JPH0519113B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0519113B2 JPH0519113B2 JP9243183A JP9243183A JPH0519113B2 JP H0519113 B2 JPH0519113 B2 JP H0519113B2 JP 9243183 A JP9243183 A JP 9243183A JP 9243183 A JP9243183 A JP 9243183A JP H0519113 B2 JPH0519113 B2 JP H0519113B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- charge
- pulse
- constant current
- pulser
- operational amplifier
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Links
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 8
- 230000005669 field effect Effects 0.000 claims description 3
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 11
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 description 6
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 230000005251 gamma ray Effects 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 3
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 3
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 3
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 3
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/17—Circuit arrangements not adapted to a particular type of detector
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は放射線検出器から出力されるパルスを
測定する装置の較正、試験あるいは評価に用いる
ための電荷パルサに関する。
測定する装置の較正、試験あるいは評価に用いる
ための電荷パルサに関する。
線源から放射されるγ線のエネルギを分析する
装置としてγ線スペクトロメータが存在する。
装置としてγ線スペクトロメータが存在する。
第１図は従来用いられたこの装置の検出部とプ
リアンプの部分を表わしたものである。ゲルマニ
ウム検出器１１のアノード側は、チヤージセンシ
テイブなオペアンプ１２の入力端子に接続されて
おり、カソード側の電源端子１３には高圧の逆バ
イアスが印加されている。
リアンプの部分を表わしたものである。ゲルマニ
ウム検出器１１のアノード側は、チヤージセンシ
テイブなオペアンプ１２の入力端子に接続されて
おり、カソード側の電源端子１３には高圧の逆バ
イアスが印加されている。
この装置で、γ線がゲルマニウム検出器１１に
入射すると、そのエネルギに比例した電荷が発生
する。オペアンプ１２はこれを積分して電荷の総
量を求め、γ線のエネルギに比例した波高値のパ
ルスを出力端子１４から出力する。このパルスは
増幅後、波高分析器にかけられ、エネルギの分析
が行われる。
入射すると、そのエネルギに比例した電荷が発生
する。オペアンプ１２はこれを積分して電荷の総
量を求め、γ線のエネルギに比例した波高値のパ
ルスを出力端子１４から出力する。このパルスは
増幅後、波高分析器にかけられ、エネルギの分析
が行われる。
この装置では、オペアンプ１２の入力端子側
に、結合コンデンサ１５を介してテストパルス入
力端子１６が配置されている。プリアンプ以降の
装置部分の試験等を行う際には、テストパルス入
力端子１６からテストパルスが入力されるように
なつている。
に、結合コンデンサ１５を介してテストパルス入
力端子１６が配置されている。プリアンプ以降の
装置部分の試験等を行う際には、テストパルス入
力端子１６からテストパルスが入力されるように
なつている。
ところでオペアンプ１２の入力端子側の線路に
は浮遊容量１７が存在する。従つて、γ線測定の
際にゲルマニウム検出器１１から発生した電荷は
オペアンプ１２のみでなくこの浮遊容量１７にも
流れ込み、信号の有効成分が減少してSN比が悪
くなる原因となる。結合コンデンサ１５の値も信
号の分解能に悪影響のないように、例えば0.5pF
程度の小さな値に選定されている。
は浮遊容量１７が存在する。従つて、γ線測定の
際にゲルマニウム検出器１１から発生した電荷は
オペアンプ１２のみでなくこの浮遊容量１７にも
流れ込み、信号の有効成分が減少してSN比が悪
くなる原因となる。結合コンデンサ１５の値も信
号の分解能に悪影響のないように、例えば0.5pF
程度の小さな値に選定されている。
しかしながらこの結合コンデンサ１５の存在
は、入力されるテストパルスの形を歪ませるとい
う問題を生じさせている。第２図ａはゲルマニウ
ム検出器１１からオペアンプ１２に供給される信
号波形を表わしている。テストパルスとしてはこ
のような波形のものが好ましい。ところが実際に
は、パルス発生器を用いて同図ｂ１，ｃ１，ｄ１
といつた各種波形をテストパルス入力端子１６に
与えてみても、オペアンプ１２に供給される信号
波形はそれぞれ同図ｂ２，ｃ２，ｄ２に表される
ようになり、ゲルマニウム検出器１１のそれと近
似しない。このため前記した波高分析器等の装置
部分の試験、較正、評価を十分な精度で行うこと
が不可能であつた。
は、入力されるテストパルスの形を歪ませるとい
う問題を生じさせている。第２図ａはゲルマニウ
ム検出器１１からオペアンプ１２に供給される信
号波形を表わしている。テストパルスとしてはこ
のような波形のものが好ましい。ところが実際に
は、パルス発生器を用いて同図ｂ１，ｃ１，ｄ１
といつた各種波形をテストパルス入力端子１６に
与えてみても、オペアンプ１２に供給される信号
波形はそれぞれ同図ｂ２，ｃ２，ｄ２に表される
ようになり、ゲルマニウム検出器１１のそれと近
似しない。このため前記した波高分析器等の装置
部分の試験、較正、評価を十分な精度で行うこと
が不可能であつた。
本発明はこのような事情に鑑み、電荷収集型検
出器の発生する電荷と類似した電荷のパターンを
発生させることのできる電荷パルサを提供するこ
とをその目的とする。
出器の発生する電荷と類似した電荷のパターンを
発生させることのできる電荷パルサを提供するこ
とをその目的とする。
本発明では第３図に示すように定電流回路２１
とこの定電流回路２１から出力端子２２，２３に
出力される電流をオン・オフ制御するゲート回路
２４と、このゲート回路にゲートパルスを供給す
るパルス発生回路２５とを電荷パルサに具備させ
る。そして定電流回路２１から放射線検出器の発
生する電荷と類似の電荷を発生させ、出力端子２
２，２３に表われたこの電荷を装置の試験等に用
いる。
とこの定電流回路２１から出力端子２２，２３に
出力される電流をオン・オフ制御するゲート回路
２４と、このゲート回路にゲートパルスを供給す
るパルス発生回路２５とを電荷パルサに具備させ
る。そして定電流回路２１から放射線検出器の発
生する電荷と類似の電荷を発生させ、出力端子２
２，２３に表われたこの電荷を装置の試験等に用
いる。
以下実施例につき本発明を詳細に説明する。
第４図は本実施例の電荷パルサをγ線スペクト
ロメータのプリアンプに接続した状態を表わした
ものである。電荷パルサは、定電流回路２７、
FET（電界効果トランジスタ）２８、パルス発生
回路２９によつて構成されている。図に示したプ
リアンプ部分３１は、オペアンプ３２を用いたチ
ヤージセンシテイブ型プリアンプである。
ロメータのプリアンプに接続した状態を表わした
ものである。電荷パルサは、定電流回路２７、
FET（電界効果トランジスタ）２８、パルス発生
回路２９によつて構成されている。図に示したプ
リアンプ部分３１は、オペアンプ３２を用いたチ
ヤージセンシテイブ型プリアンプである。
さて電荷パルサの定電流回路２７は、第５図ａ
に示すように電荷収集型放射線検出器の発生する
電荷のパターンと類似した波形３３を定電流源と
して発生させる。この波形３３の立ち上がり開始
時点で定電流回路２７から同期信号３４が出力さ
れ、パルス発生回路２９はこれに同期してゲート
パルス３５（第５図ｂ）を発生させる。ゲートパ
ルス３５はFET２８のゲートに入力され、これ
をオンする。この結果、波形３３と同一の波形３
６（第５図ｃ）がFETのソースＳから出力され、
オペアンプ３２の入力端Ａに加えられる。
に示すように電荷収集型放射線検出器の発生する
電荷のパターンと類似した波形３３を定電流源と
して発生させる。この波形３３の立ち上がり開始
時点で定電流回路２７から同期信号３４が出力さ
れ、パルス発生回路２９はこれに同期してゲート
パルス３５（第５図ｂ）を発生させる。ゲートパ
ルス３５はFET２８のゲートに入力され、これ
をオンする。この結果、波形３３と同一の波形３
６（第５図ｃ）がFETのソースＳから出力され、
オペアンプ３２の入力端Ａに加えられる。
この電荷パルサでは、FETのソースＳとオペ
アンプ３２の入力端Ａまでの配線を極力短かく
し、浮遊容量３７を小さくしている。従つて
FET２８は、オンのときのみオペアンプ３２に
電荷を与えることになり、オフのとき何の悪影響
も生じさせない。
アンプ３２の入力端Ａまでの配線を極力短かく
し、浮遊容量３７を小さくしている。従つて
FET２８は、オンのときのみオペアンプ３２に
電荷を与えることになり、オフのとき何の悪影響
も生じさせない。
以上説明したように本発明によれば、定電流回
路を用いて放射線検出器が発生する電荷の量や数
を任意に模擬できるので、放射線検出器と組合わ
せて使用する装置の較正等をより客観的に行うこ
とができる。
路を用いて放射線検出器が発生する電荷の量や数
を任意に模擬できるので、放射線検出器と組合わ
せて使用する装置の較正等をより客観的に行うこ
とができる。
第１図は従来用いられたγ線スペクトロメータ
の要部を表わした回路図、第２図はこのパルス入
力端子に加えられるテストパルスの波形とプリア
ンプに加えられる信号波形を放射線検出器の出力
する波形と対比させた各種波形図、第３図は本発
明の原理的構成を表わしたブロツク図、第４図は
本発明の一実施例における電荷パルサをプリアン
プに接続した状態を表わした回路図、第５図はこ
の電荷パルサの動作を説明するための各種波形図
である。 １１……ゲルマニウム検出器、２７……定電流
回路、２８……FET（電界効果トランジスタ）、
２９……パルス発生回路。
の要部を表わした回路図、第２図はこのパルス入
力端子に加えられるテストパルスの波形とプリア
ンプに加えられる信号波形を放射線検出器の出力
する波形と対比させた各種波形図、第３図は本発
明の原理的構成を表わしたブロツク図、第４図は
本発明の一実施例における電荷パルサをプリアン
プに接続した状態を表わした回路図、第５図はこ
の電荷パルサの動作を説明するための各種波形図
である。 １１……ゲルマニウム検出器、２７……定電流
回路、２８……FET（電界効果トランジスタ）、
２９……パルス発生回路。
Claims (1)
- １ 電荷収集型放射線検出器の発生する電荷と類
似した電荷を発生させる定電流源と、この定電流
源が電荷を発生するときこれに同期してゲートパ
ルスを発生させるパルス発生回路と、このゲート
パルスによつてオンされ前記電荷を出力側に与え
る電界効果トランジスタとを具備することを特徴
とする電荷パルサ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9243183A JPS59218981A (ja) | 1983-05-27 | 1983-05-27 | 電荷パルサ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9243183A JPS59218981A (ja) | 1983-05-27 | 1983-05-27 | 電荷パルサ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59218981A JPS59218981A (ja) | 1984-12-10 |
| JPH0519113B2 true JPH0519113B2 (ja) | 1993-03-15 |
Family
ID=14054246
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9243183A Granted JPS59218981A (ja) | 1983-05-27 | 1983-05-27 | 電荷パルサ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59218981A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6359155A (ja) * | 1986-08-29 | 1988-03-15 | Toshiba Corp | 通信制御方式 |
| ITPI20120060A1 (it) * | 2012-05-15 | 2013-11-16 | Ronaldo Bellazzini | Sensore radiologico digitale |
-
1983
- 1983-05-27 JP JP9243183A patent/JPS59218981A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59218981A (ja) | 1984-12-10 |
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