JPH05190399A - High capacitance electrolytic capacitor electrode material and its manufacturing method - Google Patents
High capacitance electrolytic capacitor electrode material and its manufacturing methodInfo
- Publication number
- JPH05190399A JPH05190399A JP3885992A JP3885992A JPH05190399A JP H05190399 A JPH05190399 A JP H05190399A JP 3885992 A JP3885992 A JP 3885992A JP 3885992 A JP3885992 A JP 3885992A JP H05190399 A JPH05190399 A JP H05190399A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- electrolytic capacitor
- thin film
- metal thin
- capacitance
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 基体上にTi合金からなる金属薄膜を形成し
た電解コンデンサ用電極箔において、より薄くしなが
ら、高い静電容量を得ること、および高温使用時の静電
容量の安定化をはかること。
【構成】 基体上に不活性ガスを吹き込みながら、特殊
構造のカラム構造集合体からなるTi合金金属薄膜を形
成した電解コンデンサ用電極箔。
(57) [Abstract] [Objective] In an electrode foil for an electrolytic capacitor in which a metal thin film made of a Ti alloy is formed on a substrate, it is possible to obtain a high capacitance while making the electrode foil thinner, and Stabilize. [Structure] An electrode foil for an electrolytic capacitor in which a Ti alloy metal thin film made of a column structure aggregate having a special structure is formed while blowing an inert gas onto a substrate.
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は電解コンデンサ用電極材
料およびその製造法に関する。さらに詳しくは、高容量
電解コンデンサの小型大容量化および静電容量安定化に
寄与する電極材料およびその製造法に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an electrode material for electrolytic capacitors and a method for producing the same. More specifically, the present invention relates to an electrode material that contributes to miniaturization and high capacity of a high capacity electrolytic capacitor and stabilization of electrostatic capacity, and a manufacturing method thereof.
【0002】[0002]
【従来の技術】コンデンサを小型・高容量化するために
は誘電層の誘電率を上げるか、誘電層の膜厚を薄くする
か、対向電極の表面積を拡大することが必要である。し
かし現行のアルミ電解コンデンサでは、一般にアルミニ
ウム箔にエッチングを施して多数のボアを形成し、表面
積を拡大した後、陽極酸化によりAl2O3の誘電層を
形成し、アルミ電解コンデンサの静電容量を増加させて
いる。しかしエッチングによるアルミニウム箔の表面積
拡大は、アルミニウム箔の強度の低下を伴い、エッチン
グの後のアルミニウム電極材料の厚さを薄くする限界に
近くなっている。2. Description of the Related Art In order to reduce the size and capacity of a capacitor, it is necessary to increase the dielectric constant of the dielectric layer, reduce the thickness of the dielectric layer, or increase the surface area of the counter electrode. However, in the current aluminum electrolytic capacitor, generally, aluminum foil is etched to form a large number of bores, the surface area is enlarged, and then a dielectric layer of Al 2 O 3 is formed by anodic oxidation. Is increasing. However, the increase in surface area of the aluminum foil due to etching is accompanied by a decrease in the strength of the aluminum foil, and is close to the limit of reducing the thickness of the aluminum electrode material after etching.
【0003】これに対して特開昭56−29669号公
報では、30度以上、好ましくは80〜85度の入射角
で基体にアルミニウムやタンタルなどの弁金属の蒸気を
入射させて多孔質金属膜を作成し、表面積が拡大した電
解コンデンサ用電極箔を得ることが提案されている。ま
た特開昭59−167009号公報では、アルミ箔など
の基体上に、1×10−4〜1Torrのアルゴンなど
の不活性ガス雰囲気中で、アルミニウム、タンタル、チ
タン、ニオブ、ジルコニウムなどの導電性金属を蒸着し
て被膜厚さ1〜20ミクロンの多孔質金属膜を作成し、
誘電層の表面積を拡大すると共に誘電率を増加させるこ
とが提案されている。また特公平3−37293号公報
ではエッチングにより粗面化されたアルミニウム箔の表
面に、平均粒子径0.02〜1.0ミクロンのチタン微
粒子からなる厚さ0.2〜5.0ミクロンのチタン蒸着
被膜が被覆されてなる電解コンデンサ用陰極材料が提案
されている。On the other hand, in Japanese Unexamined Patent Publication No. 56-29669, a porous metal film is formed by injecting a vapor of a valve metal such as aluminum or tantalum into a substrate at an incident angle of 30 degrees or more, preferably 80 to 85 degrees. Has been proposed to obtain an electrode foil for an electrolytic capacitor having an increased surface area. Further, in Japanese Patent Laid-Open No. 59-167090, the conductivity of aluminum, tantalum, titanium, niobium, zirconium, etc. is set on a substrate such as aluminum foil in an inert gas atmosphere of 1 × 10 −4 to 1 Torr such as argon. A metal is vapor-deposited to form a porous metal film having a film thickness of 1 to 20 microns,
It has been proposed to increase the surface area of the dielectric layer and increase the dielectric constant. Further, according to Japanese Patent Publication No. 3-37293, titanium having a thickness of 0.2 to 5.0 microns, which is made of titanium fine particles having an average grain size of 0.02 to 1.0 micron, is formed on the surface of an aluminum foil roughened by etching. A cathode material for electrolytic capacitors, which is coated with a vapor-deposited coating, has been proposed.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、これら
の技術には未だ以下のような課題があった。 (1)充分な表面積拡大効果を得るためには導電性金属
膜の厚みを1〜20ミクロンと大きくする必要があり、
繰り返し蒸着層を形成するなど、生産性の点で問題があ
った。またアルミニウム以外の導電性金属は高融点材料
であるために、上記のような厚い膜を形成しようとする
と、蒸着時に基体が熱ダメージを受け、シワが多発する
とか、切断するなどの問題があった。 (2)エッチングされて凹凸を有する基体に蒸着する場
合には、エッチング基体の破断強さ、引裂き強さが劣
り、蒸着時にしばしば破断する問題に遭遇する。 (3)導電性金属を不活性ガス中で蒸着する方法では真
空層内の圧力を高くしたほうが同じ膜厚でも大きな表面
積すなわち大きな静電容量がえられるが、一方、真空層
内の圧力を高くすると膜付着速度が減少していく問題が
ある。特に大型生産機においては、真空層内の圧力上昇
に伴う膜付着速度の減少は著しく、大幅な生産性の低下
をきたす。 (4)アルミ電解コンデンサは0.1〜500,000
マイクロファラッドの広範囲な静電容量範囲で使用され
るが、1,000マイクロファラッド以上の高静電容量
範囲で使用される場合、従来知られた技術では、電解コ
ンデンサ箔の厚さをより厚くする必要があり、電解液含
浸後の高温貯蔵時の容量変化率が大きい欠点があった。However, these techniques still have the following problems. (1) In order to obtain a sufficient surface area expansion effect, it is necessary to increase the thickness of the conductive metal film to 1 to 20 microns,
There is a problem in terms of productivity such as repeatedly forming a vapor deposition layer. In addition, since conductive metals other than aluminum are high melting point materials, when attempting to form such a thick film as described above, there is a problem that the substrate is damaged by heat during vapor deposition, causing many wrinkles or cutting. It was (2) When vapor-deposited on a substrate that has been etched and has irregularities, the rupture strength and tear strength of the etched substrate are inferior, and the problem of frequent fracture during vapor deposition is encountered. (3) In the method of vapor-depositing a conductive metal in an inert gas, a higher surface pressure, that is, a larger capacitance can be obtained by increasing the pressure in the vacuum layer, but the pressure in the vacuum layer is increased by increasing the pressure in the vacuum layer. Then, there is a problem that the film deposition rate decreases. Particularly in a large-scale production machine, the film deposition rate is remarkably reduced with the increase in pressure in the vacuum layer, resulting in a significant decrease in productivity. (4) 0.1-500,000 for aluminum electrolytic capacitors
Although it is used in a wide capacitance range of microfarads, when it is used in a high capacitance range of 1,000 microfarads or more, it is necessary to increase the thickness of the electrolytic capacitor foil in the conventionally known technique. However, there is a drawback that the capacity change rate during high temperature storage after impregnation with the electrolytic solution is large.
【0005】本発明は上記のごとき従来技術の諸欠点に
鑑み創案されたもので、その目的とするところは、Ti
合金からなる、極めて薄い蒸着層で静電容量の増加に著
しく効果が大きく、かつ製造時の生産性に優れ、蒸着層
が超微細構造のカラム構造からなり、かつカラム構造の
均一性およびカラム間隙の電解液含浸性に優れ、電気特
性の安定性した高容量電解コンデンサ用電極材料および
その製造法を提供することにある。The present invention was devised in view of the above-mentioned drawbacks of the prior art.
An extremely thin vapor-deposited layer made of an alloy, which is extremely effective in increasing capacitance and has excellent productivity during manufacturing. The vapor-deposited layer has an ultrafine column structure, and the column structure is uniform and has a column gap. The object of the present invention is to provide an electrode material for a high-capacity electrolytic capacitor, which is excellent in electrolytic solution impregnation property and has stable electric characteristics, and a manufacturing method thereof.
【0006】[0006]
【課題を解決するための手段】前記した本発明の目的
は、第1に基体と該基体の少なくとも片面に極めて薄い
金属薄膜が形成されてなる電解コンデンサの電極材料で
あって、該金属薄膜が、Ti合金、即ちZn,Mg,C
a,Sr,Ba,Al,Sn,Mn,V,Cr,Ni,
Fe,Zr,B,SbおよびPdから選ばれた金属を含
むTi合金からなり、かつカラム個数が5×108〜1
〜1012個数/cm2、カラム間隙が50〜5000
オングストローム、厚さが100〜5000オングスト
ローム、表面拡大率が50〜1000倍の独立したカラ
ム状をなしていることを特徴とする高容量電解コンデン
サ用電極材料によって達成することができる。The first object of the present invention is, firstly, an electrode material for an electrolytic capacitor comprising a substrate and an extremely thin metal thin film formed on at least one surface of the substrate, wherein the metal thin film is , Ti alloys, ie Zn, Mg, C
a, Sr, Ba, Al, Sn, Mn, V, Cr, Ni,
It is made of a Ti alloy containing a metal selected from Fe, Zr, B, Sb and Pd, and the number of columns is 5 × 10 8 to 1
10 to 12 12 pieces / cm 2 , column gap 50 to 5000
This can be achieved by an electrode material for a high-capacity electrolytic capacitor, which is characterized in that it is in the form of an independent column having an angstrom, a thickness of 100 to 5000 angstrom, and a surface expansion ratio of 50 to 1000 times.
【0007】本発明の目的は、第2に、該基体に、Ti
合金からなる金属薄膜を、1個以上の吹出口をもつガス
流入口から、少なくとも0.03リットル/分以上の不
活性ガス、窒素ガスあるいは/および窒素ガスを含む不
活性ガスを流入しながら蒸着させることを特徴とする該
電極材料の製造法によって達成される。Secondly, the object of the present invention is to add Ti to the substrate.
Evaporating a metal thin film made of an alloy from a gas inlet having one or more outlets while inflowing at least 0.03 liter / min or more of an inert gas, nitrogen gas or / and an inert gas containing nitrogen gas. It is achieved by a method for producing the electrode material, which comprises:
【0008】本発明の電極箔を構成する基体としては、
アルミニウム箔のほか、アルミニウム合金箔やアルミニ
ウム以外の金属箔、プラスチックフィルムなどから広範
囲に選ぶことができるが、漏れ電流が小さい点や機械的
強度、耐熱性が高い点から、アルミニウム箔、アルミニ
ウム合金箔またはプラスチックフィルムの採用が好まし
い。これら基体としての金属箔やプラスチックフィルム
は、電解コンデンサの小型化、電気特性の安定化をはか
るためにより薄く、実質的に平滑な基体が好ましい。ま
た、前記金属箔の厚さは機械的強度と占有体積との関係
から6〜100ミクロンの範囲が好ましく、10〜30
ミクロンの範囲がより好ましい。The substrate constituting the electrode foil of the present invention includes:
In addition to aluminum foil, you can choose from a wide range of aluminum alloy foil, non-aluminum metal foil, plastic film, etc., but aluminum foil, aluminum alloy foil because of its low leakage current, high mechanical strength, and high heat resistance. Alternatively, it is preferable to use a plastic film. The metal foil or the plastic film as the substrate is preferably a thin and substantially smooth substrate in order to downsize the electrolytic capacitor and stabilize the electric characteristics. In addition, the thickness of the metal foil is preferably in the range of 6 to 100 μm in view of the relationship between mechanical strength and occupied volume, and 10 to 30 μm.
The micron range is more preferred.
【0009】前記基体としてプラスチックフィルムを用
いる場合それを構成する樹脂の具体例には、ポリエチレ
ンテレフタレート、ポリエチレン−2,6−ナフタレー
トなどのポリエステル類、ポリプロピレンなどのポリオ
レフィン類、ポリフェニレンスルフィド類、ポリエーテ
ルエーテルケトンなどのポリエーテル類、芳香族ポリア
ミド類、ポリカーボネートなどが挙げられるが、電気特
性や価格の点でポリエチレンテレフタレート、ポリプロ
ピレン、ポリフェニレンスルフィドが好ましい。これら
のブラスチックフィルムは機械的強度や安定性の点で二
軸延伸されてフィルム化されていることが好ましい。該
プラスチックフィルムの厚さは機械的強度と占有体積の
関係から0.5〜50ミクロンの範囲が好ましく、1.
5〜15ミクロンの範囲がより好ましい。When a plastic film is used as the substrate, specific examples of the resin constituting the film include polyesters such as polyethylene terephthalate and polyethylene-2,6-naphthalate, polyolefins such as polypropylene, polyphenylene sulfides and polyether ethers. Examples thereof include polyethers such as ketones, aromatic polyamides, polycarbonates, and the like, and polyethylene terephthalate, polypropylene, and polyphenylene sulfide are preferable in terms of electric characteristics and price. It is preferable that these plastic films are biaxially stretched to form a film from the viewpoint of mechanical strength and stability. The thickness of the plastic film is preferably in the range of 0.5 to 50 μm from the viewpoint of mechanical strength and occupied volume, and
The range of 5 to 15 microns is more preferable.
【0010】前記基体の表面は実質的に平滑であること
が好ましく、エッチングなどによる大きな凹凸やボアな
どがない方が好ましい。具体的には平均表面粗さが50
〜5000オングストロームであることが好ましい。5
0オングストローム未満の場合には、滑り性が劣り、加
工作業性に問題が発生する。5000オングストローム
を越える場合には、表面に形成されるカラム構造の金属
層が不均一になり、長期耐熱テストで静電容量の変化率
が大きくなるなど電気特性の欠点を生じる。It is preferable that the surface of the substrate is substantially smooth, and it is preferable that there is no large unevenness or bore due to etching or the like. Specifically, the average surface roughness is 50
It is preferably ˜5000 Å. 5
When the thickness is less than 0 angstrom, the slipperiness is poor and the workability is deteriorated. When it exceeds 5000 angstroms, the metal layer of the column structure formed on the surface becomes non-uniform, and the change rate of the electrostatic capacitance becomes large in the long-term heat resistance test, resulting in a defect of electric characteristics.
【0011】本発明における金属薄膜は、Ti合金、即
ちZn,Mg,Ca,Sr,Ba,Al,Sn,Mn,
V,Cr,Ni,Fe,Zr,B,SbおよびPdから
選ばれた金属を含むTi合金からなるものである。Z
n,Mg,Ca,Sr,Ba,Al,Sn,Mn,V,
Cr,Ni,Fe,Zr,B,SbおよびPdから選ば
れた金属を含むTi合金は、静電容量の増加に効果が現
れるとか、熱負けが少なく、蒸着生産性が向上するなど
の効果が生じる利点がある。The metal thin film in the present invention is a Ti alloy, that is, Zn, Mg, Ca, Sr, Ba, Al, Sn, Mn,
It is made of a Ti alloy containing a metal selected from V, Cr, Ni, Fe, Zr, B, Sb and Pd. Z
n, Mg, Ca, Sr, Ba, Al, Sn, Mn, V,
A Ti alloy containing a metal selected from Cr, Ni, Fe, Zr, B, Sb and Pd has effects such as an effect of increasing electrostatic capacity, less heat loss, and improvement of vapor deposition productivity. There are advantages to occur.
【0012】本発明の金属薄膜の特徴は、カラム個数が
5×108〜1×1012個数/cm2、カラム間隙が
50〜5000オングストローム、厚さが100〜50
00オングストロームのカラムの集合体からなり、その
結果、表面拡大率が50〜1000倍に表面積が拡大し
ていることである。より静電容量を向上するには表面拡
大率が大きい方が好ましく、微細なカラムが多数個形成
されており、その厚さも厚い方が良い。そのため、カラ
ム個数が5×108未満では静電容量の向上が不足であ
り、厚さが100オングストローム未満では表面拡大率
が小さく、静電容量の向上が不足になる。一方、カラム
間隙は電解液の含浸性に影響し、濡れ性の劣る電解液で
は静電容量が向上し難く、高温貯蔵時に静電容量が変化
する欠点がある。そのため、カラム個数が1×1012
個数/cm2以上では、カラム間隙が小さくなり過ぎ、
カラム間隙は50〜5000オングストロームが好まし
い。カラムの集合体の厚さが5000オングストローム
以上では、蒸着の生産性が劣り、コスト高になる。従来
から使用されているエッチングアルミ箔は、理論値では
表面拡大率が60〜300倍と計算されているが、通常
は表面拡大率が30〜100倍にとどまっており、本発
明の表面拡大率は50〜1000倍とより大きく、静電
容量のより大きな電解コンデンサが得られる特徴があ
る。The metal thin film of the present invention is characterized in that the number of columns is 5 × 10 8 to 1 × 10 12 pieces / cm 2 , the column gap is 50 to 5000 Å, and the thickness is 100 to 50.
It is composed of an aggregate of columns of 00 angstrom, and as a result, the surface expansion rate is increased by 50 to 1000 times. In order to further improve the electrostatic capacity, it is preferable that the surface expansion rate is large, a large number of fine columns are formed, and the thickness thereof is also preferably thick. Therefore, if the number of columns is less than 5 × 10 8 , the improvement in capacitance is insufficient, and if the thickness is less than 100 Å, the surface expansion rate is small and the improvement in capacitance is insufficient. On the other hand, the column gap affects the impregnation property of the electrolytic solution, and it is difficult to improve the electrostatic capacity with an electrolytic solution having poor wettability, and the electrostatic capacity changes during high temperature storage. Therefore, the number of columns is 1 × 10 12.
If the number / cm 2 or more, the column gap becomes too small,
The column gap is preferably 50 to 5000 angstroms. When the column aggregate has a thickness of 5000 angstroms or more, the productivity of vapor deposition is poor and the cost is high. The theoretical value of the conventionally used etched aluminum foil is calculated to be 60 to 300 times the surface expansion rate, but the surface expansion rate is usually 30 to 100 times. Is 50 to 1000 times larger, and an electrolytic capacitor having a larger capacitance can be obtained.
【0013】本発明において、プラスチックフィルムな
どの非導電性基体を使用する場合には、それに先だって
該金属薄膜が形成される面を金属化しておくことが誘電
損失を小さくできる点で好ましい。さらに、該金属化に
先立ち易接着化処理などの前処理が行われても良い。In the present invention, when a non-conductive substrate such as a plastic film is used, it is preferable that the surface on which the metal thin film is formed is metallized in advance in order to reduce the dielectric loss. Further, pretreatment such as easy adhesion treatment may be performed prior to the metallization.
【0014】本発明におけるカラム構造を図1に、比較
として従来から使用されているエッチング箔の構造を図
2に示している。エッチング箔は平滑な表面に凹状のボ
ア(ピット)が形成されているが、不均一であり、表面
拡大率を高めるためには深くする必要がある。またピッ
トの径は0.1〜1.5ミクロン(1000〜1500
0オングストローム)、ピットの個数は5×107〜3
×108個数/cm2であり、表面拡大率をコントロー
ルする技術に限界があった。一方、図1は本発明のカラ
ム構造およびその集合体を模式的に示したものであり、
金属薄膜の厚さ方向に成長した柱状の粒子の集合体であ
る。表面拡大率を高めるためには、カラム構造と共に、
カラム間隙が重要であり、静電容量を向上させるには各
カラムがそれぞれ分離した構造を持つことが好ましい
が、もちろんこれらの構造に限定されるものではない。
電解液の含浸性から、該カラムが該基体表面に対して垂
直の場合、傾斜している場合、カラムの形状が根元が細
い場合、表面側で先細に形成されている場合など静電容
量に大小が生じたり、静電容量の変化率に差が生じたり
するが、限定されるものではない。FIG. 1 shows a column structure in the present invention, and FIG. 2 shows a structure of an etching foil conventionally used for comparison. Although the etching foil has concave bores (pits) formed on a smooth surface, it is non-uniform and needs to be deep in order to increase the surface expansion rate. The diameter of the pit is 0.1 to 1.5 microns (1000 to 1500
0 angstrom), the number of pits is 5 × 10 7 to 3
Since it was × 10 8 pieces / cm 2 , there was a limit to the technique for controlling the surface expansion rate. On the other hand, FIG. 1 schematically shows a column structure of the present invention and an aggregate thereof.
It is an aggregate of columnar particles grown in the thickness direction of the metal thin film. In order to increase the surface expansion rate, along with the column structure,
The column gap is important, and it is preferable that each column has a separate structure in order to improve the electrostatic capacity, but it is not limited to these structures.
Due to the impregnation property of the electrolytic solution, when the column is perpendicular to the surface of the substrate, when it is inclined, when the shape of the column is narrow at the base, or when it is tapered on the surface side The magnitude may vary or the rate of change in capacitance may vary, but the invention is not limited thereto.
【0015】本発明におけるカラム個数は薄膜表面の走
査型電子顕微鏡写真から、膜厚さおよびカラム間隙は、
試料を超薄切片に切り出し、透過型電子顕微鏡にて金属
薄膜すなわちカラムの集合体の断面を観察して測定され
る。表面拡大率は気体吸着によるBET法などによる表
面積の測定から求めることができる。The number of columns in the present invention is a scanning electron micrograph of the surface of the thin film.
It is measured by cutting a sample into an ultrathin section and observing a cross section of a metal thin film, that is, an aggregate of columns with a transmission electron microscope. The surface expansion rate can be obtained by measuring the surface area by the BET method by gas adsorption.
【0016】本発明において、該基体に該金属薄膜を形
成する製造法としては、抵抗加熱真空蒸着、誘導加熱真
空蒸着、電子ビーム加熱真空蒸着、レーザー加熱真空蒸
着、スパッタリング、イオンプレーティングなどの真空
蒸着法を採用されるが、該基体を、予熱あるいは加熱ロ
ールで常温から350度(℃)の温度範囲に加熱した
り、放電処理をしたりした後、該金属薄膜を、1個以上
の吹出口をもつ窒素ガス流入口から、少なくとも0.0
3リットル/分以上の不活性ガス、窒素ガスあるいは不
活性ガスを含む窒素ガスを流入しながら、蒸着させる方
法が用いられる。カラム間隙を含むカラム構造の集合体
を形成し、表面拡大率を大幅に向上させるためには、高
真空系に積極的に不活性ガス、窒素ガスあるいは不活性
ガスを含む窒素ガスを吹き込み、より好ましくは、多数
孔の吹出口から蒸気ガスに直接不活性ガス、窒素ガスあ
るいは不活性ガスを含む窒素ガスを吹き込むことによっ
て達成できる。静止系のガス置換では表面拡大率が向上
しなく、不均一である。そのため、ガス流量は少なくと
も0.03リットル/分以上の不活性ガス、窒素ガスあ
るいは不活性ガスを含む窒素ガスを流入することが必要
である。流量が多くなればなるほどカラム形状が大きく
なり、カラム間隙が大きくなるが、真空チャンバーの大
きさ、吹出口の数などにより適宜流量を決定できる。In the present invention, the manufacturing method for forming the metal thin film on the substrate is a vacuum such as resistance heating vacuum deposition, induction heating vacuum deposition, electron beam heating vacuum deposition, laser heating vacuum deposition, sputtering or ion plating. Although the vapor deposition method is adopted, the substrate is preheated or heated with a heating roll in a temperature range of from room temperature to 350 ° C. or subjected to an electric discharge treatment, and then the metal thin film is blown with one or more layers. At least 0.0 from a nitrogen gas inlet with an outlet
A method of vapor deposition is used in which 3 l / min or more of an inert gas, a nitrogen gas or a nitrogen gas containing an inert gas is introduced. In order to form a column structure aggregate including a column gap and to greatly improve the surface expansion rate, an inert gas, a nitrogen gas, or a nitrogen gas containing an inert gas is positively blown into the high vacuum system to further improve the surface expansion rate. Preferably, it can be achieved by directly blowing an inert gas, a nitrogen gas or a nitrogen gas containing an inert gas into the vapor gas from the outlets of the multiple holes. The static gas replacement does not improve the surface expansion rate and is non-uniform. Therefore, it is necessary that at least 0.03 liters / minute or more of inert gas, nitrogen gas, or nitrogen gas containing an inert gas is introduced as a gas flow rate. The column shape becomes larger and the column gap becomes larger as the flow rate increases, but the flow rate can be appropriately determined depending on the size of the vacuum chamber, the number of outlets, and the like.
【0017】さらに、本発明では該基体を、予熱あるい
は加熱ロールで加熱するとか、各種放電処理するとか
し、金属薄膜の密着性を向上する以外に、カラム個数お
よびカラム間隙を制御でき、特に電解液の含浸性を改良
でき、静電容量の変化率を随時抑制できる。基材として
プラスチックフィルムを使用する場合には、耐熱性の限
界から、温度の上限は制限される。本発明におけるTi
合金のような高融点金属を蒸発させるためには、電子ビ
ーム加熱法を採用することが好ましい。これらの蒸発源
と基体の間に高周波電力を放射するなどしてイオンプレ
ーティングを行うことは適宜許される。Further, in the present invention, the number of columns and the column gap can be controlled in addition to improving the adhesion of the metal thin film by preheating or heating the substrate with a heating roll or performing various discharge treatments. The impregnating property of can be improved, and the rate of change in capacitance can be suppressed at any time. When a plastic film is used as the base material, the upper limit of the temperature is limited due to the heat resistance limit. Ti in the present invention
In order to evaporate a refractory metal such as an alloy, it is preferable to adopt an electron beam heating method. It is permissible to perform ion plating by radiating high frequency power between these evaporation sources and the substrate.
【0018】該不活性ガスとしては、ヘリウム、ネオ
ン、アルゴン、クリプトン、キセノンなどの希ガスを採
用することができるが、アルゴンが好ましい。本発明で
は窒素ガスあるいは不活性ガスを含む窒素ガスも使用さ
れるが、窒素ガスに混入される不活性ガスとしてはヘリ
ウム、ネオン、アルゴン、クリプトン、キセノンなどの
希ガスを採用することができる。中でもアルゴンの採用
が取扱い易さと安価な点で好ましい。また窒素ガスと不
活性ガスを別々の吹出口から導入することは、金属薄膜
のカラム構造を制御したり、静電容量を増加させる効果
があるので好ましい。また、不活性ガスに少量の酸素を
添加することは、薄膜の微細構造を細かくして、静電容
量を増加させる効果があるので好ましい。As the inert gas, a rare gas such as helium, neon, argon, krypton or xenon can be adopted, but argon is preferable. In the present invention, nitrogen gas or nitrogen gas containing an inert gas is also used, but a rare gas such as helium, neon, argon, krypton, or xenon can be adopted as the inert gas mixed in the nitrogen gas. Of these, the use of argon is preferable because it is easy to handle and inexpensive. Further, it is preferable to introduce the nitrogen gas and the inert gas from separate outlets because they have the effects of controlling the column structure of the metal thin film and increasing the capacitance. Further, it is preferable to add a small amount of oxygen to the inert gas because it has the effect of making the fine structure of the thin film fine and increasing the capacitance.
【0019】真空蒸着法による本発明の金属薄膜の形成
を図3にしたがって説明する。図3は長尺基体巻出し巻
取り走行系を備えた本発明に使用される真空蒸着装置の
好適例を模式的に示したものである。真空槽16内に巻
出し軸2、巻取り軸3、円筒状の冷却ドラム4,5から
成る長尺基体走行系が設置されている。該基体走行系に
所定の長尺基体1を設置する。真空槽16は巻出し軸
2、巻取り軸3が収められた上室17と、蒸発源6,7
が収められた下室18とに、隔離8,8′およびマスク
で分離されており、排気口19および20よりそれぞれ
真空排気される。マスクは蒸発源6,7からの蒸気の基
体への到達量を調整する。下室18内を5×10−5T
orr以下に排気した後、バルブ9,10を開き、ノズ
ル11および/あるいは12を通してドラム面4,5に
不活性ガスを吹き出し、下室18内圧力を2×10−4
〜1×10−2Torrの範囲の所定の圧力に調整す
る。蒸発源6,7は例えば電子ビーム加熱器13,14
で加熱される。基体1を走行させつつ蒸発源を溶融蒸発
させて、ドラム4面上の基体上に所定の厚さの金属薄膜
を付着させる。同様の操作でドラム面5上の基体の裏側
の面にも金属薄膜を付着させる。The formation of the metal thin film of the present invention by the vacuum deposition method will be described with reference to FIG. FIG. 3 schematically shows a preferred example of a vacuum vapor deposition apparatus used in the present invention, which is equipped with a long substrate unwinding and winding traveling system. In the vacuum chamber 16, a long substrate traveling system including a winding shaft 2, a winding shaft 3, and cylindrical cooling drums 4 and 5 is installed. A predetermined long substrate 1 is installed in the substrate traveling system. The vacuum chamber 16 includes an upper chamber 17 in which the unwinding shaft 2 and the winding shaft 3 are housed, and evaporation sources 6 and 7.
Is separated from the lower chamber 18 in which is separated by isolations 8 and 8'and a mask, and vacuum exhaust is performed from exhaust ports 19 and 20, respectively. The mask regulates the amount of vapor reaching the substrate from the evaporation sources 6 and 7. 5 × 10 −5 T in the lower chamber 18
After exhausting to orr or lower, the valves 9 and 10 are opened, inert gas is blown to the drum surfaces 4 and 5 through the nozzles 11 and / or 12, and the pressure in the lower chamber 18 is set to 2 × 10 −4.
Adjust to a predetermined pressure in the range of ˜1 × 10 −2 Torr. The evaporation sources 6 and 7 are, for example, electron beam heaters 13 and 14
Is heated in. While the substrate 1 is running, the evaporation source is melted and evaporated to deposit a metal thin film having a predetermined thickness on the substrate on the drum 4 surface. By the same operation, the metal thin film is attached to the surface of the drum surface 5 on the back side of the substrate.
【0020】本発明は特に静電容量の極めて高いアルミ
ニウム電解コンデンサすなわち陽極用アルミニウム箔と
陰極用アルミニウム箔とセパレータおよび含浸電解液か
らなるコンデンサ素子の内、特に高静電容量陰極用アル
ミニウム箔として好ましく使用される。The present invention is particularly preferable as an aluminum electrolytic capacitor having an extremely high capacitance, that is, a capacitor element comprising an aluminum foil for an anode, an aluminum foil for a cathode, a separator and an impregnated electrolytic solution, particularly as an aluminum foil for a high capacitance cathode. used.
【0021】本発明において使用される電解液として
は、電解コンデンサに通常使用される有機極性溶媒であ
ればいずれも使用できる。好ましい溶媒としては、アミ
ド類、ラクトン類、グリコール類、硫黄化合物類、ケト
ン類、エーテル類が使用できる。本発明に使用される電
解液の溶質としては電解コンデンサに使用される溶質で
あればいずれも使用できる。好ましくは芳香族カルボン
酸または不飽和ジカルボン酸のアンモニウム塩、第1〜
第3アミン塩、第4級アンモニウム塩を例示することが
できる。また、伝導性を高めるために水分を添加するこ
とができる。As the electrolytic solution used in the present invention, any organic polar solvent usually used for electrolytic capacitors can be used. Amides, lactones, glycols, sulfur compounds, ketones and ethers can be used as preferable solvents. As the solute of the electrolytic solution used in the present invention, any solute used in the electrolytic capacitor can be used. Preferably ammonium salts of aromatic carboxylic acids or unsaturated dicarboxylic acids, first to
Examples thereof include tertiary amine salts and quaternary ammonium salts. Also, water can be added to enhance conductivity.
【0022】[0022]
(1)静電容量の測定方法 基体の両面に金属薄膜が形成された試料を切り出し、2
0mm×20mmの開口部を持つホルダー2枚で試料を
挟み込み固定する。該ホルダーに固定された試料を用意
し、10%ホウ酸アンモニウム水溶液の電解液中で平行
になるように固定する。2枚の試料を電極として、LC
Rメーター(安藤電気(株)製AG−4311)にて1
20Hzのときの静電容量を測定した。測定された値の
2分の1を単位体積当たりの静電容量とした。 (2)金属薄膜の厚さ、カラム個数、カラム間隙 試料を超薄切片に切り出し、金属薄膜の表面および断面
を透過型電子顕微鏡(日本電子(株)製JEM−120
0EX)40万倍あるいは電界放射型電子顕微鏡(日立
製作所(株)製S−800)5万倍にて観察し、10本
の基線を縦、横にひき少なくとも各10か所以上の部位
を測定し平均化した。 (3)表面拡大率の測定 試料を超薄切片に切り出し、ガス吸着法によるBET法
で測定した。 (4)平均表面粗さ(中心線平均粗さ:Ra(μm測定
をオングストロームに換算) 触針表面粗さ計による測定値を示す(カットオフ値0.
25mm、測定長4mm。但し、JIS−B−0601
による)。(1) Capacitance measuring method A sample in which a metal thin film is formed on both surfaces of a substrate is cut out, and 2
The sample is sandwiched and fixed by two holders each having an opening of 0 mm × 20 mm. A sample fixed to the holder is prepared and fixed in parallel in an electrolytic solution of a 10% ammonium borate aqueous solution. LC using two samples as electrodes
1 with R meter (AG-4311 manufactured by Ando Electric Co., Ltd.)
The capacitance at 20 Hz was measured. One half of the measured value was taken as the capacitance per unit volume. (2) Thickness of metal thin film, number of columns, and column gap A sample was cut into an ultrathin section, and the surface and cross section of the metal thin film were examined with a transmission electron microscope (JEM-120 manufactured by JEOL Ltd.).
0EX) 400,000 times or field emission type electron microscope (S-800 manufactured by Hitachi, Ltd.) 50,000 times to observe 10 base lines vertically and horizontally and measure at least 10 parts each And averaged. (3) Measurement of Surface Expansion Ratio A sample was cut into an ultrathin section and measured by the BET method by a gas adsorption method. (4) Average Surface Roughness (Centerline Average Roughness: Ra (Converts μm Measurement to Angstrom) Measured value by a stylus surface roughness meter (cutoff value of 0.
25 mm, measuring length 4 mm. However, JIS-B-0601
by).
【0023】[0023]
【実施例】以下実施例により本発明を具体的に説明する
が、本発明はこれらに限定されない。 実施例1 図3の長尺ウエブ走行系を備えた両面連続型電子ビーム
加熱法真空蒸着装置に厚さ12ミクロンの長尺アルミニ
ウム箔べースを装着した。アルミニウム箔は両面ともに
ボアはなく平面平滑(平均表面粗さ400オングストロ
ーム)であり、アルゴンプラズマ処理工程を経て、蒸着
ドラムに挿入される。電子ビーム加熱器にアンチモンを
5%含むチタン合金のインゴットを充填した後、真空槽
内を排気口より真空排気して、隔離、マスク、および蒸
着ドラムでしきられた下槽内圧力を5×10−5Tor
r以下にした。次に電子ビーム加熱器上部にサーキュラ
ー状に設置された多孔ノズルを通じてチタン合金の蒸気
に向けて窒素ガスを0.7リットル/分の速度で流入し
たところ、下槽内圧力は8×10−4Torrになっ
た。アルミニウム箔べースを走行させながら、EBガン
出力を調整し、チタン合金のインゴットを溶融蒸発させ
て平面平滑なアルミニウム箔上に、蒸着速度3.0m/
分で厚さ0.1ミクロンのチタン合金カラム状蒸着膜を
形成した。チタン合金膜を形成する際、蒸着ドラムは−
20度に調整した。さらに、裏面に同じ操作で、表裏面
とも同じ厚さのチタン金属カラム状蒸着膜を形成した。EXAMPLES The present invention will be described in detail with reference to examples below, but the present invention is not limited thereto. Example 1 A long-sided aluminum foil base having a thickness of 12 μm was mounted on a double-sided continuous electron beam heating vacuum deposition apparatus equipped with the long web running system shown in FIG. The aluminum foil has a flat surface (average surface roughness of 400 angstroms) without a bore on both sides, and is inserted into a vapor deposition drum through an argon plasma treatment process. After filling the electron beam heater with the titanium alloy ingot containing 5% of antimony, the inside of the vacuum chamber was evacuated from the exhaust port, and the pressure in the lower chamber cut off by the isolation, mask, and vapor deposition drum was 5 × 10 5. -5 Tor
It was set to r or less. Next, when nitrogen gas was introduced at a rate of 0.7 liter / min toward the vapor of the titanium alloy through a porous nozzle installed in a circular shape above the electron beam heater, the pressure in the lower tank was 8 × 10 −4. It became Torr. While running the aluminum foil base, adjust the EB gun output and melt and evaporate the titanium alloy ingot to deposit a flat surface of aluminum foil with a deposition rate of 3.0 m /
A titanium alloy columnar vapor-deposited film having a thickness of 0.1 micron was formed by a minute. When forming a titanium alloy film, the vapor deposition drum-
Adjusted to 20 degrees. Further, a titanium metal columnar vapor deposition film having the same thickness was formed on the front and back surfaces by the same operation on the back surface.
【0024】かくして得られた電解コンデンサ用電極箔
は蒸着時に熱ダメージによる変形はまったくなく平坦性
は良好であった。蒸着金属薄膜はカラム構造の集合体か
らなり、チタン合金薄膜層の厚さは約1200オングス
トローム、カラム個数は220×108個数/cm2、
平均カラム間隙は約300オングストローム、表面拡大
率は約200倍であった。該電解コンデンサ用電極箔を
10%硼酸アンモニウム水溶液を電解液として静電容量
を測定したところ、360マイクロファラッド/cm2
と大きな値が得られた。平滑なアルミニウム箔のみの場
合、静電容量は4マイクロファラッド/cm2であっ
た。The electrode foil for electrolytic capacitors thus obtained was not deformed by heat damage during vapor deposition and had good flatness. The vapor-deposited metal thin film is composed of an aggregate of column structures, the titanium alloy thin film layer has a thickness of about 1200 angstroms, and the number of columns is 220 × 10 8 pieces / cm 2 .
The average column gap was about 300 Å and the surface expansion ratio was about 200 times. When the capacitance of the electrode foil for electrolytic capacitors was measured using a 10% ammonium borate aqueous solution as an electrolytic solution, the capacitance was 360 microfarads / cm 2.
And a big value was obtained. With only smooth aluminum foil, the capacitance was 4 microfarads / cm 2 .
【0025】これを陰極箔として、陽極酸化被膜の形成
された90μmの陽極箔とともにセパレータを介して巻
回してコンデンサ素子を製作し、このコンデンサ素子
に、水分1重量%、γ−ブチロラクトン74重量%、o
−フタル酸テトラエチルアンモニウム塩25重量%から
なる駆動用電解液を含浸させ、定格25V・3300μ
Fの電解コンデンサを製作した。静電容量の発現性を調
べるために、電解コンデンサの静電容量を測定したとこ
ろ、3360μFであった。この電解コンデンサの耐久
性を調べたところ、110度、5000時間後の静電容
量変化率は±5%以内であった。Using this as a cathode foil, it was wound together with a 90 μm anode foil having an anodized film through a separator to produce a capacitor element, and the capacitor element was made to have a moisture content of 1% by weight and γ-butyrolactone of 74% by weight. , O
-Impregnated with a driving electrolytic solution consisting of 25% by weight of tetraethylammonium phthalate, rated at 25V / 3300μ.
An F electrolytic capacitor was manufactured. The capacitance of the electrolytic capacitor was measured to find out the manifestation of the capacitance, and it was 3360 μF. When the durability of this electrolytic capacitor was examined, the rate of change in capacitance after 110 hours and 5000 hours was within ± 5%.
【0026】実施例2 実施例1と同じく、図3の長尺ウエブ走行系を備えた両
面連続型電子ビーム加熱法真空蒸着装置に厚さ20ミク
ロンの長尺アルミニウム箔べースを装着した。アルミニ
ウム箔は両面ともにボアはなく平面平滑(平均表面粗さ
400オングストローム)であり、アルゴンプラズマ処
理工程を経て、蒸着ドラムに挿入される。電子ビーム加
熱器にスズを5%含むチタン合金のインゴットを充填し
た後、真空槽内を排気口より真空排気して隔離、マス
ク、および蒸着ドラムでしきられた下槽内圧力を5×1
0−5Torr以下にした。次に電子ビーム加熱器上部
にサーキュラー状に設置された多孔ノズルを通じて、チ
タン合金の蒸気に向けて窒素ガスを0.5リットル/分
の速度で流入したところ、下槽内圧力は8×10−4T
orrになった。アルミニウム箔べースを走行させなが
ら、EBガン出力を調整し、チタン合金のインゴットを
溶融蒸発させて平面平滑な箔上に、蒸着速度2.0m/
分で厚さ0.2ミクロンのチタン合金カラム状蒸着膜を
形成した。チタン合金膜を形成する際、蒸着ドラムは−
20度に調整した。さらに裏面に同じ操作で、表裏面と
も同じ厚さの合金カラム状蒸着膜を形成した。Example 2 As in Example 1, a double-sided continuous electron beam heating vacuum deposition apparatus equipped with the long web traveling system shown in FIG. 3 was equipped with a long aluminum foil base having a thickness of 20 μm. The aluminum foil has a flat surface (average surface roughness of 400 angstroms) without a bore on both sides, and is inserted into a vapor deposition drum through an argon plasma treatment process. After filling the electron beam heater with a titanium alloy ingot containing 5% tin, the inside of the vacuum tank was evacuated from the exhaust port to isolate it, and the pressure in the lower tank, which was cut off by the mask and vapor deposition drum, was set to 5 × 1.
0 -5 Torr was below. Next, when nitrogen gas was flowed into the titanium alloy vapor at a rate of 0.5 liter / min through a porous nozzle installed in a circular shape above the electron beam heater, the pressure in the lower tank was 8 × 10 −. 4 T
became orr. While running the aluminum foil base, adjust the EB gun output, melt and evaporate the titanium alloy ingot, and deposit 2.0 m /
A titanium alloy column-shaped vapor deposition film having a thickness of 0.2 μm was formed in a minute. When forming a titanium alloy film, the vapor deposition drum-
Adjusted to 20 degrees. Further, an alloy column-shaped vapor deposition film having the same thickness was formed on the front and back surfaces by the same operation on the back surface.
【0027】かくして得られた電解コンデンサ用電極箔
は蒸着時に熱ダメージによる変形はまったくなく平坦性
は良好であった。蒸着金属薄膜はカラム構造の集合体か
らなり、チタン合金薄膜槽の厚さは約1800オングス
トローム、カラム個数は130×108個数/cm2、
平均カラム間隙は約400オングストローム、表面拡大
率は約280倍であった。該電解コンデンサ用電極箔を
10%硼酸アンモニウム水溶液を電解液として静電容量
を測定したところ、510マイクロファラッド/cm2
と大きな値が得られた。The electrode foil for an electrolytic capacitor thus obtained had no deformation due to heat damage during vapor deposition and had good flatness. The vapor-deposited metal thin film is composed of an aggregate of column structures, the titanium alloy thin film tank has a thickness of about 1800 angstroms, and the number of columns is 130 × 10 8 pieces / cm 2 .
The average column gap was about 400 Å and the surface expansion ratio was about 280 times. When the capacitance of the electrode foil for an electrolytic capacitor was measured using a 10% ammonium borate aqueous solution as an electrolytic solution, the capacitance was measured to be 510 microfarads / cm 2.
And a big value was obtained.
【0028】比較例1 実施例1と同じく、図3の長尺ウエブ走行系を備えた両
面連続型電子ビーム加熱法真空蒸着装置に厚さ20ミク
ロンの長尺アルミニウム箔べースを装着した。アルミニ
ウム箔は両面ともにボアはなく平面平滑(平均表面粗さ
400オングストローム)であり、蒸着ドラムに挿入さ
れる。電子ビーム加熱器にチタンのインゴットを充填し
た後、真空槽内を排気口より真空排気して、隔離、マス
ク、および蒸着ドラムでしきられた下槽内圧力を5×1
0−5Torr以下にした。次に電子ビーム加熱器上部
にサーキュラー状に設置された多孔ノズルを通じてチタ
ン合金の蒸気に向けて窒素ガスを0.02リットル/分
の速度で流入したところ、下槽内圧力は8×10−4T
orrになった。アルミニウム箔べースを走行させなが
ら、EBガン出力を調整し、チタンのインゴットを溶融
蒸発させて平面平滑な箔上に、蒸着速度0.3m/分で
それぞれ厚さ0.6ミクロン(6000オングストロー
ム)、1.0ミクロン(10000オングストローム)
のチタンカラム状蒸着膜を形成しようとした。しかし、
後者は熱負けで切断し、前者から得られた電解コンデン
サ用電極箔は、蒸着時に熱による膨脹で著しい変形が発
生し、巻き回してコンデンサ形状へ部材化することが困
難であった。Comparative Example 1 As in Example 1, a double-sided continuous electron beam heating vacuum deposition apparatus equipped with the long web traveling system shown in FIG. 3 was equipped with a long aluminum foil base having a thickness of 20 μm. The aluminum foil is flat and smooth (mean surface roughness 400 angstroms) on both sides and has no bore, and is inserted into the vapor deposition drum. After filling the electron beam heater with a titanium ingot, the inside of the vacuum chamber was evacuated from the exhaust port, and the pressure in the lower chamber, which was separated by the isolation, mask, and vapor deposition drum, was set to 5 × 1.
0 -5 Torr was below. Next, when nitrogen gas was introduced at a rate of 0.02 liter / minute toward the vapor of the titanium alloy through a porous nozzle installed in a circular shape above the electron beam heater, the pressure in the lower tank was 8 × 10 −4. T
became orr. While running the aluminum foil base, adjust the EB gun output, melt and evaporate the titanium ingot, and deposit it on a flat smooth foil at a deposition rate of 0.3 m / min and a thickness of 0.6 microns (6000 angstroms). ), 1.0 micron (10,000 angstroms)
An attempt was made to form a titanium columnar vapor-deposited film. But,
The latter was cut by heat loss, and the electrode foil for electrolytic capacitors obtained from the former was significantly deformed due to expansion due to heat during vapor deposition, and it was difficult to wind it into a capacitor shape.
【0029】[0029]
【発明の効果】本発明による電極材料は、従来の湿式法
によるエッチング箔に比べて乾式法で形成でき、極薄膜
で表面積を拡大できるので、生産性が良好で、公害問題
がなく、安価で、しかも単位体積当たりの静電容量を増
大することができ、その結果、高静電容量電解コンデン
サの小形化、高性能化、低価格化に極めて有効なものと
なしうる。さらに、微細で均一なカラム構造、含浸性の
良いカラム間隙を形成できるので、静電容量などの電気
特性が安定した電解コンデンサを得ることができる。The electrode material according to the present invention can be formed by a dry method as compared with a conventional etching foil by a wet method, and since the surface area can be increased with an extremely thin film, the productivity is good, there is no pollution problem, and the cost is low. Moreover, the capacitance per unit volume can be increased, and as a result, it can be extremely effective for downsizing, high performance, and cost reduction of the high capacitance electrolytic capacitor. Furthermore, since a fine and uniform column structure and a column gap having a good impregnation property can be formed, an electrolytic capacitor having stable electric characteristics such as capacitance can be obtained.
【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]
【図1】本発明の電極箔の模式図の一例を示す図であ
る。FIG. 1 is a diagram showing an example of a schematic view of an electrode foil of the present invention.
【図2】従来のエッチング電極箔の模式図の一例を示す
図である。FIG. 2 is a diagram showing an example of a schematic diagram of a conventional etching electrode foil.
【図3】本発明の電解コンデンサ用電極箔を製造するた
めの真空蒸着装置の一例である。FIG. 3 is an example of a vacuum vapor deposition apparatus for producing the electrode foil for electrolytic capacitors of the present invention.
a 基体 b カラム構造の蒸着金属薄膜 c 基体平滑面 d エッチングによるボア e Al箔基体 1 長尺基体 2 巻出し軸 3 巻取り軸 4,5 冷却ドラム 6,7 蒸発源 8,8′ 隔離 9,10 バルブ 11,12 ノズル 13,14 電子ビーム 16 真空槽 17 上室 18 下室 19,20 排気口 21,22 予熱器 a substrate b b vapor-deposited metal thin film having a column structure c substrate smooth surface d bore by etching e Al foil substrate 1 long substrate 2 unwinding shaft 3 winding shaft 4,5 cooling drum 6,7 evaporation source 8,8 'isolation 9, 10 valve 11,12 nozzle 13,14 electron beam 16 vacuum chamber 17 upper chamber 18 lower chamber 19,20 exhaust port 21,22 preheater
Claims (2)
膜が形成されてなる電解コンデンサ用電極材料であっ
て、該金属薄膜がZn,Mg,Ca,Sr,Ba,A
l,Sn,Mn,V,Cr,Ni,Fe,Zr,B,S
bおよびPdから選ばれた金属を含むTi合金からな
り、かつカラム個数が5×108〜1〜1012個数/
cm2、カラム間隙が50〜5000オングストロー
ム、厚さが100〜5000オングストローム、表面拡
大率が50〜1000倍の独立したカラム状をなしてい
ることを特徴とする高容量電解コンデンサ用電極材料。1. An electrode material for an electrolytic capacitor comprising a substrate and a metal thin film formed on at least one surface of the substrate, wherein the metal thin film is Zn, Mg, Ca, Sr, Ba, A.
1, Sn, Mn, V, Cr, Ni, Fe, Zr, B, S
It is made of a Ti alloy containing a metal selected from b and Pd, and the number of columns is 5 × 10 8 to 1 to 10 12 number /
An electrode material for a high-capacity electrolytic capacitor, characterized in that it has an independent columnar shape with a cm 2 column gap of 50 to 5000 angstroms, a thickness of 100 to 5000 angstroms, and a surface expansion ratio of 50 to 1000 times.
口をもつガス流入口から、少なくとも0.03リットル
/分以上の不活性ガス、窒素ガスあるいは/および窒素
ガスを含む不活性ガスを流入しながら、蒸着させること
を特徴とする請求項1記載の高容量電解コンデンサ用電
極材料の製造法。2. An inert gas containing at least 0.03 liters / minute or more of an inert gas, a nitrogen gas, and / or a nitrogen gas from the gas inlet having one or more outlets, the metal thin film on the substrate. The method for producing an electrode material for a high-capacity electrolytic capacitor according to claim 1, wherein vapor deposition is performed while gas is introduced.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3885992A JPH05190399A (en) | 1992-01-08 | 1992-01-08 | High capacitance electrolytic capacitor electrode material and its manufacturing method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3885992A JPH05190399A (en) | 1992-01-08 | 1992-01-08 | High capacitance electrolytic capacitor electrode material and its manufacturing method |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05190399A true JPH05190399A (en) | 1993-07-30 |
Family
ID=12536931
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3885992A Pending JPH05190399A (en) | 1992-01-08 | 1992-01-08 | High capacitance electrolytic capacitor electrode material and its manufacturing method |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05190399A (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004186696A (en) * | 2002-12-05 | 2004-07-02 | Acktar Ltd | Electrode for electrolytic capacitor, and manufacturing method thereof |
| US8351186B2 (en) | 2008-10-10 | 2013-01-08 | Panasonic Corporation | Electrode foil for capacitor, manufacturing method therefor, and solid electrolytic capacitor using the electrode foil |
-
1992
- 1992-01-08 JP JP3885992A patent/JPH05190399A/en active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004186696A (en) * | 2002-12-05 | 2004-07-02 | Acktar Ltd | Electrode for electrolytic capacitor, and manufacturing method thereof |
| US8351186B2 (en) | 2008-10-10 | 2013-01-08 | Panasonic Corporation | Electrode foil for capacitor, manufacturing method therefor, and solid electrolytic capacitor using the electrode foil |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4970626A (en) | Electrolytic capacitor and method of preparing it | |
| KR970004301B1 (en) | Electrode capacitor electrode plate and manufacturing method thereof | |
| US4309810A (en) | Porous metal films | |
| JPH05190400A (en) | High capacitance electrolytic capacitor electrode material and its manufacturing method | |
| EP0905274A1 (en) | Method and device for applying porous coatings and cathode film of an electrolytic condenser | |
| WO1990003266A1 (en) | Aluminium vacuum evaporation film and its production method | |
| JP2778091B2 (en) | Metallized film for capacitor and method of manufacturing the same | |
| US7709082B2 (en) | Electrodes, printing plate precursors and other articles including multi-strata porous coatings, and method for their manufacture | |
| GB2056503A (en) | Porous metal films | |
| JPH05190399A (en) | High capacitance electrolytic capacitor electrode material and its manufacturing method | |
| JP3668255B2 (en) | Method for producing electrode foil for electrolytic capacitor | |
| JPH04196208A (en) | Electrode foil for electrolytic capacitor | |
| JP3168587B2 (en) | Electrode foil for electrolytic capacitor and method for producing the same | |
| JPH065476A (en) | High capacity electrolytic capacitor | |
| JP2008010490A (en) | Manufacturing method of electrode for electrolytic capacitor | |
| JP3180226B2 (en) | Method for producing electrode foil for electrolytic capacitor | |
| US6667247B2 (en) | Electrodes for electrolytic capacitors and production process thereof | |
| JPH03196510A (en) | Electrode foil for electrolytic capacitor | |
| RU2098878C1 (en) | Method for manufacturing of cathode foil and cathode foil for electrolytic capacitor | |
| JPH05129163A (en) | Electrode material for high capacity electrolytic capacitors | |
| JPH03202462A (en) | Production of electrode foil for electrolytic capacitor | |
| US12537146B2 (en) | Film forming device, manufacturing method of electrode foil for electrolytic capacitor, and manufacturing method for electrolytic capacitor | |
| JPH0461312A (en) | Electrode foil for electrolytic capacitor | |
| JPH0463262A (en) | Electrode foil for electrolytic capacitor | |
| JP3548582B2 (en) | Electrode foil |