JPH0521171B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0521171B2 JPH0521171B2 JP12700383A JP12700383A JPH0521171B2 JP H0521171 B2 JPH0521171 B2 JP H0521171B2 JP 12700383 A JP12700383 A JP 12700383A JP 12700383 A JP12700383 A JP 12700383A JP H0521171 B2 JPH0521171 B2 JP H0521171B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sound
- closed space
- measurement
- time
- pressure level
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01H—MEASUREMENT OF MECHANICAL VIBRATIONS OR ULTRASONIC, SONIC OR INFRASONIC WAVES
- G01H7/00—Measuring reverberation time ; room acoustic measurements
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Unknown Time Intervals (AREA)
- Measurement Of Mechanical Vibrations Or Ultrasonic Waves (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は閉空間内の残響時間測定方法及び装置
に関する。
に関する。
閉空間としての室内の残響時間の測定方法とし
ては、従来、白色雑音、ピストル音等を室内に放
射した後、これを停止し、この停止時点以降、室
内に設置したマイクロホンから取り出した電気信
号を、対数変換した後、高速度レベルレコーダの
記録紙上に残響音の減衰波形として記録し、記録
された減衰波形の傾斜から室内の残響時間を求め
る方法がとられていた。しかし、このような方法
によると、人間が記録紙上の減衰波形からその傾
斜を読みとるので、測定結果の信頼性に問題があ
り、また、膨大な労力および時間を費やさなけれ
ばならなかつた。
ては、従来、白色雑音、ピストル音等を室内に放
射した後、これを停止し、この停止時点以降、室
内に設置したマイクロホンから取り出した電気信
号を、対数変換した後、高速度レベルレコーダの
記録紙上に残響音の減衰波形として記録し、記録
された減衰波形の傾斜から室内の残響時間を求め
る方法がとられていた。しかし、このような方法
によると、人間が記録紙上の減衰波形からその傾
斜を読みとるので、測定結果の信頼性に問題があ
り、また、膨大な労力および時間を費やさなけれ
ばならなかつた。
このようなことから最近では、残響音を酌受音
したマイクロホンからの電気信号（アナログ信
号）をＡ／Ｄコンバータにより一定のサンプリン
グ時間間隔でデジタル信号化し、このデジタル信
号の演算処理を計算機により行ない、残響時間測
定の簡易化、測定時間の短縮化をはかつている例
が多く見られる。
したマイクロホンからの電気信号（アナログ信
号）をＡ／Ｄコンバータにより一定のサンプリン
グ時間間隔でデジタル信号化し、このデジタル信
号の演算処理を計算機により行ない、残響時間測
定の簡易化、測定時間の短縮化をはかつている例
が多く見られる。
以上のように残響音を受音したマイクロホンか
らの電気信号をサンプリングしてデジタル信号化
し、その結果得られたサンプリングデータを用い
る方法においては、計算機内へのサンプリングデ
ータの取り込み時間がはじめから決まつているも
のが多い。そのため第１図のように、残響時間が
取り込み時間に対して極端に短い場合は、計算機
内へのサンプリングデータの取り込み数が極端に
減るので、正確な残響時間を算出することがむず
かしい。また第２図のように残響時間が取り込み
時間に対して非常に長い場合でも、その減衰の始
めの部分のサンプリングデータしか計算機内に取
り込むことができなくなるので、正確な残響時間
を算出することがむずかしい。なお、残響時間の
長さに応じてそのサンプリングデータの取り込み
時間を変えるようにしても、サンプリング時間間
隔が一定であればデータの数は（取り込み時間／
サンプリング時間間隔）となるので、取り込み時
間に比例してサンプリングデータの数が多くなる
ことがわかる。そのため、残響時間が非常に長い
場合は、サンプリングデータ数が膨大となり、そ
の分だけ演算に時間がかかり、高速化処理のさま
たげとなるし、精度の面から見ても、データ数が
多いからといつて、その分精度が向上するという
ものでもない。
らの電気信号をサンプリングしてデジタル信号化
し、その結果得られたサンプリングデータを用い
る方法においては、計算機内へのサンプリングデ
ータの取り込み時間がはじめから決まつているも
のが多い。そのため第１図のように、残響時間が
取り込み時間に対して極端に短い場合は、計算機
内へのサンプリングデータの取り込み数が極端に
減るので、正確な残響時間を算出することがむず
かしい。また第２図のように残響時間が取り込み
時間に対して非常に長い場合でも、その減衰の始
めの部分のサンプリングデータしか計算機内に取
り込むことができなくなるので、正確な残響時間
を算出することがむずかしい。なお、残響時間の
長さに応じてそのサンプリングデータの取り込み
時間を変えるようにしても、サンプリング時間間
隔が一定であればデータの数は（取り込み時間／
サンプリング時間間隔）となるので、取り込み時
間に比例してサンプリングデータの数が多くなる
ことがわかる。そのため、残響時間が非常に長い
場合は、サンプリングデータ数が膨大となり、そ
の分だけ演算に時間がかかり、高速化処理のさま
たげとなるし、精度の面から見ても、データ数が
多いからといつて、その分精度が向上するという
ものでもない。
そこで本発明は以上のような問題を解消すべく
なされたもので、残響時間の長さに応じて、サン
プリング時間間隔を自動的に選択し、かつ暗騒音
の影響を受けないサンプリングデータに基づいて
残響時間をきわめて正確に測定することができる
閉空間内の残響時間測定方法及び装置を提供する
ことを目的としている。
なされたもので、残響時間の長さに応じて、サン
プリング時間間隔を自動的に選択し、かつ暗騒音
の影響を受けないサンプリングデータに基づいて
残響時間をきわめて正確に測定することができる
閉空間内の残響時間測定方法及び装置を提供する
ことを目的としている。
残響音の減衰波形は、拡散音と暗騒音のエネル
ギーが合成されてできたものであるから、減衰波
形が暗騒音付近まで減衰してくると暗騒音の影響
を大きく受けて、測定すべき拡散音の減衰波形と
は大きく異なつてしまう。拡散音のレベルが暗騒
音のレベルより大きいときほど、拡散音の音圧レ
ベルと残響音の音圧レベルとの誤差は小さくな
り、この誤差は、測定器の精度などからついには
無視できる値となる。誤差が小さく、無視できる
値のときの拡散音の最小音圧レベルと暗騒音音圧
レベルとの差をαdBとすると、拡散音の音圧レベ
ルを暗騒音の音圧レベルより所定値だけ高くして
おき、そして、拡散音が減衰を始めてから（暗騒
音＋α）dBに達するまでの時間内のデータが信
頼性の高いデータとなる。
ギーが合成されてできたものであるから、減衰波
形が暗騒音付近まで減衰してくると暗騒音の影響
を大きく受けて、測定すべき拡散音の減衰波形と
は大きく異なつてしまう。拡散音のレベルが暗騒
音のレベルより大きいときほど、拡散音の音圧レ
ベルと残響音の音圧レベルとの誤差は小さくな
り、この誤差は、測定器の精度などからついには
無視できる値となる。誤差が小さく、無視できる
値のときの拡散音の最小音圧レベルと暗騒音音圧
レベルとの差をαdBとすると、拡散音の音圧レベ
ルを暗騒音の音圧レベルより所定値だけ高くして
おき、そして、拡散音が減衰を始めてから（暗騒
音＋α）dBに達するまでの時間内のデータが信
頼性の高いデータとなる。
本発明は以上のような知見に基づいてなされた
もので、閉空間内の暗騒音の平均値および標準偏
差を求め、かくして得られた暗騒音の平均値およ
び標準偏差に基づいて前記閉空間内に設置された
音源から放射される音に関する測定終了時の音圧
レベルの基準値を求め、前記音源から前記閉空間
内に事前測定用試験音を放射して前記閉空間内を
拡散音場にし、前記事前測定用試験音の放射を停
止して、前記閉空間内に設置された受音器からの
信号による測定音圧レベルが前記停止時点から前
記基準値になるまでの時間を測定し、かくして得
られた時間に基づいて前記受音器からの信号をデ
ジタル化するための前記時間に対応したサンプリ
ング周期を求め、前記音源から前記閉空間内に本
測定用試験音を放射して前記閉空間内を拡散音場
にし、前記本測定用試験音の放射を停止して、前
記受音器からの信号をその測定音圧レベルが前記
停止時点から前記基準値になるまで前記サンプリ
ング周期でサンプリングし、かくして得られたサ
ンプリングデータに基づいて、前記閉空間内の残
響時間を演算する閉空間内の残響時間測定方法及
び装置である。
もので、閉空間内の暗騒音の平均値および標準偏
差を求め、かくして得られた暗騒音の平均値およ
び標準偏差に基づいて前記閉空間内に設置された
音源から放射される音に関する測定終了時の音圧
レベルの基準値を求め、前記音源から前記閉空間
内に事前測定用試験音を放射して前記閉空間内を
拡散音場にし、前記事前測定用試験音の放射を停
止して、前記閉空間内に設置された受音器からの
信号による測定音圧レベルが前記停止時点から前
記基準値になるまでの時間を測定し、かくして得
られた時間に基づいて前記受音器からの信号をデ
ジタル化するための前記時間に対応したサンプリ
ング周期を求め、前記音源から前記閉空間内に本
測定用試験音を放射して前記閉空間内を拡散音場
にし、前記本測定用試験音の放射を停止して、前
記受音器からの信号をその測定音圧レベルが前記
停止時点から前記基準値になるまで前記サンプリ
ング周期でサンプリングし、かくして得られたサ
ンプリングデータに基づいて、前記閉空間内の残
響時間を演算する閉空間内の残響時間測定方法及
び装置である。
第３図は本発明を実施するための室内の残響時
間測定装置の一態様を示す構成図である。図示さ
れるように、１は測定しようとする閉空間として
の室、２は室１内に設けたスピーカ、３は室１内
に設けたマイクロホン、４はノイズジエネレータ
（白色雑音発生器）、５はノイズジエネレータ４か
らの出力信号のうち選択された周波数帯域の信号
を通過（伝送）させるバンドパスフイルタ、６は
バンドパスフイルタ５からの信号を増幅してスピ
ーカ２を駆動する増幅器である。バンドパスフイ
ルタ５は複数の周波数帯域を外部からの制御信号
によつて選択する。
間測定装置の一態様を示す構成図である。図示さ
れるように、１は測定しようとする閉空間として
の室、２は室１内に設けたスピーカ、３は室１内
に設けたマイクロホン、４はノイズジエネレータ
（白色雑音発生器）、５はノイズジエネレータ４か
らの出力信号のうち選択された周波数帯域の信号
を通過（伝送）させるバンドパスフイルタ、６は
バンドパスフイルタ５からの信号を増幅してスピ
ーカ２を駆動する増幅器である。バンドパスフイ
ルタ５は複数の周波数帯域を外部からの制御信号
によつて選択する。
７はバンドパスフイルタ５と同様のバンドパス
フイルタであり、これはマイクロホン３からの出
力信号のうち選択された周波数帯域の信号を通過
（伝送）させる。バンドパスフイルタ７からの信
号は、実効値（RMS）回路８に入力されて、そ
こでその実効値が検出され、ついでこの実効値回
路８から対数変換回路９に入力されて、そこで対
数変換され、ついでＡ／Ｄ（アナログ／デジタル）
変換回路１０に入力されて、そこで所定サンプリ
ング時間間隔でデジタル信号に変換され、ついで
このＡ／Ｄ変換回路１０から インターフエース
１１を介して計算機１２に入力される。１３はイ
ンターフエース１１に接続された、計算機１２か
らの計算結果を表示する表示手段であある。
フイルタであり、これはマイクロホン３からの出
力信号のうち選択された周波数帯域の信号を通過
（伝送）させる。バンドパスフイルタ７からの信
号は、実効値（RMS）回路８に入力されて、そ
こでその実効値が検出され、ついでこの実効値回
路８から対数変換回路９に入力されて、そこで対
数変換され、ついでＡ／Ｄ（アナログ／デジタル）
変換回路１０に入力されて、そこで所定サンプリ
ング時間間隔でデジタル信号に変換され、ついで
このＡ／Ｄ変換回路１０から インターフエース
１１を介して計算機１２に入力される。１３はイ
ンターフエース１１に接続された、計算機１２か
らの計算結果を表示する表示手段であある。
バンドパスフイルタ５，７は、インターフエー
ス１１を介して計算機１２により制御され、その
周波数帯域が選択される。Ａ／Ｄ変換回路１０に
おけるサンプリング時間間隔は、計算機１２によ
つて制御される。
ス１１を介して計算機１２により制御され、その
周波数帯域が選択される。Ａ／Ｄ変換回路１０に
おけるサンプリング時間間隔は、計算機１２によ
つて制御される。
バンドパスフイルタ５、実効値回路８、対数変
換回路９、Ａ／Ｄ変換回路１０、及び計算機１２
は閉空間内の暗騒音の平均値及び標準偏差に基づ
いて前記閉空間内に設置された音源から照射され
た音に関する測定終了時の音圧レベルの基準値を
求める手段を構成する。又、計算機１２は音源か
ら閉空間内に事前測定用試験音を放射して閉空間
内を拡散音場にし、しかる後前記事前測定用試験
音の放射を停止して、音圧レベルが前記事前測定
用試験音の停止時点から前記基準値になるまでの
時間を測定する手段を構成し、この時間に基づい
て前記時間に対応したサンプリング周期を求める
手段を構成し、更にサンプリングデータに基づい
て閉空間内の残響時間を演算する手段を構成す
る。バンドパスフイルタ７、実効値回路８、対数
変換回路９、及びＡ／Ｄ変換回路１０は音源から
閉空間内に本測定用試験音を放射して閉空間内を
拡散音場にし、しかる後本測定用試験音の放射を
停止して、音圧レベルが本測定用試験音の停止時
点から基準値になるまでサンプリング周期でサン
プリングする手段を構成する。
換回路９、Ａ／Ｄ変換回路１０、及び計算機１２
は閉空間内の暗騒音の平均値及び標準偏差に基づ
いて前記閉空間内に設置された音源から照射され
た音に関する測定終了時の音圧レベルの基準値を
求める手段を構成する。又、計算機１２は音源か
ら閉空間内に事前測定用試験音を放射して閉空間
内を拡散音場にし、しかる後前記事前測定用試験
音の放射を停止して、音圧レベルが前記事前測定
用試験音の停止時点から前記基準値になるまでの
時間を測定する手段を構成し、この時間に基づい
て前記時間に対応したサンプリング周期を求める
手段を構成し、更にサンプリングデータに基づい
て閉空間内の残響時間を演算する手段を構成す
る。バンドパスフイルタ７、実効値回路８、対数
変換回路９、及びＡ／Ｄ変換回路１０は音源から
閉空間内に本測定用試験音を放射して閉空間内を
拡散音場にし、しかる後本測定用試験音の放射を
停止して、音圧レベルが本測定用試験音の停止時
点から基準値になるまでサンプリング周期でサン
プリングする手段を構成する。
以上のような構成によつて、つぎのようにし
て、室１内の残響時間が測定される。なお、その
作業の流れを参考として第４図に示す。まず、計
算機１２によつてバンドパスフイルタ５，７の周
波数帯域を所定の周波数帯域にあらかじめ選択し
ておき、その選択された周波数帯域に関して、室
１内の暗騒音を事前測定する。すなわち、スピー
カ２を駆動せず、マイクロホン３からの信号を、
バンドパスフイルタ５、実効値回路８、対数変換
回路９を介し、Ａ／Ｄ変換回路１０によつて所定
のサンプリング時間間隔でＡ／Ｄ変換する。これ
により得られたデジタル信号から、暗騒音の平均
値Luおよび標準偏差σを計算機１２によつて求
める。これは暗騒音は、絶えず変動していること
が予想されるので、前に述べた拡散音とこの暗騒
音との差αdBが確実にとれるようにするためであ
る。そして、計算機１２において、基準値（測定
終了時点の音圧）を（Lu＋α＋σ）に定める。
て、室１内の残響時間が測定される。なお、その
作業の流れを参考として第４図に示す。まず、計
算機１２によつてバンドパスフイルタ５，７の周
波数帯域を所定の周波数帯域にあらかじめ選択し
ておき、その選択された周波数帯域に関して、室
１内の暗騒音を事前測定する。すなわち、スピー
カ２を駆動せず、マイクロホン３からの信号を、
バンドパスフイルタ５、実効値回路８、対数変換
回路９を介し、Ａ／Ｄ変換回路１０によつて所定
のサンプリング時間間隔でＡ／Ｄ変換する。これ
により得られたデジタル信号から、暗騒音の平均
値Luおよび標準偏差σを計算機１２によつて求
める。これは暗騒音は、絶えず変動していること
が予想されるので、前に述べた拡散音とこの暗騒
音との差αdBが確実にとれるようにするためであ
る。そして、計算機１２において、基準値（測定
終了時点の音圧）を（Lu＋α＋σ）に定める。
つぎに同期信号により音源としてのスピーカ２
をオンにし、第５図にマイクロホン３による測定
音圧特性図で示すようにスピーカ２から放射され
た事前測定用の試験音のマイクロホン３の位置に
おける音圧が（Lu＋α＋σ）dBより、数10dBほ
ど大きくなるように増幅器６の出力を調節した
後、スピーカ２をオフにし、オフにした時刻T0
から計算機１２においてＡ／Ｄ変換回路１０のサ
ンプリング時間間隔と等しい、カウンタ周期
ΔTa秒ごとにカウントを開始し、それと同時に
（時刻T0から）Ａ／Ｄ変換回路１０からのサンプ
リングデータ（すなわち、室１内における減衰時
の音圧レベル）を計算機１２に取り込む。計算機
１２においては、取り込まれたサンプリングデー
タと事前測定により求めた基準値（Lu＋α＋σ）
（dB）との比較を同時に行ない、室１内における
音圧レベルが（Lu＋α＋σ）と同じになつた時
刻TnでＡ／Ｄ変換回路１０からのサンプリング
データの取り込みを終了する。ついで、時刻T0
からTnまで、周期Δtaでカウントされた数Nc（す
なわち、T0からTnまでの時間と等しい）によ
り、本測定時における、Ａ／Ｄ変換回路１０の残
響時間の長さに応じたサンプリング時間間隔を下
記(1)式、(2)式により計算機１２において決定す
る。また１回の測定における計算機１２へのＡ／
Ｄ変換回路１０からのサンプリングデータの取り
込み数Ｂは、下記(3)式により決定する。
をオンにし、第５図にマイクロホン３による測定
音圧特性図で示すようにスピーカ２から放射され
た事前測定用の試験音のマイクロホン３の位置に
おける音圧が（Lu＋α＋σ）dBより、数10dBほ
ど大きくなるように増幅器６の出力を調節した
後、スピーカ２をオフにし、オフにした時刻T0
から計算機１２においてＡ／Ｄ変換回路１０のサ
ンプリング時間間隔と等しい、カウンタ周期
ΔTa秒ごとにカウントを開始し、それと同時に
（時刻T0から）Ａ／Ｄ変換回路１０からのサンプ
リングデータ（すなわち、室１内における減衰時
の音圧レベル）を計算機１２に取り込む。計算機
１２においては、取り込まれたサンプリングデー
タと事前測定により求めた基準値（Lu＋α＋σ）
（dB）との比較を同時に行ない、室１内における
音圧レベルが（Lu＋α＋σ）と同じになつた時
刻TnでＡ／Ｄ変換回路１０からのサンプリング
データの取り込みを終了する。ついで、時刻T0
からTnまで、周期Δtaでカウントされた数Nc（す
なわち、T0からTnまでの時間と等しい）によ
り、本測定時における、Ａ／Ｄ変換回路１０の残
響時間の長さに応じたサンプリング時間間隔を下
記(1)式、(2)式により計算機１２において決定す
る。また１回の測定における計算機１２へのＡ／
Ｄ変換回路１０からのサンプリングデータの取り
込み数Ｂは、下記(3)式により決定する。
Ｍ＝｛（Nc−１）／2b｝＋１ ……(1)
〔（Nc−１）／2bは小数点以下切り捨てを行な
う 2b：１回の測定に関して取り込み可能なサンプ
リングデータ の数の最大値 ｂ：取り込みビツト数 Ｍ：変数（１、２、３…）〕 ΔT＝Ｍ・ΔTa ……(2) 〔Δt：サンプリング時間間隔 Δta：カウンタ周期〕 Ｂ＝Nc／Ｍ ……(3) 〔Ｂ：サンプリングデータの取り込み数 （小
数点以下切り捨て）〕 (1)、(2)式は、Nc≦2bのときはＭ＝１となるた
め、Δt＝Δtaとなる。また、Ｍ≧２の場合、（Ｍ
−１）・2b＜Nc≦Ｍ・2bのときΔt＝Ｍ・Δtaとな
ることがわかる。このようにΔtが大きくなつた
場合でも、(3)式より、2b-1≦Ｂ≦2bとなり、ｂが
８の場合、データの取り込み数として128〜256の
範囲内の値が得られる。
う 2b：１回の測定に関して取り込み可能なサンプ
リングデータ の数の最大値 ｂ：取り込みビツト数 Ｍ：変数（１、２、３…）〕 ΔT＝Ｍ・ΔTa ……(2) 〔Δt：サンプリング時間間隔 Δta：カウンタ周期〕 Ｂ＝Nc／Ｍ ……(3) 〔Ｂ：サンプリングデータの取り込み数 （小
数点以下切り捨て）〕 (1)、(2)式は、Nc≦2bのときはＭ＝１となるた
め、Δt＝Δtaとなる。また、Ｍ≧２の場合、（Ｍ
−１）・2b＜Nc≦Ｍ・2bのときΔt＝Ｍ・Δtaとな
ることがわかる。このようにΔtが大きくなつた
場合でも、(3)式より、2b-1≦Ｂ≦2bとなり、ｂが
８の場合、データの取り込み数として128〜256の
範囲内の値が得られる。
以上のような事前測定によつてサンプリング時
間間隔Δtおよびサンプリングデータの取り込み
数Ｂが決定される。ついで、事前測定によつて求
められたΔt、Ｂを使つて１つの周波数帯域につ
いて本測定を行なう。まず事前測定で選択された
周波数帯域にバンドパスフイルタ５，７をセツト
したまま、スピーカ２を駆動して、第３図に示す
通り室１内を拡散音場にし、ついで、スピーカ２
をオフにし、その時点以後、計算機１２におい
て、マイクロホン３の測定音圧が基準値（Lu＋
α＋σ）になるまで事前測定で得られたΔt、Ｂ
でＡ／Ｄ変換回路１０からのサンプリングデータ
を取り込み、このようなデータ取り込みを所定回
数行ない、このようにして得られた結果に基づい
て、室１内の残響時間を演算する。以上で１つの
周波数帯域についての室１内の残響時間の測定を
終了する。
間間隔Δtおよびサンプリングデータの取り込み
数Ｂが決定される。ついで、事前測定によつて求
められたΔt、Ｂを使つて１つの周波数帯域につ
いて本測定を行なう。まず事前測定で選択された
周波数帯域にバンドパスフイルタ５，７をセツト
したまま、スピーカ２を駆動して、第３図に示す
通り室１内を拡散音場にし、ついで、スピーカ２
をオフにし、その時点以後、計算機１２におい
て、マイクロホン３の測定音圧が基準値（Lu＋
α＋σ）になるまで事前測定で得られたΔt、Ｂ
でＡ／Ｄ変換回路１０からのサンプリングデータ
を取り込み、このようなデータ取り込みを所定回
数行ない、このようにして得られた結果に基づい
て、室１内の残響時間を演算する。以上で１つの
周波数帯域についての室１内の残響時間の測定を
終了する。
そして、第４図に示すように、バンドパスフイ
ルタの周波数切り換え（選択）にもどり、次に測
定したい周波数帯域の上述の通りの事前測定に移
り、ついでこの事前測定の結果に基づいて本測定
を行なう。このように一連の動作を自動的に行な
うことにより、任意の周波数帯域における残響波
形について、残響時間の長さに応じた適切なサン
プリングデータが得られ、かつ暗騒音の影響を受
けないサンプリングデータが得られ、これに基づ
いて、室１内の残響時間が測定される。
ルタの周波数切り換え（選択）にもどり、次に測
定したい周波数帯域の上述の通りの事前測定に移
り、ついでこの事前測定の結果に基づいて本測定
を行なう。このように一連の動作を自動的に行な
うことにより、任意の周波数帯域における残響波
形について、残響時間の長さに応じた適切なサン
プリングデータが得られ、かつ暗騒音の影響を受
けないサンプリングデータが得られ、これに基づ
いて、室１内の残響時間が測定される。
以上説明したように、本発明によれば、残響時
間の長さに応じて、サンプリング時間間隔を自動
的に選択し、かつ暗騒音の影響を受けないサンプ
リングデータに基づいて残響時間をきわめて正確
に測定することができる。
間の長さに応じて、サンプリング時間間隔を自動
的に選択し、かつ暗騒音の影響を受けないサンプ
リングデータに基づいて残響時間をきわめて正確
に測定することができる。
第１図、第２図および第５図はマイクロホンに
よる室内の測定音圧特性を示す図、第３図は本発
明を実施するための室内の残響時間測定装置の一
態様を示す構成図、第４図は本発明における測定
作業の例を示す流れ図である。 １…室、２…スピーカ、３…マイクロホン、４
…ノイズジエネレータ、５，７…バンドパスフイ
ルタ、６…増幅器、８…実行値回路、９…対数変
換回路、１０…Ａ／Ｄ変換回路、１２…計算機。
よる室内の測定音圧特性を示す図、第３図は本発
明を実施するための室内の残響時間測定装置の一
態様を示す構成図、第４図は本発明における測定
作業の例を示す流れ図である。 １…室、２…スピーカ、３…マイクロホン、４
…ノイズジエネレータ、５，７…バンドパスフイ
ルタ、６…増幅器、８…実行値回路、９…対数変
換回路、１０…Ａ／Ｄ変換回路、１２…計算機。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 閉空間内の暗騒音の平均値および標準偏差に
基づいて前記閉空間内に設置された音源から放射
される音に関する測定終了時の音圧レベルの基準
値を求め、前記音源から前記閉空間内に事前測定
用試験音を放射して前記閉空間内を拡散音場に
し、しかる後前記事前測定用試験音の放射を停止
して、音圧レベルが前記事前測定用試験音の停止
時点から前記基準値になるまでの時間を測定し、
かくして得られた時間に基づいて前記時間に対応
したサンプリング周期を求め、前記音源から前記
閉空間内に本測定用試験音を放射して前記閉空間
内を拡散音場にし、しかる後前記本測定用試験音
の放射を停止して、音圧レベルが前記本測定用試
験音の停止時点から前記基準値になるまで前記サ
ンプリング周期でサンプリングし、かくして得ら
れたサンプリングデータに基づいて、前記閉空間
内の残響時間を演算することを特徴とする閉空間
内の残響時間測定方法。 ２ 閉空間内の暗騒音の平均値および標準偏差に
基づいて前記閉空間内に設置された音源から放射
される音に関する測定終了時の音圧レベルの基準
値を求める手段と、前記音源から前記閉空間内に
事前測定用試験音を放射して前記閉空間内を拡散
音場にし、しかる後前記事前測定用試験音の放射
を停止して、音圧レベルが前記事前測定用試験音
の停止時点から前記基準値になるまでの時間を測
定する手段と、この時間に基づいて前記時間に対
応したサンプリング周期を求める手段と、前記音
源から前記閉空間内に本測定用試験音を放射して
前記閉空間内を拡散音場にし、しかる後前記本測
定用試験音の放射を停止して、音圧レベルが前記
本測定用試験音の停止時点から前記基準値になる
まで前記サンプリング周期でサンプリングする手
段と、このサンプリングデータに基づいて、前記
閉空間内の残響時間を演算する手段とからなるこ
とを特徴とする閉空間内の残響時間測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12700383A JPS6020128A (ja) | 1983-07-14 | 1983-07-14 | 閉空間内の残響時間測定方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12700383A JPS6020128A (ja) | 1983-07-14 | 1983-07-14 | 閉空間内の残響時間測定方法及び装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6020128A JPS6020128A (ja) | 1985-02-01 |
| JPH0521171B2 true JPH0521171B2 (ja) | 1993-03-23 |
Family
ID=14949269
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12700383A Granted JPS6020128A (ja) | 1983-07-14 | 1983-07-14 | 閉空間内の残響時間測定方法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6020128A (ja) |
-
1983
- 1983-07-14 JP JP12700383A patent/JPS6020128A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6020128A (ja) | 1985-02-01 |
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