JPH0519910U - 光学式変位センサ - Google Patents

光学式変位センサ

Info

Publication number
JPH0519910U
JPH0519910U JP7638091U JP7638091U JPH0519910U JP H0519910 U JPH0519910 U JP H0519910U JP 7638091 U JP7638091 U JP 7638091U JP 7638091 U JP7638091 U JP 7638091U JP H0519910 U JPH0519910 U JP H0519910U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
inspected
window
displacement sensor
light receiving
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP7638091U
Other languages
English (en)
Inventor
暁 長岡
学 矢野
隆康 伊藤
洋介 石田
淳之 広野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Electric Works Co Ltd
Original Assignee
Matsushita Electric Works Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Works Ltd filed Critical Matsushita Electric Works Ltd
Priority to JP7638091U priority Critical patent/JPH0519910U/ja
Publication of JPH0519910U publication Critical patent/JPH0519910U/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measurement Of Optical Distance (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 光学式変位センサに被検物体が異常接近した
場合にも、被検物体との間で二次反射した光が受光窓か
ら入射して誤検知することを防止する。 【構成】 投光窓から被検物体へ光束を照射し、被検物
体からの反射光の一部を投光窓近傍に設けた受光窓で受
光し、三角測距の原理によって被検物体の変位量を測定
するようにした光学式変位センサの改良であって、ケー
ス本体10の前面10aには、投光窓1から照射された
光束の被検物体OBからの反射光の二次反射光を受光窓
2に入射させないようにした光反射面3を形成してい
る。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
本考案は、レーザ光などの光束を被検物体に照射し、その反射光を受光する ことによって被検物体の変位量を測定できるようにした光学式変位センサに関す る。
【0002】
【従来の技術】
この種の変位センサは、図4に示したように、センサ本体100に投光部10 1と受光部102とを設けており、投光部101には投光レンズL1とレーザ発 光素子LDを内蔵し、受光部102には受光レンズL2と受光素子PSDを内蔵 し、投光部101の投光窓101aと受光部102の受光窓102aとをセンサ 本体100の前面に近接して設けた構造となっている。
【0003】 そして、このような変位センサでは、投光部101よりレーザ光などの光束を 被検物体OBに向けて照射し、被検物体OBから反射されて来る反射光を受光部 102の受光素子PSDで受光し、三角測距の原理を用いて、被検物体OBの変 位量を測定するようになっているが、変位量の有効測定範囲は予め設定されてお り、例えば30mm±3mmの範囲内で変位量を求めるようになっているのが通 例である。ところが、被検物体OBが有効測定範囲を越えてセンサ本体100に 対して極度に接近した場合には、投光部101から被検物体OBに向けて照射さ れた光の被検物体OBの表面からの反射光は、一点鎖線で示したように、センサ 本体100の前面100aで反射して、再び被検物体OBの表面を照射し、この ような反射が繰り返し行われた後に、受光部102の受光窓102aに入射する ので、あたかも有効測定範囲内に被検物体OBが存在するかのような信号出力を 出してしまうおそれがあった。また、このような二次反射は、被検物体の表面の 反射率が高く、拡散面である程特に著しい現象となっていた。
【0004】
【考案が解決しようとする課題】 本考案は、このような従来の問題点に鑑みてなされたもので、被検物体が極度 に接近した場合にも、被検物体表面とセンサ前面との間で繰り返し反射が行われ ることによって受光窓に入射されることによって生じる誤動作をなくすようにし た光学式変位センサを提供することを目的としている。
【0005】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために提案される本考案は、投光窓から被検物体へ光束を 照射し、被検物体からの反射光の一部を投光窓近傍に設けた受光窓によって受光 し、三角測距の原理によって被検物体の変位量を測定するようにした光学式変位 センサの改良に係り、特に変位センサ本体の前面には、投光窓から照射された光 束の二次反射光を受光窓に入射させないようにした光反射面を形成したことを特 徴としている。
【0006】
【作用】
本考案では、被検物体から反射してくる光は、受光窓へ直接入射されるものを 除いて、光反射面によって、受光窓からは入射されないようになっているので、 被検物体が変位センサに異常接近した場合にも、受光窓から二次反射光を受光し てして誤検知することが防止される。
【0007】
【実施例】
以下に添付図を参照して、本考案の一実施例を説明する。 図1,図2に示したように、変位センサAは、ケース本体10の前面10aの 上方に投光窓1を設け、その下方に受光窓2を設けている。 投光窓1の内部には、図4に示したようなLEDやLDなどの発光素子と投光 レンズが設けられて投光部が構成されており、受光窓2の内部には、同様に図4 に示したように、受光レンズと受光素子が設けられて受光部が構成されている。 ケース本体10の前面10aには、投光部1から光を被検物体OBに照射した とき、被検物体OBから反射してくる光を、投光軸を基準にして受光部2側とは 反対側に反射させる角度を波状に付けた光反射面3が形成され、これによって、 図2の一点鎖線で示したように、上述した二次反射光が受光窓2内へ入射するの を防いでいる。なお、11はケース本体10より導出された信号線である。
【0008】 本考案のこのような反射面3は、ケース本体10の前面に形成された投光窓1 の周囲に一体的に形成してもよいが、このような光反射面3は肉薄に形成できる ために、ケース本体10の前面に波状凸面を形成した薄板を取り付けて使用する 構造としてもよい。 図3は、この場合の例を示しており、波状凸面を形成し、投光窓1に対応した 開口30aを設けた薄板30の裏面に突起30b,30bを形成し、この突起3 0b,30bをケース本体10の投光窓1の上下に形成した係合孔10b,10 bに嵌入させて反射面を形成するようになっている。
【0009】
【考案の効果】
本考案の光学式変位センサによれば、ケース本体の前面に以上のような構造の 光反射面を設けているため、デザイン的に見ても特異な形状にならず、被検物体 とケース本体前面との間で多重反射した光が受光窓に入射するのを効果的に防止 できるので、被検物体がケース本体に異常接近した場合にも誤検出がなくなる。
【提出日】平成4年10月14日
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0003
【補正方法】変更
【補正内容】
【0003】 そして、このような変位センサでは、投光部101よりレーザ光などの光束を 被検物体OBに向けて照射し、被検物体OBから反射されて来る反射光を受光部 102の受光素子PSDで受光し、三角測距の原理を用いて、被検物体OBの変 位量を測定するようになっているが、変位量の有効測定範囲は予め設定されてお り、いろいろな品種があり、例えば30mm±3mmのようなセンサがある。と ころが、被検物体OBが有効測定範囲を越えてセンサ本体100に対して極度に 接近した場合には、投光部101から被検物体OBに向けて照射された光の被検 物体OBの表面からの反射光は、一点鎖線で示したように、センサ本体100の 前面100aで反射して、再び被検物体OBの表面を照射し、このような反射が 繰り返し行われた後に、受光部102の受光窓102aに入射するので、あたか も有効測定範囲内に被検物体OBが存在するかのような信号出力を出してしまう おそれがあった。また、このような二次反射は、被検物体の表面の反射率が高く 、拡散面である程特に著しい現象となっていた。
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案の光学式変位センサの一実施例を示した
斜視図である。
【図2】光反射面の光反射作用を説明する図である。
【図3】本考案の光学式変位センサの他例を示した斜視
図である。
【図4】従来の光学式変位センサの問題点の説明図であ
る。
【符号の説明】
A・・・本考案の光学式変位センサ OB・・・被検物体 10・・・ケース本体 10a・・その前面 1・・・投光窓 2・・・受光窓 3・・・光反射面
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)考案者 石田 洋介 大阪府門真市大字門真1048番地 松下電工 株式会社内 (72)考案者 広野 淳之 大阪府門真市大字門真1048番地 松下電工 株式会社内

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 投光窓から被検物体へ光束を照射し、被
    検物体からの反射光の一部を投光窓近傍に設けた受光窓
    で受光し、三角測距の原理によって被検物体の変位量を
    測定するようにした光学式変位センサにおいて、 変位センサ本体の前面には、投光窓から照射された光束
    の二次反射光を受光窓に入射させないようにした光反射
    面を形成したことを特徴とする光学式変位センサ。
JP7638091U 1991-08-27 1991-08-27 光学式変位センサ Withdrawn JPH0519910U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7638091U JPH0519910U (ja) 1991-08-27 1991-08-27 光学式変位センサ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7638091U JPH0519910U (ja) 1991-08-27 1991-08-27 光学式変位センサ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0519910U true JPH0519910U (ja) 1993-03-12

Family

ID=13603732

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP7638091U Withdrawn JPH0519910U (ja) 1991-08-27 1991-08-27 光学式変位センサ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0519910U (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104833315A (zh) * 2014-02-07 2015-08-12 株式会社三丰 光学探测器、可装配盖和形状测量设备
JP2015148569A (ja) * 2014-02-07 2015-08-20 株式会社ミツトヨ 光学式プローブ、取付カバー、および形状測定装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104833315A (zh) * 2014-02-07 2015-08-12 株式会社三丰 光学探测器、可装配盖和形状测量设备
JP2015148569A (ja) * 2014-02-07 2015-08-20 株式会社ミツトヨ 光学式プローブ、取付カバー、および形状測定装置
JP2015148570A (ja) * 2014-02-07 2015-08-20 株式会社ミツトヨ 光学式プローブ、取付カバー、および形状測定装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0815413A (ja) 距離測定装置
KR920020187A (ko) 코팅 상태 측정 방법 및 장치
JP2589278Y2 (ja) シート形態の対象物を検出する装置
NO993622L (no) Optisk system med et vindu med en koniskoidal indre overflate, samt testing av det optiske systemet
US6737665B1 (en) Edge detector
JPH0519910U (ja) 光学式変位センサ
EP1293768A3 (en) Sensor utilizing attenuated total reflection
JP4426130B2 (ja) 透過型光電センサ
JP3890128B2 (ja) 反射型プリズム
JPH09287931A (ja) 距離計測方法及び距離センサ
JPS58106413A (ja) 光反射センサ
JPH07198341A (ja) 水膜測定装置
US6100983A (en) Object sensing apparatus having filter member
JPH06137862A (ja) 光学式センサ
JPH0552554A (ja) 光学式変位センサ
JPH06223685A (ja) 反射型光電スイッチ
JPS63225116A (ja) 光学式変位測定装置
JP2577234Y2 (ja) レーザー距離計
JPH069296Y2 (ja) 傾斜角検出装置
JP2888766B2 (ja) 明暗境界の判別方法
JP2002341197A (ja) 半導体レーザモジュールにおける未結合迷光の遮蔽構造
JPH0547401Y2 (ja)
JPH0121884B2 (ja)
JPH04113008U (ja) 変位測定装置
JPH0712514A (ja) 光ファイバ変位センサ

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 19951102