JPH0516523Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0516523Y2 JPH0516523Y2 JP1987005079U JP507987U JPH0516523Y2 JP H0516523 Y2 JPH0516523 Y2 JP H0516523Y2 JP 1987005079 U JP1987005079 U JP 1987005079U JP 507987 U JP507987 U JP 507987U JP H0516523 Y2 JPH0516523 Y2 JP H0516523Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- incident
- movable body
- light source
- incident light
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
(イ) 産業上の利用分野
本考案は、偏光解析装置に具備されるものであ
つて、詳しくは少なくとも3種類の異なる波長光
の光源からの各入射光を切り換えて前記偏光子に
入射させるための光源切換機構に関する。
つて、詳しくは少なくとも3種類の異なる波長光
の光源からの各入射光を切り換えて前記偏光子に
入射させるための光源切換機構に関する。
(ロ) 従来技術
偏光解析装置は、物体表面で光が反射する際の
偏光状態の変化、特に位相差と反射係数とを測定
することにより物体そのものの光学定数とか、そ
の表面に付着した薄膜の厚みを測定することがで
きるものであり、例えばシリコンウエハの薄膜の
厚み測定などに利用されている。
偏光状態の変化、特に位相差と反射係数とを測定
することにより物体そのものの光学定数とか、そ
の表面に付着した薄膜の厚みを測定することがで
きるものであり、例えばシリコンウエハの薄膜の
厚み測定などに利用されている。
偏光解析装置は、一般に、偏光子、試料、検光
子、検出器などを順次に光路上に配置してなる
が、その偏光解析用途の拡大に伴い偏光子に対す
る入射光の光源としては、種々の波長光の光源が
必要な場合がある。
子、検出器などを順次に光路上に配置してなる
が、その偏光解析用途の拡大に伴い偏光子に対す
る入射光の光源としては、種々の波長光の光源が
必要な場合がある。
このような場合、異なる波長光の光源の数が2
つ(モノクロメータからの光およびHe−Neレー
ザ光)の場合ではこれまででは反射ミラーなどで
簡単に光源を切り換えることができるようにした
ものがあるが、例えば光源の数が3つの場合に反
射ミラーなどで光源を切り換えようとすると、光
軸を微調整する手間が増えて実用上困難となるの
で、3光源を切り換えるものはなく、光源そのも
のを手操作で交換するようにしていた。
つ(モノクロメータからの光およびHe−Neレー
ザ光)の場合ではこれまででは反射ミラーなどで
簡単に光源を切り換えることができるようにした
ものがあるが、例えば光源の数が3つの場合に反
射ミラーなどで光源を切り換えようとすると、光
軸を微調整する手間が増えて実用上困難となるの
で、3光源を切り換えるものはなく、光源そのも
のを手操作で交換するようにしていた。
このような光源の手操作による交換では偏光解
析の操作上の手間が大変なものとなる。また、半
導体レーザのように、小形でかつ光量の少ない光
源からの光を反射ミラ等を用いず、直接分析装置
本体に導入できるような光源切り換え機構を提供
することを目的とする。
析の操作上の手間が大変なものとなる。また、半
導体レーザのように、小形でかつ光量の少ない光
源からの光を反射ミラ等を用いず、直接分析装置
本体に導入できるような光源切り換え機構を提供
することを目的とする。
(ハ) 目的
本考案は、従来のこのような問題点を解消し、
少なくとも3光源の切り換えを簡単に行えるよう
にして偏光解析の操作上の手間を軽減できるよう
にすることを目的とする。
少なくとも3光源の切り換えを簡単に行えるよう
にして偏光解析の操作上の手間を軽減できるよう
にすることを目的とする。
(ニ) 構成
本考案は前記目的のため、基台と、前記基台上
に取り付けられた案内部材と、前記案内部材に移
動可能に取り付けられた移動体と、前記移動体周
囲に固定配置されて設けられ、それぞれが異なる
波長を有する光を照射する複数の固定光源とを備
え、前記移動体は、前記案内部材上の移動方向に
沿つて所定間隔ごとに配置形成された複数の入射
光案内部と、その1つの入射光案内部に対して前
記固定光源それぞれからの光と異なる波長の光を
照射する光源と、この移動体内に導入される前記
固定光源からの照射光の少なくとも一つの光路を
切り替えてそれぞれ異なる入射光案内部に導く光
路切り換え部とを備えてなり、前記移動体が前記
案内部材上において異なる位置に移動配置される
ことにより、前記移動体に設けられた光源もしく
は固定光源それぞれからの入射光が、それぞれ異
なる入射光案内部を介して、前記本体装置の偏光
子に切り換え入射されるようにしている。
に取り付けられた案内部材と、前記案内部材に移
動可能に取り付けられた移動体と、前記移動体周
囲に固定配置されて設けられ、それぞれが異なる
波長を有する光を照射する複数の固定光源とを備
え、前記移動体は、前記案内部材上の移動方向に
沿つて所定間隔ごとに配置形成された複数の入射
光案内部と、その1つの入射光案内部に対して前
記固定光源それぞれからの光と異なる波長の光を
照射する光源と、この移動体内に導入される前記
固定光源からの照射光の少なくとも一つの光路を
切り替えてそれぞれ異なる入射光案内部に導く光
路切り換え部とを備えてなり、前記移動体が前記
案内部材上において異なる位置に移動配置される
ことにより、前記移動体に設けられた光源もしく
は固定光源それぞれからの入射光が、それぞれ異
なる入射光案内部を介して、前記本体装置の偏光
子に切り換え入射されるようにしている。
(ホ) 実施例
以下、本考案の実施例を図面を参照して詳細に
説明する。第1図は、本考案の実施例に係る偏光
解析装置の全体の概略ブロツク図である。第1図
において、2は本体装置である。本体装置2に
は、入射光を偏光する偏光子4、λ/4波長板で
構成された補償子、試料、検光子および検出器等
がこの順に配置されている。6は或る波長を有す
る光8を出す固定光源としてのモノクロメータ、
10はモノクロメータ6からの光8とは異なる波
長を有する光12を出すもう1つの固定光源とし
てのヘリウムーネオン(He−Ne)レーザであ
る。
説明する。第1図は、本考案の実施例に係る偏光
解析装置の全体の概略ブロツク図である。第1図
において、2は本体装置である。本体装置2に
は、入射光を偏光する偏光子4、λ/4波長板で
構成された補償子、試料、検光子および検出器等
がこの順に配置されている。6は或る波長を有す
る光8を出す固定光源としてのモノクロメータ、
10はモノクロメータ6からの光8とは異なる波
長を有する光12を出すもう1つの固定光源とし
てのヘリウムーネオン(He−Ne)レーザであ
る。
14は実施例の光源切換機構である。この光源
切換機構14には前記各光とは異なる波長を有す
る光16を出す光源としての半導体レーザ18
と、ヘリウムーネオンレーザ10からの入射光1
2を反射する光路切り換え部としての反射ミラー
20とが取り付けられている。
切換機構14には前記各光とは異なる波長を有す
る光16を出す光源としての半導体レーザ18
と、ヘリウムーネオンレーザ10からの入射光1
2を反射する光路切り換え部としての反射ミラー
20とが取り付けられている。
このような構成において、光源切換機構14が
図中に示された矢印15方向に移動することによ
り、後述されるように各光源であるモノクロメー
タ6、ヘリウムーネオンレーザ10および半導体
レーザ18からの光が切り換えられて本体装置2
の偏光子4に入射されるようになつている。
図中に示された矢印15方向に移動することによ
り、後述されるように各光源であるモノクロメー
タ6、ヘリウムーネオンレーザ10および半導体
レーザ18からの光が切り換えられて本体装置2
の偏光子4に入射されるようになつている。
第2図は、第1図に示された光源切換機構14
の具体的な構成を示す正面図であり、第3図は同
じく光源切換機構14の側面図であり、第4図は
同じく光源切換機構14の平面図である。これら
の図において、22は基台である。基台22上に
は案内部材24が取り付けられている。案内部材
24には、移動体26が、第2図および第4図で
は左右方向、第3図では紙面垂直方向に移動可能
に取り付けられている。
の具体的な構成を示す正面図であり、第3図は同
じく光源切換機構14の側面図であり、第4図は
同じく光源切換機構14の平面図である。これら
の図において、22は基台である。基台22上に
は案内部材24が取り付けられている。案内部材
24には、移動体26が、第2図および第4図で
は左右方向、第3図では紙面垂直方向に移動可能
に取り付けられている。
移動体26には、当該移動体26を案内部材2
4に沿つて移動操作するための移動操作部材28
の一端が取り付けられている。移動操作部材28
は、ノツチ部30が3個、等間隔ごとに形成され
ている。移動操作部材28の他端には、操作ノブ
32が取り付けられている。
4に沿つて移動操作するための移動操作部材28
の一端が取り付けられている。移動操作部材28
は、ノツチ部30が3個、等間隔ごとに形成され
ている。移動操作部材28の他端には、操作ノブ
32が取り付けられている。
29は、移動操作部材28の他端側を支持する
支持部であり、この支持部29には、移動操作部
材28の定間隔ごとの移動量制御が行いやすいよ
うにそのノツチ部30にはまりこむボール29a
と、そのボール29aをノツチ部29aの方に付
勢するバネ29bとが内装されている。
支持部であり、この支持部29には、移動操作部
材28の定間隔ごとの移動量制御が行いやすいよ
うにそのノツチ部30にはまりこむボール29a
と、そのボール29aをノツチ部29aの方に付
勢するバネ29bとが内装されている。
移動体26は、正面形状が台形板状の正面部2
6aと中央柱部26bとで一体に平面形状がT字
状に形成されており、案内部材方向に沿つて前記
ノツチ部30の形成間隔と同間隔ごとに配置形成
された少なくとも3つの第1、第2および第3の
入射光案内部34,36,38を備えている。即
ち、第1の入射光案内部34は移動体26の正面
部26aの図上左側に、第2の入射光案内部36
は中央柱部26bに、また第3の入射光案内部3
8は正面部26aの図上右側にそれぞれ形成され
ている。これら各入射光案内部は具体的には孔で
あり、特に正面部26aに形成された第1および
第3の入射光案内部34,38には、λ/4波長
偏光板35,37が取り付けられている。
6aと中央柱部26bとで一体に平面形状がT字
状に形成されており、案内部材方向に沿つて前記
ノツチ部30の形成間隔と同間隔ごとに配置形成
された少なくとも3つの第1、第2および第3の
入射光案内部34,36,38を備えている。即
ち、第1の入射光案内部34は移動体26の正面
部26aの図上左側に、第2の入射光案内部36
は中央柱部26bに、また第3の入射光案内部3
8は正面部26aの図上右側にそれぞれ形成され
ている。これら各入射光案内部は具体的には孔で
あり、特に正面部26aに形成された第1および
第3の入射光案内部34,38には、λ/4波長
偏光板35,37が取り付けられている。
移動体26は、第1の入射光案内部34に対し
て第1波長の光を照射する第1光源としての半導
体レーザ18を備えている。即ち、半導体レーザ
18は、移動体26の中央柱部26bにその側面
から突出するようにして取り付けられた支持部4
0に形成された孔に貫通支持されている。
て第1波長の光を照射する第1光源としての半導
体レーザ18を備えている。即ち、半導体レーザ
18は、移動体26の中央柱部26bにその側面
から突出するようにして取り付けられた支持部4
0に形成された孔に貫通支持されている。
したがつて、移動体26が第2図の仮想線Bの
位置にあるときは、半導体レーザ18からの入射
光はλ/4偏光板35を介して第1の入射光案内
部34に案内された後、それの前方に配置されて
いる偏光子4に入射されるようになつている。
位置にあるときは、半導体レーザ18からの入射
光はλ/4偏光板35を介して第1の入射光案内
部34に案内された後、それの前方に配置されて
いる偏光子4に入射されるようになつている。
移動体26の中央柱部26bには、ヘリウムー
ネオンレーザ10からの入射光を反射する反射ミ
ラー44(第1図では符号20)の取り付け台4
6が取り付けられている。
ネオンレーザ10からの入射光を反射する反射ミ
ラー44(第1図では符号20)の取り付け台4
6が取り付けられている。
次に作用を説明する。説明の都合上、当初、移
動体26が図示する第1の所定位置(図中、実線
位置)にあつて光源としてヘリウムーネオンレー
ザ10に切り換えられているものとする。この状
態では、ヘリウムーネオンレーザ10からの入射
光12が、反射ミラー44で反射された後、λ/
4偏光板37および第3の入射光案内部38を介
して本体装置2の偏光子4に入射される。
動体26が図示する第1の所定位置(図中、実線
位置)にあつて光源としてヘリウムーネオンレー
ザ10に切り換えられているものとする。この状
態では、ヘリウムーネオンレーザ10からの入射
光12が、反射ミラー44で反射された後、λ/
4偏光板37および第3の入射光案内部38を介
して本体装置2の偏光子4に入射される。
そして、次に光源としてモノクロメータ6に切
り換えてモノクロメータ6かの入射光8をその偏
光子4に入射させる場合は、移動操作部材28に
形成された隣りのノツチ30に支持部29内のボ
ール29aがはまるまで操作ノブ32を図中、右
方向に引つ張る。そして、そのノツチ30にボー
ル29aがはまり込むところにまで移動体26が
案内部材24上を案内されると、移動体26は、
中央柱部26bに形成された第2の入射光案内部
36を通してモノクロメータ6からの入射光8が
その偏光子4に入射される第2の所定位置(図
中、仮想線A)に到達する。この状態で、モノク
ロメータ6からの入射光8が偏光子4に入射され
ることになる。
り換えてモノクロメータ6かの入射光8をその偏
光子4に入射させる場合は、移動操作部材28に
形成された隣りのノツチ30に支持部29内のボ
ール29aがはまるまで操作ノブ32を図中、右
方向に引つ張る。そして、そのノツチ30にボー
ル29aがはまり込むところにまで移動体26が
案内部材24上を案内されると、移動体26は、
中央柱部26bに形成された第2の入射光案内部
36を通してモノクロメータ6からの入射光8が
その偏光子4に入射される第2の所定位置(図
中、仮想線A)に到達する。この状態で、モノク
ロメータ6からの入射光8が偏光子4に入射され
ることになる。
また、光源として半導体レーザ18に切り換え
て半導体レーザ18からの入射光16をその偏光
子4に入射させる場合は、前記と同様にして移動
操作部材28をさらに右方向に引つ張り操作して
移動体26をさらに図中、右方向に移動させる。
そうすると、今度は半導体レーザ18からの入射
光12がλ/4偏光板35、入射光案内部34を
通して偏光子4に入射されることになる。
て半導体レーザ18からの入射光16をその偏光
子4に入射させる場合は、前記と同様にして移動
操作部材28をさらに右方向に引つ張り操作して
移動体26をさらに図中、右方向に移動させる。
そうすると、今度は半導体レーザ18からの入射
光12がλ/4偏光板35、入射光案内部34を
通して偏光子4に入射されることになる。
なお、実施例では切り換えられる光源の数とし
ては3個であつたが、光源の数はこれに必ずしも
これに限定されるものではないことは勿論であ
る。
ては3個であつたが、光源の数はこれに必ずしも
これに限定されるものではないことは勿論であ
る。
(ヘ) 効果
以上説明したことから明らかなように本考案に
よれば、偏光解析操作において少なくとも3光源
を、移動操作部材を操作するだけで何等光源の交
換を行う必要なく、簡単にかつ精度良く切り換え
ることができる。
よれば、偏光解析操作において少なくとも3光源
を、移動操作部材を操作するだけで何等光源の交
換を行う必要なく、簡単にかつ精度良く切り換え
ることができる。
とくに、本考案では、移動体に設けられる光源
を一つとし、他の複数の光源を固定光源として移
動体の移動によりそれら固定光源からの光を本体
装置の偏光子に切り換え入射する構成としている
ので、移動体への光源の取り付け数が最小とで
き、これにより移動体の移動時の振動等による光
源の損傷数を最小限とでき、さらに配線が困難な
移動体への配線数も最小限とできるという実用上
の効果が発揮される。
を一つとし、他の複数の光源を固定光源として移
動体の移動によりそれら固定光源からの光を本体
装置の偏光子に切り換え入射する構成としている
ので、移動体への光源の取り付け数が最小とで
き、これにより移動体の移動時の振動等による光
源の損傷数を最小限とでき、さらに配線が困難な
移動体への配線数も最小限とできるという実用上
の効果が発揮される。
第1図は、本考案の一実施例の全体の概略化ブ
ロツク図、第2図は本考案の光源切換機構の正面
図、第3図はその側面図、第4図は平面図であ
る。 図中、2は本体装置、4は偏光子、6はモノク
ロメータ、10はヘリウムーネオンレーザ、14
は光源切り換え機構、18は半導体レーザ、22
は基台、24は案内部材、26は移動体、28は
移動操作部材、34,36,38は入射光案内
部。
ロツク図、第2図は本考案の光源切換機構の正面
図、第3図はその側面図、第4図は平面図であ
る。 図中、2は本体装置、4は偏光子、6はモノク
ロメータ、10はヘリウムーネオンレーザ、14
は光源切り換え機構、18は半導体レーザ、22
は基台、24は案内部材、26は移動体、28は
移動操作部材、34,36,38は入射光案内
部。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 偏光解析装置に具備されるものであつて、基台
と、 前記基台上に取り付けられた案内部材と、 前記案内部材に移動可能に取り付けられた移動
体と、 前記移動体周囲に固定配置されて設けられ、そ
れぞれが異なる波長を有する光を照射する複数の
固定光源とを備え、 前記移動体は、前記案内部材上の移動方向に沿
つて所定間隔ごとに配置形成された複数の入射光
案内部と、その1つの入射光案内部に対して前記
固定光源それぞれからの光と異なる波長の光を照
射する光源と、この移動体内に導入される前記固
定光源からの照射光の少なくとも一つの光路を切
り替えてそれぞれ異なる入射光案内部に導く光路
切り換え部とを備えてなり、 前記移動体が前記案内部材上において異なる位
置に移動配置されることにより、 前記移動体に設けられた光源もしくは固定光源
それぞれからの入射光が、それぞれ異なる入射光
案内部を介して、前記本体装置の偏光子に切り換
え入射されることを特徴とする光源切換機構。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1987005079U JPH0516523Y2 (ja) | 1987-01-16 | 1987-01-16 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1987005079U JPH0516523Y2 (ja) | 1987-01-16 | 1987-01-16 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63174050U JPS63174050U (ja) | 1988-11-11 |
| JPH0516523Y2 true JPH0516523Y2 (ja) | 1993-04-30 |
Family
ID=30786329
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1987005079U Expired - Lifetime JPH0516523Y2 (ja) | 1987-01-16 | 1987-01-16 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0516523Y2 (ja) |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3902805A (en) * | 1973-09-17 | 1975-09-02 | Vishay Intertechnology Inc | Automatic birefringence measuring apparatus |
| JPS59120845A (ja) * | 1982-12-27 | 1984-07-12 | Shimadzu Corp | 自動原子吸光分析装置 |
-
1987
- 1987-01-16 JP JP1987005079U patent/JPH0516523Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63174050U (ja) | 1988-11-11 |
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