JPH05215805A - 絶縁障害検出方法および該方法を実施するスパークテスタ - Google Patents
絶縁障害検出方法および該方法を実施するスパークテスタInfo
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- JPH05215805A JPH05215805A JP4287362A JP28736292A JPH05215805A JP H05215805 A JPH05215805 A JP H05215805A JP 4287362 A JP4287362 A JP 4287362A JP 28736292 A JP28736292 A JP 28736292A JP H05215805 A JPH05215805 A JP H05215805A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
- G01R31/58—Testing of lines, cables or conductors
- G01R31/59—Testing of lines, cables or conductors while the cable continuously passes the testing apparatus, e.g. during manufacture
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 被検査体へ電気的または機械的な過酷な要求
をすることなく、信頼性のある絶縁障害検査を行なう。 【構成】 カーボンファイバブラシから成る測定電極７
に、例えば８００Ｖ〜５０００Ｖの検査電圧が印加され
る。この検査電圧は、調整回路により所望の値へ調整さ
れる。絶縁破壊パルスはフィルタを介して出力側に到達
する。この場合、検査電圧の応動レベルは相応に調整さ
れる。
をすることなく、信頼性のある絶縁障害検査を行なう。 【構成】 カーボンファイバブラシから成る測定電極７
に、例えば８００Ｖ〜５０００Ｖの検査電圧が印加され
る。この検査電圧は、調整回路により所望の値へ調整さ
れる。絶縁破壊パルスはフィルタを介して出力側に到達
する。この場合、検査電圧の応動レベルは相応に調整さ
れる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、絶縁体表面に接触する
電極を用いて電圧を印加し、絶縁破壊により生じるパル
スを計数する形式の絶縁障害検出方法に関する。
電極を用いて電圧を印加し、絶縁破壊により生じるパル
スを計数する形式の絶縁障害検出方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】間を通されるワイヤまたはケーブルにお
ける絶縁障害を検出するために、いわゆるスパークテス
タが用いられる。このスパークテスタでは、比較的高い
電圧下におかれている電極が間を通されるワイヤまたは
ケーブルにゆるく接しており、他方、このワイヤないし
ケーブルの導体はアースされている。電極としては通
常、緩められたチェーンか、あるいは小さなワイヤブラ
シが用いられている。両方の形式の電極はともに、完全
には満足し得るものではない。チェーンの場合、電圧状
態の不均等かつ不確実な分布が生じるか、ないしは絶縁
体表面にコロナが生じる。金属ブラシの場合、磨耗によ
って著しく尖り縁の鋭くなった金属部分が生じ、絶縁体
表面においてこれが引っ掛かり、それによって短絡が生
じる恐れがある。このことはとりわけ、発泡絶縁体を検
査する場合にあてはまる。
ける絶縁障害を検出するために、いわゆるスパークテス
タが用いられる。このスパークテスタでは、比較的高い
電圧下におかれている電極が間を通されるワイヤまたは
ケーブルにゆるく接しており、他方、このワイヤないし
ケーブルの導体はアースされている。電極としては通
常、緩められたチェーンか、あるいは小さなワイヤブラ
シが用いられている。両方の形式の電極はともに、完全
には満足し得るものではない。チェーンの場合、電圧状
態の不均等かつ不確実な分布が生じるか、ないしは絶縁
体表面にコロナが生じる。金属ブラシの場合、磨耗によ
って著しく尖り縁の鋭くなった金属部分が生じ、絶縁体
表面においてこれが引っ掛かり、それによって短絡が生
じる恐れがある。このことはとりわけ、発泡絶縁体を検
査する場合にあてはまる。
【０００３】公知のスパークテスタの場合、次のような
リレーしか設けられていないことが多い。すなわちこの
リレーとは、絶縁障害時そしてそれにより引き起こされ
る、電極とワイヤまたはケーブルの導体との間の絶縁破
壊の際、電流の上昇に応動して計数機構を作動させるも
のである。このような装置構成も不利であることが明ら
かである。何故ならば十分な感度を達成するためには比
較的高い検査電圧で作動させる必要があるからである。
このような必要性が存在するのは、場合によっては著し
い電圧変動を生じる可能性があるからでもある。交流電
圧による検査の場合、検査電極と被検査体との間の容量
が変化することに起因して、著しい電圧変動が生じる。
そして電圧が過度に強く低下することであれ、また、共
振により電圧の不所望な高まりが生じることであれ、著
しい電圧変動が生じる。直流電圧で検査する場合、絶縁
体表面における電荷移送により負荷が変動して不所望な
電圧変動が生じる恐れがある。
リレーしか設けられていないことが多い。すなわちこの
リレーとは、絶縁障害時そしてそれにより引き起こされ
る、電極とワイヤまたはケーブルの導体との間の絶縁破
壊の際、電流の上昇に応動して計数機構を作動させるも
のである。このような装置構成も不利であることが明ら
かである。何故ならば十分な感度を達成するためには比
較的高い検査電圧で作動させる必要があるからである。
このような必要性が存在するのは、場合によっては著し
い電圧変動を生じる可能性があるからでもある。交流電
圧による検査の場合、検査電極と被検査体との間の容量
が変化することに起因して、著しい電圧変動が生じる。
そして電圧が過度に強く低下することであれ、また、共
振により電圧の不所望な高まりが生じることであれ、著
しい電圧変動が生じる。直流電圧で検査する場合、絶縁
体表面における電荷移送により負荷が変動して不所望な
電圧変動が生じる恐れがある。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】したがって本発明の課
題は、上記の欠点を回避する方法ならびにスパークテス
タを提供することにある。
題は、上記の欠点を回避する方法ならびにスパークテス
タを提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】この課題は、カーボンフ
ァイバから成るブラシを用いて、例えば８００Ｖ〜５０
００Ｖの比較的低い電圧を印加するようにしたことによ
り解決される。
ァイバから成るブラシを用いて、例えば８００Ｖ〜５０
００Ｖの比較的低い電圧を印加するようにしたことによ
り解決される。
【０００６】
【発明の構成および利点】カーボンファイバから成るブ
ラシは、著しく細くしなやかであって例えば０．００７
ｍｍの直径の非常に多くの数の繊維を有し得るので、こ
の種のブラシを所定数用いることにより絶縁体表面を極
めて均等に覆うことができる。著しく細い非常に多くの
数の繊維により、絶縁体表面において極めて均等なコロ
ナ形成ないし電圧分布が生じ、したがってこのことによ
り比較的低い電圧で動作させることができるのである。
ラシは、著しく細くしなやかであって例えば０．００７
ｍｍの直径の非常に多くの数の繊維を有し得るので、こ
の種のブラシを所定数用いることにより絶縁体表面を極
めて均等に覆うことができる。著しく細い非常に多くの
数の繊維により、絶縁体表面において極めて均等なコロ
ナ形成ないし電圧分布が生じ、したがってこのことによ
り比較的低い電圧で動作させることができるのである。
【０００７】有利には、検査電圧は所定の目標値へ調整
される。この場合、カーボンファイバブラシを電極とし
て測定個所で用いることで以下のような等しい一定条件
を達成し得る限り、所定の組み合わせ効果が得られる。
上記の条件とは、それ自体としては電圧調整を容易化す
るものであり、他方では電圧調整により測定個所におけ
る条件を一定に維持できるものである。
される。この場合、カーボンファイバブラシを電極とし
て測定個所で用いることで以下のような等しい一定条件
を達成し得る限り、所定の組み合わせ効果が得られる。
上記の条件とは、それ自体としては電圧調整を容易化す
るものであり、他方では電圧調整により測定個所におけ
る条件を一定に維持できるものである。
【０００８】交流電圧が印加されると、有利には周波数
も調整することができる。この場合に所定の前提条件の
もとで達成可能な利点については、以下で詳細に説明す
る。さらに、比較的低い検査電圧であるにもかかわらず
測定の信頼度を高めるための別の解決手段は、フィルタ
を用いることによって測定信号から障害信号を除去する
ことである。これにより測定の信頼性を高めることがで
きる。
も調整することができる。この場合に所定の前提条件の
もとで達成可能な利点については、以下で詳細に説明す
る。さらに、比較的低い検査電圧であるにもかかわらず
測定の信頼度を高めるための別の解決手段は、フィルタ
を用いることによって測定信号から障害信号を除去する
ことである。これにより測定の信頼性を高めることがで
きる。
【０００９】さらに有利には、絶縁破壊時に生じるパル
スを測定電圧に依存する応動レベルで検出することがで
きる。測定電圧は測定対象物に依存して、例えば絶縁部
の厚さに依存して、種々異なる高さに選定される。そし
てこのため、比較的高い測定電圧のときには比較的高い
応動レベルを選定することが示され、このことにより障
害信号によっても応動せず、したがって測定結果の誤る
恐れがない。
スを測定電圧に依存する応動レベルで検出することがで
きる。測定電圧は測定対象物に依存して、例えば絶縁部
の厚さに依存して、種々異なる高さに選定される。そし
てこのため、比較的高い測定電圧のときには比較的高い
応動レベルを選定することが示され、このことにより障
害信号によっても応動せず、したがって測定結果の誤る
恐れがない。
【００１０】次に、図面に基づき本発明を詳細に説明す
る。
る。
【００１１】
【実施例の説明】図１には２つのケーシング部１および
２が示されている。グリップ３を用いて上部のケーシン
グ部２を持ち上げて、ヒンジ４を中心に上方へ旋回させ
ることができる。両方のケーシング部１と２には半球状
の電極支持体５ないし６が取り付けられており、さらに
それらの電極支持体には、半径方向に内側へ向けられた
カーボンファイバブラシ７が取り付けられている。
２が示されている。グリップ３を用いて上部のケーシン
グ部２を持ち上げて、ヒンジ４を中心に上方へ旋回させ
ることができる。両方のケーシング部１と２には半球状
の電極支持体５ないし６が取り付けられており、さらに
それらの電極支持体には、半径方向に内側へ向けられた
カーボンファイバブラシ７が取り付けられている。
【００１２】図示のようにケーシング部１および２が閉
鎖された状態では、個々のブラシ７のカーボンファイバ
はそれらの内側の細い端部で、実質的に均等な互いにく
っつき合ったフェルト状の繊維を形成しており、それら
の部分は、図１には示されていない、リング半部５およ
び６の共通の軸を貫通する測定対象物−例えばワイヤま
たはケーブル−の絶縁体表面に対して均等に当接してい
る。電極支持体５および６は、つまりは電極７には、図
示されていない絶縁された導線を介して電圧を加えるこ
とができ、それらの電極と、貫通案内される測定対象物
の導体との間の絶縁破壊が、後述のようにして検出され
計数される。新たな測定対象物を挿入するために、ある
いは保守作業のために、ケーシング部１と２とを既述の
ように開けることができる。
鎖された状態では、個々のブラシ７のカーボンファイバ
はそれらの内側の細い端部で、実質的に均等な互いにく
っつき合ったフェルト状の繊維を形成しており、それら
の部分は、図１には示されていない、リング半部５およ
び６の共通の軸を貫通する測定対象物−例えばワイヤま
たはケーブル−の絶縁体表面に対して均等に当接してい
る。電極支持体５および６は、つまりは電極７には、図
示されていない絶縁された導線を介して電圧を加えるこ
とができ、それらの電極と、貫通案内される測定対象物
の導体との間の絶縁破壊が、後述のようにして検出され
計数される。新たな測定対象物を挿入するために、ある
いは保守作業のために、ケーシング部１と２とを既述の
ように開けることができる。
【００１３】図２には、直流電圧で動作するスパークテ
スタの回路が示されている。電極は概略的に示されてお
り参照番号７で表わされている。この電極には、直流電
圧発生器８から例えば８００Ｖ〜５０００Ｖの検査電圧
が供給される。この高電圧発生器は、高電圧トランス１
０を備えた電力増幅器９を有している。電力増幅器２は
発振器１１により制御される。さらに電力増幅器９とト
ランス１０との間に調整素子１２が設けられており、こ
の素子は電圧調整器１３の出力側と接続されている。さ
らにこの電圧調整器の入力側は分圧器１４と接続されて
おり、この分圧器は測定電極７と接続されている。電圧
調整器１３は目標値入力側を有しており、この入力側は
目標値発生器１５と接続されている。スイッチ１７によ
って、表示器１６を発生器１５における目標値と、ある
いは分圧器１４における実際値と接続することができ
る。測定電極７はコンデンサ１８を介して帯域通過フィ
ルタ１９ならびに応動レベル調整器２０と接続されてい
る。以下で詳細に説明する回路１９および２０の出力側
には、測定電極７と測定対象物の導体との間の絶縁破壊
が生じると測定パルスが発生する。それらの出力パルス
は計数され、それによりアラームをトリガすることがで
きる。
スタの回路が示されている。電極は概略的に示されてお
り参照番号７で表わされている。この電極には、直流電
圧発生器８から例えば８００Ｖ〜５０００Ｖの検査電圧
が供給される。この高電圧発生器は、高電圧トランス１
０を備えた電力増幅器９を有している。電力増幅器２は
発振器１１により制御される。さらに電力増幅器９とト
ランス１０との間に調整素子１２が設けられており、こ
の素子は電圧調整器１３の出力側と接続されている。さ
らにこの電圧調整器の入力側は分圧器１４と接続されて
おり、この分圧器は測定電極７と接続されている。電圧
調整器１３は目標値入力側を有しており、この入力側は
目標値発生器１５と接続されている。スイッチ１７によ
って、表示器１６を発生器１５における目標値と、ある
いは分圧器１４における実際値と接続することができ
る。測定電極７はコンデンサ１８を介して帯域通過フィ
ルタ１９ならびに応動レベル調整器２０と接続されてい
る。以下で詳細に説明する回路１９および２０の出力側
には、測定電極７と測定対象物の導体との間の絶縁破壊
が生じると測定パルスが発生する。それらの出力パルス
は計数され、それによりアラームをトリガすることがで
きる。
【００１４】図２による回路の動作は図面から十分明ら
かである。目標値発生器１５の位置に応じて、目標値へ
の自動的な電圧調整が行われる。この目標値は、監視用
に表示可能である。それとともに、種々異なる形式の測
定対象物に対して上昇する電圧を目標値発生器１５にお
いて設定調整し、表示部１６を用いて監視することも可
能であって、それにもとづいて、選定された電圧への自
動調整が行われる。スイッチ１７を切り換えることによ
り、設定調整された電圧が実際に測定電極７に生じたか
否かをそのつど検査することができる。回路部１９およ
び２０の機能はあとで説明する。
かである。目標値発生器１５の位置に応じて、目標値へ
の自動的な電圧調整が行われる。この目標値は、監視用
に表示可能である。それとともに、種々異なる形式の測
定対象物に対して上昇する電圧を目標値発生器１５にお
いて設定調整し、表示部１６を用いて監視することも可
能であって、それにもとづいて、選定された電圧への自
動調整が行われる。スイッチ１７を切り換えることによ
り、設定調整された電圧が実際に測定電極７に生じたか
否かをそのつど検査することができる。回路部１９およ
び２０の機能はあとで説明する。
【００１５】図３の場合、対応する回路素子は図２にお
ける回路素子と同じ参照番号で示されている。測定電極
７は、高電圧トランス２２の高電圧巻線２１と直接接続
されている。トランス２２の１次巻線２３および２４
は、測定トランス２７の１次巻線２５および２６と直列
接続されており、さらにこの測定トランスの２次巻線２
８は、回路１９および２０と接続されている。高電圧ト
ランス２２は測定巻線２９を有しており、この測定巻線
は電圧調整器１３および位相検出器３０と接続されてい
る。電圧調整器１３は、調整される電力増幅器９へ作用
する。位相検出器３０は、コンデンサ３１を補うことに
よって共振回路を形成する高電圧トランスの１次側回路
の位相を、発振器１１の位相と比較し、位相位置に依存
してその周波数を共振周波数に調整する。この回路の場
合、１次巻線への測定インピーダンスの反作用により、
発振器周端数と共振回路周波数との間における位相のず
れが生じる。周波数調整は、高電圧トランス２２と同調
コンデンサ３１により構成された振動回路における共振
条件が持続的に満たされるようにして行われる。共振原
理によって、所定の負荷領域において、必要とされる高
電圧を最小の電力消費ならびに最小の電力損失で実現す
ることができる。
ける回路素子と同じ参照番号で示されている。測定電極
７は、高電圧トランス２２の高電圧巻線２１と直接接続
されている。トランス２２の１次巻線２３および２４
は、測定トランス２７の１次巻線２５および２６と直列
接続されており、さらにこの測定トランスの２次巻線２
８は、回路１９および２０と接続されている。高電圧ト
ランス２２は測定巻線２９を有しており、この測定巻線
は電圧調整器１３および位相検出器３０と接続されてい
る。電圧調整器１３は、調整される電力増幅器９へ作用
する。位相検出器３０は、コンデンサ３１を補うことに
よって共振回路を形成する高電圧トランスの１次側回路
の位相を、発振器１１の位相と比較し、位相位置に依存
してその周波数を共振周波数に調整する。この回路の場
合、１次巻線への測定インピーダンスの反作用により、
発振器周端数と共振回路周波数との間における位相のず
れが生じる。周波数調整は、高電圧トランス２２と同調
コンデンサ３１により構成された振動回路における共振
条件が持続的に満たされるようにして行われる。共振原
理によって、所定の負荷領域において、必要とされる高
電圧を最小の電力消費ならびに最小の電力損失で実現す
ることができる。
【００１６】図４には、交流電圧を用いた図３による回
路１９および２０の実施例が示されている。５０Ｈｚ〜
３０００Ｈｚの周波数による通常動作の場合、この回路
の入力側には２次巻線２８から実質的に一定の交流電圧
が到来する。帯域通過フィルタ１９は、５０Ｈｚよりも
低い周波数の信号ならびに１ＭＨｚよりも高い周波数の
信号を抑圧する。したがって低い周波数範囲での容量性
の電流変動ならびにコロナ効果に起因する高い周波数範
囲での白色ノイズが、抑圧される。上述の通過範囲内の
当該の信号だけが、つまり絶縁破壊パルスの信号だけが
通される。この回路の下側の分岐路では、動作周波数範
囲に相応する通過範囲を有する帯域通過フィルタ１９′
とダイオード３３を介して、入力信号電圧つまり電極７
における検査電圧にほぼ比例する正の電圧が点３２にお
いて形成される。さらに図４には、調整電圧の特性曲線
が示されている。したがって比較回路２０により、カウ
ンタ３４へ、レベルが点３２におけるバイアス電圧を上
回る位置するパルスだけが伝送される。これにより、検
査電圧が上昇すると調整素子３３′の関数に応じて上昇
する応動レベルの調整が行われる。
路１９および２０の実施例が示されている。５０Ｈｚ〜
３０００Ｈｚの周波数による通常動作の場合、この回路
の入力側には２次巻線２８から実質的に一定の交流電圧
が到来する。帯域通過フィルタ１９は、５０Ｈｚよりも
低い周波数の信号ならびに１ＭＨｚよりも高い周波数の
信号を抑圧する。したがって低い周波数範囲での容量性
の電流変動ならびにコロナ効果に起因する高い周波数範
囲での白色ノイズが、抑圧される。上述の通過範囲内の
当該の信号だけが、つまり絶縁破壊パルスの信号だけが
通される。この回路の下側の分岐路では、動作周波数範
囲に相応する通過範囲を有する帯域通過フィルタ１９′
とダイオード３３を介して、入力信号電圧つまり電極７
における検査電圧にほぼ比例する正の電圧が点３２にお
いて形成される。さらに図４には、調整電圧の特性曲線
が示されている。したがって比較回路２０により、カウ
ンタ３４へ、レベルが点３２におけるバイアス電圧を上
回る位置するパルスだけが伝送される。これにより、検
査電圧が上昇すると調整素子３３′の関数に応じて上昇
する応動レベルの調整が行われる。
【００１７】図５には図１と同じような装置が図示され
ており、その相違点は、ケーシング部３５と３６が傾斜
面３７を中心に旋回可能なことである。その他の部分
は、図１と同じ参照番号で示されている。この場合に重
要なことは、貫通するケーブルまたはワイヤによって導
かれた液体−例えば冷却水−を、下方の接合部を通して
流出させることができるように、電極５と６との間の接
合部が垂直に位置していることである。
ており、その相違点は、ケーシング部３５と３６が傾斜
面３７を中心に旋回可能なことである。その他の部分
は、図１と同じ参照番号で示されている。この場合に重
要なことは、貫通するケーブルまたはワイヤによって導
かれた液体−例えば冷却水−を、下方の接合部を通して
流出させることができるように、電極５と６との間の接
合部が垂直に位置していることである。
【００１８】図６および図７には、帯状ケーブル３８の
ための実施形態が図示されている。棒状の電極支持体３
９に、長く延在するカーボンファイバブラシ４０が取り
付けられており、このブラシのファイバは、ケーブル３
８の平坦な短辺に均等に接している。図７に示されてい
るように、検査電極を有するケーシングは高電圧トラン
スと直接まとめられて組み立てられている。
ための実施形態が図示されている。棒状の電極支持体３
９に、長く延在するカーボンファイバブラシ４０が取り
付けられており、このブラシのファイバは、ケーブル３
８の平坦な短辺に均等に接している。図７に示されてい
るように、検査電極を有するケーシングは高電圧トラン
スと直接まとめられて組み立てられている。
【００１９】図２によるフィルタ１９と応動レベルを制
御する回路２０は、図４による回路と同じように構成さ
れており相応に動作する。電極７における電圧が絶縁破
壊により消失した場合、コンデンサ１８を介してパルス
が伝送される。このパルスの負の前縁は、ダイオード３
３の相応の回路および相応に点３２におけるバイアス電
圧により検出可能である。しかし図４による回路によっ
て、このパルスの正の後縁も検出することができる。コ
ンデンサ１８を介して伝送されるノイズ−これは検査電
圧の上昇につれて増大する−は整流され、図４のように
して応動閾値を調整するバイアス電圧として用いられ
る。その際このバイアス電圧は、既に述べたように正ま
たは負とすることができる。
御する回路２０は、図４による回路と同じように構成さ
れており相応に動作する。電極７における電圧が絶縁破
壊により消失した場合、コンデンサ１８を介してパルス
が伝送される。このパルスの負の前縁は、ダイオード３
３の相応の回路および相応に点３２におけるバイアス電
圧により検出可能である。しかし図４による回路によっ
て、このパルスの正の後縁も検出することができる。コ
ンデンサ１８を介して伝送されるノイズ−これは検査電
圧の上昇につれて増大する−は整流され、図４のように
して応動閾値を調整するバイアス電圧として用いられ
る。その際このバイアス電圧は、既に述べたように正ま
たは負とすることができる。
【００２０】多くの場合、電極から導線への絶縁破壊が
生じる絶縁障害と、電極と導線との間の短絡が生じる比
較的大きなむき出し部分とを区別することが望まれてい
る。この目的で、８００Ｖよりも大きい検査電圧で絶縁
障害時の絶縁破壊を検出し、さらにコロナの形成を検出
するために、上述の装置構成部分のほかにさらに別の測
定個所を設けることができる。この測定個所では８００
Ｖよりも小さい低い電圧ではコロナを形成することな
く、比較的大きなむき出し個所が検出される。このよう
な実施形態は、図６に一点鎖線で示されている（図７の
破線ではない）。これによれば、カーボンファイバ４
０′を有する一対の電極支持体３９′が電極として設け
られており、これらはリレー４１と接続されている。さ
らにこれらの電極は、リレー４１を介して電圧源４２と
接続されている。むき出し個所が電極４０′の領域内に
達すると、この個所において直接的な導電接続が生じ、
電流がリレー４１を介して流れ、さらにこのリレーは線
路４３を介して出力信号を例えばカウンタへ送出する。
このカウンタはむき出し個所の個数を計数して表示す
る。このように用いた場合にもカーボンファイバブラシ
は、検査すべき物体の表面を実質的にすきまなく覆い、
これにより小さなむき出し個所も確実に検出する、とい
う利点を有する。この場合、ブラシの構成および配置
は、例えば図１のように対象物体に適合化されている。
生じる絶縁障害と、電極と導線との間の短絡が生じる比
較的大きなむき出し部分とを区別することが望まれてい
る。この目的で、８００Ｖよりも大きい検査電圧で絶縁
障害時の絶縁破壊を検出し、さらにコロナの形成を検出
するために、上述の装置構成部分のほかにさらに別の測
定個所を設けることができる。この測定個所では８００
Ｖよりも小さい低い電圧ではコロナを形成することな
く、比較的大きなむき出し個所が検出される。このよう
な実施形態は、図６に一点鎖線で示されている（図７の
破線ではない）。これによれば、カーボンファイバ４
０′を有する一対の電極支持体３９′が電極として設け
られており、これらはリレー４１と接続されている。さ
らにこれらの電極は、リレー４１を介して電圧源４２と
接続されている。むき出し個所が電極４０′の領域内に
達すると、この個所において直接的な導電接続が生じ、
電流がリレー４１を介して流れ、さらにこのリレーは線
路４３を介して出力信号を例えばカウンタへ送出する。
このカウンタはむき出し個所の個数を計数して表示す
る。このように用いた場合にもカーボンファイバブラシ
は、検査すべき物体の表面を実質的にすきまなく覆い、
これにより小さなむき出し個所も確実に検出する、とい
う利点を有する。この場合、ブラシの構成および配置
は、例えば図１のように対象物体に適合化されている。
【００２１】
【発明の効果】本発明により、被検査体へ電気的または
機械的な過酷な要求をすることなく、低い検査電圧で信
頼性のある絶縁障害検査を行なうことができる。
機械的な過酷な要求をすることなく、低い検査電圧で信
頼性のある絶縁障害検査を行なうことができる。
【図１】本発明によるスパークテスタにおける電極の配
置構成図である。
置構成図である。
【図２】直流電圧で動作するスパークテスタの回路図で
ある。
ある。
【図３】交流電圧で動作するスパークテスタの回路図で
ある。
ある。
【図４】フィルタを応動レベル調整部と組み合わせた回
路実施例を示す図である。
路実施例を示す図である。
【図５】電極配置構成の別の実施形態を示す図である。
【図６】平坦な検査対象物のための電極配置構成と他の
変形実施例を示す図である。
変形実施例を示す図である。
【図７】平坦な検査対象物のための電極配置構成と他の
変形実施例を示す図である。
変形実施例を示す図である。
１，２ ケーシング部 ３ グリップ ４ ヒンジ ５，６ 電極支持体 ７ 測定電極 ８ 直流電圧発生器 ９ 電力増幅器 １０ 高電圧トランス １１ 発振器 １２ 調整素子 １３ 電圧調整器 １４ 分圧器 １５ 目標値発生器 １６ 表示部 １７ スイッチ １８ コンデンサ １９ 帯域通過フィルタ ２０ 応動レベル調整器 ２１ 高電圧巻線 ２２ 高電圧トランス ２３，２４ 高電圧トランスの１次巻線 ２５，２６ 測定トランスの１次巻線 ２７ 測定トランス ２８ 測定トランスの２次巻線 ２９ 測定巻線 ３０ 位相比較器 ３１ コンデンサ ３３ ダイオード ３３′ 調整素子 ３４ カウンタ ３５，３６ ケーシング部 ３７ 傾斜面 ３８ ケーブル ３９，３９′ 電極支持体 ４０，４０′ カーボングラスファイバ ４１ リレー ４２ 電圧源 ４３ 線路
Claims (14)
- 【請求項１】 絶縁体表面に接触する電極を用いて電圧
を印加し、絶縁破壊に起因するパルスを計数する形式の
絶縁障害検出方法において、 カーボンファイバから成るブラシを用いて比較的低い電
圧を印加するようにしたことを特徴とする絶縁障害検出
方法。 - 【請求項２】 前記の電圧を調整するようにした請求項
１記載の方法。 - 【請求項３】 交流電圧を印加し、高電圧トランス（２
２〜２４）が共振回路（２３，２４，３１）の一部分を
形成するようにして電力損失を最小に低減可能にした、
請求項１または２記載の方法。 - 【請求項４】 高電圧トランス（２２〜２４）の１次側
への測定物体インピーダンスの反作用により生じる、発
振器（１１）と共振回路（２４，２３，３１）の間の位
相のずれを測定することにより、共振条件の連続的な調
整を行なうようにした、請求項１から３までのいずれか
１項記載の方法。 - 【請求項５】 フィルタを用いて、パルスを伴う測定信
号から障害信号を除去するようにした、請求項１から４
までのいずれか１項記載の方法。 - 【請求項６】 測定電圧に依存する応動レベルでパルス
を検出するようにした、請求項１から５までのいずれか
１項記載の方法。 - 【請求項７】 絶縁体のないむき出し個所を検出するた
めにカーボンファイバから成る別のブラシを用いて、例
えば８００Ｖよりも小さい、比較的低い電圧を別の個所
で印加するようにした、請求項１から６までのいずれか
１項記載の方法。 - 【請求項８】 絶縁障害を検出するスパークテスタにお
いて、 カーボンファイバを備えた検査電極（７）と、カーボン
ファイバ端部におけるコロナ形成に十分な電圧を生じさ
せる検査電圧発生器（９，１１，２２）とが設けられて
いることを特徴とするスパークテスタ。 - 【請求項９】 カーボンファイバブラシ（７）が、分割
可能な、例えば旋回可能に互いに連結された電極支持体
（５，６）に取り付けられている、請求項８記載のスパ
ークテスタ。 - 【請求項１０】 検査電圧用の電圧調整器（９，１３；
１２，１３）が設けられている、請求項８または９記載
のスパークテスタ。 - 【請求項１１】 電力損失を最小化するために、交流検
査電圧のための共振周波数調整部（３０）が設けられて
いる、請求項８から１０までのいずれか１項記載のスパ
ークテスタ。 - 【請求項１２】 測定信号のための帯域通過フィルタ
（１９）が設けられている、請求項８から１１までのい
ずれか１項記載のスパークテスタ。 - 【請求項１３】 検査電圧に依存して調整可能な応動レ
ベルを有する絶縁破壊パルス検出器（２０）が設けられ
ている、請求項８から１２までのいずれか１項記載のス
パークテスタ。 - 【請求項１４】 付加的な検査電極(４０′)が設けられ
ており、該検査電極（４０′）は評価回路(４１)例えば
リレーを介して、検査電極のカーボンファイバ端部にお
けるコロナ形成には十分でない電圧を有する検査電圧源
(４２)と接続されている、請求項８から１３までのいず
れか１項記載のスパークテスタ。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CH03154/91-1 | 1991-10-29 | ||
| CH3154/91A CH683380A5 (de) | 1991-10-29 | 1991-10-29 | Verfahren zum Erfassen von Isolationsfehlern und Sparktester zur Durchführung dieses Verfahrens. |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05215805A true JPH05215805A (ja) | 1993-08-27 |
Family
ID=4249785
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4287362A Pending JPH05215805A (ja) | 1991-10-29 | 1992-10-26 | 絶縁障害検出方法および該方法を実施するスパークテスタ |
Country Status (8)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5302904A (ja) |
| EP (1) | EP0539900B1 (ja) |
| JP (1) | JPH05215805A (ja) |
| AU (1) | AU658928B2 (ja) |
| CA (1) | CA2081221C (ja) |
| CH (1) | CH683380A5 (ja) |
| DE (1) | DE59209452D1 (ja) |
| ES (1) | ES2120978T3 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011215145A (ja) * | 2010-04-01 | 2011-10-27 | Sikora Ag | 放電試験器を用いた欠陥シミュレーション方法および放電試験器 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| IT1275698B1 (it) * | 1994-12-27 | 1997-10-17 | Angelo Canali | Apparecchiatura per l'emissione di un flusso di radiazioni elettroniche e di radiazioni elettromagnetiche ad ampio spettro |
| US5525915A (en) * | 1995-01-27 | 1996-06-11 | Hi-Test Detection Instruments Ltd. | Electrical conductivity tester for ropes |
| US5680053A (en) * | 1995-12-08 | 1997-10-21 | Medicor Corporation | Method for testing insulated electrosurgical instruments |
| US6020747A (en) * | 1998-01-26 | 2000-02-01 | Bahns; John T. | Electrical contact probe |
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| US7092848B2 (en) * | 2003-12-22 | 2006-08-15 | Caterpillar Inc. | Control system health test system and method |
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| US7220917B2 (en) | 2004-12-17 | 2007-05-22 | General Electric Company | Electrical wire and method of making an electrical wire |
| US7217885B2 (en) * | 2004-12-17 | 2007-05-15 | General Electric Company | Covering for conductors |
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| DE102009044245A1 (de) | 2009-10-14 | 2011-05-05 | Contitech Schlauch Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur Erfassung von Isolationsfehlern eines Kabels |
| CN103197219B (zh) * | 2013-04-01 | 2015-11-18 | 东莞市和而泰电子科技有限公司 | 一种线缆正弦波高频火花测试电路和测试机 |
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| DE102018130830B3 (de) | 2018-12-04 | 2020-01-30 | Bayerische Motoren Werke Aktiengesellschaft | Prüfvorrichtung zum Erfassen eines Isolationswiderstands einer Hochvoltleitung sowie zugehöriges Prüfverfahren |
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|---|---|---|---|---|
| DE153740C (ja) * | ||||
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| US4387336A (en) * | 1980-02-12 | 1983-06-07 | Southwire Company | Method and apparatus for cable conductor shield fault detection |
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1991
- 1991-10-29 CH CH3154/91A patent/CH683380A5/de not_active IP Right Cessation
-
1992
- 1992-09-29 AU AU26052/92A patent/AU658928B2/en not_active Ceased
- 1992-09-30 US US07/953,717 patent/US5302904A/en not_active Expired - Lifetime
- 1992-10-23 CA CA002081221A patent/CA2081221C/en not_active Expired - Fee Related
- 1992-10-26 JP JP4287362A patent/JPH05215805A/ja active Pending
- 1992-10-26 DE DE59209452T patent/DE59209452D1/de not_active Expired - Fee Related
- 1992-10-26 ES ES92118268T patent/ES2120978T3/es not_active Expired - Lifetime
- 1992-10-26 EP EP92118268A patent/EP0539900B1/de not_active Expired - Lifetime
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| CH683380A5 (de) | 1994-02-28 |
| CA2081221A1 (en) | 1993-04-30 |
| EP0539900B1 (de) | 1998-08-12 |
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| AU2605292A (en) | 1993-05-06 |
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| AU658928B2 (en) | 1995-05-04 |
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| EP0539900A1 (de) | 1993-05-05 |
| US5302904A (en) | 1994-04-12 |
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