JPH0517652B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0517652B2
JPH0517652B2 JP58234243A JP23424383A JPH0517652B2 JP H0517652 B2 JPH0517652 B2 JP H0517652B2 JP 58234243 A JP58234243 A JP 58234243A JP 23424383 A JP23424383 A JP 23424383A JP H0517652 B2 JPH0517652 B2 JP H0517652B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lens
electron
electron gun
anode
field emission
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP58234243A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS60127645A (ja
Inventor
Hideo Todokoro
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP58234243A priority Critical patent/JPS60127645A/ja
Publication of JPS60127645A publication Critical patent/JPS60127645A/ja
Publication of JPH0517652B2 publication Critical patent/JPH0517652B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02Details
    • H01J37/04Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the discharge, e.g. electron-optical arrangement or ion-optical arrangement
    • H01J37/06Electron sources; Electron guns
    • H01J37/073Electron guns using field emission, photo emission, or secondary emission electron sources

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Electron Sources, Ion Sources (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、電子顕微鏡の電子銃に係り、特に電
界放射形の電子源に好適な電子銃に関する。
〔発明の背景〕
従来の電界放射形電子銃の構造を第1図に示し
た。電界放射用電子源すなわち陰極1が陰極電位
導入端子2に支持されている。陰極電位導入端子
2はフランジ11に固定され、電子銃鏡筒10に
真空パツキングを介して固定されている。電界放
射陰極1に対向した位置に第1陽極3が配置され
ている。第1陽極3は電子銃鏡筒10の底面18
上に置かれた円筒碍子4によつて支持されてい
る。第1陽極3には、陽極電位導入端子12、接
触リング19を通して引出電圧14が電界放射陰
極1との間に印加される。電界放射陰極1と第1
陽極3との間に3〜5kVの電圧を印加すると電界
放射陰極1から電子23が放出される。
電界放射では、電界放射陰極1を高温にして陰
極をクリーニングする必要がある。加熱電源15
は、このクリーニングのために設けられたもの
で、陰極電位導入端子2の2本の端子を通して通
電により行う。放射された電子23のうち第1陽
極3の開孔22を通過したものは電界放射陰極1
と電子銃鏡筒(接地電位)10との間に加えられ
た加速電圧13になるように加速あるいは減速さ
れる。電子銃鏡筒10の下方には上部磁極6、下
部磁極7、磁路5、コイル8および非磁性のスペ
ーサ16からなる磁界形電子レンズ25が配置さ
れている。
電子銃鏡筒10の底面(第2電極)18の開口
24を通つた電子ビームは磁界形レンズ25で集
束され、さらに下方の磁界形電子レンズ等(図示
省略)に導かれる。この図からわかるように、こ
の構成では磁界形電子レンズ25と電界放射陰極
1との間の距離が長くなる。このため、磁界形電
子レンズ25は長焦点レンズとして動作し、収差
が大きい欠点があつた。
こういう構造にしているには、次のような理由
があつた。それは、磁界形電子レンズ25のコイ
ル8が、電子銃鏡筒10内を超高真空(10-8Pa)
にするために行うヒータ20によるベーキング
(200°〜300℃)に耐えられないためであつた。そ
こで、磁界形電子レンズ25を電子銃鏡筒10か
ら下方に離して配置し、上記のベーキングに際し
て高温にならないようにしていた。真空排気は、
電子銃鏡筒10の側壁に設けられた真空排気孔9
から行う。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、磁界形電子レンズを短焦点動
作させることができ、かつ電子銃鏡筒のベーキン
グをも可能とする電界放射形電子銃を提供するこ
とにある。
〔発明の概要〕
磁界形電子レンズのうち、ベーキング時に問題
となるのはコイル部である。そこで、本発明で
は、このコイル部を電子源後方の鏡筒端部に配置
し、ベーキング時には取外し可能に構成したもの
である。
〔発明の実施例〕
以下、本発明の一実施例を第2図により説明す
る。コイル磁路5とコイル8からなるコイル部2
6が電子銃鏡筒10の最上端部真空外に取付けら
れている。電子銃鏡筒10の最上端部は、スペー
サ29で真空的に封じられているので、コイル部
26は取外しても真空的に問題はない。通常使用
時には、コイル部26は電子銃鏡筒部10と機械
的に接続されている。そこで、ベーキング時に
は、このコイル部26を取外し、ベーキングでコ
イル8が損傷を受けることを防ぐことができる。
ベーキングは、電子銃鏡筒10内を真空排気しな
がら、電子銃鏡筒10の外周に捲かれたヒータ2
0(例えば、シーズヒーター)で電子銃室全体を
例えば250℃〜300℃にする。これを例えば約5時
間行なう。ベーキングが終了して、鏡筒10内が
超高真空状態になつた後に、コイル部26を取付
ける。
コイル8に通電すると磁束が生じるが、この磁
束は、コイル磁路5、内磁路27、第1陽極1
7、電子銃鏡筒底面18、電子銃鏡筒10を経由
して流れる。内磁路10の中間には絶縁リング2
1が挿入されている。これは第1陽極17を接地
電位から浮かせるためのものである。この部分で
磁気抵抗を生じるが、2〜3ミリメートル程度の
厚さの絶縁リング21なので磁束の量に変化を与
えるようなものではない。
この実施例では、第1陽極17と電子銃鏡筒底
面18は、それぞれ磁界形電子レンズの上磁極と
下磁極になつている。この構造では、磁界形電子
レンズのレンズ作用はほぼ、上磁極(第1陽極1
7)と下磁極(電子銃鏡筒底面18)の間で生じ
るので磁界形電子レンズを短焦点で動作させるこ
とができる。内磁路27の上端と電子鏡筒10の
上端は非磁性のスペーサ29を介して接続されて
いる。電界放射陰極1は、フランジ11に固定さ
れた陰極電位導入端子2に支持されている。電子
銃の真空排気は真空排気孔9から行うが、内磁路
27の一部分にさらに内磁路排気孔28を設け、
電界放射陰極1の周囲の真空排気を行う。
第3図は本発明の他の実施例であり、磁路5と
コイル8とからなるコイル部26が鏡筒10の上
方側端部分に取付けてある。この実施例の特徴
は、鏡筒を短くできることで、走査形電子顕微鏡
のように振動を嫌う装置には特に有効である。コ
イル部26は鏡筒10から取外せるように構成さ
れていることは言うまでもない。
〔発明の効果〕
以上詳述したように、本発明によれば、電界放
射形電子銃と短焦点の磁界形電子レンズを組合せ
ることができるので、電界放射形電子銃の輝度を
低下させる原因となつていた磁界形電子レンズの
収差を減らすことができる。例えば、従来、電界
放射形電子銃の次段に用いられていた磁界形電子
レンズの焦点距離は約5cmであつたが、本発明に
よればこれを1cmにすることができる。この結
果、球面収差は約100分の1、色収差は約5分の
1となる。さらにまた、焦点距離5cmの場合、磁
界形電子レンズを通過した後の電子ビームの輝度
は電子源そのものがもつ輝度の約10分の1に低下
するが、一方、1cmの焦点距離では、輝度の低下
は約2分の1である。すなわち、本発明を実施す
れば、5倍も明るい電子ビームを取出すことがで
きる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、従来の電界放射形電子銃と磁界形電
子レンズの組合せを示す図、第2図は、本発明の
一実施例を示す図、第3図は、本発明の他の実施
例を示す図である。 1……陰極、5……コイル磁路、8……コイ
ル、10……鏡筒、11……フランジ、13……
加速電圧、14……引出電圧、17……第1陽
極、18……電子銃鏡筒底面、20……ヒータ、
26……コイル部、27……内磁路。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 電界放射用電子源と、該電界放射用電子源か
    ら電子を引出すための第1陽極と、該第1陽極の
    開孔を通過した電子を加速あるいは減速するため
    の第2陽極と、前記電子源から放射される電子線
    を集束するための磁界形電子レンズとを具備する
    電界放射形電子銃において、前記第1陽極と前記
    第2陽極を、前記磁界形電子レンズの磁極と共用
    させ、かつ前記磁界形電子レンズの励磁コイルを
    前記電子源の後方の鏡筒端部分に配置し、取外し
    可能に構成したことを特徴とする電界放射形電子
    銃。
JP58234243A 1983-12-14 1983-12-14 電界放射形電子銃 Granted JPS60127645A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58234243A JPS60127645A (ja) 1983-12-14 1983-12-14 電界放射形電子銃

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58234243A JPS60127645A (ja) 1983-12-14 1983-12-14 電界放射形電子銃

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS60127645A JPS60127645A (ja) 1985-07-08
JPH0517652B2 true JPH0517652B2 (ja) 1993-03-09

Family

ID=16967921

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP58234243A Granted JPS60127645A (ja) 1983-12-14 1983-12-14 電界放射形電子銃

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS60127645A (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2775071B2 (ja) * 1989-02-22 1998-07-09 日本電信電話株式会社 荷電粒子ビーム発生装置
JP3900792B2 (ja) * 2000-04-26 2007-04-04 株式会社日立製作所 電子銃
WO2019049261A1 (ja) 2017-09-07 2019-03-14 株式会社日立ハイテクノロジーズ 電子銃および電子ビーム応用装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPS60127645A (ja) 1985-07-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0523699B1 (en) Charged particle beam apparatus, ionpump and method of pumping
TWI435362B (zh) 帶電粒子裝置
JPH071681B2 (ja) 荷電粒子線装置
JP5504277B2 (ja) 走査電子顕微鏡
JP4526113B2 (ja) マイクロフォーカスx線管及びそれを用いたx線装置
SU568406A3 (ru) Электроннолучева трубка
EP0473227A2 (en) Magnet for use in a drift tube of an X-ray tube
JPH0517652B2 (ja)
JP2002134051A (ja) 電磁界重畳型レンズ及びこれを用いた電子線装置
JP2005528773A (ja) X線管
US3213311A (en) Electron discharge device
US3370168A (en) Anode aperture plate for a television camera tube in an electron microscope comprising a stainless steel foil
US4977348A (en) Electron discharge tube with bipotential electrode structure
JPS61128439A (ja) 陰極線管
GB2018507A (en) A single use X-ray source
JP4091217B2 (ja) X線管
JP3494152B2 (ja) 走査形電子顕微鏡
JP2000182558A (ja) 走査電子顕微鏡
EP0206216A1 (en) Cathode ray tube
JPS6138574B2 (ja)
JPH07211494A (ja) 小型電子銃
JPS6322610Y2 (ja)
JP2808938B2 (ja) 大電力マイクロ波管
JPH0121470Y2 (ja)
JPH10335099A (ja) タンデム加速管のイオンビーム入射構造