JPH05157549A - 帯状体のキャンバー検出方法 - Google Patents
帯状体のキャンバー検出方法Info
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- JPH05157549A JPH05157549A JP3349107A JP34910791A JPH05157549A JP H05157549 A JPH05157549 A JP H05157549A JP 3349107 A JP3349107 A JP 3349107A JP 34910791 A JP34910791 A JP 34910791A JP H05157549 A JPH05157549 A JP H05157549A
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- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E60/00—Enabling technologies; Technologies with a potential or indirect contribution to GHG emissions mitigation
- Y02E60/30—Hydrogen technology
- Y02E60/50—Fuel cells
Landscapes
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 帯状体のキャンバーをその周期に関わりなく
高精度に検出できる方法を確立する。 【構成】 帯状体７の一方のエッジ７ａ側に、検出基準
線８から上記エッジ７ａまでの距離を幅方向について測
定するために、３台以上のエッジ位置検出センサを上記
帯状体７の長手方向に沿って配置し、上記帯状体７の板
端から基準線８までの距離を長手方向の移動距離に対し
て一定間隔で検出し、検出点の相対位置から上記板状体
７のキャンバーを推定するに際し、上記３台のエッジ位
置検出センサ２，３，４を近接した等間隔Ｌで配設する
とともに、上記各エッジ位置検出センサ２，３，４の配
設間隔Ｌに対して少なくとも２倍以上の配設間隔２Ｌか
ら４倍以上の配設間隔４Ｌを存してエッジ位置検出セン
サ５および６を配設し、これらの各エッジ位置検出セン
サ２，３，４，５，６により検出される周期別の複数の
エッジ波形から上記帯状体７のキャンバー形状を得るよ
うにする。
高精度に検出できる方法を確立する。 【構成】 帯状体７の一方のエッジ７ａ側に、検出基準
線８から上記エッジ７ａまでの距離を幅方向について測
定するために、３台以上のエッジ位置検出センサを上記
帯状体７の長手方向に沿って配置し、上記帯状体７の板
端から基準線８までの距離を長手方向の移動距離に対し
て一定間隔で検出し、検出点の相対位置から上記板状体
７のキャンバーを推定するに際し、上記３台のエッジ位
置検出センサ２，３，４を近接した等間隔Ｌで配設する
とともに、上記各エッジ位置検出センサ２，３，４の配
設間隔Ｌに対して少なくとも２倍以上の配設間隔２Ｌか
ら４倍以上の配設間隔４Ｌを存してエッジ位置検出セン
サ５および６を配設し、これらの各エッジ位置検出セン
サ２，３，４，５，６により検出される周期別の複数の
エッジ波形から上記帯状体７のキャンバー形状を得るよ
うにする。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は帯状体のキャンバー検出
方法に係わり、特に、複数のエッジ位置検出センサを用
いて帯状体のキャンバーを検出する方法に用いて好適で
ある。
方法に係わり、特に、複数のエッジ位置検出センサを用
いて帯状体のキャンバーを検出する方法に用いて好適で
ある。
【０００２】
【従来の技術】周知の通り、帯状体のキャンバーを検出
する方法として従来から種々の方法が提案されており、
その一部は既に実用化されてかなりの効果を上げてい
る。従来より提案されている帯状体のキャンバーを検出
方法の代表的なものとしては、例えば特開昭６３−６６
４０９号公報に示されるように、検出基準点から帯状体
のエッジまでの距離を上記帯状体の幅方向について測定
するためのエッジ位置検出センサを３台用いるようにし
ている。そして、上記検出基準点から上記帯状体のエッ
ジまでの幅方向位置を、３点で同時に検出し、その検出
点の相対位置に基づいてキャンバーを計測するようにし
ている。
する方法として従来から種々の方法が提案されており、
その一部は既に実用化されてかなりの効果を上げてい
る。従来より提案されている帯状体のキャンバーを検出
方法の代表的なものとしては、例えば特開昭６３−６６
４０９号公報に示されるように、検出基準点から帯状体
のエッジまでの距離を上記帯状体の幅方向について測定
するためのエッジ位置検出センサを３台用いるようにし
ている。そして、上記検出基準点から上記帯状体のエッ
ジまでの幅方向位置を、３点で同時に検出し、その検出
点の相対位置に基づいてキャンバーを計測するようにし
ている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上記特開昭６３−６６
４０９号公報に提案されているキャンバー検出方法は、
エッジ位置検出センサをある一定の大きさの等間隔に固
定して帯状体のキャンバーを検出するようにしている。
このように、複数のエッジ位置検出センサを等間隔で固
定した場合には、その間隔の４倍〜８倍程度の範囲内に
ある特定の周期のキャンバーに対しては高い精度の検出
を行うことが期待できる。
４０９号公報に提案されているキャンバー検出方法は、
エッジ位置検出センサをある一定の大きさの等間隔に固
定して帯状体のキャンバーを検出するようにしている。
このように、複数のエッジ位置検出センサを等間隔で固
定した場合には、その間隔の４倍〜８倍程度の範囲内に
ある特定の周期のキャンバーに対しては高い精度の検出
を行うことが期待できる。
【０００４】しかし、上記特定の周期以外の他の周期の
キャンバーに対しては、高精度の検出を行うことができ
ない問題があった。すなわち、、例えば各エッジ位置検
出センサの配設間隔に比べて非常に短い周期のキャンバ
ーに対しては、検出点がエッジの曲がりの極点付近に来
ない場合、検出振幅が実際のエッジ波形の振幅よりも小
さくなってしまい、正確な検出が望めないという欠点が
あった。本発明は上述の問題点にかんがみ、キャンバー
の周期の長短に拘わらず高精度な検出を行うことができ
る帯状体のキャンバー検出方法を提供することを目的と
する。
キャンバーに対しては、高精度の検出を行うことができ
ない問題があった。すなわち、、例えば各エッジ位置検
出センサの配設間隔に比べて非常に短い周期のキャンバ
ーに対しては、検出点がエッジの曲がりの極点付近に来
ない場合、検出振幅が実際のエッジ波形の振幅よりも小
さくなってしまい、正確な検出が望めないという欠点が
あった。本発明は上述の問題点にかんがみ、キャンバー
の周期の長短に拘わらず高精度な検出を行うことができ
る帯状体のキャンバー検出方法を提供することを目的と
する。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明の帯状体のキャン
バー検出方法は、帯状体の一方のエッジ側に、検出基準
線から上記エッジまでの距離を幅方向について測定する
ために、３台以上のエッジ位置検出センサを上記帯状体
の長手方向に沿って配置し、上記３台以上のエッジ位置
検出センサでもって上記基準線から上記帯状体の板端ま
での距離を上記長手方向の移動距離に対して一定間隔で
検出し、検出点の相対位置から帯状体のキャンバーを推
定する方法において、近接した等間隔で３台のエッジ位
置検出センサを配設した第１のエッジ位置検出センサ群
と、上記第１のエッジ位置検出センサ群における各エッ
ジ位置検出センサの配設間隔Ｌに対し少なくとも２倍か
ら４倍の配設間隔２Ｌ〜４Ｌで複数のエッジ位置検出セ
ンサを配設した第２のエッジ位置検出センサ群とを配置
し、上記第１および第２のエッジ位置検出センサ群によ
り上記基準線から上記帯状体の板端までの距離を、上記
長手方向に移動する距離に対して一定の間隔で検出する
ことにより周期別の複数のエッジ波形を生成し、これら
の周期別の複数のエッジ波形に基づいて上記帯状体のキ
ャンバー形状を得るようにしている。
バー検出方法は、帯状体の一方のエッジ側に、検出基準
線から上記エッジまでの距離を幅方向について測定する
ために、３台以上のエッジ位置検出センサを上記帯状体
の長手方向に沿って配置し、上記３台以上のエッジ位置
検出センサでもって上記基準線から上記帯状体の板端ま
での距離を上記長手方向の移動距離に対して一定間隔で
検出し、検出点の相対位置から帯状体のキャンバーを推
定する方法において、近接した等間隔で３台のエッジ位
置検出センサを配設した第１のエッジ位置検出センサ群
と、上記第１のエッジ位置検出センサ群における各エッ
ジ位置検出センサの配設間隔Ｌに対し少なくとも２倍か
ら４倍の配設間隔２Ｌ〜４Ｌで複数のエッジ位置検出セ
ンサを配設した第２のエッジ位置検出センサ群とを配置
し、上記第１および第２のエッジ位置検出センサ群によ
り上記基準線から上記帯状体の板端までの距離を、上記
長手方向に移動する距離に対して一定の間隔で検出する
ことにより周期別の複数のエッジ波形を生成し、これら
の周期別の複数のエッジ波形に基づいて上記帯状体のキ
ャンバー形状を得るようにしている。
【０００６】
【作用】少なくとも３台のエッジ位置検出センサを近接
した等間隔Ｌを開けて設置するとともに、片端のエッジ
位置検出センサから配設間隔２Ｌから４Ｌまでの間に少
なくとも２台のエッジ位置検出センサを設置することに
より、合計では少なくとも５台のエッジ位置検出センサ
を設置し、センサ間隔Ｌと２Ｌから４Ｌの３種類の間隔
で帯状体のキャンバーを検出するようにして、種々のキ
ャンバーの周期に適したセンサ間隔で上記帯状体のキャ
ンバーを検出することが可能となり、従来の３台のエッ
ジ位置検出センサで検出する方式の欠点であった、狭い
周期範囲でしか高精度に検出することができないという
不都合が解消され、広い周期範囲のキャンバーをより少
ないセンサ台数で検出することが可能となる。
した等間隔Ｌを開けて設置するとともに、片端のエッジ
位置検出センサから配設間隔２Ｌから４Ｌまでの間に少
なくとも２台のエッジ位置検出センサを設置することに
より、合計では少なくとも５台のエッジ位置検出センサ
を設置し、センサ間隔Ｌと２Ｌから４Ｌの３種類の間隔
で帯状体のキャンバーを検出するようにして、種々のキ
ャンバーの周期に適したセンサ間隔で上記帯状体のキャ
ンバーを検出することが可能となり、従来の３台のエッ
ジ位置検出センサで検出する方式の欠点であった、狭い
周期範囲でしか高精度に検出することができないという
不都合が解消され、広い周期範囲のキャンバーをより少
ないセンサ台数で検出することが可能となる。
【０００７】また、エッジ位置検出センサの配設間隔Ｌ
は帯状体の検出したいキャンバー周期の最小値によって
決定され、その周期は通常は１ｍ以上である。したがっ
て、この値から第１のエッジ位置検出センサ群における
近接したセンサの間隔Ｌは、１００ｍｍ〜５００ｍｍ程
度にするのが望ましい。なお、上記センサの配設間隔が
１００ｍｍより小さい場合には、小さい間隔の各点から
キャンバーを推定するために誤差が大きくなってしま
う。また、その反対に各エッジ位置検出センサの配設間
隔が５００ｍｍよりも大きいと、検出振幅の減少を生じ
てしまうことによる誤差が大きくなる。したがって、帯
状体の状態に応じ１００ｍｍ〜５００ｍｍの範囲でセン
サの配設間隔Ｌを選択し、次に同様に上記配設間隔Ｌの
２倍の配設間隔２Ｌから４倍の配設間隔４Ｌで第２のエ
ッジ位置検出センサ群におけるセンサ配置を決定する。
このようにして各エッジ位置検出センサを配設したら、
これらのエッジ位置検出センサの中から所定の組み合わ
せルールに基づいて３つのエッジ位置検出センサの検出
出力を選択し、これらの検出出力に基づいて上記帯状体
のキャンバーを検出する。
は帯状体の検出したいキャンバー周期の最小値によって
決定され、その周期は通常は１ｍ以上である。したがっ
て、この値から第１のエッジ位置検出センサ群における
近接したセンサの間隔Ｌは、１００ｍｍ〜５００ｍｍ程
度にするのが望ましい。なお、上記センサの配設間隔が
１００ｍｍより小さい場合には、小さい間隔の各点から
キャンバーを推定するために誤差が大きくなってしま
う。また、その反対に各エッジ位置検出センサの配設間
隔が５００ｍｍよりも大きいと、検出振幅の減少を生じ
てしまうことによる誤差が大きくなる。したがって、帯
状体の状態に応じ１００ｍｍ〜５００ｍｍの範囲でセン
サの配設間隔Ｌを選択し、次に同様に上記配設間隔Ｌの
２倍の配設間隔２Ｌから４倍の配設間隔４Ｌで第２のエ
ッジ位置検出センサ群におけるセンサ配置を決定する。
このようにして各エッジ位置検出センサを配設したら、
これらのエッジ位置検出センサの中から所定の組み合わ
せルールに基づいて３つのエッジ位置検出センサの検出
出力を選択し、これらの検出出力に基づいて上記帯状体
のキャンバーを検出する。
【０００８】
【実施例】図１は本発明の帯状体のキャンバー検出方法
の一実施例を説明する図である。図１において、１はエ
ッジ７ａの幅方向位置変動を検出する第１のエッジ位置
検出センサ群を示し、９は第２のエッジ位置検出センサ
群を示している。また２，３，４，５，６はそれぞれの
検出器（エッジ位置検出センサ）を示し、７は検知対象
である帯状体を示している。
の一実施例を説明する図である。図１において、１はエ
ッジ７ａの幅方向位置変動を検出する第１のエッジ位置
検出センサ群を示し、９は第２のエッジ位置検出センサ
群を示している。また２，３，４，５，６はそれぞれの
検出器（エッジ位置検出センサ）を示し、７は検知対象
である帯状体を示している。
【０００９】これらの検出器２，３，４，５，６は、幅
方向変動検出の基準点が一致するように設置されてお
り、本実施例においてはそれぞれＬ，Ｌ，２Ｌ，４Ｌの
配設間隔をおいて配置されている。そして、この条件の
下で走行中の帯状体７の幅方向エッジ７ａの位置を検出
するものであり、この検出結果を基にして帯状体７のキ
ャンバーを演算によって求めるようにしている。
方向変動検出の基準点が一致するように設置されてお
り、本実施例においてはそれぞれＬ，Ｌ，２Ｌ，４Ｌの
配設間隔をおいて配置されている。そして、この条件の
下で走行中の帯状体７の幅方向エッジ７ａの位置を検出
するものであり、この検出結果を基にして帯状体７のキ
ャンバーを演算によって求めるようにしている。
【００１０】図２に示すように、検出器２，３，４の検
出結果より求める曲がりθの演算式は、３台の検出器の
検出結果をそれぞれＳ２，Ｓ３，Ｓ４とし、センサ間の
間隔をＸとおくと、次式で計算できる。
出結果より求める曲がりθの演算式は、３台の検出器の
検出結果をそれぞれＳ２，Ｓ３，Ｓ４とし、センサ間の
間隔をＸとおくと、次式で計算できる。
【００１１】
【数１】
【００１２】この検出と演算を、ある通板距離ΔＬ（ｍ
ｍ）毎に行い、周期４Ｌ〜８Ｌ程度のキャンバー成分を
デジタルフィルタ（図示せず）によって抽出する。ま
た、検出器２，４，５の検出結果に基づいて同様な曲が
り角度θを求める演算を行い、周期８Ｌ〜１６Ｌ程度の
キャンバー成分をデジタルフィルタで抽出する。更に、
検出器２，５，６の検出結果から曲がり角度θを求める
演算を行い、周期１６Ｌ以上のキャンバー成分をデジタ
ルフィルタで抽出する。
ｍ）毎に行い、周期４Ｌ〜８Ｌ程度のキャンバー成分を
デジタルフィルタ（図示せず）によって抽出する。ま
た、検出器２，４，５の検出結果に基づいて同様な曲が
り角度θを求める演算を行い、周期８Ｌ〜１６Ｌ程度の
キャンバー成分をデジタルフィルタで抽出する。更に、
検出器２，５，６の検出結果から曲がり角度θを求める
演算を行い、周期１６Ｌ以上のキャンバー成分をデジタ
ルフィルタで抽出する。
【００１３】一方、曲がり角度θからキャンバーを復元
するには、図３のようにセンサ間隔毎の曲がり角度θで
センサ間隔分の距離をおいて連結すればよい。具体的に
は、センサ間隔Ｘで、曲がりデータがセンサ間隔毎にθ
１，θ２，θ３…と得られた場合、
するには、図３のようにセンサ間隔毎の曲がり角度θで
センサ間隔分の距離をおいて連結すればよい。具体的に
は、センサ間隔Ｘで、曲がりデータがセンサ間隔毎にθ
１，θ２，θ３…と得られた場合、
【００１４】
【数２】
【００１５】で与えられる。次いで、最初の検出点と最
後の検出点を結ぶ直線を基準線とするため、
後の検出点を結ぶ直線を基準線とするため、
【００１６】
【数３】
【００１７】の演算を行うことによって、検出開始点と
終了点を結ぶ直線を基準とした帯状体のエッジ７ａの曲
がり、すなわちキャンバーが得られる。
終了点を結ぶ直線を基準とした帯状体のエッジ７ａの曲
がり、すなわちキャンバーが得られる。
【００１８】ところで、３台のエッジ位置検出センサの
みを用いて曲がりを検出する方法では、センサ間隔がキ
ャンバー周期に対して長い場合には検出点の間隔が長く
なるため、検出結果からキャンバーを復元すると、元の
波形よりも振幅が小さく検出されてしまう。 すなわ
ち、検出点と検出点との間の波形は直線で補間される。
このように、直線で補間されても図４の検出原理説明図
において丸形で示したように、エッジ位置検出センサの
配設間隔が小さければ復元波形の形状に関してあまり問
題ない。
みを用いて曲がりを検出する方法では、センサ間隔がキ
ャンバー周期に対して長い場合には検出点の間隔が長く
なるため、検出結果からキャンバーを復元すると、元の
波形よりも振幅が小さく検出されてしまう。 すなわ
ち、検出点と検出点との間の波形は直線で補間される。
このように、直線で補間されても図４の検出原理説明図
において丸形で示したように、エッジ位置検出センサの
配設間隔が小さければ復元波形の形状に関してあまり問
題ない。
【００１９】しかしながら、同図において三角形で示し
たように、センサの配設間隔が大きいと、これらのセン
サ間に存在する波形の凹凸部分がカットされてしまう可
能性が高くなり、その結果として振幅が小さく復元され
てしまうことになる。この検出振幅の減少が最大となる
場合の検出誤差と本来のキャンバー振幅との比は、対象
のキャンバー周期とセンサ間隔の比に対する関数とな
り、図５のグラフで示されるように変化する。
たように、センサの配設間隔が大きいと、これらのセン
サ間に存在する波形の凹凸部分がカットされてしまう可
能性が高くなり、その結果として振幅が小さく復元され
てしまうことになる。この検出振幅の減少が最大となる
場合の検出誤差と本来のキャンバー振幅との比は、対象
のキャンバー周期とセンサ間隔の比に対する関数とな
り、図５のグラフで示されるように変化する。
【００２０】また、キャンバー形状復元のために３台の
エッジ位置検出センサの検出結果から曲がりを計算して
連結する方式では、キャンバー形状復元の際に１回１回
のエッジ位置の測定誤差の影響が蓄積されるため、周期
に対して測定間隔、すなわち、センサ間隔が長いとエッ
ジ位置の測定誤差によるキャンバー復元誤差が大きくな
る。この誤差は、対象のキャンバー周期とセンサ間隔と
の比に対する関数となり、図６のグラフで示されるよう
になる。
エッジ位置検出センサの検出結果から曲がりを計算して
連結する方式では、キャンバー形状復元の際に１回１回
のエッジ位置の測定誤差の影響が蓄積されるため、周期
に対して測定間隔、すなわち、センサ間隔が長いとエッ
ジ位置の測定誤差によるキャンバー復元誤差が大きくな
る。この誤差は、対象のキャンバー周期とセンサ間隔と
の比に対する関数となり、図６のグラフで示されるよう
になる。
【００２１】したがって、全体の検出誤差は図５のグラ
フと図６のグラフとの加算となり、図７のグラフで示さ
れるようになる。すなわち、対象周期がセンサ間隔の５
倍程度であれば、高い精度でキャンバー形状の復元が可
能である。しかし、これはセンサ間隔が全て同じである
と、対象とするキャンバー周期が狭い範囲に限定される
ことを意味する。
フと図６のグラフとの加算となり、図７のグラフで示さ
れるようになる。すなわち、対象周期がセンサ間隔の５
倍程度であれば、高い精度でキャンバー形状の復元が可
能である。しかし、これはセンサ間隔が全て同じである
と、対象とするキャンバー周期が狭い範囲に限定される
ことを意味する。
【００２２】そこで、より広い範囲の周期のキャンバー
を検出するために、各エッジ位置検出センサの配設間隔
を図１のように構成し、５台のエッジ位置検出センサ２
〜６で３種類のセンサ間隔がとれるように構成する。す
なわち、図７で示したように、センサ間隔の４倍〜８倍
の範囲であれば高い検出精度を維持できることを利用し
て、図１のようにセンサ間隔をＬ，Ｌ，２Ｌ，４Ｌとな
るように設定し、少ないセンサ台数でより高精度な検出
を可能にする。
を検出するために、各エッジ位置検出センサの配設間隔
を図１のように構成し、５台のエッジ位置検出センサ２
〜６で３種類のセンサ間隔がとれるように構成する。す
なわち、図７で示したように、センサ間隔の４倍〜８倍
の範囲であれば高い検出精度を維持できることを利用し
て、図１のようにセンサ間隔をＬ，Ｌ，２Ｌ，４Ｌとな
るように設定し、少ないセンサ台数でより高精度な検出
を可能にする。
【００２３】なお、図１中のエッジ位置検出センサ２、
３、４で周期４Ｌ〜８Ｌのキャンバーを、エッジ位置検
出センサ２、４、５で周期８Ｌ〜１６Ｌのキャンバー
を、エッジ位置検出センサ２、５、６で周期１６Ｌ〜３
２Ｌのキャンバーを検出し、それぞれの検出結果を加算
して合成することにより、周期４Ｌ〜３２Ｌにわたる広
い範囲のキャンバーを、従来の３台のエッジ位置検出セ
ンサで検出する方式よりも格段と高い精度で検出するこ
とが可能となる。
３、４で周期４Ｌ〜８Ｌのキャンバーを、エッジ位置検
出センサ２、４、５で周期８Ｌ〜１６Ｌのキャンバー
を、エッジ位置検出センサ２、５、６で周期１６Ｌ〜３
２Ｌのキャンバーを検出し、それぞれの検出結果を加算
して合成することにより、周期４Ｌ〜３２Ｌにわたる広
い範囲のキャンバーを、従来の３台のエッジ位置検出セ
ンサで検出する方式よりも格段と高い精度で検出するこ
とが可能となる。
【００２４】以上述べた処理を、検出結果より計算して
求めた周期別の曲がり角度に対して行うことにより、周
期別のキャンバー形状を復元した波形を得る。そして、
得られた複数の周期成分別の波形を足し合わせれば帯状
体のキャンバー形状を高精度に検出することができる。
求めた周期別の曲がり角度に対して行うことにより、周
期別のキャンバー形状を復元した波形を得る。そして、
得られた複数の周期成分別の波形を足し合わせれば帯状
体のキャンバー形状を高精度に検出することができる。
【００２５】
【発明の効果】以上述べたように本発明は、エッジ検出
用のセンサが等しい配設間隔Ｌで配設されている第１の
エッジ位置検出センサ群と、上記第１のエッジ位置検出
センサ群におけるセンサの配設間隔Ｌの２倍の配設間隔
２Ｌから４倍の配設間隔４Ｌで複数のエッジ位置検出セ
ンサが配設されている第２のエッジ位置検出センサ群と
を設けることにより、通常は検出が不可能な領域まで高
精度な検出が可能となり、センサの配設個数をそれほど
増加させることなく総合的な検出精度を大幅に向上させ
ることができる。
用のセンサが等しい配設間隔Ｌで配設されている第１の
エッジ位置検出センサ群と、上記第１のエッジ位置検出
センサ群におけるセンサの配設間隔Ｌの２倍の配設間隔
２Ｌから４倍の配設間隔４Ｌで複数のエッジ位置検出セ
ンサが配設されている第２のエッジ位置検出センサ群と
を設けることにより、通常は検出が不可能な領域まで高
精度な検出が可能となり、センサの配設個数をそれほど
増加させることなく総合的な検出精度を大幅に向上させ
ることができる。
【図１】本発明の帯状体のキャンバー検出方法を実施す
るためのセンサの配設状況を示す平面図である。
るためのセンサの配設状況を示す平面図である。
【図２】検出結果に基づいてエッジの直線からの曲がり
角度θを求める様子を示す模式図である。
角度θを求める様子を示す模式図である。
【図３】曲がり角度のデータからエッジ形状を復元する
様子を示す模式図である。
様子を示す模式図である。
【図４】エッジ位置検出センサの配設間隔Ｌがキャンバ
ー周期に対して大きい場合に検出振幅が実波形よりも減
少することを示す図である。
ー周期に対して大きい場合に検出振幅が実波形よりも減
少することを示す図である。
【図５】対象キャンバー周期とセンサ間隔の比に対し
て、検出振幅の減少が元の振幅に占める割合を示すグラ
フである。
て、検出振幅の減少が元の振幅に占める割合を示すグラ
フである。
【図６】対象キャンバー周期とセンサ間隔の比に対し
て、エッジ位置検出センサの検出誤差による復元波形の
誤差が元の振幅に占める割合を示すグラフである。
て、エッジ位置検出センサの検出誤差による復元波形の
誤差が元の振幅に占める割合を示すグラフである。
【図７】図６と図７とを合成したグラフで、３台のエッ
ジ位置検出センサによるキャンバー検出精度を示すグラ
フである。
ジ位置検出センサによるキャンバー検出精度を示すグラ
フである。
１ 第１のエッジ位置検出センサ群 ２，３，４，５，６ エッジ位置検出センサ ７ 検知対象の帯状体 ８ エッジ位置検出センサの基準線 ９ 第２のエッジ位置検出センサ群
Claims (1)
- 【請求項１】 帯状体の一方のエッジ側に、検出基準線
から上記エッジまでの距離を幅方向について測定するた
めに、３台以上のエッジ位置検出センサを上記帯状体の
長手方向に沿って配置し、上記３台以上のエッジ位置検
出センサでもって上記基準線から上記帯状体の板端まで
の距離を上記長手方向の移動距離に対して一定間隔で検
出し、検出点の相対位置から帯状体のキャンバーを推定
する方法において、 近接した等間隔で３台のエッジ位置検出センサを配設し
た第１のエッジ位置検出センサ群と、上記第１のエッジ
位置検出センサ群における各エッジ位置検出センサの配
設間隔Ｌに対し少なくとも２倍から４倍の配設間隔２Ｌ
〜４Ｌで複数のエッジ位置検出センサを配設した第２の
エッジ位置検出センサ群とを配置し、 上記第１および第２のエッジ位置検出センサ群により上
記基準線から上記帯状体の板端までの距離を、上記長手
方向に移動する距離に対して一定の間隔で検出すること
により周期別の複数のエッジ波形を生成し、これらの周
期別の複数のエッジ波形に基づいて上記帯状体のキャン
バー形状を得るようにしたことを特徴とする帯状体のキ
ャンバー検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3349107A JPH05157549A (ja) | 1991-12-06 | 1991-12-06 | 帯状体のキャンバー検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3349107A JPH05157549A (ja) | 1991-12-06 | 1991-12-06 | 帯状体のキャンバー検出方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05157549A true JPH05157549A (ja) | 1993-06-22 |
Family
ID=18401540
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3349107A Withdrawn JPH05157549A (ja) | 1991-12-06 | 1991-12-06 | 帯状体のキャンバー検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05157549A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1158267A4 (fr) * | 1999-11-08 | 2003-01-08 | Sumitomo Metal Ind | Procede pour mesurer la qualite d'un corps en forme de bande, procede de suppression de la cambrure, instrument pour mesurer la qualite d'un corps en forme de bande, machine de laminage et dispositif de rognage |
| JP2004170363A (ja) * | 2002-11-22 | 2004-06-17 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 長尺材のエッジ位置計測方法及びこれを用いた形状計測方法並びにエッジ位置計測装置及びこれを用いた形状計測装置 |
| US20140268175A1 (en) * | 2013-03-12 | 2014-09-18 | Celgard, Llc | Method and system for optical camber measurement of flat sheet membranes, films, and webs |
| JP2018027560A (ja) * | 2016-08-18 | 2018-02-22 | 東芝三菱電機産業システム株式会社 | 形状測定装置及びそれを備えた圧延システム |
| JP2021056087A (ja) * | 2019-09-30 | 2021-04-08 | 東芝三菱電機産業システム株式会社 | 形状測定装置 |
-
1991
- 1991-12-06 JP JP3349107A patent/JPH05157549A/ja not_active Withdrawn
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| WO2014165013A1 (en) * | 2013-03-12 | 2014-10-09 | Celgard, Llc | Method and system for optical camber measurement of flat sheet membranes, films, and webs |
| US9541384B2 (en) | 2013-03-12 | 2017-01-10 | Celgard, Llc | Method and system for optical camber measurement of flat sheet membranes, films, and webs |
| JP2018027560A (ja) * | 2016-08-18 | 2018-02-22 | 東芝三菱電機産業システム株式会社 | 形状測定装置及びそれを備えた圧延システム |
| JP2021056087A (ja) * | 2019-09-30 | 2021-04-08 | 東芝三菱電機産業システム株式会社 | 形状測定装置 |
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