JPH0517698B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0517698B2 JPH0517698B2 JP32574887A JP32574887A JPH0517698B2 JP H0517698 B2 JPH0517698 B2 JP H0517698B2 JP 32574887 A JP32574887 A JP 32574887A JP 32574887 A JP32574887 A JP 32574887A JP H0517698 B2 JPH0517698 B2 JP H0517698B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- thickness
- work holder
- outer work
- film
- Prior art date
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- Expired - Lifetime
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 74
- 239000010408 film Substances 0.000 description 20
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 13
- 238000005268 plasma chemical vapour deposition Methods 0.000 description 9
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 8
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明はプラズマCVD(Chemical Vapour
Deposition)法により、基板上に薄膜を形成する
際に基板の外周に装着して該基板を支持するアウ
ターワークホルダーに関するものである。
Deposition)法により、基板上に薄膜を形成する
際に基板の外周に装着して該基板を支持するアウ
ターワークホルダーに関するものである。
[従来技術]
従来のプラズマCVDによる薄膜形成方法は、
第2図に示すように、真空反応容器1内の基板ホ
ルダー2の上に処理すべき基板3を寝かせて設置
し、基板3の上方には基板ホルダー2に対向させ
て電極4を設置し、該電極4と基板ホルダー2と
の間にプラズマ電源5から高周波電力を印加し、
該電極4と該基板ホルダー2との間にプラズマを
発生させ、このプラズマ中にはパイプよりなる原
料ガス供給手段6で原料ガスを供給して活性化さ
せ、プラズマCVD法で基板4の表面に薄膜を形
成していた。
第2図に示すように、真空反応容器1内の基板ホ
ルダー2の上に処理すべき基板3を寝かせて設置
し、基板3の上方には基板ホルダー2に対向させ
て電極4を設置し、該電極4と基板ホルダー2と
の間にプラズマ電源5から高周波電力を印加し、
該電極4と該基板ホルダー2との間にプラズマを
発生させ、このプラズマ中にはパイプよりなる原
料ガス供給手段6で原料ガスを供給して活性化さ
せ、プラズマCVD法で基板4の表面に薄膜を形
成していた。
この場合、基板3の表面に均一な膜を得るため
に、第3図に示すように基板ホルダー2の表面に
リング状の凹部2Aを設け、該凹部2Aの中央に
は凸部2Bを設け、基板3をこの凹部2Aに嵌め
込み、基板3の表面の成膜面が基板ホルダー2の
表面に段差なく連続するようにしていた。このよ
うにしないと、プラズマの分布が基板3のエツジ
部で不均一となり、膜厚が変化するためである。
特に、基板3側をプラズマ電源5に接続した場
合、その傾向が顕著でる。
に、第3図に示すように基板ホルダー2の表面に
リング状の凹部2Aを設け、該凹部2Aの中央に
は凸部2Bを設け、基板3をこの凹部2Aに嵌め
込み、基板3の表面の成膜面が基板ホルダー2の
表面に段差なく連続するようにしていた。このよ
うにしないと、プラズマの分布が基板3のエツジ
部で不均一となり、膜厚が変化するためである。
特に、基板3側をプラズマ電源5に接続した場
合、その傾向が顕著でる。
このような従来のプラズマCVDによる薄膜形
成方法では、基板3の片面(上側となつた面)に
しか薄膜を形成できないので、もう一方の面にも
薄膜を形成する作業をもう一度行わなければなら
ず、能率が悪い問題点があつた。
成方法では、基板3の片面(上側となつた面)に
しか薄膜を形成できないので、もう一方の面にも
薄膜を形成する作業をもう一度行わなければなら
ず、能率が悪い問題点があつた。
そこで、本出願人は、第4図及び第5図に示す
ように、真空反応容器1内に1対の原料ガス流出
電極7を相互に向い合せに配置し、両面が露出で
きるように外周をアウターワークホルダー8で支
持させた処理用の基板3をこれら原料ガス流出電
極7間の中央に置き、両原料ガス流出電極7から
基板3の両面に向けて原料ガスを流出させつつ基
板3と両原料ガス流出電極7との間にプラズマ電
源5からマツチングボツクス5Aを介して高周波
電力を供給して、原料ガス流出電極7と基板3の
両面との間にプラズマをそれぞれ発生させ、該プ
ラズマ中で原料ガスを活性化させて基板3の両面
に薄膜を同時に形成するプラズマCVD装置を最
近提案した。
ように、真空反応容器1内に1対の原料ガス流出
電極7を相互に向い合せに配置し、両面が露出で
きるように外周をアウターワークホルダー8で支
持させた処理用の基板3をこれら原料ガス流出電
極7間の中央に置き、両原料ガス流出電極7から
基板3の両面に向けて原料ガスを流出させつつ基
板3と両原料ガス流出電極7との間にプラズマ電
源5からマツチングボツクス5Aを介して高周波
電力を供給して、原料ガス流出電極7と基板3の
両面との間にプラズマをそれぞれ発生させ、該プ
ラズマ中で原料ガスを活性化させて基板3の両面
に薄膜を同時に形成するプラズマCVD装置を最
近提案した。
このようにすると、基板3とその両側の各原料
ガス流出電極7とによつて該基板3の両側にプラ
ズマをそれぞれ発生させることができ、且つ各原
料ガス流出電極7からの原料ガスを基板3の両面
に供給でき、基板3の両面に同時に薄膜が形成で
きる。
ガス流出電極7とによつて該基板3の両側にプラ
ズマをそれぞれ発生させることができ、且つ各原
料ガス流出電極7からの原料ガスを基板3の両面
に供給でき、基板3の両面に同時に薄膜が形成で
きる。
[発明が解決しようとする問題点]
しかしながら、第4図に示すような基板3の両
面に同時に成膜を行わせるプラズマCVD装置の
場合には、基板3上の膜厚分布を測定したとこ
ろ、第6図に示すような結果が得られ、基板3の
外周側部分で膜厚が薄くなる問題点があることが
判明した。
面に同時に成膜を行わせるプラズマCVD装置の
場合には、基板3上の膜厚分布を測定したとこ
ろ、第6図に示すような結果が得られ、基板3の
外周側部分で膜厚が薄くなる問題点があることが
判明した。
本発明の目的は、基板の両面に同時に成膜を行
う際に容易に基板の外周側でも膜厚を一様にして
成膜を行わせることができるアウターワークホル
ダーを提供することにある。
う際に容易に基板の外周側でも膜厚を一様にして
成膜を行わせることができるアウターワークホル
ダーを提供することにある。
[問題点を解決するための手段]
上記の目的を達成するための本発明の構成を説
明すると、本発明は基板の両面を露出させた状態
で該基板の外周に装着されて該基板を支持する環
状のアウターワークホルダー本体を備え、該アウ
ターワークホルダー本体には少なくとも前記基板
の外周に沿つた部分に該基板の厚みにほぼ等しい
厚みの均一肉厚部分が該基板の外周を包囲して設
けられていることを特徴とする。
明すると、本発明は基板の両面を露出させた状態
で該基板の外周に装着されて該基板を支持する環
状のアウターワークホルダー本体を備え、該アウ
ターワークホルダー本体には少なくとも前記基板
の外周に沿つた部分に該基板の厚みにほぼ等しい
厚みの均一肉厚部分が該基板の外周を包囲して設
けられていることを特徴とする。
[作用]
このようにアウターワークホルダーを使用する
と、基板の外周に該基板の厚みとほぼ同じ厚みの
均一肉厚部分が存在するので、基板の外周側を含
めてその両面に容易に均一な厚さで成膜を行わせ
ることができる。
と、基板の外周に該基板の厚みとほぼ同じ厚みの
均一肉厚部分が存在するので、基板の外周側を含
めてその両面に容易に均一な厚さで成膜を行わせ
ることができる。
[実施例]
以下、本発明の実施例を図面を参照して詳細に
説明する。第1図A〜Eに示すように本実施例の
アウターワークホルダー8は、リング状をしたア
ウターワークホルダー本体9と、該アウターワー
クホルダー本体9を支持部に取付けるための取付
部10とで構成されている。アウターワークホル
ダー本体9は、上側の半リング部9Aと下側の半
リング部9Bとに2つ割りにされ、これらは雄継
手部8Cと雌継手部8Dとでリング状に連結され
るようになつている。このようなアウターワーク
ホルダー本体9の内周には、基板3の外周を嵌合
させる基板嵌合溝9Eが設けられている。また、
アウターワークホルダー本体9には、基板3を支
持する内周部分に該基板3の厚み(例えば、1.27
mm)にほぼ等しい厚み(例えば1.4mm)の均一肉
厚部分9Fが基板3の外周を包囲して設けられて
いる。この均一肉厚部分9Eの厚みは、基板3の
厚み以上で且つ該基板3の厚みの125%以下の厚
みであることが好ましい。また、均一肉厚部分9
Fは基板3の外周よりその外径の120%以上にわ
たつて設けられていることが好ましい。
説明する。第1図A〜Eに示すように本実施例の
アウターワークホルダー8は、リング状をしたア
ウターワークホルダー本体9と、該アウターワー
クホルダー本体9を支持部に取付けるための取付
部10とで構成されている。アウターワークホル
ダー本体9は、上側の半リング部9Aと下側の半
リング部9Bとに2つ割りにされ、これらは雄継
手部8Cと雌継手部8Dとでリング状に連結され
るようになつている。このようなアウターワーク
ホルダー本体9の内周には、基板3の外周を嵌合
させる基板嵌合溝9Eが設けられている。また、
アウターワークホルダー本体9には、基板3を支
持する内周部分に該基板3の厚み(例えば、1.27
mm)にほぼ等しい厚み(例えば1.4mm)の均一肉
厚部分9Fが基板3の外周を包囲して設けられて
いる。この均一肉厚部分9Eの厚みは、基板3の
厚み以上で且つ該基板3の厚みの125%以下の厚
みであることが好ましい。また、均一肉厚部分9
Fは基板3の外周よりその外径の120%以上にわ
たつて設けられていることが好ましい。
基板3の厚み(1.27mm)に対して110%厚み
(1.4mm)の均一肉厚部分9Fが、基板3の径(95
mmφ)の126%(120mmφ)にわたつて設けられた
アウターワークホルダー本体9を用いて、基板3
の両面にプラズマCVD法で膜を同時に形成した
ところ、基板3の97%にわたつて±5%の膜厚分
布を得ることができた。
(1.4mm)の均一肉厚部分9Fが、基板3の径(95
mmφ)の126%(120mmφ)にわたつて設けられた
アウターワークホルダー本体9を用いて、基板3
の両面にプラズマCVD法で膜を同時に形成した
ところ、基板3の97%にわたつて±5%の膜厚分
布を得ることができた。
また、均一肉厚部分9Fが基板外径の120%よ
り小さい場合、またはアウターワークホルダー本
体9の厚さが基板3の厚さの125%より大きい場
合には、基板3の外周縁部の膜厚分布が±5%の
範囲に入らないことがわかつた。
り小さい場合、またはアウターワークホルダー本
体9の厚さが基板3の厚さの125%より大きい場
合には、基板3の外周縁部の膜厚分布が±5%の
範囲に入らないことがわかつた。
その実験結果を第2図及び第3図に示す。第2
図は、アウターワークホルダー本体9の均一肉厚
部分9Fの範囲(基板3の外径を100%とする。)
と基板3の周縁部の膜厚変化(t−T)/T×
100(%)(ただし、Tは基板3の半径方向の中央
の膜厚、tは基板3の外周から3mmの箇所の膜
厚)との関係を示したものである。図から明らか
なように、均一肉厚部分9Fが基板3の直径の
120%を超えると、膜厚分布が±5%の範囲に入
らないことが判明した。
図は、アウターワークホルダー本体9の均一肉厚
部分9Fの範囲(基板3の外径を100%とする。)
と基板3の周縁部の膜厚変化(t−T)/T×
100(%)(ただし、Tは基板3の半径方向の中央
の膜厚、tは基板3の外周から3mmの箇所の膜
厚)との関係を示したものである。図から明らか
なように、均一肉厚部分9Fが基板3の直径の
120%を超えると、膜厚分布が±5%の範囲に入
らないことが判明した。
第3図は、アウターワークホルダー本体9の均
一肉厚部分9Fの肉厚(基板3の肉厚に等しいと
きを100%とする。)と前述した基板3の周縁部の
膜厚変化(t−T)/T×100(%)との関係を示
したものである。図から明らかなように、均一肉
厚部分の9Fの肉厚は基板3の肉厚を超えて125
%以上になると、膜厚分布が±5%の範囲内に入
らないことがわかつた。
一肉厚部分9Fの肉厚(基板3の肉厚に等しいと
きを100%とする。)と前述した基板3の周縁部の
膜厚変化(t−T)/T×100(%)との関係を示
したものである。図から明らかなように、均一肉
厚部分の9Fの肉厚は基板3の肉厚を超えて125
%以上になると、膜厚分布が±5%の範囲内に入
らないことがわかつた。
なお、均一肉厚部分9Fは機械的強度が問題な
ければ、アウターワークホルダー本体9の全体に
設けてもよい。
ければ、アウターワークホルダー本体9の全体に
設けてもよい。
[発明の効果]
以上説明したように、本発明ではアウターワー
クホルダー本体の少なくとも内周に沿つた部分
に、基板の肉厚にほぼ等しい厚みの均一肉厚部分
を全周にわたつて設けたので、膜の厚みが基板の
外周側で薄くなるという現象を改善でき、基板の
両面に同時に均一な厚さの成膜を容易に行わせる
ことができる。
クホルダー本体の少なくとも内周に沿つた部分
に、基板の肉厚にほぼ等しい厚みの均一肉厚部分
を全周にわたつて設けたので、膜の厚みが基板の
外周側で薄くなるという現象を改善でき、基板の
両面に同時に均一な厚さの成膜を容易に行わせる
ことができる。
第1図Aは本発明に係るアウターワークホルダ
ーの一実施例の分解状態の正面図、第1図Bは第
1図のA−A線矢視図、第1図Cは第1図BのB
部の拡大図、第1図Dは第1図Aの上半部の右側
面図、第1図Eは第1図Aの下半部の右側面図、
第2図はアウターワークホルダー本体の均一肉厚
部分の範囲と基板の周縁部の膜厚変化との関係を
示した線図、第3図アウターワークホルダー本体
の均一肉厚部分の肉厚と基板の周縁部の膜厚変化
との関係を示した線図、第4図は従来のプラズマ
CVD装置の概略構成を示す縦断面図、第5図は
第4図に示す場合での基板ホルダーの要部縦断面
図、第6図は本出願人が提案したプラズマCVD
装置の概略構成を示す縦断面図、第7図は第6図
に示すプラズマCVD装置のアウターワークホル
ダーの構成を示す要部横断面図、第8図は第6図
に示す装置で基板に形成した膜の膜厚分布図であ
る。 1……真空反応容器、3……基板、5……プラ
ズマ電源、7……原料ガス流出電極、8……アウ
ターワークホルダー、9……アウターワークホル
ダー本体、9E……基板嵌合溝、9F……均一肉
厚部分。
ーの一実施例の分解状態の正面図、第1図Bは第
1図のA−A線矢視図、第1図Cは第1図BのB
部の拡大図、第1図Dは第1図Aの上半部の右側
面図、第1図Eは第1図Aの下半部の右側面図、
第2図はアウターワークホルダー本体の均一肉厚
部分の範囲と基板の周縁部の膜厚変化との関係を
示した線図、第3図アウターワークホルダー本体
の均一肉厚部分の肉厚と基板の周縁部の膜厚変化
との関係を示した線図、第4図は従来のプラズマ
CVD装置の概略構成を示す縦断面図、第5図は
第4図に示す場合での基板ホルダーの要部縦断面
図、第6図は本出願人が提案したプラズマCVD
装置の概略構成を示す縦断面図、第7図は第6図
に示すプラズマCVD装置のアウターワークホル
ダーの構成を示す要部横断面図、第8図は第6図
に示す装置で基板に形成した膜の膜厚分布図であ
る。 1……真空反応容器、3……基板、5……プラ
ズマ電源、7……原料ガス流出電極、8……アウ
ターワークホルダー、9……アウターワークホル
ダー本体、9E……基板嵌合溝、9F……均一肉
厚部分。
Claims (1)
- 1 基板の両面を露出させた状態で該基板の外周
に装着されて該基板を支持する環状のアウターワ
ークホルダー本体を備え、該アウターワークホル
ダー本体には少なくとも前記基板の外周に沿つた
部分に該基板の厚みにほぼ等しい厚みの均一肉厚
部分が該基板の外周を包囲して設けられているこ
とを特徴とするアウターワークホルダー。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62325748A JPH01168021A (ja) | 1987-12-23 | 1987-12-23 | アウターワークホルダー |
| PCT/JP1988/001043 WO1989003587A1 (fr) | 1987-10-14 | 1988-10-14 | Procede et dispositif de formation de films minces par depot de vapeur chimique au plasma |
| EP88908981A EP0336979B1 (en) | 1987-10-14 | 1988-10-14 | Apparatus for thin film formation by plasma cvd |
| US07/368,312 US4991542A (en) | 1987-10-14 | 1988-10-14 | Method of forming a thin film by plasma CVD and apapratus for forming a thin film |
| KR1019890700595A KR930003136B1 (ko) | 1987-10-14 | 1988-10-14 | 프라즈마 cvd에 의한 박막 형성장치 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62325748A JPH01168021A (ja) | 1987-12-23 | 1987-12-23 | アウターワークホルダー |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01168021A JPH01168021A (ja) | 1989-07-03 |
| JPH0517698B2 true JPH0517698B2 (ja) | 1993-03-09 |
Family
ID=18180206
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62325748A Granted JPH01168021A (ja) | 1987-10-14 | 1987-12-23 | アウターワークホルダー |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01168021A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100306824B1 (ko) * | 1998-05-06 | 2001-11-30 | 윤종용 | 화학적기계적평탄화기계를위한웨이퍼홀더 |
| JP4496401B2 (ja) * | 2000-09-14 | 2010-07-07 | 三菱電機株式会社 | プラズマcvd装置および太陽電池の製造方法 |
-
1987
- 1987-12-23 JP JP62325748A patent/JPH01168021A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01168021A (ja) | 1989-07-03 |
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