JPH05215598A - 回転体の振動測定方法 - Google Patents
回転体の振動測定方法Info
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- JPH05215598A JPH05215598A JP1920492A JP1920492A JPH05215598A JP H05215598 A JPH05215598 A JP H05215598A JP 1920492 A JP1920492 A JP 1920492A JP 1920492 A JP1920492 A JP 1920492A JP H05215598 A JPH05215598 A JP H05215598A
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 31
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 6
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- Measurement Of Mechanical Vibrations Or Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 大型モータの回転軸などの回転体の振動振幅
を、精度良くしかも被測定回転体より従来方法に比べて
離れた位置から測定でき、被測定回転体が回転中であっ
ても測定装置のセットや保守点検を測定者が安全に行え
るようにする。 【構成】 半導体レーザ光源1から出射される光をビー
ムスプリッタ2によって2方向に分岐する。半導体レー
ザから出射されビームスプリッタ2を介して被測定回転
体MRの表面に貼着された反射テープ4に導かれ、この反
射テープ4からの被測定回転体MRの振動によるドップラ
ー効果を受けた反射光Lrと、ビームスプリッタ2を介し
て導かれた半導体レーザからの出射光Lとのヘテロダイ
ン検波による差周波数をヘテロダイン検波装置5により
求める。この差周波数に基づいて被測定回転体MRの振動
振幅を測定する。
を、精度良くしかも被測定回転体より従来方法に比べて
離れた位置から測定でき、被測定回転体が回転中であっ
ても測定装置のセットや保守点検を測定者が安全に行え
るようにする。 【構成】 半導体レーザ光源1から出射される光をビー
ムスプリッタ2によって2方向に分岐する。半導体レー
ザから出射されビームスプリッタ2を介して被測定回転
体MRの表面に貼着された反射テープ4に導かれ、この反
射テープ4からの被測定回転体MRの振動によるドップラ
ー効果を受けた反射光Lrと、ビームスプリッタ2を介し
て導かれた半導体レーザからの出射光Lとのヘテロダイ
ン検波による差周波数をヘテロダイン検波装置5により
求める。この差周波数に基づいて被測定回転体MRの振動
振幅を測定する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、半導体レーザから出
射され振動測定すべき回転体にて反射された光が回転体
の振動によってドップラー効果を受けることを利用し
て、大型モータの回転軸などの回転体の振動振幅を測定
するようにした、回転体の振動測定方法に関するもので
ある。
射され振動測定すべき回転体にて反射された光が回転体
の振動によってドップラー効果を受けることを利用し
て、大型モータの回転軸などの回転体の振動振幅を測定
するようにした、回転体の振動測定方法に関するもので
ある。
【0002】
【従来の技術】大型モータの回転軸などの回転体の振動
測定方法には、従来より、接触式と非接触式による振動
測定方法がある。接触式の振動測定方法としては、基礎
枠体内に機械的可動片及び誘導コイルを備えた検出器
を、回転体の軸受け部、あるいは回転体の支持フレーム
上に固定配置し、軸受け部、あるいは支持フレームの振
動による機械的可動片の変位を誘導コイルによって検出
することにより、回転体の振動振幅(振幅変位)を間接
的に測定するようにした方法が知られている。
測定方法には、従来より、接触式と非接触式による振動
測定方法がある。接触式の振動測定方法としては、基礎
枠体内に機械的可動片及び誘導コイルを備えた検出器
を、回転体の軸受け部、あるいは回転体の支持フレーム
上に固定配置し、軸受け部、あるいは支持フレームの振
動による機械的可動片の変位を誘導コイルによって検出
することにより、回転体の振動振幅(振幅変位)を間接
的に測定するようにした方法が知られている。
【0003】一方、非接触式の振動測定方法としては、
導電性材料よりなる回転体に対して、その表面から2〜
6mm程度間隔を隔てた位置に、交流電流が流される検出
コイルを備えた検出器(検出プローブ)を配置し、回転
体の振動による回転体と検出器との間隔距離の変化を、
回転体に発生する渦電流による磁束の変化によって上記
検出コイルのインピーダンスが変化することを利用して
検出することにより、回転体の振動振幅を測定するよう
にした方法が知られている。
導電性材料よりなる回転体に対して、その表面から2〜
6mm程度間隔を隔てた位置に、交流電流が流される検出
コイルを備えた検出器(検出プローブ)を配置し、回転
体の振動による回転体と検出器との間隔距離の変化を、
回転体に発生する渦電流による磁束の変化によって上記
検出コイルのインピーダンスが変化することを利用して
検出することにより、回転体の振動振幅を測定するよう
にした方法が知られている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上記従来の接触式の振
動測定方法では、被測定回転体の振動振幅をその回転体
の軸受け部、あるいは支持フレームを介して間接的に測
定するようにしたものであるから、測定精度が悪いとい
う欠点がある。さらに、被測定回転体の振動測定中に異
常値が出力されるような場合、測定者が回転体に巻き込
まれるなどしないように安全を確保した上で、その異常
値を示す測定装置を点検したり、異常値を示す測定装置
に代えて別の測定装置をセットしたりするということが
できないという欠点がある。
動測定方法では、被測定回転体の振動振幅をその回転体
の軸受け部、あるいは支持フレームを介して間接的に測
定するようにしたものであるから、測定精度が悪いとい
う欠点がある。さらに、被測定回転体の振動測定中に異
常値が出力されるような場合、測定者が回転体に巻き込
まれるなどしないように安全を確保した上で、その異常
値を示す測定装置を点検したり、異常値を示す測定装置
に代えて別の測定装置をセットしたりするということが
できないという欠点がある。
【0005】また、上記従来の非接触式の振動測定方法
では、被測定回転体の振動振幅をその回転体の軸受け部
などを介することなく直接に測定することができるが、
検出器と被測定回転体との間隔距離を2〜6mm程度と短
く設定する必要がある。このため、接触式の振動測定方
法と同様に、被測定回転体の振動測定中に異常値が出力
されるような場合、測定者の安全を確保した上で、その
異常値を示す測定装置を点検したり、異常値を示す測定
装置に代えて別の測定装置をセットしたりするというこ
とができないという欠点がある。
では、被測定回転体の振動振幅をその回転体の軸受け部
などを介することなく直接に測定することができるが、
検出器と被測定回転体との間隔距離を2〜6mm程度と短
く設定する必要がある。このため、接触式の振動測定方
法と同様に、被測定回転体の振動測定中に異常値が出力
されるような場合、測定者の安全を確保した上で、その
異常値を示す測定装置を点検したり、異常値を示す測定
装置に代えて別の測定装置をセットしたりするというこ
とができないという欠点がある。
【0006】この発明は、上記従来の欠点を解消するた
めになされたものであって、大型モータの回転軸などの
回転体の振動振幅を、精度良くしかも測定すべき回転体
より従来に比べて離れた位置から測定でき、被測定回転
体が回転中であっても測定装置のセットや保守点検を測
定者が被測定回転体に巻き込まれることなく安全に行え
るようにした、回転体の振動測定方法の提供を目的とす
る。
めになされたものであって、大型モータの回転軸などの
回転体の振動振幅を、精度良くしかも測定すべき回転体
より従来に比べて離れた位置から測定でき、被測定回転
体が回転中であっても測定装置のセットや保守点検を測
定者が被測定回転体に巻き込まれることなく安全に行え
るようにした、回転体の振動測定方法の提供を目的とす
る。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、この発明による回転体の振動測定方法は、半導体
レーザから出射される光をビームスプリッタによって2
方向に分岐し、前記半導体レーザから出射され前記ビー
ムスプリッタを介して被測定回転体の表面に貼着された
反射テープに導かれ、この反射テープからの被測定回転
体の振動によるドップラー効果を受けた反射光と、前記
ビームスプリッタを介して導かれた前記半導体レーザか
らの出射光とのヘテロダイン検波による差周波数を求
め、この差周波数に基づいて被測定回転体の振動振幅を
測定することを特徴とするものである。
めに、この発明による回転体の振動測定方法は、半導体
レーザから出射される光をビームスプリッタによって2
方向に分岐し、前記半導体レーザから出射され前記ビー
ムスプリッタを介して被測定回転体の表面に貼着された
反射テープに導かれ、この反射テープからの被測定回転
体の振動によるドップラー効果を受けた反射光と、前記
ビームスプリッタを介して導かれた前記半導体レーザか
らの出射光とのヘテロダイン検波による差周波数を求
め、この差周波数に基づいて被測定回転体の振動振幅を
測定することを特徴とするものである。
【0008】
【作用】この発明による回転体の振動測定方法において
は、半導体レーザから出射された光がビームスプリッタ
によって2方向に分岐され、前記半導体レーザから出射
され前記ビームスプリッタを介して被測定回転体の表面
に貼着された反射テープに導かれ、この反射テープから
の反射光と、前記ビームスプリッタを介して導かれた前
記半導体レーザからの出射光とのヘテロダイン検波によ
る差周波数が求められる。被測定回転体に振動が生じて
いると、被測定回転体表面に貼着された反射テープから
の反射光は、その周波数がドップラー効果によって被測
定回転体の振動振幅に比例して変化する。したがって、
前記反射テープからの反射光と前記半導体レーザからの
出射光との差周波数に基づいて被測定回転体の振動振幅
を、被測定回転体より従来に比べて離れた位置から測定
することができる。
は、半導体レーザから出射された光がビームスプリッタ
によって2方向に分岐され、前記半導体レーザから出射
され前記ビームスプリッタを介して被測定回転体の表面
に貼着された反射テープに導かれ、この反射テープから
の反射光と、前記ビームスプリッタを介して導かれた前
記半導体レーザからの出射光とのヘテロダイン検波によ
る差周波数が求められる。被測定回転体に振動が生じて
いると、被測定回転体表面に貼着された反射テープから
の反射光は、その周波数がドップラー効果によって被測
定回転体の振動振幅に比例して変化する。したがって、
前記反射テープからの反射光と前記半導体レーザからの
出射光との差周波数に基づいて被測定回転体の振動振幅
を、被測定回転体より従来に比べて離れた位置から測定
することができる。
【0009】
【実施例】以下、実施例に基づいてこの発明を説明す
る。図1はこの発明による方法を実施するための振動測
定装置の構成の一例を示す構成説明図である。
る。図1はこの発明による方法を実施するための振動測
定装置の構成の一例を示す構成説明図である。
【0010】図1において、1は半導体レーザを備えた
半導体レーザ光源、2は半導体レーザ光源1と被測定回
転体MRとの間に配置されたビームスプリッタである。ビ
ームスプリッタ2は、半導体レーザ光源1から出射され
た光を2方向に分岐して、その一方の光Lをフォトセン
サ(光検出器)3に導くとともに、他方の光を被測定回
転体MR表面に貼着された反射テープ4に導き、この反射
テープ4からの反射光Lrを受けて上記フォトセンサ(光
検出器)3に導くためのものである。なお、この実施例
では、被測定回転体MRは大型のモータの回転軸である。
半導体レーザ光源、2は半導体レーザ光源1と被測定回
転体MRとの間に配置されたビームスプリッタである。ビ
ームスプリッタ2は、半導体レーザ光源1から出射され
た光を2方向に分岐して、その一方の光Lをフォトセン
サ(光検出器)3に導くとともに、他方の光を被測定回
転体MR表面に貼着された反射テープ4に導き、この反射
テープ4からの反射光Lrを受けて上記フォトセンサ(光
検出器)3に導くためのものである。なお、この実施例
では、被測定回転体MRは大型のモータの回転軸である。
【0011】5は反射テープ4からの反射光Lrと半導体
レーザ光源1からの出射光Lとがフォトセンサ3を介し
て与えられるヘテロダイン検波装置である。このヘテロ
ダイン検波装置5は、反射テープ4からの反射光Lrと半
導体レーザ光源1からの出射光Lとを光学的にヘテロダ
イン検波し、反射テープ4からの反射光Lrと半導体レー
ザ光源1からの参照光としての出射光Lとの差周波数を
示す信号を検波出力として振動振幅指示計6に出力する
ものである。振動振幅指示計6は、ヘテロダイン検波装
置5からの検波出力における被測定回転体MRの振動振幅
を示す信号値を被測定回転体MRの振動振幅として表示す
るものである。
レーザ光源1からの出射光Lとがフォトセンサ3を介し
て与えられるヘテロダイン検波装置である。このヘテロ
ダイン検波装置5は、反射テープ4からの反射光Lrと半
導体レーザ光源1からの出射光Lとを光学的にヘテロダ
イン検波し、反射テープ4からの反射光Lrと半導体レー
ザ光源1からの参照光としての出射光Lとの差周波数を
示す信号を検波出力として振動振幅指示計6に出力する
ものである。振動振幅指示計6は、ヘテロダイン検波装
置5からの検波出力における被測定回転体MRの振動振幅
を示す信号値を被測定回転体MRの振動振幅として表示す
るものである。
【0012】次に、上記振動測定装置を用いて行うこの
発明による回転体の振動測定方法を説明する。半導体レ
ーザ1から出射された光は、ビームスプリッタ2によっ
て2方向に分岐される。そして、半導体レーザ1から出
射されビームスプリッタ2を介して被測定回転体MR表面
に貼着された反射テープ4に導かれ、この反射テープ4
からの被測定回転体MRの振動によるドップラー効果を受
けた反射光Lrと、ビームスプリッタ2を介して導かれた
半導体レーザ1からの参照光としての出射光Lとが、フ
ォトセンサ3を介してヘテロダイン検波装置5に与えら
れる。
発明による回転体の振動測定方法を説明する。半導体レ
ーザ1から出射された光は、ビームスプリッタ2によっ
て2方向に分岐される。そして、半導体レーザ1から出
射されビームスプリッタ2を介して被測定回転体MR表面
に貼着された反射テープ4に導かれ、この反射テープ4
からの被測定回転体MRの振動によるドップラー効果を受
けた反射光Lrと、ビームスプリッタ2を介して導かれた
半導体レーザ1からの参照光としての出射光Lとが、フ
ォトセンサ3を介してヘテロダイン検波装置5に与えら
れる。
【0013】反射テープ4からのドップラー効果を受け
た反射光Lrは、ヘテロダイン検波装置5おいて、半導体
レーザ光源1からの出射光Lと光学的にヘテロダイン検
波される。そして、ヘテロダイン検波装置5から反射テ
ープ4からの反射光Lrと半導体レーザ光源1からの出射
光Lとの差周波数を示す信号が検波出力として振動振幅
指示計6に出力される。この検波出力の周波数fsは、被
測定回転体MRの振動振幅Sと半導体レーザ光源1からの
出射光Lの波長λとの関数になることから、振動振幅指
示計6により、ヘテロダイン検波装置5からの検波出力
における被測定回転体MRの振動振幅Sを示す信号値が表
示されることになる。
た反射光Lrは、ヘテロダイン検波装置5おいて、半導体
レーザ光源1からの出射光Lと光学的にヘテロダイン検
波される。そして、ヘテロダイン検波装置5から反射テ
ープ4からの反射光Lrと半導体レーザ光源1からの出射
光Lとの差周波数を示す信号が検波出力として振動振幅
指示計6に出力される。この検波出力の周波数fsは、被
測定回転体MRの振動振幅Sと半導体レーザ光源1からの
出射光Lの波長λとの関数になることから、振動振幅指
示計6により、ヘテロダイン検波装置5からの検波出力
における被測定回転体MRの振動振幅Sを示す信号値が表
示されることになる。
【0014】このようにして、光のドップラー効果を利
用して被測定回転体の振動振幅を、精度良くしかも被測
定回転体より従来方法に比べて離れた位置から測定で
き、これにより、被測定回転体が回転中であっても測定
装置のセットや保守点検を測定者が被測定回転体に巻き
込まれることなく安全に行うことができる。
用して被測定回転体の振動振幅を、精度良くしかも被測
定回転体より従来方法に比べて離れた位置から測定で
き、これにより、被測定回転体が回転中であっても測定
装置のセットや保守点検を測定者が被測定回転体に巻き
込まれることなく安全に行うことができる。
【0015】
【発明の効果】以上説明したように、この発明による回
転体の振動測定方法によると、半導体レーザから出射さ
れる光をビームスプリッタによって2方向に分岐し、前
記半導体レーザから出射され前記ビームスプリッタを介
して被測定回転体の表面に貼着された反射テープに導か
れ、この反射テープからの被測定回転体の振動によるド
ップラー効果を受けた反射光と、前記ビームスプリッタ
を介して導かれた前記半導体レーザからの出射光とのヘ
テロダイン検波による差周波数を求め、この差周波数に
基づいて被測定回転体の振動振幅を測定するようにした
方法であるので、光のドップラー効果を利用して被測定
回転体の振動振幅を、精度良くしかも被測定回転体より
従来方法に比べて離れた位置から測定でき、これによ
り、被測定回転体が回転中であっても測定装置のセット
や保守点検を測定者が被測定回転体に巻き込まれること
なく安全に行うことができる。
転体の振動測定方法によると、半導体レーザから出射さ
れる光をビームスプリッタによって2方向に分岐し、前
記半導体レーザから出射され前記ビームスプリッタを介
して被測定回転体の表面に貼着された反射テープに導か
れ、この反射テープからの被測定回転体の振動によるド
ップラー効果を受けた反射光と、前記ビームスプリッタ
を介して導かれた前記半導体レーザからの出射光とのヘ
テロダイン検波による差周波数を求め、この差周波数に
基づいて被測定回転体の振動振幅を測定するようにした
方法であるので、光のドップラー効果を利用して被測定
回転体の振動振幅を、精度良くしかも被測定回転体より
従来方法に比べて離れた位置から測定でき、これによ
り、被測定回転体が回転中であっても測定装置のセット
や保守点検を測定者が被測定回転体に巻き込まれること
なく安全に行うことができる。
【図1】この発明による方法を実施するための振動測定
装置の構成の一例を示す構成説明図である。
装置の構成の一例を示す構成説明図である。
1…半導体レーザ光源 2…ビームスプリッタ 3…フ
ォトセンサ 4…反射テープ 5…ヘテロダイン検波装
置 6…振動振幅指示計 MR…被測定回転体(モータの
回転軸)
ォトセンサ 4…反射テープ 5…ヘテロダイン検波装
置 6…振動振幅指示計 MR…被測定回転体(モータの
回転軸)
Claims (1)
- 【請求項1】 半導体レーザから出射される光をビーム
スプリッタによって2方向に分岐し、前記半導体レーザ
から出射され前記ビームスプリッタを介して被測定回転
体の表面に貼着された反射テープに導かれ、この反射テ
ープからの被測定回転体の振動によるドップラー効果を
受けた反射光と、前記ビームスプリッタを介して導かれ
た前記半導体レーザからの出射光とのヘテロダイン検波
による差周波数を求め、この差周波数に基づいて被測定
回転体の振動振幅を測定することを特徴とする回転体の
振動測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1920492A JPH05215598A (ja) | 1992-02-04 | 1992-02-04 | 回転体の振動測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1920492A JPH05215598A (ja) | 1992-02-04 | 1992-02-04 | 回転体の振動測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05215598A true JPH05215598A (ja) | 1993-08-24 |
Family
ID=11992834
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1920492A Withdrawn JPH05215598A (ja) | 1992-02-04 | 1992-02-04 | 回転体の振動測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05215598A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0722073U (ja) * | 1993-09-27 | 1995-04-21 | 株式会社東芝 | 水力機械の監視装置 |
-
1992
- 1992-02-04 JP JP1920492A patent/JPH05215598A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0722073U (ja) * | 1993-09-27 | 1995-04-21 | 株式会社東芝 | 水力機械の監視装置 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19990518 |