JPH05215655A - ペレツト圧潰試験機 - Google Patents
ペレツト圧潰試験機Info
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- JPH05215655A JPH05215655A JP4054432A JP5443292A JPH05215655A JP H05215655 A JPH05215655 A JP H05215655A JP 4054432 A JP4054432 A JP 4054432A JP 5443292 A JP5443292 A JP 5443292A JP H05215655 A JPH05215655 A JP H05215655A
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- Japan
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- pellets
- hopper
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- pellet
- crushing
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/0077—Testing material properties on individual granules or tablets
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- General Physics & Mathematics (AREA)
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- Pathology (AREA)
- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 試料ペレットを所定の位置に確実に１個ずつ
供給することのできる圧潰試験機を提供する。 【構成】 複数のペレットを保持するホッパと、該ホッ
パから送り出されるペレットを１個ずつ試験位置に移送
する移送装置と、移送されたペレットを試験部へ引き渡
す引渡装置と、ペレットに荷重を負荷して圧潰する試験
部とを備え、前記ホッパは、Ｘ方向およびＹ方向に傾斜
した面をホッパの底面として有し上下に移動する底部材
と、該底部材が上昇したとき前記底面の最も低い位置か
らペレットが１個ずつ送り出される切欠き部を有するシ
ャッタとを具備することを特徴とするペレット圧潰試験
機。
供給することのできる圧潰試験機を提供する。 【構成】 複数のペレットを保持するホッパと、該ホッ
パから送り出されるペレットを１個ずつ試験位置に移送
する移送装置と、移送されたペレットを試験部へ引き渡
す引渡装置と、ペレットに荷重を負荷して圧潰する試験
部とを備え、前記ホッパは、Ｘ方向およびＹ方向に傾斜
した面をホッパの底面として有し上下に移動する底部材
と、該底部材が上昇したとき前記底面の最も低い位置か
らペレットが１個ずつ送り出される切欠き部を有するシ
ャッタとを具備することを特徴とするペレット圧潰試験
機。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、製鉄用焼成ペレットの
圧潰強度を試験する圧潰試験機に関するものである。
圧潰強度を試験する圧潰試験機に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】製鉄用の鉄鉱石ペレットの圧潰試験方法
については、ＪＩＳ Ｍ８７１８に規定されており、こ
の試験に使用する圧潰試験機も開発されている。この試
験では、ペレットを１個ずつ荷重部に供給し、該荷重部
で荷重を負荷してペレットを圧潰し、その時の最高荷重
指示値をデカニュ−トン単位で整数値で記録し、その値
を試料の圧潰強度としている。
については、ＪＩＳ Ｍ８７１８に規定されており、こ
の試験に使用する圧潰試験機も開発されている。この試
験では、ペレットを１個ずつ荷重部に供給し、該荷重部
で荷重を負荷してペレットを圧潰し、その時の最高荷重
指示値をデカニュ−トン単位で整数値で記録し、その値
を試料の圧潰強度としている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上記従来の圧潰試験機
は、容器内の試料ペレットをプッシャで荷重部に押し出
して試験を行うようになっているが、試料が真円でない
粒状であり、しかも個々のペレットの寸法のバラツキが
比較的大きいため、正確に１個ずつ圧潰負荷部に供給す
るのが難しく、高精度の試験を能率良く行うことができ
ないという問題点があった。そこで本発明は、試料ペレ
ットを所定の位置に確実に１個ずつ供給することのでき
る圧潰試験機を提供することを課題としている。
は、容器内の試料ペレットをプッシャで荷重部に押し出
して試験を行うようになっているが、試料が真円でない
粒状であり、しかも個々のペレットの寸法のバラツキが
比較的大きいため、正確に１個ずつ圧潰負荷部に供給す
るのが難しく、高精度の試験を能率良く行うことができ
ないという問題点があった。そこで本発明は、試料ペレ
ットを所定の位置に確実に１個ずつ供給することのでき
る圧潰試験機を提供することを課題としている。
【０００４】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明は、次のような構成を採用した。すなわち、
本発明にかかる圧潰試験機は、複数のペレットを保持す
るとともに該ペレットを１個ずつ送り出すホッパと、該
ホッパから送り出されるペレットを試験位置に移送する
移送装置と、移送されたペレットを試験部へ引き渡す引
渡装置と、ペレットに荷重を負荷して圧潰する試験部と
を備え、前記ホッパは、Ｘ方向およびＹ方向に傾斜した
面をホッパの底面として有し上下に移動する底部材と、
該底部材が上昇したとき前記底面の最も低い位置からペ
レットが１個ずつ送り出される切欠き部を有するシャッ
タとを具備することを特徴としている。
め、本発明は、次のような構成を採用した。すなわち、
本発明にかかる圧潰試験機は、複数のペレットを保持す
るとともに該ペレットを１個ずつ送り出すホッパと、該
ホッパから送り出されるペレットを試験位置に移送する
移送装置と、移送されたペレットを試験部へ引き渡す引
渡装置と、ペレットに荷重を負荷して圧潰する試験部と
を備え、前記ホッパは、Ｘ方向およびＹ方向に傾斜した
面をホッパの底面として有し上下に移動する底部材と、
該底部材が上昇したとき前記底面の最も低い位置からペ
レットが１個ずつ送り出される切欠き部を有するシャッ
タとを具備することを特徴としている。
【０００５】
【作用】ホッパに多数のペレットを入れた状態で底部材
を上昇させると、底部材の上面をなす傾斜底面の最も低
い位置にある最上部のペレットが、シャッタの切欠き部
から１個だけ送り出される。このため、ホッパからペレ
ットを１個ずつ試験部に供給することができるのであ
る。
を上昇させると、底部材の上面をなす傾斜底面の最も低
い位置にある最上部のペレットが、シャッタの切欠き部
から１個だけ送り出される。このため、ホッパからペレ
ットを１個ずつ試験部に供給することができるのであ
る。
【０００６】
【実施例】以下、図面に表された本発明の実施例につい
て説明する。図１以下の各図は、本発明を施した圧潰試
験機の１実施例を表すもので、この圧潰試験機１は、ホ
ッパ２、移送装置１４、試験部６０等を備えている。ホ
ッパ２は、複数のペレットを収容保持するもので、角型
の枠３内に図６に示す如くＸ方向及びＹ方向に傾斜した
面４を有する底部材５を備え、該底部材は、モ−タ７に
よって枠３内を上下に移動する。ホッパ２の前面には、
斜めに切り欠かれたシャッタ１０が設けられており、枠
３の左右両側にはペレットの上限を検出する光電式のセ
ンサ１２，１２が設けられている。ホッパの底部材５が
上昇したとき、底面４の最も低い部分がシャッタ１０の
切欠き部Ｓに臨むようになっている。
て説明する。図１以下の各図は、本発明を施した圧潰試
験機の１実施例を表すもので、この圧潰試験機１は、ホ
ッパ２、移送装置１４、試験部６０等を備えている。ホ
ッパ２は、複数のペレットを収容保持するもので、角型
の枠３内に図６に示す如くＸ方向及びＹ方向に傾斜した
面４を有する底部材５を備え、該底部材は、モ−タ７に
よって枠３内を上下に移動する。ホッパ２の前面には、
斜めに切り欠かれたシャッタ１０が設けられており、枠
３の左右両側にはペレットの上限を検出する光電式のセ
ンサ１２，１２が設けられている。ホッパの底部材５が
上昇したとき、底面４の最も低い部分がシャッタ１０の
切欠き部Ｓに臨むようになっている。
【０００７】ホッパ２の前面側の前記切欠き部Ｓに臨む
位置には、移送装置１４のシュ−タ１５が設けられてい
る。シュ−タ１５は、上面が図３における右下がりに傾
斜しており、軸１６によって上下に回動自在に枢着され
ている。シュ−タ１５の先端部下側にはカム１７によっ
て上下に移動するノックシャフト１９が設けられ、この
ノックシャフトによってシュ−タ１５が上下に振動させ
られる。シュ−タ１５の下端部には、ペレットを検出す
るセンサ１８が設けられると共に、モ−タ２１によって
矢印方向に回転する回転ドラム２０が設けられている。
回転ドラム２０の外周部にはペレットを支持するア−ム
２２の対が９０度間隔で４個所に突設されており、前記
シュ−タ１５の下端部１５ａは、このア−ム対の間隔部
に嵌り込むような細い幅に形成されている。
位置には、移送装置１４のシュ−タ１５が設けられてい
る。シュ−タ１５は、上面が図３における右下がりに傾
斜しており、軸１６によって上下に回動自在に枢着され
ている。シュ−タ１５の先端部下側にはカム１７によっ
て上下に移動するノックシャフト１９が設けられ、この
ノックシャフトによってシュ−タ１５が上下に振動させ
られる。シュ−タ１５の下端部には、ペレットを検出す
るセンサ１８が設けられると共に、モ−タ２１によって
矢印方向に回転する回転ドラム２０が設けられている。
回転ドラム２０の外周部にはペレットを支持するア−ム
２２の対が９０度間隔で４個所に突設されており、前記
シュ−タ１５の下端部１５ａは、このア−ム対の間隔部
に嵌り込むような細い幅に形成されている。
【０００８】回転ドラム２０を挟んで前記シュ−タ１５
と反対側には、受器２５が設けられている。受器２５の
底面２６は、Ｖ状に傾斜した面として形成され、その最
も低い部分には、円形の通孔２７が穿設されている。そ
して、この通孔２７の位置には、昇降シャフト３０が設
けられている。昇降シャフト３０は、リニヤモ−タ３２
によって昇降するもので、その上面は、すり鉢状の凹部
３３となっている。この凹部３３は、常時は受器２５の
最も低い位置にあるが、ペレットを引き渡すときは、図
の鎖線で示すように受器２５の上端部よりも上方の引き
渡し位置へ移動する。昇降シャフト３０の上下位置は、
センサ３５，…によって検出され、凹部３３上のペレッ
トは、ファイバセンサ３６，…によって検出される。
と反対側には、受器２５が設けられている。受器２５の
底面２６は、Ｖ状に傾斜した面として形成され、その最
も低い部分には、円形の通孔２７が穿設されている。そ
して、この通孔２７の位置には、昇降シャフト３０が設
けられている。昇降シャフト３０は、リニヤモ−タ３２
によって昇降するもので、その上面は、すり鉢状の凹部
３３となっている。この凹部３３は、常時は受器２５の
最も低い位置にあるが、ペレットを引き渡すときは、図
の鎖線で示すように受器２５の上端部よりも上方の引き
渡し位置へ移動する。昇降シャフト３０の上下位置は、
センサ３５，…によって検出され、凹部３３上のペレッ
トは、ファイバセンサ３６，…によって検出される。
【０００９】受器２５に隣接して引渡装置４０が設けら
れている。引渡装置４０は、つかみ面にＶ溝４１ａが形
成された左右一対のつかみ具４１，４１を備え、該つか
み具にはコ字状の溝４２を有するフレ−ム４３が一体に
設けられている。引渡装置４０の基枠４５にはトルクリ
ミッタ４４を介してモ−タ４６の回転軸に連結された軸
４７が設けられ、この軸に直径方向に突出する回転ア−
ム４９が取り付けられている。回転ア−ム４９の両端部
には、ロ−ラ５０，５０が設けられ、これらロ−ラがフ
レ−ムの溝４２に回転自在に嵌合している。基枠４５の
左右両側には、丸棒状のガイド５１，５１がそれぞれ設
けられ、前記フレ−ムのスラスト軸受け５２，…に嵌合
している。回転ア−ム４９が水平になる位置では、フレ
−ム４３が左右に押し広げられ、つかみ具４１，４１が
最も開いた状態となるが、その状態から軸４７を回転さ
せれば、両側のフレ−ムが接近し、左右のつかみ具４
１，４１が閉じられる。フレ−ム４３の位置すなわちつ
かみ具の開閉状態は、センサ５５，…によって検出され
る。
れている。引渡装置４０は、つかみ面にＶ溝４１ａが形
成された左右一対のつかみ具４１，４１を備え、該つか
み具にはコ字状の溝４２を有するフレ−ム４３が一体に
設けられている。引渡装置４０の基枠４５にはトルクリ
ミッタ４４を介してモ−タ４６の回転軸に連結された軸
４７が設けられ、この軸に直径方向に突出する回転ア−
ム４９が取り付けられている。回転ア−ム４９の両端部
には、ロ−ラ５０，５０が設けられ、これらロ−ラがフ
レ−ムの溝４２に回転自在に嵌合している。基枠４５の
左右両側には、丸棒状のガイド５１，５１がそれぞれ設
けられ、前記フレ−ムのスラスト軸受け５２，…に嵌合
している。回転ア−ム４９が水平になる位置では、フレ
−ム４３が左右に押し広げられ、つかみ具４１，４１が
最も開いた状態となるが、その状態から軸４７を回転さ
せれば、両側のフレ−ムが接近し、左右のつかみ具４
１，４１が閉じられる。フレ−ム４３の位置すなわちつ
かみ具の開閉状態は、センサ５５，…によって検出され
る。
【００１０】試験部６０は、材料試験機のテ−ブル６１
に設けた台６２と、クロスヘッド６３に取り付けた加圧
具６５の間でペレットに荷重を負荷するようになってお
り、荷重の大きさは、ロ−ドセル６６で検出される。前
記引渡装置４０の基枠４５は、レ−ル５６によって前後
動自在に支持され、モ−タ５７の駆動により、つかみ具
４１が前記昇降シャフト３０の位置から台６２の荷重中
心の位置の間を移動することができる。６７は計測制御
盤、６９はデ−タ処理装置である。
に設けた台６２と、クロスヘッド６３に取り付けた加圧
具６５の間でペレットに荷重を負荷するようになってお
り、荷重の大きさは、ロ−ドセル６６で検出される。前
記引渡装置４０の基枠４５は、レ−ル５６によって前後
動自在に支持され、モ−タ５７の駆動により、つかみ具
４１が前記昇降シャフト３０の位置から台６２の荷重中
心の位置の間を移動することができる。６７は計測制御
盤、６９はデ−タ処理装置である。
【００１１】次に、この圧潰試験機の動作について説明
する。ホッパ２内に多数の供試ペレット７０を入れ、運
転を開始すると、ホッパ昇降用のモ−タ７によって該ホ
ッパが上昇する。ペレットの上限がセンサ１２によって
検出されると、ホッパは停止する。この時、底面の最も
低い位置Ａからシャッタの切り欠き部Ｓを乗り越えてペ
レット１個がシュ−タ１５上に落下し、該シュ−タ上を
滑ってＢ点まで達する。この時、ペレットの滑りを良く
するため、ノックシャフト１９がカム１７の働きで上下
に移動し、シュ−タ１５を振動させる。Ｂ点にペレット
が存在することはセンサ１８によって検出される。この
位置にペレットが無い場合は、ホッパからペレットが落
ちてくるまでホッパの上下動を繰り返す。なお、何らか
の理由で一度に２個のペレットがＢ点に供給され、その
うちの１個が取り出された場合等、Ｂ点にペレットが残
っている時はホッパの上下動は行わず、そこにペレット
が無い時のみ上下動を行う。
する。ホッパ２内に多数の供試ペレット７０を入れ、運
転を開始すると、ホッパ昇降用のモ−タ７によって該ホ
ッパが上昇する。ペレットの上限がセンサ１２によって
検出されると、ホッパは停止する。この時、底面の最も
低い位置Ａからシャッタの切り欠き部Ｓを乗り越えてペ
レット１個がシュ−タ１５上に落下し、該シュ−タ上を
滑ってＢ点まで達する。この時、ペレットの滑りを良く
するため、ノックシャフト１９がカム１７の働きで上下
に移動し、シュ−タ１５を振動させる。Ｂ点にペレット
が存在することはセンサ１８によって検出される。この
位置にペレットが無い場合は、ホッパからペレットが落
ちてくるまでホッパの上下動を繰り返す。なお、何らか
の理由で一度に２個のペレットがＢ点に供給され、その
うちの１個が取り出された場合等、Ｂ点にペレットが残
っている時はホッパの上下動は行わず、そこにペレット
が無い時のみ上下動を行う。
【００１２】Ｂ点のペレット７０は、回転ドラム２０が
９０度回転する間にア−ム２２によって持ち上げられ、
受器２５に供給される。このペレットは、受器の傾斜面
を滑り落ちて、Ｖ状の底面の最も低い位置Ｃ点に待機し
ている昇降シャフト３０の凹部３３上に載せられる。こ
れをセンサ３６が検出すると、昇降シャフト３０が上昇
し、上限位置Ｄ点で停止する。この時、センサ３６ａに
よって上昇位置におけるペレットの有無が検出される。
昇降シャフト３０の凹部３３は、２個以上のペレットが
あっても必ず１個のみを載せることができるようになっ
ているので、ペレットが確実に１個だけ取り出される。
昇降シャフトの上昇中にペレットが落下した時は、セン
サ３６ａによってペレットが検出されるまで繰り返し同
様な操作を繰り返す。
９０度回転する間にア−ム２２によって持ち上げられ、
受器２５に供給される。このペレットは、受器の傾斜面
を滑り落ちて、Ｖ状の底面の最も低い位置Ｃ点に待機し
ている昇降シャフト３０の凹部３３上に載せられる。こ
れをセンサ３６が検出すると、昇降シャフト３０が上昇
し、上限位置Ｄ点で停止する。この時、センサ３６ａに
よって上昇位置におけるペレットの有無が検出される。
昇降シャフト３０の凹部３３は、２個以上のペレットが
あっても必ず１個のみを載せることができるようになっ
ているので、ペレットが確実に１個だけ取り出される。
昇降シャフトの上昇中にペレットが落下した時は、セン
サ３６ａによってペレットが検出されるまで繰り返し同
様な操作を繰り返す。
【００１３】昇降シャフト３０によって１個だけ持ち上
げられたペレット７０は、引渡装置４０のつかみ具４１
によって把持され、試験部６０の台６２上に載せられ
る。この動作は、図１０に示す順序で行われる。すなわ
ち、つかみ具４１が閉じてその間にペレット７０を挟む
と、所定時間経過後につかみ具が試験部の負荷中心へ移
動する。そこでつかみ具４１が一旦開いてペレットを台
６２上に載せた後、再度閉じて所定時間保持し、然る後
再度開いて初期位置まで後退する。ペレットは、真円で
ない粒状であるから、つかみ具による拘束から解放され
た時、転がって負荷中心から位置ずれすることがある
が、このように、一旦つかみ具を開いて解放した後、再
度つかみ具を閉じる動作を行わせることにより、位置ず
れした試料が負荷中心へ寄せられるのである。
げられたペレット７０は、引渡装置４０のつかみ具４１
によって把持され、試験部６０の台６２上に載せられ
る。この動作は、図１０に示す順序で行われる。すなわ
ち、つかみ具４１が閉じてその間にペレット７０を挟む
と、所定時間経過後につかみ具が試験部の負荷中心へ移
動する。そこでつかみ具４１が一旦開いてペレットを台
６２上に載せた後、再度閉じて所定時間保持し、然る後
再度開いて初期位置まで後退する。ペレットは、真円で
ない粒状であるから、つかみ具による拘束から解放され
た時、転がって負荷中心から位置ずれすることがある
が、このように、一旦つかみ具を開いて解放した後、再
度つかみ具を閉じる動作を行わせることにより、位置ず
れした試料が負荷中心へ寄せられるのである。
【００１４】試験部の台６２上に載せられたペレット７
０は、クロスヘッド６３に取り付けた加圧具６５によっ
て加圧され破壊される。破壊された屑は清掃装置によっ
て屑容器に送り込まれる。試験時の荷重の大きさは、ロ
−ドセル６６で検出され、デ−タ処理装置６９で処理さ
れる。なお、上記ホッパ２、移送装置１４、引渡装置４
０、試験部６０等の動作は、計測制御盤６７によって自
動的に制御され、試験が繰り返される。
０は、クロスヘッド６３に取り付けた加圧具６５によっ
て加圧され破壊される。破壊された屑は清掃装置によっ
て屑容器に送り込まれる。試験時の荷重の大きさは、ロ
−ドセル６６で検出され、デ−タ処理装置６９で処理さ
れる。なお、上記ホッパ２、移送装置１４、引渡装置４
０、試験部６０等の動作は、計測制御盤６７によって自
動的に制御され、試験が繰り返される。
【００１５】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
にかかる圧潰試験機は、供試ペレットを確実に１個ずつ
取り出して試験を行うことができるようになり、高精度
の圧潰試験を能率よく行うことが可能となった。この圧
潰試験機のホッパ、移送装置、引渡装置等を、ペレット
以外の粒状物の処理に利用することができることは言う
までもない。
にかかる圧潰試験機は、供試ペレットを確実に１個ずつ
取り出して試験を行うことができるようになり、高精度
の圧潰試験を能率よく行うことが可能となった。この圧
潰試験機のホッパ、移送装置、引渡装置等を、ペレット
以外の粒状物の処理に利用することができることは言う
までもない。
【図１】本発明の実施例の正面図である。
【図２】その平面図である。
【図３】要部の正面図である。
【図４】その平面図である。
【図５】その側面図である。
【図６】ホッパの説明図である。
【図７】昇降シャフトの正面図である。
【図８】昇降シャフトの凹部の平面図である。
【図９】引渡装置の正面図である。
【図１０】その平面図である。
【図１１】その側面図であり、中心線Ｘ−Ｘよりも左側
は破面で表している。
は破面で表している。
【図１２】つかみ具の動作を表すフロ−チャ−トであ
る。
る。
１ 圧潰試験機 ２ ホッパ １４ 移送装置 １５ シュ−タ １９ ノックシャフト ２０ 回転ドラム ２５ 受器 ３０ 昇降シャフト ４０ 引渡装置 ４１ つかみ具 ６０ 試験部 ７０ ペレット
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 上田 昭夫 京都府京都市北区紫野西御所田町１番地 株式会社島津製作所紫野工場内
Claims (1)
- 【請求項１】 複数のペレットを保持するとともに該ペ
レットを１個ずつ送り出すホッパと、該ホッパから送り
出されるペレットを試験位置に移送する移送装置と、移
送されたペレットを試験部へ引き渡す引渡装置と、ペレ
ットに荷重を負荷して圧潰する試験部とを備え、前記ホ
ッパは、Ｘ方向およびＹ方向に傾斜した面をホッパの底
面として有し上下に移動する底部材と、該底部材が上昇
したとき前記底面の最も低い位置からペレットが１個ず
つ送り出される切欠き部を有するシャッタとを具備する
ことを特徴とするペレット圧潰試験機。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4054432A JPH05215655A (ja) | 1992-02-04 | 1992-02-04 | ペレツト圧潰試験機 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4054432A JPH05215655A (ja) | 1992-02-04 | 1992-02-04 | ペレツト圧潰試験機 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05215655A true JPH05215655A (ja) | 1993-08-24 |
Family
ID=12970559
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4054432A Withdrawn JPH05215655A (ja) | 1992-02-04 | 1992-02-04 | ペレツト圧潰試験機 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05215655A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006189444A (ja) * | 2005-01-04 | 2006-07-20 | Luossavaara-Kiirunavaara Ab | 鉄含有還元物質の試料の強度分析用装置および方法 |
| JP2006201161A (ja) * | 2005-01-04 | 2006-08-03 | Luossavaara-Kiirunavaara Ab | 鉄含有還元物質の試験片分析方法 |
| CN108693039A (zh) * | 2018-07-24 | 2018-10-23 | 鞍山星源达科技有限公司 | 一种颗粒状物料抗压强度测定装置及方法 |
| CN112816367A (zh) * | 2021-03-19 | 2021-05-18 | 江西省水利科学院 | 一种用于石料软弱颗粒含量的试验装置 |
-
1992
- 1992-02-04 JP JP4054432A patent/JPH05215655A/ja not_active Withdrawn
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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