JPH051664A - 真空排気装置 - Google Patents

真空排気装置

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JPH051664A
JPH051664A JP18188691A JP18188691A JPH051664A JP H051664 A JPH051664 A JP H051664A JP 18188691 A JP18188691 A JP 18188691A JP 18188691 A JP18188691 A JP 18188691A JP H051664 A JPH051664 A JP H051664A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
vapor deposition
chamber
vacuum chamber
titanium
vacuum
Prior art date
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Pending
Application number
JP18188691A
Other languages
English (en)
Inventor
Hisayoshi Sano
久義 佐野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Priority to JP18188691A priority Critical patent/JPH051664A/ja
Publication of JPH051664A publication Critical patent/JPH051664A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 安定的に効率のよい真空引きを行える真空排
気装置を提供する。 【構成】 ゲッターポンプ装置4は、蒸着室5と、回転
体6と、チタン球8とを備えている。蒸着室5は真空室
1に隣接して配置されている。回転体6は、真空室1と
蒸着室5との間に、その表面が両室に露出するように回
転可能に配置されている。チタン球8は、蒸着室5内に
配置され、回転体6に化学的に活性な物質の蒸着膜を形
成するための装置である。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、真空排気装置、特に、
化学的に活性な物質の蒸着膜に気体を化学吸着させて真
空排気を行う真空排気装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来より、たとえば薄膜を形成するため
の真空排気装置として、ロータリーポンプ、ターボ分子
ポンプ、イオンポンプ、及び蒸発型ゲッターポンプ等が
用いられている。このうち、蒸発型ゲッターポンプは、
化学的に活性な金属の蒸着膜を作り、それに気体を化学
吸着あるいは収着させるものであり、超高真空を得るの
に使用される。
【0003】図3に示すゲッターポンプ装置24は、真
空室21内を真空排気するための装置である。真空室2
1には図示しない他の排気装置が接続されている。
【0004】ゲッターポンプ装置24は、主に、蒸着室
25と、蒸着室25内に設けられたチタンワイヤ26
と、チタンワイヤ26と真空室21との間に配置された
シールド板27とから構成されている。真空室21と蒸
着室25とは連通している。チタンワイヤ26には、外
部の図示しない電源装置が接続されている。
【0005】このような装置では、真空室21及び蒸着
室25を図示しない排気装置によってある程度真空引き
する。この状態で、外部の電源装置からチタンワイヤ2
6の蒸発用フィラメントに通電し、蒸着室25の周辺の
壁にチタンの蒸着膜を形成する。このとき、シールド板
27により、蒸発したチタンが真空室21内に飛散する
ことはない。蒸着室25の壁に形成されたチタン蒸着膜
は、真空室21内の気体を化学吸着あるいは収着させ
る。チタン蒸着膜に収着及び化学吸着能力がなくなる
と、再びチタンを蒸発させて活性なチタン蒸着膜を形成
する。このようにして、真空室21内が高真空状態にな
る。
【0006】
【考案が解決しようとする課題】前記従来のゲッターポ
ンプ装置24においては、真空室21と蒸着室25とが
連通しているため、チタンワイヤ26からチタンが蒸発
するときに蒸着室25内の圧力が高くなり、それにより
真空室21の圧力も高くなってしまう。そのため、チタ
ン蒸発時にはそのつど真空室21での作業を中止しなけ
ればならない。
【0007】また、前記従来例においては、真空室21
内の気体は、蒸着室25の壁に形成されたチタン蒸着膜
に化学吸着あるいは収着される。このとき、気体はシー
ルド板27により規制され、抵抗が大きくなるため効率
良く排気されない。
【0008】本発明の目的は、安定的に効率のよい真空
引きを行える真空排気装置を提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明に係る真空排気装
置は、真空室の真空引きを行う装置である。この装置
は、蒸着室と、回転体と、蒸着膜形成装置とを備えてい
る。前記蒸着室は真空室に隣接して配置されている。前
記回転体は、真空室と蒸着室との間に、その表面が両室
に露出するように回転可能に配置されている。前記蒸着
膜形成装置は、蒸着室内に配置され、回転体に化学的に
活性な物質の蒸着膜を形成するための装置である。
【0010】
【作用】本発明に係る真空排気装置では、蒸着室内に配
置された蒸着膜形成装置が、真空室と蒸着室との間で回
転している回転体に化学的に活性な物質の蒸着膜を形成
する。この蒸着膜形成面が真空室側に露出するときに、
蒸着膜が真空室内の気体を化学吸着あるいは収着する。
気体を化学吸着及び収着することで排気能力がなくなっ
た蒸着膜形成面は、回転体が回転して蒸着室に露出され
るときに、蒸着膜形成装置より新たにその表面に蒸着膜
が形成される。このようにして、真空室内の気体は連続
して、新たに形成された蒸着膜で効率良く真空引きされ
る。
【0011】また、この装置では、真空室と蒸着室とは
連通していないため、蒸着室内で蒸着膜が形成されると
きにも真空室側に悪影響を与えることはない。さらに、
従来装置のようなシールド板が不要であり、真空室内の
気体は規制されることなく直接蒸着膜に化学吸着及び収
着されるので、排気効率がよくなる。
【0012】
【実施例】図1は、本考案の一実施例が採用された真空
排気装置の概略図を示す。図において、真空室1は、内
部に超高真空を得て薄膜形成を行うためのものである。
真空室1には、バルブ2を介してターボ分子ポンプ3が
接続されている。ターボ分子ポンプ3には、補助ポンプ
として油回転ポンプ14が接続されている。
【0013】真空室1の側方には、ゲッターポンプ装置
4が配置されている。ゲッターポンプ装置4は、主に、
真空室1に隣接して配置された蒸着室5と、蒸着室5と
真空室1との間に配置された回転体6と、蒸着室5内に
配置されたチタン球8とから構成されている。
【0014】蒸着室5には、バルブ10を介してターボ
分子ポンプ11が接続されている。ターボ分子ポンプ1
1には、補助ポンプとしての油回転ポンプ15が接続さ
れている。真空室1と蒸着室5との間には、仕切り板1
3が配置されている。なお、仕切り板13と回転体6表
面との間には、回転体6が自由に回転でき、しかも真空
室1と蒸着室2との間でガス等が自由に行き来しない程
度の隙間が設けられている。
【0015】回転体6は、図2に示すように、円筒状の
部材である。この回転体6は、真空室1と蒸着室5との
間で両室に露出するように回転自在であり、図示しない
駆動機構によって速度可変で回転させられるようになっ
ている。
【0016】チタン球8は、チタンボールと、その中に
配置されたフィラメントとを有しており、このフィラメ
ントが外部の電源9に接続されている。
【0017】次に真空排気動作について説明する。最初
に、バルブ2,10を開けてターボ分子ポンプ3,11
により真空室1及び蒸着室5内の真空引きを行う。真空
室1及び蒸着室5内が10-2Pa程度の圧力になると、
ゲッターポンプ装置4を作動させる。
【0018】回転体6は、外部の駆動機構により図1に
示す矢印方向に回転する。一方、チタン球8のフィラメ
ントには、外部の電源9から通電される。これにより、
フィラメントがチタンを加熱し、チタンを蒸発させる。
蒸発させられたチタンは、回転する回転体6の表面に付
着し、表面にチタンの蒸着膜を形成する。
【0019】チタン蒸着膜が形成された表面は回転体6
が回転することにより、真空室1内に移動する。このと
き真空室1内の気体、特に水素,酸素及び窒素等が強く
チタン蒸着膜に化学吸着及び収着される。気体を化学吸
着及び収着することにより排気能力がなくなったチタン
蒸着膜形成面は再び蒸着室5側に移動させられ、チタン
球8からの蒸発チタンにより新たなチタン蒸着膜が形成
される。
【0020】このようにして、真空室1側に露出される
チタン蒸着膜は、常に気体の化学吸着及び収着能力が良
く、また回転体6が回転を続けることでゲッターポンプ
装置4が連続して真空室1の真空引きを行う。
【0021】真空室1内の圧力が高い段階では、回転体
6の回転速度を高めて新たな蒸着膜を速く形成して排気
能力の低下を防ぐ。真空室1内の圧力が低くなると、回
転体6の回転速度を落としても、排気能力を維持でき
る。これは、吸着ガスが希薄になっているため、蒸着膜
の劣化が進みにくいからである。
【0022】この実施例においては、真空室1と蒸着室
5とは、回転体6及び仕切り板12及び13によって仕
切られているため、チタン球8からチタンが蒸発する際
に起こる圧力の上昇等の悪影響は真空室1側に及ぼされ
ることはなく、真空室1では良好な真空引きが行われ
る。
【0023】〔他の実施例〕 (a) 前記実施例においては、真空室1と蒸着室5と
の間に仕切り板13を配置していたが、仕切り板を二重
にして間に中間室を設け、その中間室をターボ分子ポン
プで排気する構造にしてもよい。この場合、蒸着室5の
圧力上昇が真空室1に悪影響をより及ぼしにくくなり、
真空室1では良好な真空引きが行われる。
【0024】(b) 前記実施例においては、化学的に
活性な物質としてチタンを用いたが、放出ガスの少ない
高真空向きの他の化学的に活性な物質を用いてもよい。
【0025】
【発明の効果】本発明に係る真空排気装置では、回転体
が蒸着室側で蒸着膜を形成しながら真空室側で気体を化
学吸着及び収着するように回転している。これにより、
常に新たに形成された蒸着膜が真空室に露出され、効率
良くかつ連続的に排気できる。また、真空室と蒸着室と
は連通していないため、蒸着室側の蒸着膜形成時におけ
る圧力の上昇等が真空室側に悪影響を及ぼすことはな
い。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例が採用された真空排気装置の
概略構成図。
【図2】回転体の斜視図。
【図3】従来例の図1に相当する図。
【符号の説明】
1 真空室 4 ゲッターポンプ装置 5 蒸着室 6 回転体 8 チタン球

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 【請求項1】真空室の真空引きを行う真空排気装置であ
    って、前記真空室に隣接して配置された蒸着室と、前記
    真空室と蒸着室との間に、その表面が両室に露出するよ
    うに回転可能に配置された回転体と、前記蒸着室内に配
    置され、前記回転体に化学的に活性な物質の蒸着膜を形
    成するための蒸着膜形成装置と、を備えた真空排気装
    置。
JP18188691A 1991-06-25 1991-06-25 真空排気装置 Pending JPH051664A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP18188691A JPH051664A (ja) 1991-06-25 1991-06-25 真空排気装置

Applications Claiming Priority (1)

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JP18188691A JPH051664A (ja) 1991-06-25 1991-06-25 真空排気装置

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Publication Number Publication Date
JPH051664A true JPH051664A (ja) 1993-01-08

Family

ID=16108599

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP18188691A Pending JPH051664A (ja) 1991-06-25 1991-06-25 真空排気装置

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JP (1) JPH051664A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002324663A (ja) * 2001-04-25 2002-11-08 Toshiba Corp 電場発光ランプとその製造方法
JP2006221946A (ja) * 2005-02-10 2006-08-24 Horon:Kk 電子顕微鏡
WO2024153468A1 (de) * 2023-01-18 2024-07-25 Carl Zeiss Smt Gmbh Vorrichtung und verfahren zur kontaminationsreduzierung in einem optischen system für die mikrolithographie

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JP2006221946A (ja) * 2005-02-10 2006-08-24 Horon:Kk 電子顕微鏡
WO2024153468A1 (de) * 2023-01-18 2024-07-25 Carl Zeiss Smt Gmbh Vorrichtung und verfahren zur kontaminationsreduzierung in einem optischen system für die mikrolithographie

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