JPH0521670A - ヒートシンク、ヒートシンクの製造方法および製造装置 - Google Patents
ヒートシンク、ヒートシンクの製造方法および製造装置Info
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- JPH0521670A JPH0521670A JP3172731A JP17273191A JPH0521670A JP H0521670 A JPH0521670 A JP H0521670A JP 3172731 A JP3172731 A JP 3172731A JP 17273191 A JP17273191 A JP 17273191A JP H0521670 A JPH0521670 A JP H0521670A
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- Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 半導体チップモジュールに装着することによ
り、内部に気密封止された半導体チップからの熱を安定
して放散し得るヒートシンクを提供する。 【構成】 キャップで気密封止された半導体チップモジ
ュールに装着されるヒートシンクにおいて、キャップに
形成された穴から挿入され、半導体チップモジュールに
気密封止された半導体チップに当接し半導体チップから
熱を吸収する吸熱手段3aと、キャップの外部に露出し
吸熱手段3aが半導体チップから吸収した熱を放熱する
放熱手段3cと、吸熱手段3aと放熱手段3cとの間に
配置されキャップの上面に固着される接着面aを備え、
少なくとも接着面aに接着材sが被着していることを特
徴とする。
り、内部に気密封止された半導体チップからの熱を安定
して放散し得るヒートシンクを提供する。 【構成】 キャップで気密封止された半導体チップモジ
ュールに装着されるヒートシンクにおいて、キャップに
形成された穴から挿入され、半導体チップモジュールに
気密封止された半導体チップに当接し半導体チップから
熱を吸収する吸熱手段3aと、キャップの外部に露出し
吸熱手段3aが半導体チップから吸収した熱を放熱する
放熱手段3cと、吸熱手段3aと放熱手段3cとの間に
配置されキャップの上面に固着される接着面aを備え、
少なくとも接着面aに接着材sが被着していることを特
徴とする。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はコンピュータや通信な
ど、信号処理の高速化が要求される分野に適用できる半
導体チップモジュール(マルチチップモジュール、シン
グルチップモジュール)に簡単に適用できるヒートシン
ク、ヒートシンクの製造方法および製造装置に関する。
ど、信号処理の高速化が要求される分野に適用できる半
導体チップモジュール(マルチチップモジュール、シン
グルチップモジュール)に簡単に適用できるヒートシン
ク、ヒートシンクの製造方法および製造装置に関する。
【0002】
【従来の技術】電子機器の機能の大規模・高速化が求め
られるにつれて、論理LSIのゲート当りの遅延時間は
数百psと高速化してきた。それに対して、プリント基板
上に多数のDIPやプラグインパッケージを搭載する従
来の実装形態では高速化したLSIの性能を十分に発揮
させることが困難になってきた。その為に、1枚のセラ
ミック基板上に多くのチップを搭載し、高速性能を有す
る高密度実装したマルチチップモジュール方式が開発さ
れ実用されている(LSIハンドブック、第1版、pp.4
15-416、電子通信学会、1984年)。
られるにつれて、論理LSIのゲート当りの遅延時間は
数百psと高速化してきた。それに対して、プリント基板
上に多数のDIPやプラグインパッケージを搭載する従
来の実装形態では高速化したLSIの性能を十分に発揮
させることが困難になってきた。その為に、1枚のセラ
ミック基板上に多くのチップを搭載し、高速性能を有す
る高密度実装したマルチチップモジュール方式が開発さ
れ実用されている(LSIハンドブック、第1版、pp.4
15-416、電子通信学会、1984年)。
【0003】従来技術としては、ピストンをバネにより
半導体チップに接触させて冷却板に放熱させる構造が知
られている(“Materials/Processing Approaches to P
haseStabilization of Thermally Conductive Pastes
” pp.713-717 、IEEE TRANSACTIONS OF COMPONENTS,H
YBRIDS. AND MANUCFACTURING TECHNOLOGY,VOL.13,NO.4,
DECEMBER1990)。
半導体チップに接触させて冷却板に放熱させる構造が知
られている(“Materials/Processing Approaches to P
haseStabilization of Thermally Conductive Pastes
” pp.713-717 、IEEE TRANSACTIONS OF COMPONENTS,H
YBRIDS. AND MANUCFACTURING TECHNOLOGY,VOL.13,NO.4,
DECEMBER1990)。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかし、ピストンを用
いた半導体チップモジュールは、部品点数が多く、コス
トが極めて高くなるという欠点があった。
いた半導体チップモジュールは、部品点数が多く、コス
トが極めて高くなるという欠点があった。
【0005】そこで本発明は、半導体チップモジュール
に装着することにより、内部に気密封止された半導体チ
ップからの熱を安定して放散し得るヒートシンク、その
ヒートシンクを簡単に製造できる製造方法および製造装
置を提供することを目的とする。
に装着することにより、内部に気密封止された半導体チ
ップからの熱を安定して放散し得るヒートシンク、その
ヒートシンクを簡単に製造できる製造方法および製造装
置を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記課題を達成するため
に、本発明に係るヒートシンクは、キャップで気密封止
された半導体チップモジュールに装着されるヒートシン
クにおいて、キャップに形成された穴から挿入され、半
導体チップモジュールに気密封止された半導体チップに
当接し半導体チップから熱を吸収する吸熱手段(例え
ば、円柱部材の一端部)と、キャップの外部に露出し吸
熱手段が半導体チップから吸収した熱を放熱する放熱手
段(例えば、円柱部材の他端部に配列された複数の円
盤)と、吸熱手段と放熱手段との間に配置されキャップ
の上面に固着される接着面を備え、少なくとも接着面に
接着材が被着していることを特徴とする。
に、本発明に係るヒートシンクは、キャップで気密封止
された半導体チップモジュールに装着されるヒートシン
クにおいて、キャップに形成された穴から挿入され、半
導体チップモジュールに気密封止された半導体チップに
当接し半導体チップから熱を吸収する吸熱手段(例え
ば、円柱部材の一端部)と、キャップの外部に露出し吸
熱手段が半導体チップから吸収した熱を放熱する放熱手
段(例えば、円柱部材の他端部に配列された複数の円
盤)と、吸熱手段と放熱手段との間に配置されキャップ
の上面に固着される接着面を備え、少なくとも接着面に
接着材が被着していることを特徴とする。
【0007】また、本発明に係るヒートシンクの製造方
法は、少なくとも保持手段の接着面に接着材が被着して
いないヒートシンク、円盤の外径より小さく円柱部材の
外径より大きい幅の溝を有する固定治具、さらに、接着
材が液状で収納された浴槽をそれぞれ準備する工程と、
固定治具の溝に円柱部材を係合させ固定治具の上面で円
盤の底部を保持する工程と、少なくとも接着面を浴槽に
浸す工程とを含んで構成される。
法は、少なくとも保持手段の接着面に接着材が被着して
いないヒートシンク、円盤の外径より小さく円柱部材の
外径より大きい幅の溝を有する固定治具、さらに、接着
材が液状で収納された浴槽をそれぞれ準備する工程と、
固定治具の溝に円柱部材を係合させ固定治具の上面で円
盤の底部を保持する工程と、少なくとも接着面を浴槽に
浸す工程とを含んで構成される。
【0008】この場合、ヒートシンクを導電性材料で形
成し、同一電源に接続された第1電極(陰極)と第2電
極(陽極)を準備し、第1電極をヒートシンクの一部に
接続すると共に第2電極を浴槽に浸し、ヒートシンクと
第2電極との間に電圧を印加してもよい。
成し、同一電源に接続された第1電極(陰極)と第2電
極(陽極)を準備し、第1電極をヒートシンクの一部に
接続すると共に第2電極を浴槽に浸し、ヒートシンクと
第2電極との間に電圧を印加してもよい。
【0009】さらに、本発明に係るヒートシンクの製造
装置は、円盤の外径より小さく円柱部材の外径より大き
い幅の溝を有する固定治具と、固定治具を真空雰囲気中
で保持する真空容器と、真空容器内に固定され電子ビー
ムをるつぼに収納された接着材に照射して加熱する電子
銃と、固定治具を真空容器内で自転させる第1の回転手
段と、第1の回転手段自体を回転させることにより固定
治具を電子銃に対して公転させる第2の回転手段とを備
えて構成される。
装置は、円盤の外径より小さく円柱部材の外径より大き
い幅の溝を有する固定治具と、固定治具を真空雰囲気中
で保持する真空容器と、真空容器内に固定され電子ビー
ムをるつぼに収納された接着材に照射して加熱する電子
銃と、固定治具を真空容器内で自転させる第1の回転手
段と、第1の回転手段自体を回転させることにより固定
治具を電子銃に対して公転させる第2の回転手段とを備
えて構成される。
【0010】この装置を用いる場合、固定治具の溝に円
柱部材を係合させ、固定治具の上面で円盤の底部を保持
する工程と、固定治具を自転および公転させる工程と、
真空雰囲気中で電子ビームを接着材に照射して加熱する
ことにより接着材を蒸発させ、少なくとも接触面に接着
材を蒸着する工程を経て上述したヒートシンクを製造で
きる。
柱部材を係合させ、固定治具の上面で円盤の底部を保持
する工程と、固定治具を自転および公転させる工程と、
真空雰囲気中で電子ビームを接着材に照射して加熱する
ことにより接着材を蒸発させ、少なくとも接触面に接着
材を蒸着する工程を経て上述したヒートシンクを製造で
きる。
【0011】
【作用】本発明に係るヒートシンクによると、ヒートシ
ンクの接着面に接着剤が固着されているので、ヒートシ
ンクの吸熱手段を内部に挿入した状態で、半導体チップ
モジュールの気密封止が可能である。
ンクの接着面に接着剤が固着されているので、ヒートシ
ンクの吸熱手段を内部に挿入した状態で、半導体チップ
モジュールの気密封止が可能である。
【0012】また、本発明に係るヒートシンクの製造方
法によると、ヒートシンクの放熱手段を固定治具で保持
することにより、浴槽に接着面が浸るように位置決めさ
れる。 さらに、本発明に係るヒートシンクの製造装置
によると、電子銃の電子ビーム加熱により蒸発する接着
材に対して固定治具の位置が相対的に変化するので、蒸
発した接着材はほぼ均等に接着面に付着する。
法によると、ヒートシンクの放熱手段を固定治具で保持
することにより、浴槽に接着面が浸るように位置決めさ
れる。 さらに、本発明に係るヒートシンクの製造装置
によると、電子銃の電子ビーム加熱により蒸発する接着
材に対して固定治具の位置が相対的に変化するので、蒸
発した接着材はほぼ均等に接着面に付着する。
【0013】
【実施例】以下、本発明の一実施例について、添付図面
を参照して説明する。なお、説明において同一要素には
同一符号を用い、重複する説明は省略する。図1は本発
明の一実施例に係るヒートシンクを示す縦断面図、図2
は本実施例に係るヒートシンクをマルチチップモジュー
ルに装着した状態を示す縦断面図である。
を参照して説明する。なお、説明において同一要素には
同一符号を用い、重複する説明は省略する。図1は本発
明の一実施例に係るヒートシンクを示す縦断面図、図2
は本実施例に係るヒートシンクをマルチチップモジュー
ルに装着した状態を示す縦断面図である。
【0014】まず、本実施例に係るヒートシンクが装着
されたマルチチップモジュールの構造を説明する。この
マルチチップモジュールは、下部基板1、上部基板2、
ヒートシンク3、キャップ4を含んで構成されている。
下部基板1はアルミナ材で形成され、その側面からは上
部基板2により構成された電気回路と接続した複数のリ
ードピン7が延びている。また、上部基板2は低誘電率
絶縁材料で形成され、例えば、熱抵抗3℃/W、サーマ
ルバイヤを併用した3インチ角のポリイミド多層配線構
造を使用することができる(“銅ポリイミド多層配線基
板”、HYBRIDS、Vol.7, No.1, pp.10-12 参照)。さら
に、キャップ4は例えば厚さ1mmのコバール(kovar
)で蓋状に形成されており、比較的に発熱量の大きい
半導体チップ6の搭載位置と対応した位置に、例えば内
径6〜8mm程度の穴4aが形設されている。この穴4
aにヒートシンク3の一端部が挿入される。
されたマルチチップモジュールの構造を説明する。この
マルチチップモジュールは、下部基板1、上部基板2、
ヒートシンク3、キャップ4を含んで構成されている。
下部基板1はアルミナ材で形成され、その側面からは上
部基板2により構成された電気回路と接続した複数のリ
ードピン7が延びている。また、上部基板2は低誘電率
絶縁材料で形成され、例えば、熱抵抗3℃/W、サーマ
ルバイヤを併用した3インチ角のポリイミド多層配線構
造を使用することができる(“銅ポリイミド多層配線基
板”、HYBRIDS、Vol.7, No.1, pp.10-12 参照)。さら
に、キャップ4は例えば厚さ1mmのコバール(kovar
)で蓋状に形成されており、比較的に発熱量の大きい
半導体チップ6の搭載位置と対応した位置に、例えば内
径6〜8mm程度の穴4aが形設されている。この穴4
aにヒートシンク3の一端部が挿入される。
【0015】ヒートシンク3は熱伝導率の高い材料(A
l、CuW、AlN、CBN、ダイヤモンドなど)で形
成され、吸熱部3a、接着部3b、放熱部3cを備えて
構成されている。吸熱部3aは上述した穴4aに挿入し
やすい形状になっており、例えば棒状になっている。ま
た、放熱部3cはキャップ4の外部に晒されるので、自
然冷却されやすいように表面積が大きくなる構造になっ
ており、例えば円盤状になっている。さらに、吸熱部3
aと放熱部3cの間には円盤状に形成された接着部3b
が配置され、その底部はキャップ4の上面に固着される
接着面aになっている。この接着面aと吸熱部3aに
は、例えば100μmのハンダで形成された接着材sが
表面に被着されている。このように構成されているの
で、ヒートシンク3をキャップの穴4aから簡単に挿入
することができ、半導体チップ6の上面に確実に接触さ
せることができる。
l、CuW、AlN、CBN、ダイヤモンドなど)で形
成され、吸熱部3a、接着部3b、放熱部3cを備えて
構成されている。吸熱部3aは上述した穴4aに挿入し
やすい形状になっており、例えば棒状になっている。ま
た、放熱部3cはキャップ4の外部に晒されるので、自
然冷却されやすいように表面積が大きくなる構造になっ
ており、例えば円盤状になっている。さらに、吸熱部3
aと放熱部3cの間には円盤状に形成された接着部3b
が配置され、その底部はキャップ4の上面に固着される
接着面aになっている。この接着面aと吸熱部3aに
は、例えば100μmのハンダで形成された接着材sが
表面に被着されている。このように構成されているの
で、ヒートシンク3をキャップの穴4aから簡単に挿入
することができ、半導体チップ6の上面に確実に接触さ
せることができる。
【0016】ヒートシンク3の接着面aに固着されたハ
ンダ層sは、吸熱部3aが内部に挿入された後の局所加
熱あるいは全体加熱により溶融し、吸熱部3aを半導体
チップ6に接触させた状態で、ヒートシンク3をキャッ
プ4に固定すると共に内部を気密封止する。したがっ
て、気密状態を維持したまま、キャップ4の外部に半導
体チップ6からの熱を効率良く逃がすことができる。ま
た、ヒートシンクの吸熱部3aと半導体チップ6の接触
状態は面接触になっているので熱抵抗が低減し、熱伝導
効率が良くなる。
ンダ層sは、吸熱部3aが内部に挿入された後の局所加
熱あるいは全体加熱により溶融し、吸熱部3aを半導体
チップ6に接触させた状態で、ヒートシンク3をキャッ
プ4に固定すると共に内部を気密封止する。したがっ
て、気密状態を維持したまま、キャップ4の外部に半導
体チップ6からの熱を効率良く逃がすことができる。ま
た、ヒートシンクの吸熱部3aと半導体チップ6の接触
状態は面接触になっているので熱抵抗が低減し、熱伝導
効率が良くなる。
【0017】この場合、ヒートシンク3の先端部のハン
ダ厚は初期厚に依存せず、最終的には10〜20μmに
なることが確認されているが、実際のハンダ厚はハンダ
材の表面張力、設計上の公差などを考慮して決定する。
ダ厚は初期厚に依存せず、最終的には10〜20μmに
なることが確認されているが、実際のハンダ厚はハンダ
材の表面張力、設計上の公差などを考慮して決定する。
【0018】次に、本発明に係るヒートシンクを製造す
る方法の一実施例を図3及び図4に基づき説明する。図
3(a)は第1実施例に係るヒートシンクの製造方法を
示し、ヒートシンクの接着面にハンダ材を被着する装置
を示す平面図、同図(b)は同図(a)のA−A´線で
切断した縦断面図を示す。この装置は、固定治具8、デ
ィップ槽(浴槽)9を備え、ディップ槽9にはSnPb
などのハンダ材10が満たされている。ディップ槽9は
ハンダ材10の融点以上に加熱されているので、ハンダ
材10は溶融状態になっている。固定治具8は平行に細
長い溝8aが形成されており、この溝8aに接着面にハ
ンダ層sが形成されていないヒートシンク3が保持され
る。具体的には、ヒートシンク3は放熱部3cを構成す
る最上部の円盤と2番目の円盤の間の円柱部cを固定治
具の溝8aに係合させることにより位置決めされ、この
固定治具8をディップ槽9に結合すれば接触面aはハン
ダ材10に浸るようになっている。
る方法の一実施例を図3及び図4に基づき説明する。図
3(a)は第1実施例に係るヒートシンクの製造方法を
示し、ヒートシンクの接着面にハンダ材を被着する装置
を示す平面図、同図(b)は同図(a)のA−A´線で
切断した縦断面図を示す。この装置は、固定治具8、デ
ィップ槽(浴槽)9を備え、ディップ槽9にはSnPb
などのハンダ材10が満たされている。ディップ槽9は
ハンダ材10の融点以上に加熱されているので、ハンダ
材10は溶融状態になっている。固定治具8は平行に細
長い溝8aが形成されており、この溝8aに接着面にハ
ンダ層sが形成されていないヒートシンク3が保持され
る。具体的には、ヒートシンク3は放熱部3cを構成す
る最上部の円盤と2番目の円盤の間の円柱部cを固定治
具の溝8aに係合させることにより位置決めされ、この
固定治具8をディップ槽9に結合すれば接触面aはハン
ダ材10に浸るようになっている。
【0019】この装置を用いて、固定治具の溝8aに円
柱部cを係合させ、固定治具8の上面で最上部の放熱部
3cの底面を保持する工程、接着面a及び吸熱部3aを
ディップ槽9に浸せきする工程を経て、ヒートシンク3
を引き上げて冷却することにより実施例に係るヒートシ
ンクが製造される。
柱部cを係合させ、固定治具8の上面で最上部の放熱部
3cの底面を保持する工程、接着面a及び吸熱部3aを
ディップ槽9に浸せきする工程を経て、ヒートシンク3
を引き上げて冷却することにより実施例に係るヒートシ
ンクが製造される。
【0020】図4(a)は第2実施例に係るヒートシン
クの製造方法を示し、ヒートシンクの接着面にメッキ材
を被着する装置を示す平面図、同図(b)は同図(a)
のB−B´線で切断した縦断面図を示す。この装置は、
固定治具8、ディップ槽9、同一電源11に接続された
陽極(第2電極)12b及び陰極(第1電極)12aを
備える。ディップ槽9にはメッキ液13が満たされてい
る。陽極12bは例えば高純度Snで形成され、メッキ
液13に浸されており、陰極12aは固定治具8に保持
された複数のヒートシンクの放熱部3cに一括して接続
されている。メッキ液としては酸性溶液、アルカリ性溶
液を使用することができる。なお、固定治具8及びディ
ップ槽9の基本的構造は上述した通りなので、説明は省
略する。
クの製造方法を示し、ヒートシンクの接着面にメッキ材
を被着する装置を示す平面図、同図(b)は同図(a)
のB−B´線で切断した縦断面図を示す。この装置は、
固定治具8、ディップ槽9、同一電源11に接続された
陽極(第2電極)12b及び陰極(第1電極)12aを
備える。ディップ槽9にはメッキ液13が満たされてい
る。陽極12bは例えば高純度Snで形成され、メッキ
液13に浸されており、陰極12aは固定治具8に保持
された複数のヒートシンクの放熱部3cに一括して接続
されている。メッキ液としては酸性溶液、アルカリ性溶
液を使用することができる。なお、固定治具8及びディ
ップ槽9の基本的構造は上述した通りなので、説明は省
略する。
【0021】この装置を用いて、固定治具の溝8aに円
柱部cを係合させ、固定治具8の上面で最上部の放熱部
3cの底面を保持する工程、少なくともヒートシンク3
の接着面aをディップ槽9に浸す工程、陰極12aを放
熱部3cの一部に接触させると共に陽極12bをディッ
プ槽9に浸し、ヒートシンク3と陽極12bとの間に電
圧を印加する工程を経て、接着面a及び放熱部3cの表
面にSn膜が形成される。このように、この製造方法に
よると多数のヒートシンクが一度に形成されるので、生
産性が向上する。この場合、ヒートシンク3とキャップ
4及び半導体チップ6との接着を容易にするために、S
nが固着した接着面a及び放熱部3cと接触する半導体
チップ6の上面及びキャップ4の上面にはAuがメタラ
イズされていることが望ましい。
柱部cを係合させ、固定治具8の上面で最上部の放熱部
3cの底面を保持する工程、少なくともヒートシンク3
の接着面aをディップ槽9に浸す工程、陰極12aを放
熱部3cの一部に接触させると共に陽極12bをディッ
プ槽9に浸し、ヒートシンク3と陽極12bとの間に電
圧を印加する工程を経て、接着面a及び放熱部3cの表
面にSn膜が形成される。このように、この製造方法に
よると多数のヒートシンクが一度に形成されるので、生
産性が向上する。この場合、ヒートシンク3とキャップ
4及び半導体チップ6との接着を容易にするために、S
nが固着した接着面a及び放熱部3cと接触する半導体
チップ6の上面及びキャップ4の上面にはAuがメタラ
イズされていることが望ましい。
【0022】次に、本発明に係るヒートシンクの製造装
置の一実施例を説明する。図5は2種類のモータを用い
て、ヒートシンクを固定する固定治具の自転、公転を実
現した装置の構造を示す縦断面図である。この装置は、
内部雰囲気を真空状態に維持できる真空室14、この真
空室14の内部でモータ15の駆動により回転自在に支
持された回転部材(第2の回転手段)16、この回転部
材16の回転軸16aから離れた位置で回転自在に支持
された固定治具8、真空室14の底部に固定され、るつ
ぼ17に収納されたSn(接着材)に電子ビームを照射
可能な電子銃18、上述した固定治具8を回転駆動する
モータ(第1の回転手段)19を備えて構成されてい
る。固定治具8は、例えば円板状に形成されており、ヒ
ートシンクの放熱部3cを構成する円盤の外径より小さ
く円柱部cの外径より大きい幅の溝(図示せず)が形設
されている。この溝にヒートシンクの放熱部3cを係合
させることにより、ヒートシンク3は固定治具8の回転
中も安定して保持される。また、ヒートシンク3は回転
部材15及び固定治具8の回転により、電子銃16の電
子ビームにより蒸発する接着材に対して自転及び公転運
動をする。その為、蒸発したSnガスはヒートシンクの
接着面aに平均的に付着し、ほぼ均等なSn層の真空蒸
着が可能になる。
置の一実施例を説明する。図5は2種類のモータを用い
て、ヒートシンクを固定する固定治具の自転、公転を実
現した装置の構造を示す縦断面図である。この装置は、
内部雰囲気を真空状態に維持できる真空室14、この真
空室14の内部でモータ15の駆動により回転自在に支
持された回転部材(第2の回転手段)16、この回転部
材16の回転軸16aから離れた位置で回転自在に支持
された固定治具8、真空室14の底部に固定され、るつ
ぼ17に収納されたSn(接着材)に電子ビームを照射
可能な電子銃18、上述した固定治具8を回転駆動する
モータ(第1の回転手段)19を備えて構成されてい
る。固定治具8は、例えば円板状に形成されており、ヒ
ートシンクの放熱部3cを構成する円盤の外径より小さ
く円柱部cの外径より大きい幅の溝(図示せず)が形設
されている。この溝にヒートシンクの放熱部3cを係合
させることにより、ヒートシンク3は固定治具8の回転
中も安定して保持される。また、ヒートシンク3は回転
部材15及び固定治具8の回転により、電子銃16の電
子ビームにより蒸発する接着材に対して自転及び公転運
動をする。その為、蒸発したSnガスはヒートシンクの
接着面aに平均的に付着し、ほぼ均等なSn層の真空蒸
着が可能になる。
【0023】この装置を用いて、固定治具8の溝に円柱
部cを係合させ、固定治具8の上面でヒートシンクの放
熱部3cを構成する円盤の底部を保持する工程、モータ
15、18を回転させることにより固定治具8を自転お
よび公転させる工程、真空雰囲気中において電子ビーム
をSnに照射、加熱することによりSnを蒸発させ、少
なくともヒートシンクの接触面aにSnの蒸着膜を形成
する工程を経て、接着面a及び放熱部3cの表面にSn
膜が形成される。
部cを係合させ、固定治具8の上面でヒートシンクの放
熱部3cを構成する円盤の底部を保持する工程、モータ
15、18を回転させることにより固定治具8を自転お
よび公転させる工程、真空雰囲気中において電子ビーム
をSnに照射、加熱することによりSnを蒸発させ、少
なくともヒートシンクの接触面aにSnの蒸着膜を形成
する工程を経て、接着面a及び放熱部3cの表面にSn
膜が形成される。
【0024】なお、この装置を用いて固定治具を回転す
ると、ヒートシンクの接着部3bの側面にも接着材sが
被着するが、ヒートシンクの吸熱部3aの長手方向に沿
って蒸着することにより、接着面aだけに接着材sを被
着してもよい。 また、本実施例では2種類のモータを
使用してヒートシンク3の自転、公転運動を実現してい
るが、例えば遊星歯車機構を利用してもよい。
ると、ヒートシンクの接着部3bの側面にも接着材sが
被着するが、ヒートシンクの吸熱部3aの長手方向に沿
って蒸着することにより、接着面aだけに接着材sを被
着してもよい。 また、本実施例では2種類のモータを
使用してヒートシンク3の自転、公転運動を実現してい
るが、例えば遊星歯車機構を利用してもよい。
【0025】なお、本発明は上記実施例に限定されるも
のではない。本実施例ではヒートシンクの放熱部として
円盤、吸熱部として円柱を基本的に利用した断面円形の
構造を示したが、これらの断面形状は円形に限定される
ものではない。
のではない。本実施例ではヒートシンクの放熱部として
円盤、吸熱部として円柱を基本的に利用した断面円形の
構造を示したが、これらの断面形状は円形に限定される
ものではない。
【0026】
【発明の効果】本発明に係るヒートシンクは、マルチチ
ップモジュール及びシングルチップモジュールにも適用
でき、安定した熱の放散が可能になる。
ップモジュール及びシングルチップモジュールにも適用
でき、安定した熱の放散が可能になる。
【0027】また、本発明に係るヒートシンクの製造方
法、製造装置を使用すれば、簡単に熱放散性に優れたヒ
ートシンクを製造できる。
法、製造装置を使用すれば、簡単に熱放散性に優れたヒ
ートシンクを製造できる。
【図1】本発明の一実施例に係るヒートシンクの構造を
示す図である。
示す図である。
【図2】本発明の一実施例に係るヒートシンクが装着さ
れたマルチチップモジュールをヒートシンクの挿入方向
に沿って切断した縦断面図である。
れたマルチチップモジュールをヒートシンクの挿入方向
に沿って切断した縦断面図である。
【図3】本発明の第1実施例に係るヒートシンクを製造
する方法を説明するための説明図である。
する方法を説明するための説明図である。
【図4】本発明の第2実施例に係るヒートシンクを製造
する方法を説明するための説明図である。
する方法を説明するための説明図である。
【図5】本発明の一実施例に係るヒートシンクの製造装
置を示す縦断面図である。
置を示す縦断面図である。
1…下部基板、2…上部基板、3…ヒートシンク、4…
キャップ、5、6…半導体チップ、7…リードピン、8
…固定治具、9…ディップ槽、10…ハンダ材、11…
電源、12…電極、13…メッキ液、14…真空室、1
5、19…モータ、16…保持部材、17…るつぼ、1
8…電子銃、a…接着面、c…円柱部、s…ハンダ。
キャップ、5、6…半導体チップ、7…リードピン、8
…固定治具、9…ディップ槽、10…ハンダ材、11…
電源、12…電極、13…メッキ液、14…真空室、1
5、19…モータ、16…保持部材、17…るつぼ、1
8…電子銃、a…接着面、c…円柱部、s…ハンダ。
Claims (6)
- 【請求項1】 キャップで気密封止された半導体チップ
モジュールに装着されるヒートシンクにおいて、 前記キャップに形成された穴から挿入され、前記半導体
チップモジュールに気密封止された半導体チップに当接
し前記半導体チップから熱を吸収する吸熱手段と、前記
キャップの外部に露出し前記吸熱手段が前記半導体チッ
プから吸収した熱を放熱する放熱手段と、前記吸熱手段
と前記放熱手段との間に配置され前記キャップの上面に
固着される接着面を備え、 少なくとも前記接着面に接着材が被着していることを特
徴とするヒートシンク。 - 【請求項2】 前記吸熱手段は円柱部材の一端部を用い
て形成され、前記放熱手段は前記円柱部材の他端部に前
記円柱部材より外径が大きい複数の円盤を任意の間隔で
順次配置して構成されている請求項1記載のヒートシン
ク。 - 【請求項3】 請求項2記載のヒートシンクを製造する
方法であって、 前記接着面に接着材が被着していないヒートシンク、前
記円盤の外径より小さく前記円柱部材の外径より大きい
幅の溝を有する固定治具、さらに、前記接着材が液状で
収納された浴槽をそれぞれ準備する工程と、 前記固定治具の溝に前記円柱部材を係合させ前記固定治
具の上面で前記円盤の底部を保持する工程と、 少なくとも前記接着面を前記浴槽に浸す工程とを含んで
構成されるヒートシンクの製造方法。 - 【請求項4】 請求項2記載のヒートシンクを製造する
方法であって、 前記接着面に接着材が被着していない導電性材料で形成
されたヒートシンク、前記円盤の外径より小さく前記円
柱部材の外径より大きい幅の溝を有する固定治具、前記
接着材が液状で収納された浴槽、さらに、同一電源に接
続され所定電圧が印加される第1電極及び第2電極をそ
れぞれ準備する工程と、 前記固定治具の溝に前記円柱部材を係合させ、前記固定
治具の上面で前記円盤の底部を保持する工程と、 少なくとも前記ヒートシンクの接着面を前記浴槽に浸す
工程と、前記第1電極を前記放熱手段の一部に接触させ
ると共に前記第2電極を浴槽に浸し、前記ヒートシンク
と前記第2電極との間に電圧を印加する工程とを含んで
構成されるヒートシンクの製造方法。 - 【請求項5】 請求項2記載のヒートシンクを製造する
装置であって、 前記円盤の外径より小さく前記円柱部材の外径より大き
い幅の溝を有する固定治具と、前記固定治具を真空雰囲
気中で保持する真空容器と、前記真空容器内に固定され
電子ビームをるつぼに入れられた接着材に照射して加熱
する電子銃と、前記固定治具を前記真空容器内で自転さ
せる第1の回転手段と、前記第1の回転手段自体を回転
させることにより前記固定治具を前記電子銃に対して公
転させる第2の回転手段とを備えて構成されるヒートシ
ンクの製造装置。 - 【請求項6】 請求項5記載の製造装置を用いてヒート
シンクを製造する方法であって、 前記固定治具の溝に前記円柱部材を係合させ、前記固定
治具の上面で前記円盤の底部を保持する工程と、前記固
定治具を自転および公転させる工程と、真空雰囲気中に
おいて電子ビームを前記接着材に照射して加熱すること
により前記接着材を蒸発させ、少なくとも前記接触面に
前記接着材を蒸着する工程とを含んで構成されるヒート
シンクの製造方法。
Priority Applications (12)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3172731A JPH0521670A (ja) | 1991-07-12 | 1991-07-12 | ヒートシンク、ヒートシンクの製造方法および製造装置 |
| CA002070743A CA2070743A1 (en) | 1991-06-18 | 1992-06-09 | Semiconductor chip module and method for manufacturing the same |
| AU18109/92A AU661846B2 (en) | 1991-06-18 | 1992-06-10 | Semiconductor chip module and method for manufacturing the same |
| EP19920110250 EP0523387A3 (en) | 1991-06-18 | 1992-06-17 | Semiconductor chip module and method for manufacturing the same |
| KR1019920010553A KR930001387A (ko) | 1991-06-18 | 1992-06-18 | 반도체 칩모듈 및 그 제조방법 |
| CA002072385A CA2072385A1 (en) | 1991-07-12 | 1992-06-25 | Heat sink, method of manufacturing the same, and device of manufacturing the same |
| AU18697/92A AU652643B2 (en) | 1991-07-12 | 1992-06-30 | Heat sink, method of manufacturing the same, and device of manufacturing the same |
| US07/909,707 US5339215A (en) | 1991-07-12 | 1992-07-07 | Heat sink, method of manufacturing the same, and device of manufacturing the same |
| EP92111461A EP0523515A1 (en) | 1991-07-12 | 1992-07-07 | Heat sink, method of manufacturing the same, and device of manufacturing the same |
| KR1019920012351A KR930003302A (ko) | 1991-07-12 | 1992-07-11 | 히트싱크, 이 히트싱크의 제조방법 및 제조장치 |
| US08/228,866 US5403400A (en) | 1991-07-12 | 1994-04-18 | Heat sink method of manufacturing the same and device of manufacturing the same |
| US08/334,050 US5447750A (en) | 1991-07-12 | 1994-11-04 | Heat sink method of manufacturing the same and device of manufacturing the same |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3172731A JPH0521670A (ja) | 1991-07-12 | 1991-07-12 | ヒートシンク、ヒートシンクの製造方法および製造装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0521670A true JPH0521670A (ja) | 1993-01-29 |
Family
ID=15947277
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3172731A Pending JPH0521670A (ja) | 1991-06-18 | 1991-07-12 | ヒートシンク、ヒートシンクの製造方法および製造装置 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (3) | US5339215A (ja) |
| EP (1) | EP0523515A1 (ja) |
| JP (1) | JPH0521670A (ja) |
| KR (1) | KR930003302A (ja) |
| AU (1) | AU652643B2 (ja) |
| CA (1) | CA2072385A1 (ja) |
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- 1992-07-07 EP EP92111461A patent/EP0523515A1/en not_active Withdrawn
- 1992-07-07 US US07/909,707 patent/US5339215A/en not_active Expired - Fee Related
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