁となるよう
にスキユーサーボがかけられる。

これに対し、半径方向のスキユー角が一定でな
い場合には、デイスク１が１回転したときの半径
方向のスキユー角αの平均レベル（DC成分）に
対し、回転方向のスキユーエラー成分（AC成分）
が重畳された状態のスキユーエラー信号S_Eが発生
する。デイスク１を1800rpmで回転させるとAC
成分の基本波は30Hzとなるから、このときは例え
ば第１３図に示すようなスキユーエラー信号S_Eが
検出される。

そのため、スキユーサーボ系ではスキユーエラ
ー信号S_EのDCスキユーエラー成分が所定レベル
となるようにスキユーサーボがかけられると共
に、ACスキユーエラー成分を相殺するようなス
キユーサーボが同時に働くことになる。可動部４
０に設けられたスキユーサーボ用のモータ２６は
一般に安価なものが使用されているので、スキユ
ーエラー信号S_E中に含まれるACスキユーエラー
成分までも応答するように、スキユーサーボ系を
構成すると、モータ２６は常時駆動されているこ
とになるから、モータ２６の寿命が短くなり、あ
まり実用的ない。

そこで、従来ではスキユーエラー信号S_E中に含
まれるACスキユーエラー成分をカツトし、DCス
キユーエラー成分のみに応答するようなスキユー
サーボ系を構成しようとしているが、ACスキユ
ーエラー成分は30Hzを基本波とするので、通常の
ローパスフイルタではこのAC成分を十分にカツ
トしきれず、これを完全にカツトしようとする
と、応答時間が遅くなり過剰サーボとなつてしま
う。

これらの欠点を解決するため本出願人は先に次
のような構成を提案した。

すなわち、上述したように、スキユー角αが
0.5゜以上あると、クロストークが発生して満足な
情報ピツクアツプをすることができない。しか
し、α＜0.5゜以下のスキユーであれば、α＝０に
しないでも、一応クロストークのない情報をピツ
クアツプできる。また、デイスク１の回転方向に
対しスキユーが発生している場合には、α＝０と
するスキユーサーボは不可能である。

そこで、第１４図に示すようにクロストークに
よる悪影響が生じないスキユー角±α（0.5゜以下
この例では0.4゜程度）以上のスキユーエラーのと
きのみスキユーサーボを行うようにスレツシヨー
ルドとなるスキユー角±α₁を定める。スキユー角
α₁のときのスキユーエラー信号（DCスキユーエ
ラーレベルV_D）をV₁とすると、スキユー角が−
α₁では−V₁のDCスキユーエラーが検出される。

第１５図はスキユーサーボ回路５０の一例であ
つて、６０はスキユーエラー信号S_Eからスキユー
角αに対応したDCスキユーエラーを検出するた
めの検出回路であつて、これはデジタル的に構成
される。７０はスキユーサーボを行うモータ２６
の駆動系である。

光検出器５より得られたスキユーエラー信号S_E
は入力端子６１を介して一対の電圧比較器６２，
６３に供給される。第１の電圧比較器６２は第１
１図に示すように回転デイスク１の基準面Ｘ−
X′より下側にこのデイスク１がスキユーしてい
るときのスキユーエラー検出用であつて、スキユ
ー角α₁に対応したスレツシユホールドレベルV₁
が基準レベルに設定される。これに対し、第２の
電圧比較器６３はデイスク１が基準面Ｘ−X′よ
り上側に傾いているときのスキユーエラー検出用
であり、そのスレツシユホールドレベルは−V₁
である。以下の説明はまず、α＞０のときの構成
及び補正について行う。

今第１１図に示すようにスキユー角がαで、か
つこのスキユーが回転方向に向かつて一様に変化
しているものでは、第１６図Ａに示すDCスキユ
ーエラーV_D1（V_D1＞V₁とする）に加えて、30Hzを
基本波とするACスキユーエラーSqをもつスキユ
ーエラー信号S_Eが入力するので、第１の電圧比較
器６２からは第１６図Ｂに示す第１の比較出力
P_C1が得られ、これはカウンタ６５Ａとラツチ回
路６５Ｂで構成された第１のパルス幅判別回路６
５に供給される。

カウンタ６５Ａはデイスク駆動用モータ（図示
せず）に関連して設けられた周波数発電機FGよ
り得られるパルスFGをクロツクとして使用する
もので、この例ではデイスク１回転につき32個の
パルスFGが得られる。第１の比較出力P_C1はカウ
ンタ６５Ａにエネーブルパルスとして供給され、
第１の比較出力P_C1がハイレベルの区間Ｗだけカ
ウンタ６５Ａは動作する。

カウント出力のうちMSBビツトデータがラツ
チ回路６５Ｂでラツチされる。このラツチはデイ
スク１回転ごとに行われるもので、パルスFGを
１／３２に分周したパルス（デイスク１の回転周期に
同期している）P_X（第１６Ｃ）がラツチパルスと
して供給される。

このため、ラツチ回路６５Ｂは第１の比較出力
P_C1の立下り時点におけるMSBビツトデータをラ
ツチすることになる。第１６図のように、V_D1＞
V₁であるときは、Ｗ＞Ｔ／２（Ｔはデイスクの１
周期）であり、このときのMSBビツトデータは
“１”であるから、ラツチ出力R₁は“Ｈ”になる
（第１６図Ｄ）。

ラツチ出力R₁はモータＭの駆動電源７１に設
けられた電源スイツチ７２に対するスイツチング
パルスとして供給され、ラツチ出力R₁が“Ｈ”
であるとき電源スイツチ７２はオンとなり、モー
タ２６は正転駆動される。

ここで、V_D1＞V₁である限り、カウンタ６５Ａ
からのMSBビツトデータは“１”になつている。
そして、モータ駆動はラツチ出力R₁が“Ｈ”と
なつている間、連続的に行われるから、この正転
駆動によつて第１１図に示す光源３は矢印方向に
向きを変られ、デイスク１に対する光源３の照射
角が連続的に変更される。

デイスク１の面と垂直となるように光源３の向
きをコントロールすればそれに伴つてスキユーエ
ラー信号S_Eに含まれるDCスキユーエラーV_D1の
レベルも減少し、V_D1＝V₁、従つてＷ＝Ｔ／２と
なつたとき、カウンタ６５ＡのMSBビツトデー
タは“１”から“０”に変化する。このため、デ
イスク１の１回転ごとにラツチされるラツチ出力
R₁は“Ｌ”となり、電源スイツチ７２はオフす
る。

従つて、V_D1＝V₁となるスキユーエラー検出時
点でモータ２６の正転駆動が停止し、光源３はそ
の移動位置で停止することになる。スキユーエラ
ー検出はデイスク回転中常に行われるものである
から、再びV_D1＞V₁となれば、上述のスキユーサ
ーボが動作する。

使用するデイスク１によつては上述とは反対の
スキユーを持つ場合がある。このときのDCスキ
ユーエラー−V_D1（図示せず）は今度は第２の電
圧比較器６３で検出され、DCスキユーエラー−
V_D1に対応するパルス幅をもつ第２の比較出力
P_C2は判別回路６８を構成するカウンタ６８Ａに
供給されて第２の比較出力P_C2のパルス幅に対応
したカウンタ出力が得られる。

カウンタ出力のうちMSBビツトデータが同じ
くラツチ回路６８Ｂでラツチされる。

カウンタ６８ＡのMSBビツトデータが“１”
となるのは、−V_D1＜−V₁のときで、このときラ
ツチ出力R₂は“Ｈ”となるようになされており、
このラツチ出力R₂で電源スイツチ７４がオンし
て逆転駆動電源７３がモータ２６に供給されて、
光源３は第１１図に示す方向とは逆向きの方向に
移動せしめられる。これによつてデイスク１に対
する光源３の照射角がDCスキユーエラーが減少
する方向に変更せしめられる。そして、−V_D1＝
−V₁となるスキユーエラー検出時点でモータ２
６の逆転駆動が停止し、光源３はその移動位置で
停止することになる。

以上の動作説明から明らかなように、判別回路
６５，６８はDCスキユーエラーV_D1、−V_D1に対
応したパルス幅Ｗをもつ第１及び第２の比較出力
P_C1，P_C2と、デイスク１の回転周期に関連したパ
ルス幅Ｔ／２との大小を判別する機能を有するも
のである。

そして、これら判別回路６５，６８と第１及び
第２の電圧比較器６２，６３の組合せによつて、
スキユーエラー信号S_E中に含まれるACスキユー
エラーSqには応答せず、DCスキユーエラーのみ
に応答する回路系を構成できる。

また、スレツシヨールドレベル±V₁以内のス
キユーエラーについては不感帯としたので、モー
タ２６はオーバーロードにならず、安価なモータ
２６でもその耐用時間を大幅にアツプすることが
できる。

このように、本出願人が先に提案したスキユー
エラー検出回路ではモータ２６の長寿命化、応答
特性の改善を図ることができるものであるが、デ
イスク１の１回転の周期が上述よりも長いよう
な、低速回転の光学式デイスク再生装置に適用す
る場合には、以下述べるような問題が生ずる。

今簡単のためにデイスク１のスキユーに回転方
向にむらがなく、従つて30HzのACスキユーエラ
ー信号Sqがないものと仮定する。そして、ある
ラツチタイミングで基準レベルV₁よりも大の期
間が１回転周期の半分（Ｔ／２）以上であつてサ
ーボオンの状態でモータ２６に電圧がかかり、こ
の結果DCスキユーエラーV_Dが直線的に減少して
いくものとする（第１８図Ａ〜Ｃ）。

従つて、ラツチタイミングａではその前の１周
期の第１の比較出力P_C1がラツチされる。図の場
合には、１周期の全体に亘つてV_D＞V₁であるた
め、ラツチタイミングａ以降もサーボオンの状態
が続く（第１８図Ｄ）。

次のラツチタイミングｂでは、実際にはDCス
キユーエラーV_Dが基準レベルV₁よりも下回つて
いるにも拘わらず、ラツチタイミングｂよりも前
の１周期でみると、Ｗ＞Ｔ／２であるから、ラツ
チタイミングｂでもサーボオンの判断が下され
る。その結果、V_D＜V₁となつてもモータ２６が
働らき、DCスキユーエラーV_Dはさらに反対方向
に極性が増大し、実際にはサーボオフとなるのは
ｃのラツチタイミングとなる。

そのため、現行よりもデイスク１の回転速度が
遅いものに上述のスキユーエラー検出回路を適用
すると、ラツチタイミングが現行の場合よりもさ
らに長くなるため、ラツチタイミングｃにおける
DCスキユーエラーV_Dが他方の基準レベル−V₁を
越えるおそれがあり、場合によつてはこのスキユ
ーサーボ系が発振してしまうというような問題が
生ずる。

特に、スキユーサーボ系の精度を上げるため基
準レベルV₁、−V₁の絶対値を小さくすると発振を
起こす確率が高くなる。

これは、デイスク１の１回転に１回だけ比較出
力P_C1，P_C2をサンプリングし、そのデータをラツ
チすることに起因するものである。

発明の目的そこで、この発明では低速回転デイスクでも、
上述したモータの長寿命化等に加えて、発振を起
さない安定なスキユーサーボ系を構成しうるよう
にしたものである。

発明の概要そのため、この発明においては、例えば、第１
９図に示すように、回転デイスクのスキユー角に
対応したDC成分とAC成分とからなるスキユーエ
ラー信号S_EをDCスキユーエラーのスレシヨール
ドレベルと比較する比較回路６２と、この比較回
路６２より得られるDCスキユーエラーに対応し
た比較パルスP_C1に基づいてデイスク回転に関連
した基準クロツクFGをカウントするカウンタ８
１と、このカウンタ８１のカウント値がロードさ
れるアツプダウンカウンタ８２と、比較パルス
P_C1に対応したデータと、比較パルスP_C1のデイス
クの回転の１周期前の値に対応するデータP_RGと
を比較し、両データが異なるときのみアツプダウ
ンカウンタ８２のカウント値を基準クロツクFG
に応じてコントロールするカウント値制御回路８
３，８４と、アツプダウンカウンタ８２のカウン
ト値R₁に応じて、スキユーエラーを補正する駆
動手段２６を制御する駆動手段制御回路７１，７
２とを備えたものである。

この構成によつて、見掛け上基準クロツク周期
ごとに１周期前のデータとの比較が行なわれるこ
とになるから、サーボオフとなタイミングが今ま
でよりも速くなり、発振現象を未然に回避するこ
とができる。

実施例続いて、この発明に係るスキユーエラー補正回
路の一例を第１９図以下を参照して詳細に説明す
る。

第１９図はその一例を示す要部の系統図であつ
て、この発明においても、DCスキユーエラーに
対応した比較パルスP_C1，P_C2を得るため、第１及
び第２の電圧比較器６２，６３が設けられる。

第１の比較パルスP_C1は第１のコントロール信
号形成回路８０Ａに供給される。第１のコントロ
ール信号形成回路８０Ａはカウンタ８１を有し、
第１の比較パルスP_C1がエネーブルパルスとして
供給されて、基準クロツクたるパルスFGがカウ
ントされる。カウンタ８１のカウントデータは１
回転周期ごとにアツプダウンカウンタ８２にロー
ドされる。そのため、パルスFGを分周器６７で
１／３２分周したパルスPxがロードパルスとしてア
ツプダウンカウンタ８２に供給される。

一方、第１の比較パルスP_C2は32ビツト（１周
期のパルスFGの数に対応する）シフトレジスタ
８３に供給されて、パルスFGのタイミングで第
１の比較パルスP_C1のデータが取り込まれる。例
えば、第１８図Ａに示すようにａ〜ｂ間の１周期
では前半の期間Ｗが“Ｈ”で、残りの期間が
“Ｌ”であるから、“Ｈ”の期間は“１”のデータ
が、“Ｌ”の期間は“Ｏ”のデータがシフトレジ
スタ８３に取り込まれ、サンプリングタイミング
ｂの直前でｂ点より１周期前の全てのデータがシ
フトレジスタ８３に取り込まれたことになる。シ
フトレジスタ８３の出力データP_RGはパルスFGの
得られるタイミングで出力される。

そして、第１の比較パルスP_C1はアツプダウン
カウンタ８２にアツプダウンコントロールパルス
として供給される。この例では、“Ｈ”のときア
ツプカウント、“Ｌ”のときダウンカウントとな
るようにコントロールされる。

アツプダウンモードはエネーブルパルスの入力
時のみ実行に移される。そのため、第１の比較パ
ルスP_C1と１周期前のデータであるシフトレジス
タ８３の出力データP_RGとがエクスクルーシブル
ノア回路（制御回路）８４に供給され、その出力
がアツプダウンカウンタ８２にエネーブルパルス
として供給される。

このように構成された第１のコントロール信号
形成回路８０Ａの動作を第２０図及び第２１図を
用いて説明する。

今、スキユーサーボの結果、DCスキユーエラ
ーV_Dが第２０図Ａに示すように減少し、丁度ａ
〜ｂ間でDCスキユーエラーV_Dが基準レベルV₁よ
りも減少し、この区間ではＷ＞Ｔ／２であるもの
とする。この場合、ｂのサンプリング点を基準に
すれば、ｂのタイミングでカウンタ８１のデータ
がアツプダウンカウンタ８２にロードされる。

ロードされるカウントデータはＷ＝Ｔ／２のと
きアナログデータに換算すると丁度“16”となる
ので、上述の場合Ｗ＞Ｔ／２であるからこのとき
のカウントデータは“16”よりも大きい。説明の
都合上、カウントデータ“19”がロードされたも
のとしよう。

シフトレジスタ８３からはパルスFGの入力タ
イミングに同期して出力データP_RGが得られるの
で、エクスクルーシブルノア回路８４ではパルス
FGの入力タイミングに同期して入力レベルの比
較が行なわれる。

サンプリング点ｂ以降のパルスFGの入力タイ
ミングをb₁，b₂，…とすれば、入力タイミングb₁
では１周期前の同一入力タイミングa₁での出力デ
ータP_RGが得られるので、第１の比較パルスP_C1の
各入力タイミングにおけるデータと出力データ
P_RGとの関係は第２１図に示すようになる。その
結果、入力タイミングb₁，b₂，…ではエネーブル
パルスP_ENがいずれも“Ｌ”となり、このときの
第１の比較パルスP_C1は“Ｌ”であるから、カウ
ンタ８２はダウンカウントモードとなつて、カウ
ンタ８２にロードされたカウントデータはダウン
して、入力タイミングb₃でカウントデータは
“16”までダウンする。

そのため、このカウンタ８２のMSBビツトデ
ータは入力タイミングb₃の時点で“Ｈ”から
“Ｌ”に変化し、モータコントロール信号として
のスイツチングパルスR₁は“Ｈ”から“Ｌ”に
なつてモータ２６の駆動は停止する（第２０図
Ｃ）。モータ２６が停止するとそれ以降はDCスキ
ユーエラーV_Dは一定になる（第２０図Ａ）。

このように、１周期前のデータと現在得られる
データとを比較し、カウントデータが“16”以上
である場合にはカウンタ８２にロードされたカウ
ントデータを減少させるようにすれば、次のサン
プリングタイミングｃに至る前に必ず、ロードさ
れたカウントデータは“16”以下になる。そのた
め、従来よりも早い時点でスキユーサーボをオフ
にすることができ、その結果本来のサンプリング
周期が現行よりも長い場合でも発振を起こすこと
なく、スキユーサーボを実現できる。

サンプリング点ａにおけるカウントデータ
“32”がカウンタ８２にロードされているときは
サンプリング点ａ以降の各入力タイミングa₁，
a₂，…における第１の比較パルスP_C1のデータは
期間Ｗの間は“Ｈ”であるので、エネーブルパル
スP_ENが“Ｈ”になつてカウンタ８２はダウンカ
ウントモードには至らない。期間Ｗ経過後は第１
の比較パルスP_C1のデータは“Ｌ”に変化してダ
ウンカウントモードになるが、この残りの期間は
Ｔ／２以下であるので、ロードされたカウントデ
ータは“16”以下にはなり得ず、従つてモータ２
６は正転駆動の状態を保持する。

逆転駆動を行なうコントロール信号R₂の形成
回路８０Ｂについても第１の形成回路８０Ａと同
様であるのでその説明は省略する。

発明の効果以上説明したように、この発明の構成によれ
ば、１周期前のデータと現時点で得られたデータ
とを比較してアツプダウンカウンタへのロードデ
ータをコントロールするようにしたので、見掛け
上サンプリング周期が短かくなり、従つて低速回
転デイスクのスキユーエラー検出用に使用しても
発振を起こしたりすることがない。従つて、常に
安定したスキユーサーボを実現できる。

さらに、スレツシヨールドレベル±V₁内にDC
スキユーエラーV_Dが集束したことを即座に検出
することができることから、スキユーサーボの精
度を上げるべくスレツシヨールドレベル±V₁の
絶対値を小さくしても、スキユーサーボ系が発振
しないので、高精度のスキユーサーボを実現する
ことができる。

勿論、この発明の構成によれば、スレツシヨー
ルドレベル±V₁以内のスキユーエラーについて
は不感帯であるので、モータ２６のオーバーロー
ドを回避でき、モータの長寿命化を達成できると
共に、30HzのACスキユーエラー信号Sqをデジタ
ル的にフイルタリングしたので応答特性が改善さ
れる。

【図面の簡単な説明】

第１図は、デイスクのスキユーによる悪影響を
説明するための図、第２図はスキユー検出手段の
一例を示す図、第３図、第４図はスキユー検出手
段の要部の一例の構成を示す図、第５図はスキユ
ー検出手段の要部の一例の斜視図、第６図〜第９
図はその動作の説明のための図、第１０図は光ピ
ツクアツプの光軸をデイスクの記録面に対して常
に垂直に制御するための機構の一例を示す図、第
１１図はスキユーの説明図、第１２図及び第１３
図はスキユーエラーの説明図、第１４図はスキユ
ーエラー角とスキユーエラー検出電圧との関係を
示す図、第１５図はこの発明の説明に供するスキ
ユーエラー検出回路の一例を示す系統図、第１６
図〜第１８図はその動作説明に供する波形図、第
１９図はこの発明に係るスキユーエラー補正回路
の一例を示す系統図、第２０図及び第２１図は
夫々その動作説明に供する図である。１はデイスク、９は拡散光源としての発光ダイ
オード、１０は２分割光検出器、１１はレンズ、
１３は拡散光源の像、５０はスキユーサーボ回
路、６０はスキユーエラー検出回路、７０はモー
タ制御系、６２，６３は電圧比較器、６５，６８
は判別回路、８０Ａ，８０Ｂはコントロール信号
R₁，R₂の形成回路、８１，８２はカウンタ、８
３はシフトレジスタ、８４は制御用のエクスクル
ージブルノア回路である。

Claims

【特許請求の範囲】１回転デイスクのスキユー角に対応したDC成
分とAC成分とからなるスキユーエラー信号をDC
スキユーエラーのスレツシヨールドレベルと比較
する比較回路と、この比較回路より得られるDCスキユーエラー
に対応した比較パルスに基づいてデイスク回転に
関連した基準クロツクをカウントするカウンタ
と、このカウンタのカウント値がロードされるアツ
プダウンカウンタと、上記比較パルスに対応したデータと、上記比較
パルスのデイスクの回転の１周期前の値に対応す
るデータとを比較し、両データが異なるときのみ
上記アツプダウンカウンタのカウント値を上記基
準クロツクに応じてコントロールするカウント値
制御回路と、上記アツプダウンカウンタのカウント値に応じ
て、スキユーエラーを補正する駆動手段を制御す
る駆動手段制御回路とを備えたことを特徴とする
スキユーエラー補正回路。