JPH0514973B2 - - Google Patents
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- JPH0514973B2 JPH0514973B2 JP60270476A JP27047685A JPH0514973B2 JP H0514973 B2 JPH0514973 B2 JP H0514973B2 JP 60270476 A JP60270476 A JP 60270476A JP 27047685 A JP27047685 A JP 27047685A JP H0514973 B2 JPH0514973 B2 JP H0514973B2
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Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、サンプルホールド回路に関する。
(従来技術)
入力信号を保持するモードと入力信号に追従し
て出力するモードとを持つサンプルホールド回路
を光磁気デイスクメモリ装置の光量制御装置にお
ける例を挙げて説明する。
て出力するモードとを持つサンプルホールド回路
を光磁気デイスクメモリ装置の光量制御装置にお
ける例を挙げて説明する。
光磁気デイスクメモリ装置は、膜面に垂直な方
向に磁化容易軸を持つ磁性膜を記録媒体とし、こ
れにレーザビームを照射して記録、再生又は消去
を行なう光学的な記録再生装置である。以下に光
磁気デイスクメモリ装置の記録再生方法について
説明する。
向に磁化容易軸を持つ磁性膜を記録媒体とし、こ
れにレーザビームを照射して記録、再生又は消去
を行なう光学的な記録再生装置である。以下に光
磁気デイスクメモリ装置の記録再生方法について
説明する。
記録時には、以下のように情報を記録する。
1μmφ程度に集光したレーザビームを、情報信
号に応じて強度変調し磁性膜面に照射すると、磁
性膜の温度が局所的に上昇する。その温度上昇し
た部分では保磁力が減少するため、同時に外部よ
り補助磁場を印加すると、磁化の向きが反転して
情報が記録される。
1μmφ程度に集光したレーザビームを、情報信
号に応じて強度変調し磁性膜面に照射すると、磁
性膜の温度が局所的に上昇する。その温度上昇し
た部分では保磁力が減少するため、同時に外部よ
り補助磁場を印加すると、磁化の向きが反転して
情報が記録される。
一方再生時には、記録された磁性膜面に記録時
よりも弱い光量のレーザの直線偏光を照射する。
すると、反射光は、磁性膜の磁気光学効果(カー
効果)により偏光面の傾きを生じる。この傾きを
検光子を通して光の強弱に変え、それを光検出器
で検出すると再生信号となる。
よりも弱い光量のレーザの直線偏光を照射する。
すると、反射光は、磁性膜の磁気光学効果(カー
効果)により偏光面の傾きを生じる。この傾きを
検光子を通して光の強弱に変え、それを光検出器
で検出すると再生信号となる。
レーザビームの強度は、以上の様に高・低の2
つの出力レベルが必要である。記録(消去)時は
高出力強度レベル、再生時は低出力強度レベルで
ある。
つの出力レベルが必要である。記録(消去)時は
高出力強度レベル、再生時は低出力強度レベルで
ある。
レーザビームを射出する半導体レーザは温度特
性を有しており、周囲温度によつてその強度が変
動する。情報の記録時に高出力強度が変動すれ
ば、記録媒体に対して情報の書き込み不足や過多
を生じ、再生情報の信頼性が劣化する。一方情報
の再生時に低出力強度が変動すれば、再生信号の
S/N比が劣化する。従つて、高・低両出力レベ
ルにおいてレーザ光強度を安定化させる必要があ
る。
性を有しており、周囲温度によつてその強度が変
動する。情報の記録時に高出力強度が変動すれ
ば、記録媒体に対して情報の書き込み不足や過多
を生じ、再生情報の信頼性が劣化する。一方情報
の再生時に低出力強度が変動すれば、再生信号の
S/N比が劣化する。従つて、高・低両出力レベ
ルにおいてレーザ光強度を安定化させる必要があ
る。
そこで、第3図に示す光量制御装置が提案され
た。これは半導体レーザ1に駆動電流を供給する
2つの電流源8,9が設けられたものである。情
報再生時には、低出力用のバイアス電流源8によ
る駆動電流IRのみにより半導体レーザ1を駆動す
るものである。また情報記録(消去)時には、高
出力用のパルス電流源9からの駆動電流IWを駆動
電流IRに付加することにより、高出力強度を得て
いる。
た。これは半導体レーザ1に駆動電流を供給する
2つの電流源8,9が設けられたものである。情
報再生時には、低出力用のバイアス電流源8によ
る駆動電流IRのみにより半導体レーザ1を駆動す
るものである。また情報記録(消去)時には、高
出力用のパルス電流源9からの駆動電流IWを駆動
電流IRに付加することにより、高出力強度を得て
いる。
さて、一定出力光強度を得るための自動光出力
制御(いわゆるAPC)は、以下のようにして行
なわれる。まず低出力の光強度について光量の自
動光出力制御を行なう。次に高出力時には、この
低出力時の電流値IRを保持し、これに高出力用の
電流IWを付加すれば、高出力時にも自動光出力制
御が見かけ上実現される。なぜならば、半導体レ
ーザの駆動電流対光出力カーブにおいて、周囲温
度の変動に対してしきい値のみが変動し、しきい
値以上の傾きは変わらないで、低出力用電流のみ
をしきい値以上のある値に制御すれば、これに高
出力用の定電流を付加するだけで高出力時の自動
光出力制御も実現されるからである。
制御(いわゆるAPC)は、以下のようにして行
なわれる。まず低出力の光強度について光量の自
動光出力制御を行なう。次に高出力時には、この
低出力時の電流値IRを保持し、これに高出力用の
電流IWを付加すれば、高出力時にも自動光出力制
御が見かけ上実現される。なぜならば、半導体レ
ーザの駆動電流対光出力カーブにおいて、周囲温
度の変動に対してしきい値のみが変動し、しきい
値以上の傾きは変わらないで、低出力用電流のみ
をしきい値以上のある値に制御すれば、これに高
出力用の定電流を付加するだけで高出力時の自動
光出力制御も実現されるからである。
自動光出力制御には、サンプルホールド回路を
用いたものがある。次に、従来のサンプルホール
ド回路を用いた時の自動光出力制御(APC)の
例について図面を用いて以下に説明する。まず情
報再生時すなわち低出力時の制御について説明す
る。第3図において半導体レーザ1の出力光強度
P2は、光検出器2で常時モニターされ、電圧信
号Va2に変換される。このモニター信号Va2は、
差動アンプ3で基準電圧Vb2と比較されて出力電
圧VC2(=Vb2−Va2)となり、ローパスフイルタ
5を介して電圧Vd2となり、スイツチング回路7
を介して、電圧Ve2(=Vd2)がバイアス電流源8
に導びかれる。低出力時には、スイツチング回路
7は、ローパスフイルタ5の出力電圧Vd2をその
まま出力する側にスイツチされている。バイアス
電流源8では、この光強度のデータVe2に基づい
て差動アンプ3の出力Vc2が0になるようにバイ
アス電流IRを制御し、半導体レーザ1の低出力強
度P2を一定に保つ。
用いたものがある。次に、従来のサンプルホール
ド回路を用いた時の自動光出力制御(APC)の
例について図面を用いて以下に説明する。まず情
報再生時すなわち低出力時の制御について説明す
る。第3図において半導体レーザ1の出力光強度
P2は、光検出器2で常時モニターされ、電圧信
号Va2に変換される。このモニター信号Va2は、
差動アンプ3で基準電圧Vb2と比較されて出力電
圧VC2(=Vb2−Va2)となり、ローパスフイルタ
5を介して電圧Vd2となり、スイツチング回路7
を介して、電圧Ve2(=Vd2)がバイアス電流源8
に導びかれる。低出力時には、スイツチング回路
7は、ローパスフイルタ5の出力電圧Vd2をその
まま出力する側にスイツチされている。バイアス
電流源8では、この光強度のデータVe2に基づい
て差動アンプ3の出力Vc2が0になるようにバイ
アス電流IRを制御し、半導体レーザ1の低出力強
度P2を一定に保つ。
次に情報記録(消去)時、すなわち高出力時に
は、あらかじめ低出力強度のデータとしてローパ
スフイルタ5の出力電圧Vd2をメモリ回路6で記
憶しておき、スイツチング回路7をメモリ回路6
側にスイツチする。そして高出力用のパルス電流
源9により記録パルス電流(消去電流)IWをバイ
アス電流IRに付加する。情報記録(消去)時には
低出力の自動光出力制御を凍結するが、これは高
出力強度に応答して低出力強度が下がるのを避け
るためである。そして、高出力用電流を付加する
ことで、高出力時にも自動光出力制御が実現され
る。
は、あらかじめ低出力強度のデータとしてローパ
スフイルタ5の出力電圧Vd2をメモリ回路6で記
憶しておき、スイツチング回路7をメモリ回路6
側にスイツチする。そして高出力用のパルス電流
源9により記録パルス電流(消去電流)IWをバイ
アス電流IRに付加する。情報記録(消去)時には
低出力の自動光出力制御を凍結するが、これは高
出力強度に応答して低出力強度が下がるのを避け
るためである。そして、高出力用電流を付加する
ことで、高出力時にも自動光出力制御が実現され
る。
ここでローパスフイルタ5、メモリ回路6及び
スイツチング回路7で構成される回路10は、2
つのモードすなわち1つは入力信号にローパスフ
イルタを介して信号を出力するモードと、もう1
つはこれをメモリ回路6で記憶させ、その出力を
保持するモードを備えたいわゆるサンプルホール
ド回路である。
スイツチング回路7で構成される回路10は、2
つのモードすなわち1つは入力信号にローパスフ
イルタを介して信号を出力するモードと、もう1
つはこれをメモリ回路6で記憶させ、その出力を
保持するモードを備えたいわゆるサンプルホール
ド回路である。
(発明の解決しようとする問題点)
従来のサンプルホールド回路10の構成では、
ローパスフイルタ5の過渡応答特性が残るため、
高・低両出力の光量制御が瞬時に達成できない。
このことを第4図を用いて説明する。
ローパスフイルタ5の過渡応答特性が残るため、
高・低両出力の光量制御が瞬時に達成できない。
このことを第4図を用いて説明する。
まず第3図における半導体レーザ1の光出力強
度P2は再生時にあらかじめ自動光出力制御によ
り安定化されており、記録(消去)時に高出力強
度が付加され、第4図に示すような波形になる。
第4図に示す波形Va2,Vb2,Vc2,Vd2,Ve2及び
タイミング信号S1,S2は、第3図に示す同一符号
のものに対応する。光検出器2の出力Va2は光強
度P2を電圧信号に変換したものであり、差動ア
ンプ3において基準電圧Vb2と比較され、その差
Vc2(=Vb2−Va2)が出力される。この差Vc2は、
サンプルホールド回路10におけるローパスフイ
ルタ5に入力される。ローパスフイルタ5は、半
導体レーザの温度特性による強度変動に対応した
低周波域を通すものである。ローパスフイルタ5
の出力電圧Vd2は、第4図に示すように過渡応答
を示す。この出力電圧は、メモリ回路6とスイツ
チング回路7に導びかれる。メモリ回路6では、
メモリタイミング信号S1がハイレベルの時に入力
信号を記録すると同時に、それを出力し保持す
る。スイツチング回路7では、スイツチタイミン
グ信号S2がハイレベルの時(再生時)、ローパス
フイルタ5の出力電圧Vd2をそのまま通すので自
動光出力制御が行なわれ、ローレベルの時(記録
(消去)時)は、メモリ回路6の出力信号を通す。
従つて、スイツチング回路の出力信号すなわちサ
ンプルホールド回路10の出力電圧Ve2は、第4
図に示す様に記録(消去)時から再生時に移つた
後に、ローパスフイルタ5による過渡応答成分が
残るため、この電圧Ve2に従つて制御される半導
体レーザ1の出力光強度P2も過渡応答成分が残
り、安定化するのに応答時間だけ時間がかかる。
度P2は再生時にあらかじめ自動光出力制御によ
り安定化されており、記録(消去)時に高出力強
度が付加され、第4図に示すような波形になる。
第4図に示す波形Va2,Vb2,Vc2,Vd2,Ve2及び
タイミング信号S1,S2は、第3図に示す同一符号
のものに対応する。光検出器2の出力Va2は光強
度P2を電圧信号に変換したものであり、差動ア
ンプ3において基準電圧Vb2と比較され、その差
Vc2(=Vb2−Va2)が出力される。この差Vc2は、
サンプルホールド回路10におけるローパスフイ
ルタ5に入力される。ローパスフイルタ5は、半
導体レーザの温度特性による強度変動に対応した
低周波域を通すものである。ローパスフイルタ5
の出力電圧Vd2は、第4図に示すように過渡応答
を示す。この出力電圧は、メモリ回路6とスイツ
チング回路7に導びかれる。メモリ回路6では、
メモリタイミング信号S1がハイレベルの時に入力
信号を記録すると同時に、それを出力し保持す
る。スイツチング回路7では、スイツチタイミン
グ信号S2がハイレベルの時(再生時)、ローパス
フイルタ5の出力電圧Vd2をそのまま通すので自
動光出力制御が行なわれ、ローレベルの時(記録
(消去)時)は、メモリ回路6の出力信号を通す。
従つて、スイツチング回路の出力信号すなわちサ
ンプルホールド回路10の出力電圧Ve2は、第4
図に示す様に記録(消去)時から再生時に移つた
後に、ローパスフイルタ5による過渡応答成分が
残るため、この電圧Ve2に従つて制御される半導
体レーザ1の出力光強度P2も過渡応答成分が残
り、安定化するのに応答時間だけ時間がかかる。
すなわち第3図において破線で囲まれたサンプ
ルホールド回路10では、サンプルホールド回路
の出力信号自体にローパスフイルタ5の過渡応答
成分が残るため、良好な出力光強度の制御ができ
ない。従つて過渡応答を含まないようなサンプル
ホールド回路が必要不可欠である。
ルホールド回路10では、サンプルホールド回路
の出力信号自体にローパスフイルタ5の過渡応答
成分が残るため、良好な出力光強度の制御ができ
ない。従つて過渡応答を含まないようなサンプル
ホールド回路が必要不可欠である。
本発明の目的は、上述の従来技術の問題点に鑑
み、フイルタ回路の過渡応答が生じない入力信号
を保持するモードと入力信号に追従するモードと
を備えたサンプルホールド回路を提供することに
ある。
み、フイルタ回路の過渡応答が生じない入力信号
を保持するモードと入力信号に追従するモードと
を備えたサンプルホールド回路を提供することに
ある。
(問題点を解決するための手段)
本発明に係るサンプルホールド回路は、入力さ
れる信号を格納するメモリ手段と、一方の入力端
子には入力信号を、他方の入力端子にはメモリ回
路の出力信号を入力し、入力されるタイミング信
号によりメモリ手段の出力信号と入力信号とを切
り換えて出力するスイツチング手段と、このスイ
ツチング手段の出力信号を処理して外部へ出力す
るフイルタ手段とを具備し、このフイルタ手段の
出力信号が、さらに上記のメモリ手段の入力端子
に接続され、入力信号を保持するモードではメモ
リ回路の出力を、入力信号に追従するモードでは
入力信号を、上記フイルタ回路を介して出力す
る。
れる信号を格納するメモリ手段と、一方の入力端
子には入力信号を、他方の入力端子にはメモリ回
路の出力信号を入力し、入力されるタイミング信
号によりメモリ手段の出力信号と入力信号とを切
り換えて出力するスイツチング手段と、このスイ
ツチング手段の出力信号を処理して外部へ出力す
るフイルタ手段とを具備し、このフイルタ手段の
出力信号が、さらに上記のメモリ手段の入力端子
に接続され、入力信号を保持するモードではメモ
リ回路の出力を、入力信号に追従するモードでは
入力信号を、上記フイルタ回路を介して出力す
る。
(作用)
本発明では、スイツチング手段の後にフイルタ
手段を配置する。いま、入力信号に追従するモー
ドにおけるサンプルホールド回路の出力値をメモ
リ手段に格納しておくと、スイツチング手段を両
モードの間で切り換えたときに、スイツチング手
段の出力信号がほとんど同じなので、切り換えの
際にサンプルホールド回路の出力信号は、過渡応
答の影響をほとんどうけない。
手段を配置する。いま、入力信号に追従するモー
ドにおけるサンプルホールド回路の出力値をメモ
リ手段に格納しておくと、スイツチング手段を両
モードの間で切り換えたときに、スイツチング手
段の出力信号がほとんど同じなので、切り換えの
際にサンプルホールド回路の出力信号は、過渡応
答の影響をほとんどうけない。
(実施例)
以下に、本発明に係る入力信号を保持するモー
ドと入力信号に追従するモードとを備えたサンプ
ルホールド回路の実施例を図面を用いて詳細に説
明する。
ドと入力信号に追従するモードとを備えたサンプ
ルホールド回路の実施例を図面を用いて詳細に説
明する。
第1図に、光磁気デイスクメモリ装置の光量制
御装置における適用例として、破線で囲まれた部
分に本発明におけるサンプルホールド回路の一実
施例を示す。第2図は、第1図に示した回路にお
ける波形及びタイミング信号を説明するための図
である。
御装置における適用例として、破線で囲まれた部
分に本発明におけるサンプルホールド回路の一実
施例を示す。第2図は、第1図に示した回路にお
ける波形及びタイミング信号を説明するための図
である。
第1図において、半導体レーザ1より射出され
た出力光の強度P1は、光検出器2において電圧
信号Va1に変換される。この信号は差動アンプ3
において基準電圧Vb1と比較され、電圧Vc1(=
Vb1−Va1)が出力される。電圧Vc1はサンプルホ
ールド回路4におけるスイツチング回路7に入力
され、その出力Vd1はローパスフイルタ5を介し
て電圧Ve1に変換され、バイアス電流源8とメモ
リ回路6に導びかれる。
た出力光の強度P1は、光検出器2において電圧
信号Va1に変換される。この信号は差動アンプ3
において基準電圧Vb1と比較され、電圧Vc1(=
Vb1−Va1)が出力される。電圧Vc1はサンプルホ
ールド回路4におけるスイツチング回路7に入力
され、その出力Vd1はローパスフイルタ5を介し
て電圧Ve1に変換され、バイアス電流源8とメモ
リ回路6に導びかれる。
情報再生時には、スイツチング回路7は差動ア
ンプ3の出力信号Vc1を通し、これに従つてバイ
アス電流源8の出力電流IRが制御され、低出力強
度の自動光出力制御が行なわれる。メモリ回路6
においてあらかじめ低出力強度のデータとして
Ve1を記憶しておく。一方情報記録時に、スイツ
チング回路7はこれに切り換わり、メモリ回路6
のデータを通す。これにより低出力の自動光出力
制御を凍結し、高出力強度に応答するのを避け
る。そしてパルス電流源9より高出力用のパルス
電流IWを付加し、安定な記録(消去)用の高出力
光を射出する。
ンプ3の出力信号Vc1を通し、これに従つてバイ
アス電流源8の出力電流IRが制御され、低出力強
度の自動光出力制御が行なわれる。メモリ回路6
においてあらかじめ低出力強度のデータとして
Ve1を記憶しておく。一方情報記録時に、スイツ
チング回路7はこれに切り換わり、メモリ回路6
のデータを通す。これにより低出力の自動光出力
制御を凍結し、高出力強度に応答するのを避け
る。そしてパルス電流源9より高出力用のパルス
電流IWを付加し、安定な記録(消去)用の高出力
光を射出する。
波形及びタイミング信号を示す第2図における
符号は、第1図における同一符号のものに対応し
ている。半導体レーザ1から射出された出力光強
度P1は、図に示すように、情報再生時は自動光
出力制御により低出力強度で安定化されており、
情報記録(消去)時は高出力強度になる。これを
光検出器2で電圧信号Va1に変換し、基準電圧
Vb1と比較しVc1が出力される。
符号は、第1図における同一符号のものに対応し
ている。半導体レーザ1から射出された出力光強
度P1は、図に示すように、情報再生時は自動光
出力制御により低出力強度で安定化されており、
情報記録(消去)時は高出力強度になる。これを
光検出器2で電圧信号Va1に変換し、基準電圧
Vb1と比較しVc1が出力される。
このVc1を入力とするサンプルホールド回路4
の出力Ve1には過渡応答が生じないことを以下に
示す まず情報再生時は、サンプルホールド回路4は
スイツチタイミング信号S2に従つて電圧Vc1を通
じて自動光出力制御(APC)が行なわれる。次
に情報記録時は、メモリ回路6がメモリタイミン
グ信号S1に従つて情報再生時の低出力強度のデー
タVe1を記憶する。そしてスイツチング回路7
は、スイツチタイミング信号S2の負進行トリガに
従つて切り換わり、メモリ回路6の出力を通す。
(なお再び情報再生時には、またVc1を通す。)す
るとスイツチング回路7の出力Vd1は第2図に示
す様になり、ローパスフイルタ5を介して出力し
たすなわちサンプルホールド回路4の出力Ve1は
過渡応答性が生じない波形となる。従つて半導体
レーザ1の出力光強度P1に過渡応答は現われず、
高低の両出力レベルにおいて瞬時に安定な出力光
強度を得ることができる。
の出力Ve1には過渡応答が生じないことを以下に
示す まず情報再生時は、サンプルホールド回路4は
スイツチタイミング信号S2に従つて電圧Vc1を通
じて自動光出力制御(APC)が行なわれる。次
に情報記録時は、メモリ回路6がメモリタイミン
グ信号S1に従つて情報再生時の低出力強度のデー
タVe1を記憶する。そしてスイツチング回路7
は、スイツチタイミング信号S2の負進行トリガに
従つて切り換わり、メモリ回路6の出力を通す。
(なお再び情報再生時には、またVc1を通す。)す
るとスイツチング回路7の出力Vd1は第2図に示
す様になり、ローパスフイルタ5を介して出力し
たすなわちサンプルホールド回路4の出力Ve1は
過渡応答性が生じない波形となる。従つて半導体
レーザ1の出力光強度P1に過渡応答は現われず、
高低の両出力レベルにおいて瞬時に安定な出力光
強度を得ることができる。
以上の様に本発明によるサンプルホールド回路
を用いると、ローパスフイルタによる過渡応答は
生じず、安定な出力光強度を瞬時に得ることが可
能となる。またこの実施例では低出力強度のデー
タに限つてサンプルホールド回路を用いたが、高
出力強度の自動光出力制御を別途行なう場合で
も、同様に高出力強度のデータについてサンプル
ホールド回路として用いられる。
を用いると、ローパスフイルタによる過渡応答は
生じず、安定な出力光強度を瞬時に得ることが可
能となる。またこの実施例では低出力強度のデー
タに限つてサンプルホールド回路を用いたが、高
出力強度の自動光出力制御を別途行なう場合で
も、同様に高出力強度のデータについてサンプル
ホールド回路として用いられる。
尚、本実施例においては、光メモリ装置として
光磁気デイスクメモリを例に説明したが、他の光
メモリ装置にも使用できる。
光磁気デイスクメモリを例に説明したが、他の光
メモリ装置にも使用できる。
また光量制御装置に限つて説明したが、本発明
は、これらに限らず、レベルの異なる信号を取り
除くために用いられるサンプルホールド回路なら
ば適用可能である。たとえば、同じく光メモリ装
置において、再生信号の自動利得制御を例に上げ
る。この場合、利得制御なので温度変化等のゆつ
くりした変化について制御すればよいので、ロー
パスフイルタの過渡応答が問題になる。すなわ
ち、再生信号レベルから自動利得制御を行う場合
に、記録(消去)時には再生信号レベルに記録
(消去)光量に対応した大きなレベルのパルスが
付加される。したがつて、記録(消去)のレベル
に自動利得制御が応答しないように、パルスを取
り除く必要がある。この場合も、本実施例のサン
プルホールド回路を適用すると、利得に対するロ
ーパスフイルタの過渡応答の影響を除去できる。
は、これらに限らず、レベルの異なる信号を取り
除くために用いられるサンプルホールド回路なら
ば適用可能である。たとえば、同じく光メモリ装
置において、再生信号の自動利得制御を例に上げ
る。この場合、利得制御なので温度変化等のゆつ
くりした変化について制御すればよいので、ロー
パスフイルタの過渡応答が問題になる。すなわ
ち、再生信号レベルから自動利得制御を行う場合
に、記録(消去)時には再生信号レベルに記録
(消去)光量に対応した大きなレベルのパルスが
付加される。したがつて、記録(消去)のレベル
に自動利得制御が応答しないように、パルスを取
り除く必要がある。この場合も、本実施例のサン
プルホールド回路を適用すると、利得に対するロ
ーパスフイルタの過渡応答の影響を除去できる。
またフイルタの過渡応答として、ローパスフイ
ルタについて例を示したが、ハイパスフイルタ等
でも同様である。
ルタについて例を示したが、ハイパスフイルタ等
でも同様である。
(発明の効果)
本発明によれば、フイルタ回路による過渡応答
が生じないサンプルホールド回路を提供すること
ができる。
が生じないサンプルホールド回路を提供すること
ができる。
第1図は、本発明の実施例によるサンプルホー
ルド回路を用いた光量制御装置の回路図である。
第2図は、第1図の回路における波形及びタイミ
ング信号を示す図である。第3図は、従来のサン
プルホールド回路を用いた光量制御装置の回路図
である。第4図は、第3図の回路における波形及
びタイミング信号を示す図である。 1……半導体レーザ、2……光検出器、3……
差動アンプ、4……サンプルホールド回路、5…
…ローパスフイルタ、6……メモリ回路、7……
スイツチング回路、8……バイアス電流源、9…
…パルス電流源。
ルド回路を用いた光量制御装置の回路図である。
第2図は、第1図の回路における波形及びタイミ
ング信号を示す図である。第3図は、従来のサン
プルホールド回路を用いた光量制御装置の回路図
である。第4図は、第3図の回路における波形及
びタイミング信号を示す図である。 1……半導体レーザ、2……光検出器、3……
差動アンプ、4……サンプルホールド回路、5…
…ローパスフイルタ、6……メモリ回路、7……
スイツチング回路、8……バイアス電流源、9…
…パルス電流源。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 入力される信号を格納するメモリ手段と、 一方の入力端子には入力信号を、他方の入力端
子にはメモリ回路の出力信号を入力し、入力され
るタイミング信号によりメモリ手段の出力信号と
入力信号とを切り換えて出力するスイツチング手
段と、 このスイツチング手段の出力信号を処理して外
部へ出力するフイルタ手段とを具備し、 このフイルタ手段の出力信号が、さらに上記の
メモリ手段の入力端子に接続され、入力信号を保
持するモードではメモリ回路の出力を、入力信号
に追従するモードでは入力信号を、上記フイルタ
回路を介して出力するサンプルホールド回路。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60270476A JPS62129943A (ja) | 1985-11-30 | 1985-11-30 | サンプルホ−ルド回路 |
| EP86114312A EP0219124B1 (en) | 1985-10-16 | 1986-10-16 | Beam controller for magneto-optical disc memory system |
| US06/919,672 US4843604A (en) | 1985-10-16 | 1986-10-16 | Beam controller for magneto-optical disc memory system |
| DE8686114312T DE3688276T2 (de) | 1985-10-16 | 1986-10-16 | Steuervorrichtung des buendels fuer magnetooptisches plattenspeichersystem. |
| US07/324,458 US4935915A (en) | 1985-10-16 | 1989-03-16 | Beam controller for magneto-optical disc memory system |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60270476A JPS62129943A (ja) | 1985-11-30 | 1985-11-30 | サンプルホ−ルド回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62129943A JPS62129943A (ja) | 1987-06-12 |
| JPH0514973B2 true JPH0514973B2 (ja) | 1993-02-26 |
Family
ID=17486833
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60270476A Granted JPS62129943A (ja) | 1985-10-16 | 1985-11-30 | サンプルホ−ルド回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62129943A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2754735B2 (ja) * | 1989-06-05 | 1998-05-20 | 松下電器産業株式会社 | 光学式データ記憶再生装置 |
-
1985
- 1985-11-30 JP JP60270476A patent/JPS62129943A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62129943A (ja) | 1987-06-12 |
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