JPH05168052A - ラスターエッジ検出方法 - Google Patents
ラスターエッジ検出方法Info
- Publication number
- JPH05168052A JPH05168052A JP34983691A JP34983691A JPH05168052A JP H05168052 A JPH05168052 A JP H05168052A JP 34983691 A JP34983691 A JP 34983691A JP 34983691 A JP34983691 A JP 34983691A JP H05168052 A JPH05168052 A JP H05168052A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- raster
- edge
- camera
- video memory
- data
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Landscapes
- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
- Details Of Television Scanning (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 カメラの視野を広げることができ、陰極線管
のサイズが異なっても、段取りなしにラスターエッジの
検出を可能とし、フリッカが起きている場合において
も、正確にラスターエッジの検出を可能とする。 【構成】 ビデオメモリに記憶されたデータを、演算装
置において、微分演算する。次に、微分演算により得ら
れたデータの山のピークＰ0の位置を、演算装置におい
て、浮動小数点演算にて重心演算をすることにより、カ
メラ、ビデオメモリの分解能以上の精度でラスターエッ
ジを検出する。
のサイズが異なっても、段取りなしにラスターエッジの
検出を可能とし、フリッカが起きている場合において
も、正確にラスターエッジの検出を可能とする。 【構成】 ビデオメモリに記憶されたデータを、演算装
置において、微分演算する。次に、微分演算により得ら
れたデータの山のピークＰ0の位置を、演算装置におい
て、浮動小数点演算にて重心演算をすることにより、カ
メラ、ビデオメモリの分解能以上の精度でラスターエッ
ジを検出する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、陰極線管の画面に映し
出されたラスターのエッジを検出するラスターエッジ検
出方法に関するものである。
出されたラスターのエッジを検出するラスターエッジ検
出方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】陰極線管の画面に映し出されたラスター
の位置、大きさ、形状（歪）の調整、検査を行なう際
に、ラスターの位置、大きさ、形状を測定する方法とし
て、従来では、作業者の目視による方法以外に、ラスタ
ーパターンのエッジを複数のカメラにて取り込み、二値
化処理にて、ラスターエッジを検出して、ラスターの位
置、大きさ、形状を測定する方法がある。
の位置、大きさ、形状（歪）の調整、検査を行なう際
に、ラスターの位置、大きさ、形状を測定する方法とし
て、従来では、作業者の目視による方法以外に、ラスタ
ーパターンのエッジを複数のカメラにて取り込み、二値
化処理にて、ラスターエッジを検出して、ラスターの位
置、大きさ、形状を測定する方法がある。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記した従来
の方法においては、測定精度を上げようとすると、カメ
ラの倍率を上げる必要があるが、この副作用として、カ
メラの視野が狭くなるため、陰極線管のサイズが異なる
たびにカメラを移動させる必要性が出てくる。また、陰
極線管の垂直同期周波数が、カメラの垂直同期周波数と
異なっている場合、フリツカ（ちらつき）が起こり、二
値化が正確に行なわれず、誤測定の原因になる。
の方法においては、測定精度を上げようとすると、カメ
ラの倍率を上げる必要があるが、この副作用として、カ
メラの視野が狭くなるため、陰極線管のサイズが異なる
たびにカメラを移動させる必要性が出てくる。また、陰
極線管の垂直同期周波数が、カメラの垂直同期周波数と
異なっている場合、フリツカ（ちらつき）が起こり、二
値化が正確に行なわれず、誤測定の原因になる。
【０００４】本発明の目的は、上記した従来技術の問題
点を解決し、カメラの視野を広げることができ、陰極線
管のサイズが異なっても、段取りなしにラスターエッジ
検出が可能であり、フリッカが起きている場合において
も、正確にラスターエッジの検出が可能であるラスター
エッジ検出方法を提供することにある。
点を解決し、カメラの視野を広げることができ、陰極線
管のサイズが異なっても、段取りなしにラスターエッジ
検出が可能であり、フリッカが起きている場合において
も、正確にラスターエッジの検出が可能であるラスター
エッジ検出方法を提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記した目的を達成する
ために、本発明では、陰極線管の画面に映し出されたラ
スターのエッジをカメラによって撮影してアナログの信
号を得、得られた該信号をアナログ／ディジタル変換し
てディジタルのデータを得、得られた該データを多階調
度ビデオメモリに１画面分記憶し、記憶された該データ
をもとにして、前記ラスターのエッジを検出する際、記
憶された前記データを微分演算する第１の過程と、該第
１の過程において得られた値を、浮動小数点演算にて、
重心演算して、前記ラスターのエッジを検出する第２の
過程と、を経るようにした。
ために、本発明では、陰極線管の画面に映し出されたラ
スターのエッジをカメラによって撮影してアナログの信
号を得、得られた該信号をアナログ／ディジタル変換し
てディジタルのデータを得、得られた該データを多階調
度ビデオメモリに１画面分記憶し、記憶された該データ
をもとにして、前記ラスターのエッジを検出する際、記
憶された前記データを微分演算する第１の過程と、該第
１の過程において得られた値を、浮動小数点演算にて、
重心演算して、前記ラスターのエッジを検出する第２の
過程と、を経るようにした。
【０００６】また、前記第１の過程において得られた値
に複数のピークがある場合には、前記第２の過程におい
て、そのうちの最大ピークを求め、該最大ピークを含む
所定の範囲内の値について、前記重心演算を行なうよう
にした。
に複数のピークがある場合には、前記第２の過程におい
て、そのうちの最大ピークを求め、該最大ピークを含む
所定の範囲内の値について、前記重心演算を行なうよう
にした。
【０００７】
【作用】前記ビデオメモリの画素数は、例えば、縦５１
２、横５１２、であり、二値化による整数演算では、検
出精度も５１２となる。本発明では、多階調ビデオメモ
リであることを利用し、微分値を浮動小数点演算にて、
重心演算することにより、ビデオメモリの画素数以上の
分解能を得る。また、限られた範囲で重心演算を行なう
ことで、フリッカの対策とした。
２、横５１２、であり、二値化による整数演算では、検
出精度も５１２となる。本発明では、多階調ビデオメモ
リであることを利用し、微分値を浮動小数点演算にて、
重心演算することにより、ビデオメモリの画素数以上の
分解能を得る。また、限られた範囲で重心演算を行なう
ことで、フリッカの対策とした。
【０００８】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図面を用いて説明
する。図１は本発明の一実施例としてのラスターエッジ
検出方法を実現するための装置を示すブロック図であ
る。
する。図１は本発明の一実施例としてのラスターエッジ
検出方法を実現するための装置を示すブロック図であ
る。
【０００９】図１において、１は陰極線管、２ａ，２
ｂ，２ｃ，２ｄはカメラ、３ａ，３ｂ，３ｃ，３ｄはビ
デオメモリ、４は演算装置、５は表示装置、６は映像回
路、７は信号発生器である。まず、測定対象の陰極線管
１の画面に、信号発生器７で発生させたラスターパター
ン１ａを表示させる。
ｂ，２ｃ，２ｄはカメラ、３ａ，３ｂ，３ｃ，３ｄはビ
デオメモリ、４は演算装置、５は表示装置、６は映像回
路、７は信号発生器である。まず、測定対象の陰極線管
１の画面に、信号発生器７で発生させたラスターパター
ン１ａを表示させる。
【００１０】図２は図１の陰極線管の画面に表示された
ラスターパターンと各々のカメラによる視野との関係を
示す説明図である。ラスターパターン１ａの位置と大き
さを測定するため、図２に示す如く、ラスターの上下左
右をカメラ２ａ，２ｂ，２ｃ，２ｄでとらえ、この映像
をビデオメモリ３ａ，３ｂ，３ｃ，３ｄに記憶させる。
ラスターパターンと各々のカメラによる視野との関係を
示す説明図である。ラスターパターン１ａの位置と大き
さを測定するため、図２に示す如く、ラスターの上下左
右をカメラ２ａ，２ｂ，２ｃ，２ｄでとらえ、この映像
をビデオメモリ３ａ，３ｂ，３ｃ，３ｄに記憶させる。
【００１１】このうち、例えば、ラスターの右側のエッ
ジをとったカメラ２ｂの映像を記憶したビデオメモリ３
ｂのＡ−Ａ’間のデータは、図３（ａ）のようになる。
図３（ａ）において、縦軸は明和度、横軸は画面水平方
向の位置に対応するビデオメモリの画素アドレスであ
る。ここで、ビデオメモリの画素数を縦５１２，横５１
２とすると、横軸は５１２個の値をとることになる。従
来は、二値化することにより、ラスターエッジを測定す
るため、測定結果は整数であるため、５１２通りのデー
タしか出力されなかった。
ジをとったカメラ２ｂの映像を記憶したビデオメモリ３
ｂのＡ−Ａ’間のデータは、図３（ａ）のようになる。
図３（ａ）において、縦軸は明和度、横軸は画面水平方
向の位置に対応するビデオメモリの画素アドレスであ
る。ここで、ビデオメモリの画素数を縦５１２，横５１
２とすると、横軸は５１２個の値をとることになる。従
来は、二値化することにより、ラスターエッジを測定す
るため、測定結果は整数であるため、５１２通りのデー
タしか出力されなかった。
【００１２】次に、この様にビデオメモリに記憶された
データを、演算装置４において、微分演算する。図３
（ａ）に示したデータを微分演算すると、図３（ｂ）の
ようになる。図３（ｂ）において、縦軸は隣接の明和度
の差、横軸は画面水平方向の位置に対応するビデオメモ
リの画素アドレスである。
データを、演算装置４において、微分演算する。図３
（ａ）に示したデータを微分演算すると、図３（ｂ）の
ようになる。図３（ｂ）において、縦軸は隣接の明和度
の差、横軸は画面水平方向の位置に対応するビデオメモ
リの画素アドレスである。
【００１３】第３図（ｂ）に示したように、山のピーク
はラスターエッジと同じ位置となる。次に、この山のピ
ークＰ0の位置を、演算装置４において、数１を用い
て、浮動小数点演算にて重心演算をすることにより、カ
メラ、ビデオメモリの分解能以上の精度でラスターエッ
ジを検出する。
はラスターエッジと同じ位置となる。次に、この山のピ
ークＰ0の位置を、演算装置４において、数１を用い
て、浮動小数点演算にて重心演算をすることにより、カ
メラ、ビデオメモリの分解能以上の精度でラスターエッ
ジを検出する。
【数１】
【００１４】そして、残りの上，下，左のカメラ２ａ，
２ｂ，２ｄによるデータについても、同様に、ラスター
エッジを検出して、それらの結果ともあわせて、ラスタ
ーの位置と大きさを演算して、求める。
２ｂ，２ｄによるデータについても、同様に、ラスター
エッジを検出して、それらの結果ともあわせて、ラスタ
ーの位置と大きさを演算して、求める。
【００１５】ところで、測定対象の陰極線管１を駆動す
る映像回路６の垂直同期周波数が、カメラ２ａ，２ｂ，
２ｃ，２ｄの垂直同期周波数と異なっている場合、フリ
ッカが起きる。このフリッカが起こった状態をビデオメ
モリ３ａ，３ｂ，３ｃ，３ｄに記憶させると、輝度の違
う縞となって現れる。この縞の幅は陰極線管１とカメラ
２ａ，２ｂ，２ｃ，２ｄの垂直同期の差であり、縞の位
置は、ビデオメモリ３ａ，３ｂ，３ｃ，３ｄに記憶する
タイミングが非同期であるため、予測困難である。ま
た、縞は横縞であるため、ラスターの左右のエッジの検
出には問題はないが、上下のエッジの検出には誤測定の
原因になる。
る映像回路６の垂直同期周波数が、カメラ２ａ，２ｂ，
２ｃ，２ｄの垂直同期周波数と異なっている場合、フリ
ッカが起きる。このフリッカが起こった状態をビデオメ
モリ３ａ，３ｂ，３ｃ，３ｄに記憶させると、輝度の違
う縞となって現れる。この縞の幅は陰極線管１とカメラ
２ａ，２ｂ，２ｃ，２ｄの垂直同期の差であり、縞の位
置は、ビデオメモリ３ａ，３ｂ，３ｃ，３ｄに記憶する
タイミングが非同期であるため、予測困難である。ま
た、縞は横縞であるため、ラスターの左右のエッジの検
出には問題はないが、上下のエッジの検出には誤測定の
原因になる。
【００１６】フリッカを起こした場合において、例え
ば、ラスターの下側のエッジをとったカメラ２ｂの映像
を記憶したビデオメモリ３ｃのＢ−Ｂ’間のデータは、
図４（ａ），（ｂ）のようになる。図４（ａ），（ｂ）
において、縦軸は明和度、横軸は画面垂直方向の位置に
対応するビデオメモリの画素アドレスである。尚、
（ａ）と（ｂ）は互いに異なる瞬間の映像を記憶したデ
ータである。
ば、ラスターの下側のエッジをとったカメラ２ｂの映像
を記憶したビデオメモリ３ｃのＢ−Ｂ’間のデータは、
図４（ａ），（ｂ）のようになる。図４（ａ），（ｂ）
において、縦軸は明和度、横軸は画面垂直方向の位置に
対応するビデオメモリの画素アドレスである。尚、
（ａ）と（ｂ）は互いに異なる瞬間の映像を記憶したデ
ータである。
【００１７】フリッカを起こした場合は、図４（ａ），
（ｂ）に示すように、図３（ａ）の場合と異なり、立ち
上がり、立ち下がりを複数持つ。このため、図４
（ａ），（ｂ）に示したデータを微分演算すると、図４
（ｃ），（ｄ）のようになり、山のピークＰ1，Ｐ2（或
いはＰ1’，Ｐ2’）を複数持つ。
（ｂ）に示すように、図３（ａ）の場合と異なり、立ち
上がり、立ち下がりを複数持つ。このため、図４
（ａ），（ｂ）に示したデータを微分演算すると、図４
（ｃ），（ｄ）のようになり、山のピークＰ1，Ｐ2（或
いはＰ1’，Ｐ2’）を複数持つ。
【００１８】図４（ｃ），（ｄ）において、縦軸は隣接
の明和度の差、横軸は画面垂直方向の位置に対応するビ
デオメモリの画素アドレスである。ここで、山のピーク
Ｐ1，Ｐ2（或いはＰ1’，Ｐ2’）の位置は不定であるた
め、ピークの間隔ｔ（或いはｔ’）も不定となり、削除
が困難である。従って、このまま重心演算を行なうと、
誤測定の原因となる。
の明和度の差、横軸は画面垂直方向の位置に対応するビ
デオメモリの画素アドレスである。ここで、山のピーク
Ｐ1，Ｐ2（或いはＰ1’，Ｐ2’）の位置は不定であるた
め、ピークの間隔ｔ（或いはｔ’）も不定となり、削除
が困難である。従って、このまま重心演算を行なうと、
誤測定の原因となる。
【００１９】そこで、ラスターのエッジによるピークは
最も高く現れるという特徴を利用し、数２，数３を用い
て、真値である山のピークＰ2（或いはＰ2’）の位置を
求める。 Ｐ1 ＜ Ｐ2 ………（数２） Ｐ1’＜ Ｐ2’ ………（数３）
最も高く現れるという特徴を利用し、数２，数３を用い
て、真値である山のピークＰ2（或いはＰ2’）の位置を
求める。 Ｐ1 ＜ Ｐ2 ………（数２） Ｐ1’＜ Ｐ2’ ………（数３）
【００２０】そして、最大ピークＰ2（或いはＰ2’）の
近辺の立ち上がり、立ち下がりの範囲のデータを数１を
使い、浮動小数点演算にて、重心演算することにより、
フリッカが起きてもラスターエッジを正確に測定できる
ものとした。
近辺の立ち上がり、立ち下がりの範囲のデータを数１を
使い、浮動小数点演算にて、重心演算することにより、
フリッカが起きてもラスターエッジを正確に測定できる
ものとした。
【００２１】
【発明の効果】以上、説明したように、本発明によれ
ば、従来技術と比較して、ビデオメモリの分解能以上の
精度でラスターエッジが検出できるため、その分、カメ
ラの視野を整数に比べ４倍広げることができ、陰極線管
のサイズが異なっても、視野が広いため、段取りなしに
ラスターエッジ検出が可能である。
ば、従来技術と比較して、ビデオメモリの分解能以上の
精度でラスターエッジが検出できるため、その分、カメ
ラの視野を整数に比べ４倍広げることができ、陰極線管
のサイズが異なっても、視野が広いため、段取りなしに
ラスターエッジ検出が可能である。
【００２２】また、測定対象の陰極線管の垂直同期周波
数が、カメラの垂直同期周波数と異なり、フリッカが起
きている場合においても、正確にラスターエッジの検出
が可能である。
数が、カメラの垂直同期周波数と異なり、フリッカが起
きている場合においても、正確にラスターエッジの検出
が可能である。
【図１】本発明の一実施例としてのラスターエッジ検出
方法を実現するための装置を示すブロック図である。
方法を実現するための装置を示すブロック図である。
【図２】図１の陰極線管の画面に表示されたラスターパ
ターンと各々のカメラによる視野との関係を示す説明図
である。
ターンと各々のカメラによる視野との関係を示す説明図
である。
【図３】カメラの映像を記憶したビデオメモリのデータ
と、そのデータを演算装置にて微分演算して得られるデ
ータと、を説明するための説明図である。
と、そのデータを演算装置にて微分演算して得られるデ
ータと、を説明するための説明図である。
【図４】フリッカ発生時における、カメラの映像を記憶
したビデオメモリのデータと、そのデータを演算装置に
て微分演算して得られるデータと、を説明するための説
明図である。
したビデオメモリのデータと、そのデータを演算装置に
て微分演算して得られるデータと、を説明するための説
明図である。
１…陰極線管、１ａ…ラスターパターン、２ａ、２ｂ、
２ｃ、２ｄ…カメラ、３ｂ、３ａ、３ｃ、３ｄ…ビデオ
メモリ、４…演算装置、５…表示装置、６…映像回路、
７…信号発生器。
２ｃ、２ｄ…カメラ、３ｂ、３ａ、３ｃ、３ｄ…ビデオ
メモリ、４…演算装置、５…表示装置、６…映像回路、
７…信号発生器。
Claims (2)
- 【請求項１】 陰極線管の画面に映し出されたラスター
のエッジをカメラによって撮影してアナログの信号を
得、得られた該信号をアナログ／ディジタル変換してデ
ィジタルのデータを得、得られた該データを多階調度ビ
デオメモリに１画面分記憶し、記憶された該データをも
とにして、前記ラスターのエッジを検出するラスターエ
ッジ検出方法において、 記憶された前記データを微分演算する第１の過程と、該
第１の過程において得られた値を、浮動小数点演算に
て、重心演算して、前記ラスターのエッジを検出する第
２の過程と、から成ることを特徴とするラスターエッジ
検出方法。 - 【請求項２】 請求項１に記載のラスターエッジ検出方
法において、前記第１の過程において得られた値に複数
のピークがある場合には、前記第２の過程において、そ
のうちの最大ピークを求め、該最大ピークを含む所定の
範囲内の値について、前記重心演算を行なうようにした
ことを特徴とするラスターエッジ検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP34983691A JPH05168052A (ja) | 1991-12-10 | 1991-12-10 | ラスターエッジ検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP34983691A JPH05168052A (ja) | 1991-12-10 | 1991-12-10 | ラスターエッジ検出方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05168052A true JPH05168052A (ja) | 1993-07-02 |
Family
ID=18406443
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP34983691A Pending JPH05168052A (ja) | 1991-12-10 | 1991-12-10 | ラスターエッジ検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05168052A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN114839736A (zh) * | 2021-07-30 | 2022-08-02 | 深圳市中图仪器股份有限公司 | 用于降低偏心误差的复合机构和方法 |
-
1991
- 1991-12-10 JP JP34983691A patent/JPH05168052A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN114839736A (zh) * | 2021-07-30 | 2022-08-02 | 深圳市中图仪器股份有限公司 | 用于降低偏心误差的复合机构和方法 |
| CN114839736B (zh) * | 2021-07-30 | 2024-01-02 | 深圳市中图仪器股份有限公司 | 用于降低偏心误差的复合机构和方法 |
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