JPH0515426B2 - - Google Patents

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【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野： 本発明は製品を１列に検査ゾーンを通して軸と
直角方向に輸送するための回転する輸送装置およ
び検査ゾーンに対して配置した光学的検査機構を
有し、光学的検査機構が検査ゾーンを通過する各
製品の軸と平行の周面部分を照明する照明装置お
よび製品表面で反射した光を検知するため照明さ
れた製品表面の種々の長さ部分に対応して配置し
た１列のオプトエレクトロニツク検知素子を有す
るオプトエレクトロニツクセンサ装置からなる、
たばこ加工工業の棒状製品の被覆を光学的に検査
する装置に関する。

たばこ加工工業の棒状製品とは本発明の場合た
ばこ、たばこ代用品およびフイルタ材料から製造
したシガレツト、フイルタシガレツト等の製品を
表わす。したがつて以下に単にシガレツトという
場合他の製品も含まれる。

従来の技術および発明が解決しようとする問題
点： シガレツトはその製造過程の終りに製造に基く
欠陥を検出し、欠陥シガレツトを選別するため、
通常圧縮空気による最終検査が行われる。しかし
このような圧縮空気検査装置によればすべての欠
陥は検出されない。すなわちしばしば被覆に欠陥
が見えるにもかかわらず、これが圧縮空気検査で
は検知されず、かつ検知することができない。た
とえばこの欠陥が偶然にたばこ繊維によつて気密
に蔽われた被覆中の孔である場合、この孔は圧縮
空気により検知できない。継目部に介在するたば
こ屑も圧縮空気により検出できない。フイルタシ
ガレツトの場合たとえば不完全に接着した巻紙片
および突出する紙片も圧縮空気検査によれば検出
されない。湾曲したまたは凹んだシガレツトも圧
縮空気検査では欠陥品として検知されない。

孔、班点、接着剤残渣またはスタンプ印刷の脱
落もしくは欠陥のようなシガレツト被覆の目に認
めうる欠陥を検出するため、シガレツト棒を個々
のシガレツトに切断する前に光学的に検査するこ
とは公知である。しかしこの検査は製造過程の早
期に行われるので、分離した個々のシガレツトに
初めて発生する被覆の欠陥は検出することができ
ない。これは付加的検査装置で検出しなければな
らない。

西独公開特許公報第2840617号によつて軸と直
角に輸送する個々のまたはダブルシガレツトの表
面を光学的に走査するこのような検査装置が公知
である。これによればシガレツトは順次検査ゾー
ンに送られ、ここで静止して１回その縦軸を中心
に360°回転される。この場合シガレツトの全長に
わたつて拡がる周面部分が照明され、反射光が光
電検知器で測定される。シガレツトの全周面を走
査しうるように、シガレツトをその縦軸を中心に
回転することが必要であり、これは大きい機械的
負荷を意味し、それによつて再びシガレツトの損
傷をきたすことがある。

西独公開特許公報第3030140号によつて軸と直
角に送るシガレツトの表面を光学的に走査する他
の光学的検査装置が公知である。この場合各シガ
レツトの１つの周面部分が検査ゾーン通過の間照
明され、ラインカメラによつて走査される。この
装置によればシガレツトの全周面を走査すること
ができない。それゆえこの装置によれば検査した
シガレツトの無欠陥性を信頼性をもつて断定する
ことができない。シガレツト全体を検査しなけれ
ばならない場合、ここでもシガレツトをその縦軸
を中心に回転することが必要である。しかしこれ
を可能にする装置はこの公報には示されていな
い。

本発明の目的は製品をできるだけ注意深く取扱
いながら製品全表面の状態に関する信頼しうる情
報が保証される、たばこ加工工業の棒状製品を光
学的に検査する改善された検査装置を得ることで
ある。

問題点を解決するための手段： この目的は本発明により検査ゾーンが少なくと
も１つの第１および第２検査ゾーンを有し、各検
査ゾーンに対して少なくとも１つの光学検査機構
が配置され、第１検査ゾーンを通過する際かげに
なつた製品の周面部分が第２検査ゾーンを通過す
る際光学検査機構に面することによつて解決され
る。とくに本発明によれば各検査ゾーンに対して
少なくとも２つの光学検査機構が配置され、これ
らが検査ゾーンを通過する製品の隣接する軸平行
の周面部分を照明および走査する。本発明のとく
に有利な実施例によれば各検査ゾーンに対して２
つの光学検査機構が互いに約90°の角距離で、か
つ製品の輸送面に対し約45°の角度で、製品の輸
送面内を走る軸平行の共通の交線に対して半径方
向に配置される。このような装置によれば１つの
検査ゾーンの検査機構に面する製品全表面の完全
な走査が製品表面におけるほぼ同じ反射条件のも
とに可能である。製品周縁範囲の欠陥がほとんど
またはまつたく検出し得ない接線方向にかすめる
入射光の反射測定は装置のこの形成によれば必要
がない。

製品の全表面すなわち第１検査ゾーンでかくれ
た製品の面も光学的に走査しうるように、本発明
の他の形成によれば奇数の移行部を有する２つの
離れたコンベアが備えられ、その際第１検査ゾー
ンが第１コンベアに配置され、第２検査ゾーンが
第２コンベアに配置される。有利に第１および第
２検査ゾーンは直接前後に続く２つのコンベアに
配置され、各検査ゾーンに対して少なくとも２つ
の光学検査機構が配置される。この方法で第１コ
ンベアの検査ゾーンで製品表面の１つの半分が、
第２コンベアの第２検査ゾーンで製品表面のその
ときまでかくれていた半分が検査される。

照明装置としてとくに検査すべき製品と平行に
配置した光棒が備えられ、この光棒はただ１つの
光源または１列の個々の光源からなることができ
る。

照明装置から製品表面へ、および製品表面から
光学検査機構へできるだけ高い強度の光の伝達を
保証するため、本発明によれば照明装置から発す
る光を検査ゾーンを通過する製品の対応する周面
へ集光する光学系を備え、さらに製品表面で反射
した光をオプトエレクトロニツクセンサ装置へ集
光する第２光学系が備えられる。第２光学系は製
品表面の照明された周面部分の種々の長さ部分で
反射した光をオプトエレクトロニツクセンサ装置
の種々の検知素子へ集光する。このようにして検
査装置の高い位置分解能が達成される。できるだ
け良好な光の集束および集光を達成するため、光
学系としてとくに光学レンズおよびミラー系を備
え、照明装置から発する光の光路および製品表面
で反射した光の光路は一部いつしよに導かれる。
この方法で装置の非常にコンパクトな構造的形成
および光の最適の案内が達成される。

光棒から発する光は本発明によりシガレツト全
長にわたつて拡がる狭い製品周面部分へ集光す
る。この場合光は光カーテンを形成し、製品はそ
れぞれの検査ゾーンを送られる際この光カーテン
を通過する。その際シガレツトの各所望の周面部
分が順次線状に走査される。しかし本発明によれ
ば１つの検査ゾーン内の１つの光学検査機構に対
応する製品の全周面を完全に照明し、この周面部
分で反射した光をオプトエレクトロニツクセンサ
装置の検知素子の列へ集光することもできる。し
かしこの場合オプトエレクトロニツク検知素子か
らなる２次元的アレイとして形成したオプトエレ
クトロニツクセンサ装置が有利である。光学系は
検査ゾーンを通過する製品の照明された周面部分
の２次元的結像をアレイ上へつくるように形成さ
れる。この像はその際線状に走査および評価され
る。オプトエレクトロニツク検知素子からなる２
次元的アレイ上に製品の照明された周面部分を２
次元的に結像する場合のため、本発明によればさ
らにレンズおよびミラー系は結像倍率を少なくと
も１つの次元で変化する手段を備える。この方法
で有利な結像倍率を得ることができる。結像倍率
を変化するため、照明装置から発した光を検査ゾ
ーンを通過する製品の周面部分へ集光し、製品表
面で反射した光をオプトエレクトロニツクセンサ
装置へ集光するためのレンズおよびミラー系は円
筒レンズを有することができる。

各検査機構のすべての検知素子は共通の評価回
路へ接続し、この回路は検知素子から製品表面で
反射した光の強度に応じて発する測定信号が所定
の標準値信号と異なる際、制御信号を発生するた
めの少なくとも１つの比較素子を有する。

本発明により有利に棒状製品の表面の完全な光
学的検査が可能になり、小さい構造費用でつねに
製品の注意深い取扱いが保証される。本発明によ
る表面検査は孔、汚れ、班点、接着剤残渣および
印刷の脱落または欠陥のような欠陥だけでなく、
変形、製品の正しいまたは欠陥ある組立、折曲つ
たフイルタ、巻紙のひだ、巻紙の突出片および突
出する紙のかどに関する情報が得られる。それゆ
え本発明の装置によりたばこ加工工業の軸と直角
に送られる棒状製品の包括的表面検査が可能にな
る。

実施例： 第１図には本発明による光学的検査装置の原理
的構造が略示される。１および２で溝ロールの形
の２つの回転するコンベアが表わされる。各コン
ベアはその周縁に公知のように軸平行の溝３を有
し、そのうち簡単のためそれぞれ２つだけが示さ
れる。図示されていない公知の接続手段を介して
溝へ導かれる吸引空気によつて、溝３に検査すべ
き棒状製品４たとえばフイルタシガレツトが保持
され、軸と直角に矢印で示す方向に送られる。移
行部６で製品４は公知の方法で第１コンベア１か
ら第２コンベア２へ移行する。

検査すべき製品４は第１コンベア１上で検査ゾ
ーン７を通過し、このゾーンへ第１光学検査装置
８が配置される。検査すべき製品４が第２コンベ
ア２上で通過する第２検査ゾーン９へ第２光学検
査装置８が同様に配置される。本発明の提案によ
る検査ゾーンの第１および第２検査ゾーンへの分
割により第１検査ゾーン７を通過する際製品表面
の第１光学検査装置８に面する半分１２の検査
後、第１コンベア１上の輸送の際かくれた部分１
２′の周面を、第２コンベア２上で第２検査ゾー
ン９を通過する際第２光学検査装置８に向けて走
査することが保証される。このように製品表面の
完全な光学的検査が本発明の提案による装置によ
つて可能である。第１図は直接隣接した配置で第
１および第２コンベアを示す。しかし本発明によ
る装置の目的はこれら２つのコンベアの間に奇数
の移行部６がある限り、コンベア１および２が直
接前後に続かない場合も充足される。この場合も
検査すべき製品１のコンベア１上でかくれた表面
半分はコンベア２上で外側に面し、光学的走査が
可能である。

各光学検査装置８はそれぞれの検査ゾーンへ配
置した２つの光学検査機構１３および１３′から
なり、その構造は同じなので、第１図ではその細
部は同じ参照番号を備える。各光学検査機構は検
査すべき製品の軸と平行に配置した光棒１４の形
の照明装置を有し、この光棒は１つの長く拡がる
光源または１列に隣接配置した個々の光源からな
る。レンズ１６および半透ミラー１７によつて光
棒１４から発した光は検査すべき製品の露出した
表面の隣接する周面部分１２ａまたは１２ｂへ当
る。光路の側面を仕切るためスリツト絞り１１が
備えられる。

周面部分１２ａおよび１２ｂで反射した光の強
さを測定するためオプトエレクトロニツクセンサ
装置１８を備え、光は半透ミラー１７を通過した
後レンズ１９によりこの素子へ集光される。光源
から発した光および反射された光はこの場合半透
ミラーと製品表面の間はいつしよに導かれ、それ
によつてとくに好ましい反射条件が得られる。半
透ミラー１７は小部分の光を反射し、大部分を透
過するように形成される。このようにして反射光
の大部分はオプトエレクトロニツクセンサ装置１
８に達し、それによつて検査装置の感度が上昇す
る。同時に照明装置から発した光の大部分が半透
ミラーでの透過のため製品表面に達しないことは
少なくとも一部出力の高い照明装置を使用するこ
とによつて補償することができる。

第３図に示すようにセンサ装置１８は１列のオ
プトエレクトロニツク検知素子１８ａ〜１８ｈか
らなり、この列は第３図には検査すべきフイルタ
シガレツトとして示される検査すべき製品４の軸
と平行に走る。第３図はさらに個々のオプトエレ
クトロニツク検知素子１８ａ〜１８ｈがそれぞれ
レンズ装置１９および検査すべき製品４の長さに
わたつて拡がる共通の半透ミラー１７を介して、
検査すべき製品４の照明された周面部分の隣接す
る長さ部分４ａ〜４ｈに対して配置されることも
示す。長さ部分４ａ〜４ｈは検査すべき製品４の
全長にわたる隙間のない検査を保証するためその
境界は少し重なることができる。検査すべき製品
４を分割する長さ部分の数およびそれによつてあ
らかじめ与えられる線状センサ装置１８の検知素
子の数がほぼ本発明の検査装置の分解能および感
度を決定する。

光学検査機構１３および１３′のミラーおよび
レンズ系とそれぞれの検査ゾーンの間に光学レン
ズおよびミラー系の汚れを防ぐ透明窓２１があ
る。

第２図には検査すべき製品４の検査ゾーン７ま
たは９を通る輸送軌道が略示される。光学検査機
構１３および１３′は第１図で説明したように形
成される。この機構は製品軸と平行の光棒１４を
有し、その光はレンズ１６および半透ミラー１７
を介して検査ゾーン７に達する。反射された光は
半透ミラー１７で一部反射され、レンズ系１９に
よりセンサ装置１８に集光する。この場合もセン
サ装置は第３図に示すように検査すべき製品４の
軸と平行に配置したそれぞれ１列の検知素子であ
る。光学検査機構１３および１３′の光路２２お
よび２２′は製品４の輸送面２４内の軸と平行の
線２３で交わる２つの光カーテンを形成する。第
２図には製品の輸送面は簡単のため平面に示され
る。しかし第１図に示すように輸送面はコンベア
１および２の周面に応じて湾曲して走る。

第１および２図は光学検査機構１３および１
３′のとくに有利な配置を示し、検査機構は互い
に約90°の角距離で、製品の輸送面に対し約45°の
角度で、製品の輸送面にある軸平行の共通の交線
２３に対して半径方向に配置される。この配置に
よつて第１図に示すように各光学検査機構１３お
よび１３′が製品表面のコンベア１上で露出する
表面１２の半分を包囲する周面部分１２ａまたは
１２ｂを走査することが達成される。検査すべき
製品のコンベア１上でかくれた表面１２′はコン
ベア２で外側を向き、そこで本発明により第２光
学検査装置８によつて光学的に走査される。検査
すべき製品の表面欠陥が接線方向にかすめる光線
入射のためまつたくまたはごく少ししか測定可能
の反射変化に作用しない周縁範囲は測定に介入し
ない。各検査機構１３および１３′は検査すべき
製品の、反射の差が製品表面の状態に関する確実
な情報を可能にする周面部分のみを走査する。

第２図は検査すべき製品４の検査ゾーン７を通
る運動経過を示す。運動は矢印によつて示す方向
へ進む。検査すべき製品４の輸送面を表わす線の
下にある部分はそれぞれのコンベア装置の溝内に
あるので、光学検査機構１３および１３′で走査
されない。

第２図に鎖線で示す位置Ａで検査すべき製品４
はちょうど第１検査機構１３の光路２２へ入り、
その表面は光学検査機構１３の光棒１４から発す
る光を反射し始める。センサ装置１８のすべての
検知素子１８ａ〜１８ｈが光路へ入つた製品４か
らの反射光を同時に受光する場合、製品はその所
望の円筒形を有する。製品４の形が円筒形からず
れている場合、検知素子１８ａ〜１８ｈのうちの
数個は他より遅れて受光し、これが所定の限界値
を超える場合欠陥信号が発せられる。このように
して湾曲または変形した製品は本発明の装置によ
つて検知し、選別することができる。

検査すべき製品４が第２図に破線で示す位置Ｂ
に達すると、反射測定にとくに適する周面部分１
２ａが光学検査機構１３の光路２２へ入る。それ
によつてこの周面部分１２ａで反射した光の強度
測定が始まり、その際孔、汚れ、接着剤残渣等の
欠陥が確実に検出される。

同時に位置Ｂの製品４は光学検査機構１３′の
光路２２′へ入る。ここで周面部分１２ｂはただ
ちに光学検査機構１３′の検知素子１８ａ〜１８
ｈの測定範囲へ達するので、この位置Ｂでもただ
ちに反射測定が始まり、周面部分１２ｂの表面欠
陥が検出される。

検査すべき製品４の実線で示す位置ｃは第１図
に示すコンベア１および２上の検査ゾーン７およ
び９の製品位置に相当する。この位置で光棒１４
から発した垂直に入射する光は垂直に反射され
る。ここで光学検査機構に対する製品表面の反射
能は最大である。

次の破線で示す位置Ｄで製品４は第１検査機構
１３の光路２２から出る。同時に周面部分１２ｂ
は第２検査機構１３′の光路範囲２２′を去る。最
後の鎖線で示す位置Ｅで製品４は第２光学検査機
構１３′の光路２２′からも出る。ここでセンサ装
置１８のすべての検知素子１８ａ〜１８ｈがもは
や同時に反射光を受光しない場合、検査した製品
４はこの位置でその所定の円筒形を有する。製品
の形が円筒形からずれている場合すなわち製品が
湾曲しまたはこの位置で凹みを有する場合、検知
素子１８ａ〜１８ｈは異なる時間で製品表面の反
射の終了を記録し、相当する欠陥信号を発する。

頂点で重なつてもよい周面部分１２ａおよび１
２ｂは検査すべき製品のコンベア１上で輸送する
間露出する全表面を包括するので、検査ゾーン７
の通過により製品表面の１つの半分の光学走査が
可能になる。コンベア１上の輸送の間かくれた他
の半分の表面を検査するため、検査すべき製品４
は移行部６を介して第２コンベアに引渡され、こ
こでこの部分の表面が露出し、第２検査ゾーン通
過の際同様の方法で走査される。

第４図は本発明の装置の他の実施例を示す。こ
の場合もコンベア１または２は軸平行の溝３を備
え、この中で検査すべき製品４は軸と直角方向に
検査ゾーン７または９を通して送られる。第１お
よび２図で説明したように形成しうる図示されて
いない照明装置はそれぞれ溝内で露出している製
品表面の周面部分１２ａまたは１２ｂを照明す
る。センサ装置として多数の並列オプトエレクト
ロニツク検知素子からなる２次元的に形成した検
知素子アレイ２６が備えられる。第５ａおよび５
ｂ図には並列オプトエレクトロニツク検知素子２
７からなるこのような検知素子アレイ２６が示さ
れる。製品表面の周面部分１２ａおよび１２ｂで
反射された光を検知素子アレイ２６へ集光するレ
ンズ系１９にもつぱら球面レンズを使用する場
合、検知素子アレイ２６へ検査すべき製品のそれ
ぞれの周面部分の第５ａ図に示す結像２８が発生
する。周面部分の点状欠陥はこの結像に暗い班点
２９として現れる。レンズ系１９に円筒レンズを
使用すれば１方向に結像倍率が変化するので、検
知素子アレイ２６上に検査すべき製品の１つの次
元に拡大した結像３１が現れる。製品の表面に点
状に現れる欠陥は円筒レンズ使用の際線３２とし
て結像し、これは反射測定の際もちろん大きい信
号を発する。それゆえ検知素子アレイを円筒レン
ズとともに使用すれば本発明の装置の測定精度上
昇が可能である。第４図には１７で同様半透ミラ
ーが示され、このミラーは図示されていない光源
から発する光を周面部分１２ａおよび１２ｂの方
向へ向ける。

第６図にはオプトエレクトロニツク検知素子１
８ａ〜１８ｈから発する信号の評価装置が著しく
簡単化して示される。各検知素子１８ａ〜１８ｈ
の出力は機械のリズムに応じてクロツクデイスク
３６を介して共通のクロツク発信器３４からクロ
ツクを受ける限界値素子３３ａ〜３３ｈと結合す
る。すべての限界値素子３３ａ〜３３ｈの出力は
共通のオアゲート３７の入力側と結合し、オアゲ
ートの出力は同様クロツク発信器からクロツクを
受けるシフトレジスタ３８の入力側と結合する。
シフトレジスタ３８の出力は増幅器３９を介して
吹出弁４２の電磁作動器官４１と結合する。検知
素子１８ａ〜１８ｈの１つの測定信号が後置の限
界値素子３３ａ〜３３ｈによつてあらかじめ与え
られた限界値を上または下へ超えると、それぞれ
の限界値素子３３ａ〜３３ｈの出力に欠陥信号が
現れ、この信号はオアゲート３７を介してシフト
レジスタ３８の入力側に達する。ここでこの欠陥
信号は欠陥ありと認めた製品が排出部に達するま
で遅延される。この瞬間に電磁作動器官４１はシ
フトレジスタから発する欠陥信号により増幅器３
９を介して励起されるので、吹出弁４２が開き、
欠陥製品は排出される。多数のオプトエレクトロ
ニツク検知素子１８ａ〜１８ｈが同時に欠陥信号
を発する場合同じ経過が生ずる。

発明の効果： 前記説明から明らかなように本発明の装置によ
つて、軸と直角方向に輸送する製品の全表面を隙
間なく光学的に走査することができる。この場合
暗く現れる孔および班点汚れ、明るく現れる接着
剤残渣および欠陥スタンプ印刷のような表面自体
の欠陥が検出されるだけでなく、表面走査を介し
て製品の形も検査することができる。湾曲した、
折れたおよびつぶれた製品ならびに突出する巻紙
片および突出する紙のかども本発明の装置により
検出される。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明による光学的検査装置の原理を
示す図、第２図は検査すべき製品の検査ゾーンの
通過状態を示す図、第３図は本発明による光学的
検査装置の評価部の原理を示す図、第４図はもう
１つの実施例の原理を示す図、第５Ａ図および第
５Ｂ図は２次元アレイ上の製品の像を示す図、第
６図は１列のオプトエレクトロニツク検知素子を
有するセンサ装置のための評価回路図である。 １，２……コンベア、３……溝、４……製品、
６……移行部、７，９……検査ゾーン、１３，１
３′……光学検査機構、１４……光棒、１６，１
９……レンズ、１７……半透ミラー、１８……セ
ンサ装置、１８ａ〜ｈ……検知素子、２４……輸
送面、２６……アレイ、３３ａ〜ｈ……限界値素
子、３４……クロツク発信器、３７……オアゲー
ト、３８……シフトレジスタ。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 製品を１列に検査ゾーンを通して軸と直角方
   向に輸送するための回転する輸送装置および検査
   ゾーンに対して配置した光学的検査機構を有し、
   光学的検査機構が検査ゾーンを通過する各製品の
   軸と平行の周面部分を照明する照明装置および製
   品表面で反射した光を検知するため照明された製
   品表面の種々の長さ部分に対応して配置した１列
   のオプトエレクトロニツク検知素子を有するオプ
   トエレクトロニツクセンサ装置からなる、たばこ
   加工工業の棒状製品の被覆を光学的に検査する装
   置において、検査ゾーンが少なくとも１つの第１
   および第２検査ゾーン７，９を有し、各検査ゾー
   ン７，９に対して少なくとも１つの光学的検査機
   構１３，１３′が配置され、第１検査ゾーン７を
   通過する際遮蔽された製品４の周面部分１２′が
   第２検査ゾーン９を通過する際光学的検査機構１
   ３，１３′に面することを特徴とするたばこ加工
   工業の棒状製品の被覆を光学的に検査する装置。 ２ 各検査ゾーン７，９に対して少なくとも２つ
   の光学検査機構１３，１３′が輸送面２４に対し
   異なる角度のもとに配置され、この機構が検査ゾ
   ーンを通過する製品４の軸と平行の隣接する周面
   部分１２ａ，１２ｂを照明および走査する特許請
   求の範囲第１項記載の装置。 ３ 各検査ゾーン７，９に対して２つの光学検査
   機構１３，１３′が互いに90°の角距離および製品
   の輸送面に対し45°の角度で、製品の輸送面内に
   ある軸と平行の共通の交線２３に対して半径方向
   に配置されている特許請求の範囲第１項または第
   ２項記載の装置。 ４ 奇数の移行部６を有する２つの離れたコンベ
   ア１，２を備え、第１検査ゾーン７が第１コンベ
   ア１に、第２検査ゾーン９が第２コンベア２に配
   置されている特許請求の範囲第１項から第３項ま
   でのいずれか１項に記載の装置。 ５ 照明装置１４として検査すべき製品４と平行
   に配置した光棒を備えている特許請求の範囲第１
   項から第４項までのいずれか１項に記載の装置。 ６ 照明装置１４から発する光を検査ゾーン７，
   ９を通過する製品４のそれぞれの周面部分１２
   ａ，１２ｂへ集光する第１光学系１６，１７およ
   び製品表面１２で反射した光をオプトエレクトロ
   ニツクセンサ装置１８へ集光する第２光学系１
   ７，１９を備えている特許請求の範囲第１項から
   第５項までのいずれか１項に記載の装置。 ７ 第２光学系１７，１９が製品表面の照明した
   周面部分１２ａ，１２ｂの種々の長さ部分４ａ〜
   ４ｈで反射した光をオプトエレクトロニツクセン
   サ装置１８の種種の検知素子１８ａ〜１８ｈへ集
   光するように形成および配置されている特許請求
   の範囲第６項記載の装置。 ８ 光学系として光学レンズおよびミラー系１
   ６，１７，１９を備え、照明装置１４から発した
   光および製品表面１２で反射した光の光路２２，
   ２２′が部分的に一致している特許請求の範囲第
   １項から第７項までのいずれか１項に記載の装
   置。 ９ オプトエレクトロニツクセンサ装置１８がオ
   プトエレクトロニツク検知素子２７の２次元的ア
   レイ２６として形成され、光学系１７，１９がこ
   のアレイへ検査ゾーン７，９を通過する製品４の
   照明された周面部分１２ａ，１２ｂの２次元的結
   像２８，３１をつくる特許請求の範囲第１項から
   第８項までのいずれか１項に記載の装置。 １０ レンズおよびミラー系１６，１７，１９が
   少なくとも１つの次元の結像倍率を変化する装置
   を含む特許請求の範囲第９項記載の装置。 １１ 照明装置１４から発した光を検査ゾーン
   ７，９を通過する製品４の周面部分１２ａ，１２
   ｂへ集光し、製品表面１２で反射した光をオプト
   エレクトロニツクセンサ装置１８へ集光するレン
   ズおよびミラー系１６，１７，１９が円筒レンズ
   １９を有する特許請求の範囲第１項から第１０項
   までのいずれか１項に記載の装置。 １２ 各検査機構１３，１３′のすべての検知素
   子１８ａ〜１８ｈが共通の評価装置に接続され、
   この評価装置が、検知素子から製品表面１２で反
   射した光の強度に応じて発する測定信号が所定の
   標準値信号と異なる際制御信号を発するため、少
   なくとも１つの比較素子３３ａ〜３３ｈを有する
   特許請求の範囲第１項から第１１項までのいずれ
   か１項に記載の装置。