JPH05190829A - 固体撮像素子 - Google Patents
固体撮像素子Info
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- JPH05190829A JPH05190829A JP4005413A JP541392A JPH05190829A JP H05190829 A JPH05190829 A JP H05190829A JP 4005413 A JP4005413 A JP 4005413A JP 541392 A JP541392 A JP 541392A JP H05190829 A JPH05190829 A JP H05190829A
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- charge
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 電荷転送素子における電荷転送効率を向上さ
せる。 【構成】 並設された複数の光電変換素子1からなる光
電変換素子列と、この光電変換素子列に隣接して設けら
れた電荷転送素子とを備え、この電荷転送素子は電荷転
送路35とこの電荷転送路上に各光電変換素子毎に設け
られた電荷読出電極30Aと電荷転送電極30Bとから
構成されている固体撮像素子において、前記各光電変換
素子の電荷転送素子側の辺部を除く他の辺部に素子分離
用拡散層10が形成されているとともに、前記電荷転送
電極に電荷転送電圧を印加してもその電圧で前記光電変
換素子からの電荷が電荷転送素子の電荷転送路へと転送
されないようにした手段が設けられている。
せる。 【構成】 並設された複数の光電変換素子1からなる光
電変換素子列と、この光電変換素子列に隣接して設けら
れた電荷転送素子とを備え、この電荷転送素子は電荷転
送路35とこの電荷転送路上に各光電変換素子毎に設け
られた電荷読出電極30Aと電荷転送電極30Bとから
構成されている固体撮像素子において、前記各光電変換
素子の電荷転送素子側の辺部を除く他の辺部に素子分離
用拡散層10が形成されているとともに、前記電荷転送
電極に電荷転送電圧を印加してもその電圧で前記光電変
換素子からの電荷が電荷転送素子の電荷転送路へと転送
されないようにした手段が設けられている。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、固体撮像素子に係り、
特に、その光電変換素子を囲む素子分離用拡散層の改良
に関する。
特に、その光電変換素子を囲む素子分離用拡散層の改良
に関する。
【0002】
【従来の技術】固体撮像素子は、複数の光電変換素子が
形成された領域に光像が投影された際に、各光電変換素
子に光強度に応じた量の電荷を発生することから、これ
ら各電荷を電荷転送素子によって光像投影領域外に転送
し、それぞれの光電変換素子に対応する電荷量をそれぞ
れ例えば電圧値に変換して、これにより得られる信号を
映像信号として出力するようになっている。
形成された領域に光像が投影された際に、各光電変換素
子に光強度に応じた量の電荷を発生することから、これ
ら各電荷を電荷転送素子によって光像投影領域外に転送
し、それぞれの光電変換素子に対応する電荷量をそれぞ
れ例えば電圧値に変換して、これにより得られる信号を
映像信号として出力するようになっている。
【0003】そして、前記電荷転送素子は、一の光電変
換素子に隣接する電荷転送路上毎にその転送方向に沿っ
て電荷転送電極と電荷読出電極とが並設されて構成さ
れ、また、前記光電変換素子の前記電荷読出電極下を除
く他の辺部には素子分離用拡散層が形成されたものとな
っている。
換素子に隣接する電荷転送路上毎にその転送方向に沿っ
て電荷転送電極と電荷読出電極とが並設されて構成さ
れ、また、前記光電変換素子の前記電荷読出電極下を除
く他の辺部には素子分離用拡散層が形成されたものとな
っている。
【0004】このような構成からなる固体撮像素子は、
たとえば、文献「映像情報 1986 5月号 Vo
L.18 産業開発機構KK発行」において詳述されて
いる。
たとえば、文献「映像情報 1986 5月号 Vo
L.18 産業開発機構KK発行」において詳述されて
いる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た構成からなる固体撮像素子は、電荷転送素子における
電荷転送路と光電変換素子との境界部にて素子分離用拡
散層が形成されている領域(電荷転送電極下の領域)と
形成されていない領域(電荷読出電極下の領域)とがあ
り、これが原因して電荷転送路はその転送方向において
不純物濃度の均一化が図れなかった。けだし、前記素子
分離用拡散層と電荷転送路を構成する拡散層とは異なる
導電型の拡散層どうしであるため、電荷転送路のうちで
素子分離用拡散層と隣接する部分は他の部分と比較して
不純物濃度が薄くなってしまうからである。
た構成からなる固体撮像素子は、電荷転送素子における
電荷転送路と光電変換素子との境界部にて素子分離用拡
散層が形成されている領域(電荷転送電極下の領域)と
形成されていない領域(電荷読出電極下の領域)とがあ
り、これが原因して電荷転送路はその転送方向において
不純物濃度の均一化が図れなかった。けだし、前記素子
分離用拡散層と電荷転送路を構成する拡散層とは異なる
導電型の拡散層どうしであるため、電荷転送路のうちで
素子分離用拡散層と隣接する部分は他の部分と比較して
不純物濃度が薄くなってしまうからである。
【0006】このため、電荷転送路はその転送方向に沿
ってポテンシャルの高低にばらつきが生じ、電荷転送に
不良が生じてしまうという弊害が生じていた。
ってポテンシャルの高低にばらつきが生じ、電荷転送に
不良が生じてしまうという弊害が生じていた。
【0007】それ故、本発明は、このような事情に基づ
いてなされたものであり、その目的とするところのもの
は、電荷転送素子における電荷転送効率の向上を図った
固体撮像素子を提供することにある。
いてなされたものであり、その目的とするところのもの
は、電荷転送素子における電荷転送効率の向上を図った
固体撮像素子を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るために、本発明は、基本的には、並設された複数の光
電変換素子からなる光電変換素子列と、この光電変換素
子列に隣接して設けられた電荷転送素子とを備え、この
電荷転送素子は電荷転送路とこの電荷転送路上に各光電
変換素子毎に設けられた電荷読出電極と電荷転送電極と
から構成されている固体撮像素子において、前記各光電
変換素子の電荷転送素子側の辺部を除く他の辺部に素子
分離用拡散層が形成されているとともに、前記電荷転送
電極に電荷転送電圧を印加してもその電圧で前記光電変
換素子からの電荷が電荷転送素子の電荷転送路へと転送
されないようにした手段が設けられていることを特徴と
するものである。
るために、本発明は、基本的には、並設された複数の光
電変換素子からなる光電変換素子列と、この光電変換素
子列に隣接して設けられた電荷転送素子とを備え、この
電荷転送素子は電荷転送路とこの電荷転送路上に各光電
変換素子毎に設けられた電荷読出電極と電荷転送電極と
から構成されている固体撮像素子において、前記各光電
変換素子の電荷転送素子側の辺部を除く他の辺部に素子
分離用拡散層が形成されているとともに、前記電荷転送
電極に電荷転送電圧を印加してもその電圧で前記光電変
換素子からの電荷が電荷転送素子の電荷転送路へと転送
されないようにした手段が設けられていることを特徴と
するものである。
【0009】
【作用】このように構成した固体撮像素子は、各光電変
換素子の電荷転送素子側の辺部を除く他の辺部に素子分
離用拡散層が形成されたものとなっており、したがっ
て、特に各光電変換素子の電荷転送素子側の辺部には全
く素子分離用拡散層が形成されていないことにある。
換素子の電荷転送素子側の辺部を除く他の辺部に素子分
離用拡散層が形成されたものとなっており、したがっ
て、特に各光電変換素子の電荷転送素子側の辺部には全
く素子分離用拡散層が形成されていないことにある。
【0010】このため、電荷転送素子の電荷転送路にお
いては、その長手方向に沿って前記素子分離用拡散層に
よる影響がほとんど同じとなり、該素子分離用拡散層に
よって不純物濃度が低くなってしまうといった領域が形
成されるようなことはなくなる。
いては、その長手方向に沿って前記素子分離用拡散層に
よる影響がほとんど同じとなり、該素子分離用拡散層に
よって不純物濃度が低くなってしまうといった領域が形
成されるようなことはなくなる。
【0011】このことは、電荷転送素子の電荷転送路に
沿ってポテンシャルの高さが均一となることから、従来
のように転送不良が生じるというようなことはなくな
る。
沿ってポテンシャルの高さが均一となることから、従来
のように転送不良が生じるというようなことはなくな
る。
【0012】なお、本発明は、また、上述した構成を採
るとともに、電荷転送電極に電荷転送電圧を印加しても
その電圧で前記光電変換素子からの電荷が電荷転送素子
の電荷転送路へと転送されないようにした手段を設ける
ようにしたものである。
るとともに、電荷転送電極に電荷転送電圧を印加しても
その電圧で前記光電変換素子からの電荷が電荷転送素子
の電荷転送路へと転送されないようにした手段を設ける
ようにしたものである。
【0013】この手段は、上述の素子分離用拡散層以外
の手段でなされるものであり、たとえば、電荷転送電極
における転送電圧を印加しても、その電荷転送電極下の
半導体層表面に光電変換素子と電荷転送素子の電荷転送
路を接続させるチャネル層を形成させないように構成さ
れるものである。
の手段でなされるものであり、たとえば、電荷転送電極
における転送電圧を印加しても、その電荷転送電極下の
半導体層表面に光電変換素子と電荷転送素子の電荷転送
路を接続させるチャネル層を形成させないように構成さ
れるものである。
【0014】
【実施例】図2は、本発明による固体撮像装置の一実施
例を示す概略構成図である。
例を示す概略構成図である。
【0015】同図は、一チップの半導体基板の主表面に
図示のような配列で各素子が形成されたものとなってい
る。同図において、前記半導体基板の主表面の光像投影
領域に複数のフォトダイオード1がマトリックス状に配
列されて形成されている。
図示のような配列で各素子が形成されたものとなってい
る。同図において、前記半導体基板の主表面の光像投影
領域に複数のフォトダイオード1がマトリックス状に配
列されて形成されている。
【0016】ここで、フォトダイオード1は、光照射に
よりその光の強度に応じて電荷を発生する光電変換素子
である。
よりその光の強度に応じて電荷を発生する光電変換素子
である。
【0017】また、列方向(図中、縦方向)に配列され
たフォトダイオード1の群毎に該列方向に沿って形成さ
れた垂直シフトレジスタ2があり、これら各垂直シフト
レジスタ2はCCD素子から構成されている。
たフォトダイオード1の群毎に該列方向に沿って形成さ
れた垂直シフトレジスタ2があり、これら各垂直シフト
レジスタ2はCCD素子から構成されている。
【0018】これら垂直シフトレジスタ2は、それぞれ
列方向に配列された各フォトダイオード1にて発生した
電荷を読出すとともに、この電荷を列方向に沿って前記
光像投影領域外に転送させるものとなっている。
列方向に配列された各フォトダイオード1にて発生した
電荷を読出すとともに、この電荷を列方向に沿って前記
光像投影領域外に転送させるものとなっている。
【0019】なお、各フォトダイオード1から垂直シフ
トレジスタ2への電荷読出しは、図示しない電荷読出電
極によりなされるようになっている。
トレジスタ2への電荷読出しは、図示しない電荷読出電
極によりなされるようになっている。
【0020】さらに、各垂直シフトレジスタ2からそれ
ぞれ転送されてきた電荷は、水平シフトレジスタ4に出
力され、この水平シフトレジスタ4によって水平方向に
転送されるようになっている。この水平シフトレジスタ
4は、前記各垂直シフトレジスタ2と同様にCCD素子
により構成されている。
ぞれ転送されてきた電荷は、水平シフトレジスタ4に出
力され、この水平シフトレジスタ4によって水平方向に
転送されるようになっている。この水平シフトレジスタ
4は、前記各垂直シフトレジスタ2と同様にCCD素子
により構成されている。
【0021】水平シフトレジスタ4からの出力は、出力
回路5に入力され、この出力回路5において例えば電圧
に変換され、外部に取り出されるようになっている。
回路5に入力され、この出力回路5において例えば電圧
に変換され、外部に取り出されるようになっている。
【0022】そして、このように各素子が形成された半
導体基板の主表面には、各フォトダイオード1が形成さ
れている領域において開口が形成されることにより、各
フォトダイオード1のみを露呈させる遮光膜(図示せ
ず)が形成されている。
導体基板の主表面には、各フォトダイオード1が形成さ
れている領域において開口が形成されることにより、各
フォトダイオード1のみを露呈させる遮光膜(図示せ
ず)が形成されている。
【0023】図3は、前記垂直シフトレジスタ2である
CCD素子とフォトダイオード1との関係を詳細に示し
た平面構成図である。
CCD素子とフォトダイオード1との関係を詳細に示し
た平面構成図である。
【0024】同図において、図中散点領域で示すN型拡
散層23の形成領域がフォトダイオード1の形成領域と
なっており、これらフォトダイオード1はマトリックス
状に配置されている。なお、このフォトダイオード1の
N型拡散層23の表面には、同図では図示していない
が、いわゆる暗電流防止のためのP型拡散層24(図4
参照)が形成されたものとなっている。
散層23の形成領域がフォトダイオード1の形成領域と
なっており、これらフォトダイオード1はマトリックス
状に配置されている。なお、このフォトダイオード1の
N型拡散層23の表面には、同図では図示していない
が、いわゆる暗電流防止のためのP型拡散層24(図4
参照)が形成されたものとなっている。
【0025】そして、列方向(図中縦方向)に配置され
た各フォトダイオード群の間には、電荷転送路35が形
成されている。電荷転送路35は、図中左側に位置付け
られている各フォトダイオード1からの電荷を読みだし
た後に転送を行うようになっている。
た各フォトダイオード群の間には、電荷転送路35が形
成されている。電荷転送路35は、図中左側に位置付け
られている各フォトダイオード1からの電荷を読みだし
た後に転送を行うようになっている。
【0026】電荷の読みだしおよび転送は、二層目に形
成された転送電極30A(この明細書ではこの転送電極
30Aを以下読出電極30Aと称する)、一層目に形成
された転送電極30Bによってなされるようになってい
る。
成された転送電極30A(この明細書ではこの転送電極
30Aを以下読出電極30Aと称する)、一層目に形成
された転送電極30Bによってなされるようになってい
る。
【0027】転送電極30Bおよび読出電極30Aはそ
れぞれ電荷転送路35に沿って順次交互に配置されてい
るとともに、電荷転送路方向における読出電極30A
(二層目)の両端は、それぞれ転送電極30B(一層
目)の上方に位置付けられ重畳領域を有するようになっ
ている。
れぞれ電荷転送路35に沿って順次交互に配置されてい
るとともに、電荷転送路方向における読出電極30A
(二層目)の両端は、それぞれ転送電極30B(一層
目)の上方に位置付けられ重畳領域を有するようになっ
ている。
【0028】また、読出電極30Aの両脇辺(電荷転送
路35と平行な辺)は、その一方の辺において転送電極
30Bの対応する辺の延長線上に位置付けられている
が、他方の辺はフォトダイオード1の領域に及んで延在
されている。この読出電極30Aは転送電極としての機
能を有するが、前記延在部によって、該フォトダイオー
ド1の電荷を読みだすための機能を持たせている。
路35と平行な辺)は、その一方の辺において転送電極
30Bの対応する辺の延長線上に位置付けられている
が、他方の辺はフォトダイオード1の領域に及んで延在
されている。この読出電極30Aは転送電極としての機
能を有するが、前記延在部によって、該フォトダイオー
ド1の電荷を読みだすための機能を持たせている。
【0029】そして、これら各電荷転送路35上の転送
電極30B、読出電極30Aは、隣接する電荷転送路3
5上の転送電極30B、読出電極30Aと共通に転送信
号が印加されるようにそれらは互いに接続されている。
電極30B、読出電極30Aは、隣接する電荷転送路3
5上の転送電極30B、読出電極30Aと共通に転送信
号が印加されるようにそれらは互いに接続されている。
【0030】図1は、図3における転送電極30B、読
出電極30A、そして図示しないゲート酸化膜を除去
し、半導体基板表面に露呈されている拡散層を示した平
面図である。同図において、電荷転送路35を構成する
N型拡散層25が複数個平行に形成されている。そし
て、各電荷転送路35における図中左側にはフォトダイ
オード1を構成するN型拡散層23が電荷転送路35の
延在方向に沿って複数個並設されている。
出電極30A、そして図示しないゲート酸化膜を除去
し、半導体基板表面に露呈されている拡散層を示した平
面図である。同図において、電荷転送路35を構成する
N型拡散層25が複数個平行に形成されている。そし
て、各電荷転送路35における図中左側にはフォトダイ
オード1を構成するN型拡散層23が電荷転送路35の
延在方向に沿って複数個並設されている。
【0031】そして、各フォトダイオード1との間、お
よび図中左側に位置付けられる電荷転送路35との間を
電気的に分離するための素子分離用拡散層10がP型拡
散層によって形成されたものとなっているが、この実施
例では、特に、電荷が読みだされる電荷転送路35側の
辺には、全く形成されておらず、残りの辺に相当する部
分のみに形成されていることにある。
よび図中左側に位置付けられる電荷転送路35との間を
電気的に分離するための素子分離用拡散層10がP型拡
散層によって形成されたものとなっているが、この実施
例では、特に、電荷が読みだされる電荷転送路35側の
辺には、全く形成されておらず、残りの辺に相当する部
分のみに形成されていることにある。
【0032】このように、フォトダイオード1を囲む素
子分離用拡散層10が、該フォトダイオード1から電荷
が読みだされる電荷転送路35側に形成されることはな
いことから、該電荷転送路35は前記素子分離用拡散層
10の影響によってその不純物濃度が薄くなるというよ
うな影響をうけることがなくなる。したがって、電荷転
送路35におけるその電荷転送方向に沿った不純物濃度
は均一性が維持されることになる。
子分離用拡散層10が、該フォトダイオード1から電荷
が読みだされる電荷転送路35側に形成されることはな
いことから、該電荷転送路35は前記素子分離用拡散層
10の影響によってその不純物濃度が薄くなるというよ
うな影響をうけることがなくなる。したがって、電荷転
送路35におけるその電荷転送方向に沿った不純物濃度
は均一性が維持されることになる。
【0033】図1における電荷転送路35のa−a(転
送電極30B下)、およびb−b(読出電極30A下)
におけるポテンシャルφ分布は、図7に示すように、い
ずれにおいても同じになっていることが判る。したがっ
て、ポテンシャルφ分布の均一性から電荷転送効率の向
上が図れるようになる。
送電極30B下)、およびb−b(読出電極30A下)
におけるポテンシャルφ分布は、図7に示すように、い
ずれにおいても同じになっていることが判る。したがっ
て、ポテンシャルφ分布の均一性から電荷転送効率の向
上が図れるようになる。
【0034】ここで、従来の固体撮像素子と本実施例の
固体撮像素子とを比較して本実施例の固体撮像素子の効
果を明確にする。
固体撮像素子とを比較して本実施例の固体撮像素子の効
果を明確にする。
【0035】図8は、従来の固体撮像素子の構成を示す
図で、本実施例である図1の構成に対応づけられてい
る。図8において、分離素子用拡散層10は、読出電極
30A下においてのみ形成されておらず、この部分を除
いてほぼフォトダイオード1を構成するN型拡散層23
を囲むようにして形成されている。このため分離素子用
拡散層10は図1の場合と比較して転送電極30B下に
も形成されていることにある。この場合、図1と対応す
る個所において同様にポテンシャルφ分布を調べると、
図7の点線部分から明らかとなるように、転送電極30
B下においてポテンシャルが低くなっている。
図で、本実施例である図1の構成に対応づけられてい
る。図8において、分離素子用拡散層10は、読出電極
30A下においてのみ形成されておらず、この部分を除
いてほぼフォトダイオード1を構成するN型拡散層23
を囲むようにして形成されている。このため分離素子用
拡散層10は図1の場合と比較して転送電極30B下に
も形成されていることにある。この場合、図1と対応す
る個所において同様にポテンシャルφ分布を調べると、
図7の点線部分から明らかとなるように、転送電極30
B下においてポテンシャルが低くなっている。
【0036】そして、図4は、図3におけるVI−VI線
における断面を示す構成図である。
における断面を示す構成図である。
【0037】同図において、N型半導体基板21があ
り、このN型半導体基板21の表面には濃度の低いP型
半導体層からなるP型ウェル層22が形成されている。
そして、このP型ウェル層22の表面には、N型拡散層
23が形成され、前記P型ウェル層22とともにフォト
ダイオード1を構成している。
り、このN型半導体基板21の表面には濃度の低いP型
半導体層からなるP型ウェル層22が形成されている。
そして、このP型ウェル層22の表面には、N型拡散層
23が形成され、前記P型ウェル層22とともにフォト
ダイオード1を構成している。
【0038】また、このフォトダイオード1を構成する
N型拡散層23の表面には、濃度の高いP型拡散層24
が形成されている。このP型拡散層24は、いわゆる暗
電流を防止するための拡散層となっている。
N型拡散層23の表面には、濃度の高いP型拡散層24
が形成されている。このP型拡散層24は、いわゆる暗
電流を防止するための拡散層となっている。
【0039】さらに、フォトダイオード1を構成するN
型拡散層23に近接して、前記P型ウェル層22の表面
には、垂直シフトレジスタ2の電荷転送路(図1で電荷
転送路35で示す)であるN型拡散層25が形成されて
いる。なお、このN型拡散層25は、いわゆるスミア防
止のため、前記P型ウェル層22に形成された濃度の高
いP型ウェル層26の表面に形成されたものとなってい
る。
型拡散層23に近接して、前記P型ウェル層22の表面
には、垂直シフトレジスタ2の電荷転送路(図1で電荷
転送路35で示す)であるN型拡散層25が形成されて
いる。なお、このN型拡散層25は、いわゆるスミア防
止のため、前記P型ウェル層22に形成された濃度の高
いP型ウェル層26の表面に形成されたものとなってい
る。
【0040】そして、このように種々の拡散層が形成さ
れた主表面には、たとえばシリコン酸化膜からなる絶縁
膜27を介して、読出電極30Aが形成されている。
れた主表面には、たとえばシリコン酸化膜からなる絶縁
膜27を介して、読出電極30Aが形成されている。
【0041】そして、この読出電極30Aはフォトダイ
オード1のN型拡散層23と電荷転送路35であるN型
拡散層25との間のP型拡散層26の表面を覆うように
して形成され、該読出電極30Aに読出電圧を印加する
ことにより該表面にチャネル層が形成されて電荷読み出
しがなされるようになっている。
オード1のN型拡散層23と電荷転送路35であるN型
拡散層25との間のP型拡散層26の表面を覆うように
して形成され、該読出電極30Aに読出電圧を印加する
ことにより該表面にチャネル層が形成されて電荷読み出
しがなされるようになっている。
【0042】さらに、読出電極30Aおよびフォトダイ
オード1の領域を覆って酸化膜からなる絶縁膜27が形
成され、この絶縁膜27の上面には、前記フォトダイオ
ード1の形成領域を除いて(したがって開口が形成され
て)たとえばアルミニュウムからなる遮光膜28が形成
されている。
オード1の領域を覆って酸化膜からなる絶縁膜27が形
成され、この絶縁膜27の上面には、前記フォトダイオ
ード1の形成領域を除いて(したがって開口が形成され
て)たとえばアルミニュウムからなる遮光膜28が形成
されている。
【0043】図5は、図3におけるV−V線の断面図で
ある。
ある。
【0044】図4と同符号のものは同一部分を示してい
る。同図において、図4と異なる構成は、転送電極30
Bとフォトダイオード1を構成するN型拡散層23にあ
る。すなわち、転送電極30Bのフォトダイオード1側
の端辺とフォトダイオード1を構成するN型拡散層の転
送電極30B側の端辺は、図中αの分だけ離間されて形
成され、これにより転送電極30Bに転送電圧が印加さ
れても、P型拡散層26の表面にチャンネル層等ができ
て電荷読出がなされないようになっている。
る。同図において、図4と異なる構成は、転送電極30
Bとフォトダイオード1を構成するN型拡散層23にあ
る。すなわち、転送電極30Bのフォトダイオード1側
の端辺とフォトダイオード1を構成するN型拡散層の転
送電極30B側の端辺は、図中αの分だけ離間されて形
成され、これにより転送電極30Bに転送電圧が印加さ
れても、P型拡散層26の表面にチャンネル層等ができ
て電荷読出がなされないようになっている。
【0045】このような構成は、本実施例における素子
分離用拡散層の改良にともなってなされなければならな
い必要構成となるものである。
分離用拡散層の改良にともなってなされなければならな
い必要構成となるものである。
【0046】要は、転送電極30Bに転送電圧を印加し
てもその電圧でフォトダイオード1からの電荷が電荷転
送路35へと転送されないようにした手段を素子分離用
拡散層以外の手段によって設けることにより、該素子分
離用拡散層による弊害を除こうとしているからである。
てもその電圧でフォトダイオード1からの電荷が電荷転
送路35へと転送されないようにした手段を素子分離用
拡散層以外の手段によって設けることにより、該素子分
離用拡散層による弊害を除こうとしているからである。
【0047】このため、図6に示すように、フォトダイ
オード1を構成するN型拡散層23と電荷転送路35を
構成するN型拡散層25の間のP型拡散層26の表面を
覆って転送電極30Bが形成されていようとも、前記N
型拡散層23の表面に形成されるいわゆる暗電流防止の
ためのP型拡散層24を、転送電極30B下にまで延在
させた延在部60を形成することにより、上述したと同
様の手段を構成することができる。
オード1を構成するN型拡散層23と電荷転送路35を
構成するN型拡散層25の間のP型拡散層26の表面を
覆って転送電極30Bが形成されていようとも、前記N
型拡散層23の表面に形成されるいわゆる暗電流防止の
ためのP型拡散層24を、転送電極30B下にまで延在
させた延在部60を形成することにより、上述したと同
様の手段を構成することができる。
【0048】以上説明した実施例による固体撮像素子に
よれば、各フォトダイオード1のCCD素子側の辺部を
除く他の辺部に素子分離用拡散層10が形成されたもの
となっており、したがって、特に各フォトダイオード1
のCCD素子側の辺部には全く素子分離用拡散層10が
形成されていないことになる。
よれば、各フォトダイオード1のCCD素子側の辺部を
除く他の辺部に素子分離用拡散層10が形成されたもの
となっており、したがって、特に各フォトダイオード1
のCCD素子側の辺部には全く素子分離用拡散層10が
形成されていないことになる。
【0049】このため、CCD素子の電荷転送路35に
おいては、その長手方向に沿って前記素子分離用拡散層
10による影響がほとんど同じとなり、該素子分離用拡
散層10によって不純物濃度が低くなってしまうといっ
た領域が形成されるようなことはなくなる。
おいては、その長手方向に沿って前記素子分離用拡散層
10による影響がほとんど同じとなり、該素子分離用拡
散層10によって不純物濃度が低くなってしまうといっ
た領域が形成されるようなことはなくなる。
【0050】このことは、CCD素子の電荷転送路35
に沿ってポテンシャルの高さが均一となることから、従
来のように転送不良が生じるというようなことはなくな
る。
に沿ってポテンシャルの高さが均一となることから、従
来のように転送不良が生じるというようなことはなくな
る。
【0051】なお、本実施例は、また、上述した構成を
採るとともに、転送電極30Bに転送電圧を印加しても
その電圧でフォトダイオード1からの電荷がCCD素子
の電荷転送路35へと転送されないようにした手段を設
けるようにしたものである。
採るとともに、転送電極30Bに転送電圧を印加しても
その電圧でフォトダイオード1からの電荷がCCD素子
の電荷転送路35へと転送されないようにした手段を設
けるようにしたものである。
【0052】この手段は、上述の素子分離用拡散層10
以外の手段でなされるものであり、これにより、本実施
例はこの素子分離用拡散層10による弊害を除去するも
のである。
以外の手段でなされるものであり、これにより、本実施
例はこの素子分離用拡散層10による弊害を除去するも
のである。
【0053】上述した実施例では、いわゆるエリアセン
サと称される固体撮像素子について説明したものである
が、これに限定されることはなく、たとえば光電変換素
子をライン状に並設させて構成したラインセンサからな
る固体撮像素子についても適用できることはいうまでも
ない。
サと称される固体撮像素子について説明したものである
が、これに限定されることはなく、たとえば光電変換素
子をライン状に並設させて構成したラインセンサからな
る固体撮像素子についても適用できることはいうまでも
ない。
【0054】
【発明の効果】以上説明したことから明らかなように、
本発明による固体撮像素子によれば、その電荷転送素子
における電荷転送効率を向上させることができる。
本発明による固体撮像素子によれば、その電荷転送素子
における電荷転送効率を向上させることができる。
【図1】 本発明による固体撮像素子の一実施例を示す
説明図で、特に素子分離用拡散層のパターンを示す平面
図である。
説明図で、特に素子分離用拡散層のパターンを示す平面
図である。
【図2】 本発明による固体撮像素子の一実施例を示す
全体概略図である。
全体概略図である。
【図3】 本発明による固体撮像素子における電荷読出
電極および電荷転送電極のパターンの一実施例を示す平
面図である。
電極および電荷転送電極のパターンの一実施例を示す平
面図である。
【図4】 図3のV−V線における断面図である。
【図5】 図3のVI−VI線における断面図である。
【図6】 本発明による固体撮像素子の他の実施例を示
す断面図である。
す断面図である。
【図7】 本発明による固体撮像素子の効果を従来の場
合と比較したグラフである。
合と比較したグラフである。
【図8】 従来の固体撮像素子の一例を示した構成図
で、特に素子分離用拡散層のパターンを示した平面図で
ある。
で、特に素子分離用拡散層のパターンを示した平面図で
ある。
1…フォトダイオード、10…素子分離用拡散層、30
A…読出電極、30B…転送電極、35…電荷転送路。
A…読出電極、30B…転送電極、35…電荷転送路。
Claims (1)
- 【請求項1】 並設された複数の光電変換素子からなる
光電変換素子列と、この光電変換素子列に隣接して設け
られた電荷転送素子とを備え、この電荷転送素子は電荷
転送路とこの電荷転送路上に各光電変換素子毎に設けら
れた電荷読出電極と電荷転送電極とから構成されている
固体撮像素子において、前記各光電変換素子の電荷転送
素子側の辺部を除く他の辺部に素子分離用拡散層が形成
されているとともに、前記電荷転送電極に電荷転送電圧
を印加してもその電圧で前記光電変換素子からの電荷が
電荷転送素子の電荷転送路へと転送されないようにした
手段が設けられていることを特徴とする固体撮像素子。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4005413A JPH05190829A (ja) | 1992-01-16 | 1992-01-16 | 固体撮像素子 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4005413A JPH05190829A (ja) | 1992-01-16 | 1992-01-16 | 固体撮像素子 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05190829A true JPH05190829A (ja) | 1993-07-30 |
Family
ID=11610464
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4005413A Pending JPH05190829A (ja) | 1992-01-16 | 1992-01-16 | 固体撮像素子 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05190829A (ja) |
-
1992
- 1992-01-16 JP JP4005413A patent/JPH05190829A/ja active Pending
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