JPH05160715A - 基板バイアス発生回路 - Google Patents

基板バイアス発生回路

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JPH05160715A
JPH05160715A JP3324809A JP32480991A JPH05160715A JP H05160715 A JPH05160715 A JP H05160715A JP 3324809 A JP3324809 A JP 3324809A JP 32480991 A JP32480991 A JP 32480991A JP H05160715 A JPH05160715 A JP H05160715A
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substrate bias
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charge pump
inverter
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Hitoshi Yamada
仁 山田
Tamihiro Ishimura
民弘 石村
Yoshio Otsuki
欣男 大槻
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Oki Electric Industry Co Ltd
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    • H03K3/00Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
    • H03K3/02Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 発振回路内で生じる貫通電流を防止し、チャ
ージポンプ停止時に発振回路から出力されるパルス信号
の周期を長くして消費電力の低減化を図る。 【構成】 発振回路100の発振時において、各反転回
路110〜150内のPMOS112〜152またはN
MOS113〜153のいずれか一方がオフ状態となる
ので、該反転回路110〜150内を流れる貫通電流を
遮断できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体記憶装置等の半
導体集積回路において、ラッチアップ防止や、接合容量
を減らして高速化等を図るため、基板電圧を一定に保つ
ための基板バイアス電圧を発生する基板バイアス発生回
路、特にその発振回路に関するものである。
【0002】
【従来の技術】図2は、従来の半導体集積回路における
基板バイアス発生回路の一構成例を示す回路図である。
この基板バイアス発生回路は、半導体集積回路の基板1
に基板バイアス電圧Vbbを印加して該基板1を例えば
−3Vにするための回路であり、所定周期のパルス信号
S10を出力するリングオシレータ構成の発振回路10
を備えている。この出力側には、チャージポンプ回路2
0が接続され、該チャージポンプ回路20の出力が基板
バイアスレベル検出回路30を介してフィードバック入
力されている。チャージポンプ回路20は、キャパシタ
及びトランジスタ等で構成され、パルス信号S10によ
り充放電して基板バイアス電圧Vbbを生成する回路で
ある。基板バイアスレベル検出回路30は、基板バイア
ス電圧Vbbを検出してそのレベルに応じた“H”レベ
ルまたは“L”レベルの制御信号S30をチャージポン
プ回路20へ出力し、該チャージポンプ回路20の動作
をオン,オフ制御する回路である。
【0003】発振回路10は、カスケード接続された奇
数個の反転回路11〜15と、波形整形用のバッファ回
路16とを備えている。各反転回路11〜15は、Pチ
ャネル型MOSトランジスタ(以下、PMOSという)
11a〜15a及びNチャネル型MOSトランジスタ
(以下、NMOSという)11b〜15bからなるCM
OSインバータと、該CMOSインバータのドレインと
電源電位Vcc間に接続された負荷用のPMOS11c
〜15cと、該CMOSインバータのソースと接地電位
Vss間に接続された負荷用のNMOS11d〜15d
とで、それぞれ構成されている。各反転回路11〜15
の出力側ノードN11〜N15は順次リング状に接続さ
れ、その最終段出力側ノードN15がバッファ回路16
に接続されている。
【0004】バッファ回路16は、最終段反転回路15
の出力側ノードN15の立上がり及び立下がり波形を急
峻な立上がり及び立下がり波形に波形整形してパルス信
号S10をチャージポンプ回路20へ出力する回路であ
り、電源電位Vccと接地電位Vss間に接続されたP
MOS16a及びNMOS16bからなるCMOSイン
バータで構成されている。
【0005】次に、図3を参照しつつ、図2の動作を説
明する。図3は、図2中の発振回路10の動作波形図で
ある。図3中のTは発振回路10から出力されるパルス
信号S10の電源電位Vccに対する所定の周期であ
る。Iは各反転回路11中の電源電位Vccと接地電位
Vssとの間に流れる貫通電流である。
【0006】発振回路10は、図3に示すように、各反
転回路11〜15が反転動作を行うことによってそれら
の各出力側ノードN11〜N15からパルス波形が生成
される。各反転回路11〜15内の負荷用PMOS11
c〜15c及びNMOS11d〜15dにより、各PM
OS11a〜15a及びNMOS11b〜15bからな
るCMOSインバータが、外観上、相互インダクタンス
が小さくなったときと同様な波形動作を行う。この波形
動作のため、ノードN15,N11〜N14の入力に対
するノードN11〜N15の出力の応答が遅くなり、該
ノードN11〜N15がその立上がり及び立下がりにお
いて緩慢な波形動作となる。このようなノードN11〜
N15の緩慢な動作波形により、少ない反転回路数によ
る出力パルス信号S10の長い周期Tを可能にしてい
る。
【0007】最終段反転回路15の出力側ノードN15
のパルス波形がバッファ回路16へ出力されると、該バ
ッファ回路16では、波形整形によって立上がり及び立
下がりを急峻にして所定周期Tのパルス信号S10をチ
ャージポンプ回路20へ出力する。
【0008】このように発振回路10が所定周期Tのパ
ルス信号S10をチャージポンプ回路20へ出力し続け
ると、基板バイアスレベル検出回路30では、チャージ
ポンプ回路20によって基板1に供給される基板バイア
ス電圧Vbbのレベルを検出し、該基板バイアス電圧V
bbが例えば所定電位よりも高いときには出力制御信号
S30を“H”レベルにし、逆に該基板バイアス電圧V
bbが所定電位よりも低いときには出力制御信号S30
を“L”レベルにする。チャージポンプ回路20は、制
御信号S30を入力し、該制御信号S30が“H”レベ
ルのときにはチャージポンプ動作を開始し、該制御信号
S30が“L”レベルのときにはチャージポンプ動作を
停止する。これにより、基板1は例えば所定電位以下に
なるように制御される。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記構
成の回路では、次のような課題があった。発振回路10
において、例えば初段の反転回路11を例にとると、最
終段反転回路15の出力側ノードN15の緩慢な入力波
形を、PMOS11a及びNMOS11bからなるCM
OSインバータで反転する際に、ノードN11を経由し
て電源電位Vccと接地電位Vss間に貫通電流Iが流
れる。貫通電流Iは、他の各反転回路12〜15におい
てもそれぞれ同様に発生する。このような貫通電流Iが
発生すると、発振回路10における消費電力が大きくな
るという問題がある。
【0010】また、チャージポンプ回路20は、基板バ
イアス電圧Vbbが所定の電位よりも高い条件で動作
し、該基板バイアス電圧Vbbが所定の電位よりも低い
条件で停止する。これに対して発振回路10は、チャー
ジポンプ停止期間中も常に不必要な所定周期Tのパルス
信号S10を出力し続ける。そのため、発振回路10の
消費電力が大きいという問題があり、それらを解決する
ことが困難であった。
【0011】本発明は、前記従来技術が持っていた課題
として、発振回路10における消費電力が大きいという
点について解決した基板バイアス発生回路を提供するも
のである。
【0012】
【課題を解決するための手段】第1の発明は、前記課題
を解決するために、所定周期のパルス信号を出力する発
振回路と、前記パルス信号により充電されて基板バイア
ス電圧を生成するチャージポンプ回路と、前記基板バイ
アス電圧を検出してそのレベルに応じた“H”レベルま
たは“L”レベルの制御信号を出力し、前記チャージポ
ンプ回路の動作をオン,オフ制御する基板バイアスレベ
ル検出回路とを、備えた基板バイアス発生回路におい
て、前記発振回路を次のように構成している。
【0013】即ち、前記発振回路は、カスケード接続さ
れた奇数段の反転回路を有し、その各反転回路は、前段
の反転回路の出力を反転して後段の反転回路へ与えるイ
ンバータと、該インバータの一方の電極と第1の電源電
位との間に接続された第1のスイッチ手段と、該インバ
ータの他方の電極と第2の電源電位との間に接続された
第2のスイッチ手段とを有し、該第1及び第2のスイッ
チ手段が2K(但し、Kは整数)段前の反転回路の入力
側電位により、オン,オフ制御される構成にしている。
【0014】第2の発明では、第1の発明の各反転回路
は、前段の反転回路の出力を反転して後段の反転回路へ
与えるインバータと、該インバータの一方の電極と第1
の電源電位間に並列接続された第1のトランジスタ及び
第1の制御トランジスタを有する第1のスイッチ手段
と、該インバータの他方の電極と第2の電源電位間に並
列接続された第2のトランジスタ及び第2の制御トラン
ジスタを有する第2のスイッチ手段とを備えている。そ
して、前記第1及び第2のトランジスタはノーマリオン
に制御され、前記第1及び第2の制御トランジスタは前
記制御信号に基づきオン,オフ制御されて前記チャージ
ポンプ回路の停止時にオフ状態となる構成にしている。
【0015】
【作用】第1の発明によれば、以上のように基板バイア
ス発生回路を構成したので、発振回路における各反転回
路内の第1または第2のスイッチ手段は、発振動作中、
そのいずれかがオフ状態となるので、該各反転回路に流
れる貫通電流を大幅に小さくでき、それによって消費電
力の低減化が図れる。さらに、第1及び第2のスイッチ
手段の制御信号を各反転回路の出力より得ているので、
該制御信号の生成回路が不要となって占有面積の削減化
が図れる。
【0016】第2の発明によれば、各反転回路内におけ
る第1及び第2の制御トランジスタがチャージポンプ回
路の停止時にオフ状態となるので、各第1及び第2のス
イッチ手段の等価抵抗値が大きくなり、発振回路から出
力されるパルス信号の周期が長くなる。これにより、発
振回路での消費電力の低減化が図れる。従って、前記課
題を解決できるのである。
【0017】
【実施例】第1の実施例 図1は、本発明の第1の実施例を示す基板バイアス発生
回路の回路図であり、従来の図2中の要素と共通の要素
には共通の符号が付されている。この基板バイアス発生
回路では、従来と異なるリングオシレータ構成の発振回
路100を有し、その出力側には従来と同様のチャージ
ポンプ回路20が接続され、さらにその出力側に基板バ
イアスレベル検出回路30が接続されている。
【0018】発振回路100は、周波数可変のパルス信
号S100をチャージポンプ回路20へ出力する回路で
ある。この発振回路100は、奇数段(例えば、5段)
の反転回路110〜150を有し、それらの各出力側ノ
ードN111〜N151が順次カスケード接続され、さ
らに最終段反転回路150の出力側ノードN151に、
波形整形用のバッファ回路160及びCMOSインバー
タ164が接続されている。
【0019】各反転回路110〜150は、前段の反転
回路の出力を反転して後段の反転回路へ与える各PMO
S111a〜151a及びNMOS111b〜151b
からなるCMOSインバータ111〜151と、PMO
S111a〜151aと第1の電源電位(例えば、電源
電位Vcc)との間に接続された第1のスイッチ手段
(例えば、PMOS)112〜152と、NMOS11
1b〜151bのソースと第2の電源電位(例えば、接
地電位Vss)との間に接続された第2のスイッチ手段
(例えば、NMOS)113〜153とで、それぞれ構
成されている。各反転回路110〜150内のPMOS
112〜152及びNMOS113〜153のゲート
は、2段前の反転回路のCMOSインバータの入力側に
それぞれ接続されている。
【0020】バッファ回路160、及びその出力側に接
続されたPMOS164a及びNMOS164bからな
るCMOSインバータ164は、最終段反転回路150
の出力側ノードN151の立上がり及び立下がり波形を
急峻にするための波形整形機能を有している。バッファ
回路160は、最終段反転回路150の出力側ノードN
151の波形を反転して出力側ノードN161からCM
OSインバータ164へ出力するPMOS161a及び
NMOS161bからなるCMOSインバータ161
と、PMOS161aのドレインと電源電位Vcc間に
接続された第1のスイッチ手段(例えば、PMOS)1
62と、NMOS161bのソースと接地電位Vss間
に接続された第2のスイッチ手段(例えば、NMOS)
163とで、構成されている。PMOS162及びNM
OS163のゲートは、2段前の反転回路140内のC
MOSインバータ141の入力側に接続されている。
【0021】次に、図4を参照しつつ、図1の動作を説
明する。図4は、図1中の発振回路100の動作波形図
である。図4中のIは、各反転回路110内の電源電位
Vccから接地電位Vssへ流れる貫通電流である。
【0022】発振回路100において、各反転回路11
0〜150は前段の反転回路の出力を反転して後段の反
転回路へ与えることにより、所定周期のパルス信号を最
終段反転回路150の出力側ノードN151からバッフ
ァ回路160へ出力する。バッファ回路160は出力側
ノードN151の電位を反転し、ノードN161からC
MOSインバータ164へ出力する。CMOSインバー
タ164では、ノードN161の電位を反転して所定周
期のパルス信号S100をチャージポンプ回路20へ出
力する。このバッファ回路160及びCMOSインバー
タ164により、ノードN151の波形の立上がり及び
立下がりが急峻な立上がり及び立下がりに波形整形さ
れ、パルス信号S100としてチャージポンプ回路20
へ所定の周期で出力される。
【0023】基板バイアスレベル検出回路30は、チャ
ージポンプ回路20より基板1へ供給される基板バイア
ス電圧Vbbが、所定の電位よりも例えば高いときには
制御信号S30を“H”レベルにし、逆に基板バイアス
電圧Vbbが所定の電位よりも低いときには制御信号S
30を“L”レベルにする。チャージポンプ回路20
は、制御信号S30が“H”レベルのときにはチャージ
ポンプ動作を開始し、該制御信号S30が“L”レベル
のときにはチャージポンプ動作を停止する。これによ
り、基板1の基板バイアス電圧Vbbが常に所定の電位
以下になるように制御される。
【0024】ここで、各反転回路110〜150におい
て、CMOSインバータ111〜151のゲート入力
と、PMOS112〜152及びNMOS113〜15
3のゲート入力とが、それぞれ異なる反転回路の出力と
接続されているため、CMOSインバータ111〜15
1のゲート入力とPMOS112〜152及びNMOS
113〜153のゲート入力とでは位相差が生じる。
【0025】例えば、図4の時刻tにおいて、反転回路
110内のCMOSインバータ111のゲート入力には
最終段反転回路150の出力側ノードN151上の中間
電位が入力されるため、PMOS111a及びNMOS
111bが共にオン状態となるが、PMOS112及び
NMOS113のゲートには反転回路140の入力側ノ
ードN131の“H”レベルが入力されるため、該PM
OS112がオフ状態、該NMOS113がオン状態と
なる。PMOS112がオフ状態となるので、電源電位
Vccから接地電位Vssへ流れる貫通電流Iを阻止す
ることができる。
【0026】他の反転回路120〜150についても同
様に、電源電位Vccから接地電位Vssに至るいずれ
か一つの素子が常にオフ状態となるので、無用な貫通電
流Iを効果的に防止できる。さらに、本実施例では、波
形整形用のバッファ回路160についても、CMOSイ
ンバータ161と直列にスイッチ手段用のPMOS16
2及びNMOS163を設けたので、反転回路110〜
150と同様に、該バッファ回路160の電源電位Vc
cから接地電位Vssへ流れる貫通電流Iを的確に防止
できる。また、各反転回路110〜150及びバッファ
回路160のスイッチ手段用PMOS112〜162及
びNMOS113〜163の制御信号を、各反転回路1
10〜150の出力より得ているので、該制御信号を生
成するための新たな制御手段を必要としない。そのた
め、少ない占有面積で、低消費電力化が可能となる。
【0027】第2の実施例 図5は、本発明の第2の実施例を示す基板バイアス発生
回路の回路図であり、図1中の要素と共通の要素には共
通の符号が付されている。この基板バイアス発生回路で
は、図1と異なるリングオシレータ構成の発振回路20
0を有し、その出力側に図1と同様のチャージポンプ回
路20が接続され、さらにそのチャージポンプ回路20
の出力側に基板バイアスレベル検出回路30が接続され
ている。
【0028】発振回路200は、周波数可変のパルス信
号S200をチャージポンプ回路20へ供給する回路で
ある。この発振回路200は、奇数段(例えば、5段)
の反転回路210〜250を有し、それらの各出力側ノ
ードN211〜N251が順次カスケード接続され、そ
の最終段反転回路250の出力側ノードN251が、波
形整形用のバッファ回路260及びCMOSインバータ
264に接続されている。また、制御信号S30には、
それを反転して制御信号S270を出力するPMOS2
70a及びNMOS270bからなるCMOSインバー
タ270が接続されている。
【0029】各反転回路210〜250は、前段の反転
回路の出力を反転して後段の反転回路へ与える各PMO
S211a〜251a及びNMOS211b〜251b
からなるCMOSインバータ211〜251と、該CM
OSインバータ211〜251のドレイン側ノードN2
12〜N252と電源電位Vcc間に接続された第1の
スイッチ手段212〜252と、該CMOSインバータ
211〜251のソース側ノードN213〜N253と
接地電位Vss間に接続された第2のスイッチ手段21
3〜253とで、それぞれ構成されている。各第1のス
イッチ手段212〜252は、制御信号S270でゲー
ト制御されるPMOS212a〜252aと、ノーマリ
オンに制御されるPMOS212b〜252bとを有
し、それらがCMOSインバータ211〜251のドレ
イン側ノードN212〜N252と電源電位Vccとの
間に並列接続されている。同様に、各第2のスイッチ手
段213〜253は、ノーマリオンに制御されるNMO
S213a〜253aと、制御信号S30によりゲート
制御されるNMOS213b〜253bとを有し、それ
らがCMOSインバータ211〜251のソース側ノー
ドN213〜N253と接地電位Vssとの間に並列接
続されている。
【0030】バッファ回路260及びCMOSインバー
タ264は、図1のバッファ回路160及びCMOSイ
ンバータ164と同様に、最終段反転回路251の出力
側ノードN251の波形の立上がり及び立下がりを急峻
な波形に整形する波形整形機能を有している。バッファ
回路260は、ノードN251の電位を反転してノード
N261へ出力するPMOS261a及びNMOS26
1bからなるCMOSインバータ261と、該PMOS
261aのドレインと電源電位Vcc間に接続された第
1のスイッチ手段用のPMOS262と、NMOS26
1bのソースと接地電位Vss間に接続された第2のス
イッチ手段用のNMOS263とで、構成されている。
PMOS262及びNMOS263のゲートは、2段前
の反転回路240におけるCMOSインバータ241の
入力側ノードN231に接続されている。バッファ回路
260の出力側に接続されたCMOSインバータ264
は、バッファ回路260の出力側ノードN261の電位
を反転してパルス信号S200をチャージポンプ回路2
0へ与える回路であり、PMOS264a及びNMOS
264bで構成されている。
【0031】次に、図6(a),(b)を参照しつつ、
図5の動作を説明する。図6(a),(b)は図5の動
作波形図であり、同図(a)は基板バイアス電圧Vbb
が不充分であってチャージポンプ回路20の動作時、制
御信号S30=“H”、S270=“L”で、例えば反
転回路210内のPMOS212a及びNMOS213
bが共にオン状態の場合における各ノードの動作波形図
である。同図(b)は、基板バイアス電圧Vbbが充分
であり、チャージポンプ回路20の停止時、制御信号S
30=“L”、S270=“H”で、例えば反転回路2
10内のPMOS212a及びNMOS213bが共に
オフ状態の場合における各ノードの動作波形図である。
なお、図6(a),(b)中のTa,Tbはパルス信号
S200の周期であり、Ta<Tbとなっている。
【0032】図6(a)に示すように、基板バイアス電
圧Vbbが不充分な場合、チャージポンプ回路20が動
作し、基板バイアスレベル検出回路30から出力される
制御信号S30が“H”レベルとなり、それがインバー
タ270で反転されて制御信号S270が“L”レベル
となる。そのため、各反転回路210〜250におい
て、各第1のスイッチ手段212〜252中のPMOS
212a〜252aがオン状態となり、該第1のスイッ
チ手段212〜252の等価抵抗値が小さくなる。同様
に、各第2のスイッチ手段213〜253内のNMOS
213b〜253bがオン状態となり、該第1のスイッ
チ手段213〜253の等価抵抗値も小さくなる。この
ように各反転回路210〜250内の第1,第2のスイ
ッチ手段212〜252,213〜253の等価抵抗値
が小さくなるので、発振回路200からチャージポンプ
回路20へ出力されるパルス信号S200の周期Taが
短くなり、該チャージポンプ回路20によって基板バイ
アス電圧Vbbが基板1に供給され、該基板バイアス電
圧Vbbが所定の電位以下に速やかに制御される。
【0033】図6(b)に示すように、基板バイアス電
圧Vbbが充分な場合、基板バイアスレベル検出回路3
0から出力される制御信号S30が“L”レベルとなっ
てチャージポンプ回路20がチャージポンプ動作を停止
する。このとき、“L”レベルの制御信号S30がCM
OSインバータ270で反転されて制御信号S270が
“H”レベルとなる。そのため、各反転回路210〜2
50において、第1,第2のスイッチ手段212〜25
2,213〜253中のPMOS212a〜252a及
びNMOS213b〜253bが共にオフ状態となり、
ノーマリオンに制御されたPMOS212b〜252b
及びNMOS213a〜253aのみがオン状態とな
る。そのため、図6(a)の基板バイアス電圧Vbbが
不充分なときと比べて、各スイッチ手段212〜25
2,213〜253の等価抵抗値が大きくなる。従っ
て、発振回路200から出力されるパルス信号S200
の周期Tbは、基板バイアス電圧Vbbが不充分なとき
に比べて長くなる。これにより、発振回路200の出力
が不要となる期間の発振周期を長くできるので、消費電
力の低減が可能となる。
【0034】また、バッファ回路260は、図1のバッ
ファ回路160と同様に、CMOSインバータ261を
有し、それにPMOS262及びNMOS263が接続
されているので、電源電位Vccから接地電位Vssに
至る素子のいずれかが常に一つはオフ状態となり、無用
な貫通電流を効果的に防止できる。
【0035】なお、本発明は上記実施例に限定されず、
種々の変形が可能である。その変形例としては、例えば
次にようなものがある。 (a) 図1に示す第1の実施例と図5に示す第2の実
施例とは、互いに独立してそれぞれ効果があるが、その
両者を組合わせてさらに大きな効果を得ることも可能で
ある。例えば、図1の各反転回路110〜150におい
て、各PMOS112〜152と直列に図5の第1のス
イッチ手段212〜252を接続すると共に、各NMO
S113〜153と直列に図5の第2のスイッチ手段2
13〜253をそれぞれ接続すれば、両者の効果が得ら
れ、消費電力の著しく低い優れた基板バイアス発生回路
を得ることができる。
【0036】(b) 図1及び図5の、発振回路10
0,200は、それぞれ5段の反転回路110〜15
0,210〜250で構成しているが、それらは任意の
段数で構成してもよい。この場合、図1の各反転回路1
10〜150内のPMOS112〜152及びNMOS
113〜153のゲートは、2K(但しKは整数)段前
の反転回路の入力側電位によりオン,オフ動作するよう
にすればよい。
【0037】(c) 図1及び図5の各反転回路110
〜150,210〜250内のCMOSインバータ11
1〜151,211〜251を、他のトランジスタを用
いたインバータで構成してもよい。図1のスイッチ手段
用PMOS112〜152,NMOS113〜153、
図5の第1のスイッチ手段212〜252、及び第2の
スイッチ手段213〜253を、他のトランジスタで構
成してもよい。同様に、バッファ回路160,260及
びその出力側に接続されるCMOSインバータ164,
264を、他のトランジスタ構成にしてもよい。
【0038】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、第1の発明
によれば、各反転回路内のインバータに第1及び第2の
スイッチ手段をそれぞれ接続したので、各段の反転回路
の出力波形が緩慢であっても、第1または第2のスイッ
チ手段のいずれかがオフ状態となるため、各反転回路に
流れる貫通電流を大幅に減少できる。
【0039】第2の発明によれば、第1及び第2の制御
トランジスタがチャージポンプ回路の停止時にオフ状態
となるので、該チャージポンプ停止時に、発振回路から
出力されるパルス信号の周期を長くでき、それによって
消費電力を低減できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例を示す基板バイアス発生
回路の回路図である。
【図2】従来の基板バイアス発生回路の回路図である。
【図3】図2中の発振回路の動作波形図である。
【図4】図1中の発振回路の動作波形図である。
【図5】本発明の第2の実施例を示す基板バイアス発生
回路の回路図である。
【図6】図5中の発振回路の動作波形図である。
【符号の説明】
1 基板 20 チャージポンプ回
路 30 基板バイアスレベ
ル検出回路 100,200 発振回路 110〜150,210〜250 反転回路 111〜151,211〜251 CMOSインバー
タ 112〜152 PMOS 113〜153 NMOS 212〜252 第1のスイッチ手
段 213〜253 第2のスイッチ手
フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01L 27/04 G 8427−4M 8320−5L G11C 11/34 354 F

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 所定周期のパルス信号を出力する発振回
    路と、前記パルス信号により充電されて基板バイアス電
    圧を生成するチャージポンプ回路と、前記基板バイアス
    電圧を検出してそのレベルに応じた“H”レベルまたは
    “L”レベルの制御信号を出力し、前記チャージポンプ
    回路の動作をオン,オフ制御する基板バイアスレベル検
    出回路とを、備えた基板バイアス発生回路において、 前記発振回路は、カスケード接続された奇数段の反転回
    路を有し、その各反転回路は、前段の反転回路の出力を
    反転して後段の反転回路へ与えるインバータと、該イン
    バータの一方の電極と第1の電源電位との間に接続され
    た第1のスイッチ手段と、該インバータの他方の電極と
    第2の電源電位との間に接続された第2のスイッチ手段
    とを有し、該第1及び第2のスイッチ手段が2K(但
    し、Kは整数)段前の反転回路の入力側電位により、オ
    ン,オフ制御される構成にしたことを特徴とする基板バ
    イアス発生回路。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の基板バイアス発生回路に
    おいて、 前記各反転回路は、前段の反転回路の出力を反転して後
    段の反転回路へ与えるインバータと、該インバータの一
    方の電極と第1の電源電位間に並列接続された第1のト
    ランジスタ及び第1の制御トランジスタを有する第1の
    スイッチ手段と、該インバータの他方の電極と第2の電
    源電位間に並列接続された第2のトランジスタ及び第2
    の制御トランジスタを有する第2のスイッチ手段とを備
    え、 前記第1及び第2のトランジスタはノーマリオンに制御
    され、前記第1及び第2の制御トランジスタは前記制御
    信号に基づきオン,オフ制御されて前記チャージポンプ
    回路の停止時にオフ状態となる構成にしたことを特徴と
    する基板バイアス発生回路。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100913023B1 (ko) * 2007-09-14 2009-08-20 주식회사 동부하이텍 위상 클럭 발생기

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004180364A (ja) * 2002-11-25 2004-06-24 Seiko Epson Corp 電源回路
US20070139098A1 (en) * 2005-12-15 2007-06-21 P.A. Semi, Inc. Wearout compensation mechanism using back bias technique
US8132459B2 (en) * 2008-09-13 2012-03-13 Texas Instruments Incorporated System and method to determine mechanical resonance of an accelerometer
US8581668B2 (en) * 2011-12-20 2013-11-12 Analog Devices, Inc. Oscillator regeneration device
US12549158B2 (en) * 2024-04-29 2026-02-10 Silicon Laboratories Inc. Ring oscillator based digitally controlled oscillator

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4142114A (en) * 1977-07-18 1979-02-27 Mostek Corporation Integrated circuit with threshold regulation
NL8402764A (nl) * 1984-09-11 1986-04-01 Philips Nv Schakeling voor het opwekken van een substraatvoorspanning.
JPS63169118A (ja) * 1987-01-06 1988-07-13 Toshiba Corp 雑音除去回路
DE8714849U1 (de) * 1986-12-23 1987-12-23 Jenoptik Jena Gmbh, Ddr 6900 Jena Geregelter CMOS-Substratspannungsgenerator
NL8701278A (nl) * 1987-05-29 1988-12-16 Philips Nv Geintegreerde cmos-schakeling met een substraatvoorspanningsgenerator.
JPS644113A (en) * 1987-06-25 1989-01-09 Nec Corp Oscillating circuit
JP2501590B2 (ja) * 1987-07-29 1996-05-29 沖電気工業株式会社 半導体装置の駆動回路
US4794278A (en) * 1987-12-30 1988-12-27 Intel Corporation Stable substrate bias generator for MOS circuits
US4899071A (en) * 1988-08-02 1990-02-06 Standard Microsystems Corporation Active delay line circuit
US5025178A (en) * 1988-10-18 1991-06-18 General Dynamics Corp., Pomona Div. Fault-resistant solid-state line driver
KR0133933B1 (ko) * 1988-11-09 1998-04-25 고스기 노부미쓰 기판바이어스 발생회로
US5003197A (en) * 1989-01-19 1991-03-26 Xicor, Inc. Substrate bias voltage generating and regulating apparatus
JP2841480B2 (ja) * 1989-06-21 1998-12-24 日本電気株式会社 基板電位設定回路
JP2780365B2 (ja) * 1989-08-14 1998-07-30 日本電気株式会社 基板電位発生回路
FR2668668B1 (fr) * 1990-10-30 1994-02-04 Samsung Electronics Co Ltd Generateur de tension de substrat pour un dispositif a semiconducteurs.
JP2724919B2 (ja) * 1991-02-05 1998-03-09 三菱電機株式会社 基板バイアス発生装置
US5182529A (en) * 1992-03-06 1993-01-26 Micron Technology, Inc. Zero crossing-current ring oscillator for substrate charge pump

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100913023B1 (ko) * 2007-09-14 2009-08-20 주식회사 동부하이텍 위상 클럭 발생기

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