JPH05206559A - 光半導体変調装置 - Google Patents
光半導体変調装置Info
- Publication number
- JPH05206559A JPH05206559A JP31594791A JP31594791A JPH05206559A JP H05206559 A JPH05206559 A JP H05206559A JP 31594791 A JP31594791 A JP 31594791A JP 31594791 A JP31594791 A JP 31594791A JP H05206559 A JPH05206559 A JP H05206559A
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- distortion
- laser diode
- modulation
- distorted
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- Withdrawn
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Landscapes
- Semiconductor Lasers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】ＣＡＴＶの伝送線路に光ケーブルを利用すると
大幅に伝送損失を低減できる。そこで電気信号を光に変
化するシステムが開発されているが、レーザダイオード
の電気光変換の直線性が環境による変化するという欠点
があった。この点を改善せんとするものである。 【構成】本発明は電気光変換の歪の発生を抑えるため、
光変調出力の一部をモニターして、発生する光歪を検出
する回路を備え、常に歪を設定値にする帰還回路を有す
る。 【効果】歪成分の検出器お備えることにより、常に歪の
発生量を同じにするように変調信号を増減させることが
でき、常に変調信号の歪発生率を抑える効果を有する。
大幅に伝送損失を低減できる。そこで電気信号を光に変
化するシステムが開発されているが、レーザダイオード
の電気光変換の直線性が環境による変化するという欠点
があった。この点を改善せんとするものである。 【構成】本発明は電気光変換の歪の発生を抑えるため、
光変調出力の一部をモニターして、発生する光歪を検出
する回路を備え、常に歪を設定値にする帰還回路を有す
る。 【効果】歪成分の検出器お備えることにより、常に歪の
発生量を同じにするように変調信号を増減させることが
でき、常に変調信号の歪発生率を抑える効果を有する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光半導体変調装置に関
し、特に低歪光強度変調装置に関する。
し、特に低歪光強度変調装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の光強度変調装置は、図３に示すよ
うな基本構成で、光を発光するレーザダイオード１と、
直流電源４と、変調信号源３と、自動出力安定回路２０
で構成される。光出力を安定させるための自動出力安定
回路（ＡＰＣ）の動作を以下に説明する。レーザダイオ
ード１の発光出力の一部をホトダイオード５で検出し、
光電流を抵抗８と容量９に流す。光出力の変化により抵
抗８による電圧降下が発生する、この電圧と基準電圧１
１とを比較器１０で比較した差の電圧により直流電源４
に負帰還すると、レーザダイオード１の光出力は一定に
制御される。
うな基本構成で、光を発光するレーザダイオード１と、
直流電源４と、変調信号源３と、自動出力安定回路２０
で構成される。光出力を安定させるための自動出力安定
回路（ＡＰＣ）の動作を以下に説明する。レーザダイオ
ード１の発光出力の一部をホトダイオード５で検出し、
光電流を抵抗８と容量９に流す。光出力の変化により抵
抗８による電圧降下が発生する、この電圧と基準電圧１
１とを比較器１０で比較した差の電圧により直流電源４
に負帰還すると、レーザダイオード１の光出力は一定に
制御される。
【０００３】図２に一般的なレーザダイオードの励振電
流と光出力の温度特性例を示し従来の光半導体変調装置
について説明する。常温時の光出力特性はＴa のように
なり周囲温度が高温になると特性はＴH のように変化す
る、このため励振電流がＩaで変化させないと光出力は
特製ＴH の交点の値になり光出力は低下する。しかしＡ
ＰＣ回路が付加してあると、前記したような原理により
光出力Ｐa を保つために自動的に励振電流増加させるよ
うに動作する。
流と光出力の温度特性例を示し従来の光半導体変調装置
について説明する。常温時の光出力特性はＴa のように
なり周囲温度が高温になると特性はＴH のように変化す
る、このため励振電流がＩaで変化させないと光出力は
特製ＴH の交点の値になり光出力は低下する。しかしＡ
ＰＣ回路が付加してあると、前記したような原理により
光出力Ｐa を保つために自動的に励振電流増加させるよ
うに動作する。
【０００４】尚、レーザダイオード１は励振電流の小さ
い範囲と励振電流を増加させた範囲で光と励振電流の直
線性が悪くなる傾向があり、ＡＰＣ回路の動作により励
振電流が変わり、変調信号が光の強度変調に歪が少なく
変換されない。
い範囲と励振電流を増加させた範囲で光と励振電流の直
線性が悪くなる傾向があり、ＡＰＣ回路の動作により励
振電流が変わり、変調信号が光の強度変調に歪が少なく
変換されない。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】従来の光半導体変調装
置では、周囲温度変化や、経年変化により、励振電流を
変化させることにより、光出力変換に歪が発生する問題
点があった。
置では、周囲温度変化や、経年変化により、励振電流を
変化させることにより、光出力変換に歪が発生する問題
点があった。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明の光変調装置は、
変調信号による歪の発生を検出するための、帯域通過フ
ィルターと検出信号を増幅する増幅器と、増幅出力の大
小を判断する比較器と、この比較器の出力により変調信
号の強度を調整できる変調信号源とを少なくとも備えて
いる。
変調信号による歪の発生を検出するための、帯域通過フ
ィルターと検出信号を増幅する増幅器と、増幅出力の大
小を判断する比較器と、この比較器の出力により変調信
号の強度を調整できる変調信号源とを少なくとも備えて
いる。
【０００７】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。図１は本発明の一実施例の構成図を示す。実施例の
光変調装置は、従来の構成に加えて、変調信号による歪
の発生を検出するための、帯域通過フィルター１３と、
検出信号を増幅する増幅器１４と、増幅出力の大小を判
断する比較器１７とを備え、この比較器１７の出力によ
り変調信号の強度を調整する構成である。
る。図１は本発明の一実施例の構成図を示す。実施例の
光変調装置は、従来の構成に加えて、変調信号による歪
の発生を検出するための、帯域通過フィルター１３と、
検出信号を増幅する増幅器１４と、増幅出力の大小を判
断する比較器１７とを備え、この比較器１７の出力によ
り変調信号の強度を調整する構成である。
【０００８】直流電源４からのレーザダイオード励振電
流ＩF は合成器２により変調信号源３からの変調信号と
合成され、レーザダイオード１に２種類の電流を流し、
光は強度変調される。レーザダイオード１の光出力の一
部をホトダイオード５で検出する、この時流れる光電流
は歪検出抵抗７とＡＰＣ信号検出抵抗８に流れ電圧降下
を発生する。抵抗７で発生した高周波性分のうち歪性分
を取り出すため、容量１２を通して狭帯域通過フィルタ
ー１３で特別の周波帯をぬき出し、増幅器１４で増幅す
る。検波器１６では歪性分信号を検波し、積分回路１５
で平坦化し、基準電圧１８と比較器１７で比較され、振
幅可変変調信号源３に歪性分の大小に関係した信号を帰
還し、変調信号源３を制御する。
流ＩF は合成器２により変調信号源３からの変調信号と
合成され、レーザダイオード１に２種類の電流を流し、
光は強度変調される。レーザダイオード１の光出力の一
部をホトダイオード５で検出する、この時流れる光電流
は歪検出抵抗７とＡＰＣ信号検出抵抗８に流れ電圧降下
を発生する。抵抗７で発生した高周波性分のうち歪性分
を取り出すため、容量１２を通して狭帯域通過フィルタ
ー１３で特別の周波帯をぬき出し、増幅器１４で増幅す
る。検波器１６では歪性分信号を検波し、積分回路１５
で平坦化し、基準電圧１８と比較器１７で比較され、振
幅可変変調信号源３に歪性分の大小に関係した信号を帰
還し、変調信号源３を制御する。
【０００９】本発明の光強度変調装置は周囲温度等が変
化して歪が増加すると元の値になるように自動調整す
る。
化して歪が増加すると元の値になるように自動調整す
る。
【００１０】ＣＡＴＶのような多チャネルの周波数を光
で強度変調する場合には、歪の検出周波数は、使チャネ
ル外の帯域における歪を検出する周波数に通貨フィルタ
ーを合わせ歪信号の大小の判定するように選ぶ。
で強度変調する場合には、歪の検出周波数は、使チャネ
ル外の帯域における歪を検出する周波数に通貨フィルタ
ーを合わせ歪信号の大小の判定するように選ぶ。
【００１１】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、歪性分の
検出器を設けることにより、常に歪の発生量を同じにす
るように変調信号を増減させることにより、常に変調信
号の歪発生率を抑える効果を有する。
検出器を設けることにより、常に歪の発生量を同じにす
るように変調信号を増減させることにより、常に変調信
号の歪発生率を抑える効果を有する。
【図１】本発明の一実施例の構成図である。
【図２】レーザダイオードの励振電流と光出力特性で周
囲温度によるこの特性が変化することを示した図であ
る。
囲温度によるこの特性が変化することを示した図であ
る。
【図３】従来の光半導体変調装置の構成図である。
１ レーザダイオード ２ 合成器 ３ 変調信号 ４ 直流電源 ５ ホトダイオード ６ ホトダイオードバイアス電源 ７ 抵抗 ８ 抵抗 ９ バイパス容量 １０ 直流比較器 １１ ＡＰＣ基準電圧 １２ 結合容量 １３ 狭帯域通過フィルター １４ 増幅器 １５ 積分回路 １６ 検波器 １７ 直流比較器 １８ 基準電圧
Claims (1)
- 【請求項１】 少くとも、光半導体素子の発光出力を検
出するホトダイオードと、特定の周波数を通過させるフ
ィルターと、増幅器と、この増幅器の出力を比較する比
較器と、この出力により変調信号を増減せしうる変調信
号源を有することを特徴とする光半導体変調装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31594791A JPH05206559A (ja) | 1991-11-29 | 1991-11-29 | 光半導体変調装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31594791A JPH05206559A (ja) | 1991-11-29 | 1991-11-29 | 光半導体変調装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05206559A true JPH05206559A (ja) | 1993-08-13 |
Family
ID=18071516
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP31594791A Withdrawn JPH05206559A (ja) | 1991-11-29 | 1991-11-29 | 光半導体変調装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05206559A (ja) |
-
1991
- 1991-11-29 JP JP31594791A patent/JPH05206559A/ja not_active Withdrawn
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19990204 |