JPH05217975A - Semiconductor wet processor - Google Patents
Semiconductor wet processorInfo
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- Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は半導体装置を薬液で処理
する半導体ウェット処理装置に関し、特に複数枚の半導
体基板を収納する処理用キャリアを薬液に浸漬し半導体
基板を処理する半導体ウェット処理装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor wet processing apparatus for processing a semiconductor device with a chemical solution, and more particularly to a semiconductor wet processing apparatus for processing a semiconductor substrate by immersing a processing carrier containing a plurality of semiconductor substrates in the chemical solution. ..
【0002】[0002]
【従来の技術】図4は従来の半導体ウェット処理装置の
一例を示す模式平面図である。従来、この種の半導体ウ
ェット処理装置は、図4に示すように、半導体基板であ
るウェーハを薬液に浸漬して処理する処理部2と、この
処理部2の両側に配置されるローダ部1及びアンローダ
部3と、処理すべくウェーハを収納する処理用キャリア
を搬送するキャリア搬送部5と、運搬用キャリアから処
理用のキャリアにウェーハを移し替える立替え機4a
と、処理用のキャリアから運搬用キャリアにウェーハを
移し替える立替え機4bと、運搬用キャリアを収納する
ボックス8と、このボックス8を搬送するボックス搬送
部6とを有している。また、各部間を有機的に結びつき
それぞれの動作するロボット7a〜7iが設けられてい
る。2. Description of the Related Art FIG. 4 is a schematic plan view showing an example of a conventional semiconductor wet processing apparatus. Conventionally, a semiconductor wet processing apparatus of this type, as shown in FIG. 4, has a processing unit 2 for processing a wafer, which is a semiconductor substrate, by immersing it in a chemical solution, a loader unit 1 arranged on both sides of the processing unit 2, An unloader unit 3, a carrier transfer unit 5 that transfers a processing carrier that stores wafers to be processed, and a transfer machine 4a that transfers wafers from the transfer carrier to the processing carrier.
And a box changing device 4b for transferring the wafers from the processing carrier to the carrying carrier, a box 8 for housing the carrying carrier, and a box carrying section 6 for carrying the box 8. In addition, robots 7a to 7i that organically connect the respective parts and operate are provided.
【0003】次にこの半導体ウェット処理装置の動作を
説明する。まず、ウェーハが収納された運搬用キャリア
が入れられたボックス8をAの位置に載置すると、ロボ
ット7aが蓋を開く。次にロボット7cがボックス8よ
り運搬用キャリアを取出し、Bの位置に載置する。次
に、立替え機4aが運搬用キャリアから処理用キャリア
にウェーハを移し替える。次に、ロボット7fが処理用
キャリアを処理部2のCの位置に搬送し、キャリア搬送
部5のCの位置に載置する。次にキャリア搬送部5は、
処理部2の薬液に処理キャリアを浸漬させウェーハを処
理し、Dの位置まで処理キャリアを搬送する。次にロボ
ット7iが処理用キャリアをDの位置から立替え機4b
に移載する。次に立替え機4bがウェーハを処理用キャ
リアから運搬用キャリアに移し替える。このようにして
ウェーハは処理されていた。Next, the operation of this semiconductor wet processing apparatus will be described. First, when the box 8 containing the carrier for transporting the wafer is placed at the position A, the robot 7a opens the lid. Next, the robot 7c takes out the carrying carrier from the box 8 and places it at the position B. Next, the upright machine 4a transfers the wafer from the carrier for transportation to the carrier for processing. Next, the robot 7f conveys the processing carrier to the position C of the processing unit 2 and places it at the position C of the carrier transfer unit 5. Next, the carrier transport unit 5
The processing carrier is immersed in the chemical solution of the processing unit 2 to process the wafer, and the processing carrier is transported to the position D. Next, the robot 7i moves the processing carrier from the position D to the standing machine 4b.
Reprint. Next, the escaping machine 4b transfers the wafer from the processing carrier to the carrying carrier. The wafer was processed in this way.
【0004】またこの装置はウェット処理と同時進行で
以下の動作を行う。まず、ロボット7cが空になった運
搬用キャリアを位置Aまで搬送し、ボックスRに収納す
る。次に、蓋開閉用のロボット7aがボックス8の蓋を
閉じ、ロボット7bがボックス8をアンローダ部3側に
搬送する。次にロボット7cがボックス8を位置Gまで
搬送する。そしてロボット7bが、ボックスの蓋を開
き、ロボット7dが運搬用キャリアを取出し位置Eまで
搬送し、ウェット処理が修了したウェーハの移し替えを
待つ。Further, this apparatus performs the following operations simultaneously with the wet processing. First, the robot 7c conveys the empty carrier to the position A and stores it in the box R. Next, the lid opening / closing robot 7a closes the lid of the box 8, and the robot 7b conveys the box 8 to the unloader unit 3 side. Next, the robot 7c conveys the box 8 to the position G. Then, the robot 7b opens the lid of the box, the robot 7d takes out the carrier for transportation to the position E, and waits for the transfer of the wafer after the wet processing is completed.
【0005】次に、再び戻って述べると、ウェーハのウ
ェット処理が修了すると、立替え機4bがウェット処理
済のウェーハを位置Eで待機している運搬用キャリアに
移し替える。その後、ロボット7eがウェーハの入った
運搬用キャリアをアンローダ部3の搬送用のボックス位
置Eに搬送し、ボックス8に収納する。そしてロボット
7dがボックス8の蓋を閉じ、ボックス8は装置から別
の装置に運搬される。Next, returning to the description again, when the wet processing of the wafer is completed, the escaping machine 4b transfers the wet-processed wafer to the transport carrier waiting at the position E. After that, the robot 7 e carries the carrying carrier containing the wafer to the carrying box position E of the unloader unit 3 and stores it in the box 8. Then, the robot 7d closes the lid of the box 8, and the box 8 is transported from the device to another device.
【0006】一方、アンローダ側の立替え機4bがウェ
ーハの移し替えを完了した後、装置は、ウェーハの入っ
た運搬用キャリアをボックス8に収納する動作と同時進
行で以下の動作を行う。ロボット7iが空になった処理
用キャリアを位置Dに搬送し、キャリア搬送部5を通過
させ、位置Cまで搬送する。次に、ロボット7fが位置
Cまで搬送された空の処理用キャリアを位置Hまで搬送
し、次のウェーハの移し替えのために待機する。On the other hand, after the transfer device 4b on the unloader side completes the transfer of the wafers, the apparatus carries out the following operations simultaneously with the operation of storing the transport carrier containing the wafers in the box 8. The robot 7i carries the emptied processing carrier to the position D, passes the carrier carrying section 5, and carries it to the position C. Next, the robot 7f carries the empty processing carrier carried to the position C to the position H, and waits for the next wafer transfer.
【0007】このようにウェーハは運搬から処理そして
再び他に運搬する作業を自動的にロボットで行われてい
た。As described above, the operation of transporting, processing, and transporting the wafer again is automatically performed by the robot.
【0008】[0008]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら従来のウ
ェーハ処理装置の装置内では、ほこりが付着しないよう
に運搬用キャリアと処理用キャリアとのウェーハの移し
替え、あるいは搬送するのに全てロボットなどを使用し
て行い対策されているが、運搬用キャリアを装置外より
取入れる際にこれら運搬用キャリア及びボックスに付着
しているごみがウェット処理後のウェーハに付着し、ウ
ェーハの後工程における品質を著しく阻害するといった
問題があった。However, in the conventional wafer processing apparatus, a robot or the like is used to transfer or transfer the wafers between the carrier and the processing carrier so that dust does not adhere to them. However, the dust adhered to the carrier and the box when the carrier is taken from the outside of the equipment adheres to the wafer after the wet processing, and the quality in the post-process of the wafer is remarkably improved. There was a problem of blocking.
【0009】本発明の目的は、処理されたウェーハにご
みの再付着を起すことなく処理出来る半導体ウェット処
理装置を提供することである。An object of the present invention is to provide a semiconductor wet processing apparatus capable of processing a processed wafer without causing redeposition of dust.
【0010】[0010]
【課題を解決するための手段】本発明の半導体ウェット
処理装置は、半導体基板を収納する運搬用キャリアを入
れるボックスと、この運搬用キャリアを保管するボック
スと、ボックスより前記運搬用キャリアを出し入れする
ロボットと、前記運搬用キャリアより前記半導体基板を
処理用キャリアに移し替える第1の立替え機と、この処
理用キャリアを薬液に浸漬させ前記半導体基板を処理す
る処理部と、この処理部と平行して前記処理用キャリア
を搬送するキャリア搬送部と、前記処理用キャリアより
処理済みの前記半導体基板を前記運搬用キャリアに移し
替える第2の立替え機と、空である前記運搬用キャリア
と空である前記ボックスを搬送する搬送部と、この搬送
部の経路途中に設けられるとともに空の前記運搬用キャ
リア及び空の前記ボックスを洗浄する洗浄室及び乾燥室
とを備えている。In a semiconductor wet processing apparatus of the present invention, a box for accommodating a carrier for accommodating a semiconductor substrate, a box for storing the carrier for transportation, and a container for carrying the carrier in and out of the box are provided. A robot, a first upright machine for transferring the semiconductor substrate from the carrying carrier to a processing carrier, a processing unit for processing the semiconductor substrate by immersing the processing carrier in a chemical solution, and a processing unit parallel to the processing unit. A carrier transporting section for transporting the processing carrier, a second rectifier for transferring the semiconductor substrate processed by the processing carrier to the transporting carrier, the empty transporting carrier and an empty carrier. And a transport unit that transports the box, and an empty carrier and an empty transport carrier that are provided on the way of the transport unit. And a cleaning chamber and the drying chamber to clean the box.
【0011】[0011]
【実施例】次に本発明について図面を参照して説明す
る。The present invention will be described below with reference to the drawings.
【0012】図1は本発明の一実施例を示す半導体ウェ
ット処理装置の模式平面図である。この半導体ウェット
処理装置は、図11に示すように、空であるボックス8
を搬送する搬送部6aと空である運搬キャリアを搬送す
る搬送部6bを処理部2と平行して分割して配置し、こ
れら搬送部6a,6bの搬送経路途中にボックス及び運
搬用キャリアを洗浄する洗浄室9a,9b及び乾燥室1
0a,10bを設けたことである。それ以外は従来例と
同じである。FIG. 1 is a schematic plan view of a semiconductor wet processing apparatus showing an embodiment of the present invention. This semiconductor wet processing apparatus has an empty box 8 as shown in FIG.
The transport unit 6a for transporting the carrier and the transport unit 6b for transporting the empty carrier are arranged in parallel in parallel with the processing unit 2, and the box and the carrier for transport are washed in the transport route of these transport units 6a, 6b. Washing chambers 9a and 9b and drying chamber 1
0a and 10b are provided. Otherwise, it is the same as the conventional example.
【0013】図2は図1の運搬用キャリアの洗浄室及び
乾燥室を断面で示す模式断面図である。また、ボックス
及び運搬用キャリアの洗浄用の洗浄室及び乾燥室は、図
2に示すようにボックス及び運搬用キャリアを搬送する
ベルト12と、洗浄室及び乾燥室の出入口を開閉するシ
ャッタ13と、洗浄室内の上下に配置され洗浄液を噴出
するノズル11a及び11bと、この洗浄液をノズル1
1a,11bに供給する洗浄液供給装置と、乾燥室内の
上下にあって乾燥窒素を噴射する乾燥用ノズル14a,
14bとを備えている。FIG. 2 is a schematic sectional view showing a cleaning chamber and a drying chamber of the carrier of FIG. 1 in section. Further, as shown in FIG. 2, the cleaning chamber and the drying chamber for cleaning the box and the carrier for transporting, as shown in FIG. Nozzles 11a and 11b, which are arranged above and below in the cleaning chamber and eject the cleaning liquid, and the cleaning liquid
1a, 11b cleaning liquid supply device, and a drying nozzle 14a for spraying dry nitrogen above and below the drying chamber,
14b and.
【0014】さらに洗浄液供給装置は、洗浄液を貯える
層18と、層18より洗浄液を圧送するポンプ16と、
洗浄液を濾過するフィルタ15と、開閉用のバルブ17
aと、洗浄液を洗浄室より戻す配管と、層18より洗浄
液を廃液するためのバルブ17cとを備えている。一方
スプレー噴射される乾燥窒素は乾燥用ノズル14a,1
4bに接続される配管のバルブ17bを開くことにより
外部から供給される。Further, the cleaning liquid supply device includes a layer 18 for storing the cleaning liquid, a pump 16 for pumping the cleaning liquid from the layer 18,
A filter 15 for filtering the cleaning liquid and a valve 17 for opening and closing
a, a pipe for returning the cleaning liquid from the cleaning chamber, and a valve 17c for draining the cleaning liquid from the layer 18. On the other hand, the dry nitrogen sprayed is supplied to the drying nozzles 14a, 1
It is supplied from the outside by opening the valve 17b of the pipe connected to 4b.
【0015】図3は図2におけるA−A線断面図であ
る。FIG. 3 is a sectional view taken along the line AA in FIG.
【0016】次にこの半導体ウェット処理装置の動作を
図1,図2及び図3を参照して説明する。まず図1に示
すように、ローダ部の立替え機4aでウェーハの移し替
えが完了し、ボックス8が位置Aにあると、ボックス8
内に戻って来た運搬用キャリアをロボット7bでキャリ
ア搬送部6bに乗せ搬送する。次にロボット7bでは位
置Aにあるボックス8を蓋の開いた状態で上下に反転さ
せて搬送部6aに乗せ搬送する。次に、図2に示すよう
に、洗浄室9a,9bの入口のシャッター13が開き、
図3に示す運搬用キャリア19とボックス8がベルト1
2に乗せられた状態で洗浄室に搬送される。そしてノズ
ル11a,11bから噴射される洗浄液で運搬用キャリ
ア19及びボックス8の洗浄が行われる。洗浄が完了す
ると、乾燥室のシャッタ13が開きベルト12により運
搬用キャリア19及びボックスは乾燥部10a,10b
の乾燥室に搬入される。なお、ボックス8を上下方向に
反転させる理由は、洗浄液がボックス内に残らないよう
にするためである。次に乾燥室に搬入された運搬用キャ
リアとボックスは乾燥用ノズル14a,14bから噴射
される乾燥窒素によって乾燥される。そして乾燥後、運
搬用キャリアとボックスは乾燥室から搬出され、ロボッ
ト7cによりボックス8は蓋の開いた状態で上下に反転
させて位置Gに載置される。また、ロボット7cは乾燥
済の運搬用キャリアを位置Gにあるボックス8内に収納
する。Next, the operation of the semiconductor wet processing apparatus will be described with reference to FIGS. 1, 2 and 3. First, as shown in FIG. 1, when the transfer of wafers is completed by the transfer device 4a of the loader unit and the box 8 is at the position A, the box 8
The carrying carrier that has returned to the inside is carried on the carrier carrying section 6b by the robot 7b and carried. Next, in the robot 7b, the box 8 at the position A is turned upside down with the lid open and placed on the carrying section 6a for carrying. Next, as shown in FIG. 2, the shutter 13 at the entrance of the cleaning chambers 9a and 9b opens,
The carrying carrier 19 and the box 8 shown in FIG.
It is transported to the washing chamber while being placed on the No. 2. Then, the carrier 19 for transportation and the box 8 are cleaned with the cleaning liquid sprayed from the nozzles 11a and 11b. When the cleaning is completed, the shutter 13 of the drying chamber is opened and the carrier 12 and the box for transporting the belt 12 are dried by the belts 12.
Is loaded into the drying room. The reason for inverting the box 8 in the vertical direction is to prevent the cleaning liquid from remaining in the box. Next, the carrier and the box carried into the drying chamber are dried by the dry nitrogen sprayed from the drying nozzles 14a and 14b. Then, after drying, the carrier and the box are carried out of the drying chamber, and the robot 7c puts the box 8 upside down with the lid open at the position G. Further, the robot 7c stores the dried carrier for transportation in the box 8 at the position G.
【0017】このようにウェーハが空になった運搬用キ
ャリアを運搬用キャリアが空になったボックスをアンロ
ーダ側に戻す際に、搬送部で完全に洗浄することにより
付着するごみは荒い落されるので、立替え機4bによっ
て洗浄済みウェーハを収納する際にごみを付着させるこ
とはなくなる。Thus, when the carrier for which the wafer is empty is returned to the unloader side when the carrier for which the carrier is empty is returned to the unloader side, the adhered dust is roughly removed by cleaning the carrier completely. Therefore, dust is not attached when the cleaned wafer is stored by the upright machine 4b.
【0018】なおこの実施例で、ボックス8の底に洗浄
液排水用の穴を設ければ、図3に示すようにボックス8
を上下方向に反転する必要がない。この場合はロボット
7b及びロボット7cの機構が簡単になるという利点が
ある。さらに運搬用キャリアをボックス内に収納した状
態で洗浄・乾燥を行ってもよい。この方法の場合、搬送
部、洗浄室及び乾燥部でなる一ラインを割愛することが
できるため装置コストを低減できるという利点がある。In this embodiment, if a hole for draining the cleaning liquid is provided at the bottom of the box 8, the box 8 will be opened as shown in FIG.
Does not need to be flipped vertically. In this case, there is an advantage that the mechanisms of the robot 7b and the robot 7c are simple. Further, cleaning and drying may be performed with the carrier for transportation stored in the box. In the case of this method, there is an advantage that the cost of the apparatus can be reduced because the one line consisting of the transfer section, the cleaning chamber and the drying section can be omitted.
【0019】[0019]
【発明の効果】以上説明したように本発明は、ウェット
処理後のごみの付着の少ない処理済みのウェハを収納す
る運搬用キャリア及びボックスを予め洗浄する洗浄手段
を搬送部の経路途中に設け、処理済みのウェーハを運搬
用キャリア及びボックスを収納する際にごみを付着する
ことがないという効果がある。As described above, according to the present invention, a carrier for accommodating a processed wafer having less dust adhered after the wet processing and a cleaning means for cleaning the box in advance are provided in the middle of the path of the transfer section. There is an effect that dust is not attached when the processed wafer is stored in the carrier and the box for transportation.
【図1】本発明の半導体ウェット処理装置の一実施例を
示す模式平面図である。FIG. 1 is a schematic plan view showing an embodiment of a semiconductor wet processing apparatus of the present invention.
【図2】図1の洗浄室及び乾燥室の内部を示す模式断面
図である。FIG. 2 is a schematic cross-sectional view showing the inside of a cleaning chamber and a drying chamber of FIG.
【図3】図2のA−A断面図である。3 is a cross-sectional view taken along the line AA of FIG.
【図4】従来の半導体ウェット処理装置の一例を示す模
式断面図である。FIG. 4 is a schematic cross-sectional view showing an example of a conventional semiconductor wet processing apparatus.
1 ローダ部 2 処理部 3 アンローダ部 4a,4b 立替え機 5 キャリア搬送部 6a,6b 搬送部 6 ボックス搬送部 7a〜7i ロボット 8 ボックス 9a,9b 洗浄室 10a,10b 乾燥室 11a,11b ノズル 12 ベルト 13 シャッタ 14a,14b 乾燥用ノズル 15 フィルタ 16 ポンプ 17a〜17b バルブ 18 槽 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 loader part 2 processing part 3 unloader part 4a, 4b reversing machine 5 carrier transfer part 6a, 6b transfer part 6 box transfer part 7a-7i robot 8 box 9a, 9b washing room 10a, 10b drying room 11a, 11b nozzle 12 belt 13 Shutters 14a, 14b Drying Nozzle 15 Filter 16 Pump 17a-17b Valve 18 Tank
Claims (1)
入れるボックスと、この運搬用キャリアを保管するボッ
クスと、ボックスより前記運搬用キャリアを出し入れす
るロボットと、前記運搬用キャリアより前記半導体基板
を処理用キャリアに移し替える第1の立替え機と、この
処理用キャリアを薬液に浸漬させ前記半導体基板を処理
する処理部と、この処理部と平行して前記処理用キャリ
アを搬送するキャリア搬送部と、前記処理用キャリアよ
り処理済みの前記半導体基板を前記運搬用キャリアに移
し替える第2の立替え機と、空である前記運搬用キャリ
アと空である前記ボックスを搬送する搬送部と、この搬
送部の経路途中に設けられるとともに空の前記運搬用キ
ャリア及び空の前記ボックスを洗浄する洗浄室及び乾燥
室とを備えることを特徴とする半導体ウェット処理装
置。1. A box for storing a carrier for storing a semiconductor substrate, a box for storing the carrier, a robot for loading and unloading the carrier from the box, and a processing of the semiconductor substrate by the carrier. First transfer machine for transferring the processing carrier to a carrier for processing, a processing section for processing the semiconductor substrate by immersing the processing carrier in a chemical solution, and a carrier transfer section for transferring the processing carrier in parallel with the processing section. A second transfer device for transferring the semiconductor substrate processed from the processing carrier to the transportation carrier; a transportation unit for transporting the transportation carrier that is empty and the box that is empty; And a washing chamber and a drying chamber for washing the empty carrier and the empty box, which are provided in the middle of the path of the part. Characteristic semiconductor wet processing equipment.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP117092A JPH05217975A (en) | 1992-01-08 | 1992-01-08 | Semiconductor wet processor |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP117092A JPH05217975A (en) | 1992-01-08 | 1992-01-08 | Semiconductor wet processor |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05217975A true JPH05217975A (en) | 1993-08-27 |
Family
ID=11493964
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP117092A Pending JPH05217975A (en) | 1992-01-08 | 1992-01-08 | Semiconductor wet processor |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05217975A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2020161654A (en) * | 2019-03-27 | 2020-10-01 | 株式会社オーク製作所 | Storage body transfer device and laser processing device |
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| JPS52139378A (en) * | 1976-05-17 | 1977-11-21 | Hitachi Ltd | Integrated treatment apparatus for semiconductor wafers |
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-
1992
- 1992-01-08 JP JP117092A patent/JPH05217975A/en active Pending
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 19980623 |