JPH05218176A - 熱処理方法及び被処理体の移載方法 - Google Patents
熱処理方法及び被処理体の移載方法Info
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- JPH05218176A JPH05218176A JP4057002A JP5700292A JPH05218176A JP H05218176 A JPH05218176 A JP H05218176A JP 4057002 A JP4057002 A JP 4057002A JP 5700292 A JP5700292 A JP 5700292A JP H05218176 A JPH05218176 A JP H05218176A
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- H10P72/30—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for conveying, e.g. between different workstations
- H10P72/33—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber
- H10P72/3312—Vertical transfer of a batch of workpieces
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- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/4401—Means for minimising impurities, e.g. dust, moisture or residual gas, in the reaction chamber
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
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- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/54—Apparatus specially adapted for continuous coating
-
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- H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10P72/00—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof
- H10P72/04—Apparatus for manufacture or treatment
- H10P72/0402—Apparatus for fluid treatment
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- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10P72/00—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof
- H10P72/04—Apparatus for manufacture or treatment
- H10P72/0451—Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations
- H10P72/0466—Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations characterised by the construction of the load-lock chamber
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- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
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- Y10S414/139—Associated with semiconductor wafer handling including wafer charging or discharging means for vacuum chamber
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- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 例えば半導体ウエハを熱処理するにあたって
自然酸化膜の生成を抑えること及び2つのロードロック
室間を開くときに気流の発生を抑えること。 【構成】 反応管1の下方のウエハ着脱室200A、ロ
ボット室300及びカセット室400Aをロードロック
室とし、先ずウエハ着脱室200A、ロボット室300
を不活性雰囲気にしておく。カセット室400Aにカセ
ットをセッティングし、ここを不活性雰囲気にした後、
気圧平衡用のガス通路を開いて、ロボット室300、カ
セット室400Aの気圧を平衡にし、続いてゲートバル
ブG3を開く。これにより気流の発生を抑え、発塵を少
なくする、次いで移載ロボット3によりウエハをボート
2に移載し、ゲートG1を閉じた後所定の熱処理を行
う。
自然酸化膜の生成を抑えること及び2つのロードロック
室間を開くときに気流の発生を抑えること。 【構成】 反応管1の下方のウエハ着脱室200A、ロ
ボット室300及びカセット室400Aをロードロック
室とし、先ずウエハ着脱室200A、ロボット室300
を不活性雰囲気にしておく。カセット室400Aにカセ
ットをセッティングし、ここを不活性雰囲気にした後、
気圧平衡用のガス通路を開いて、ロボット室300、カ
セット室400Aの気圧を平衡にし、続いてゲートバル
ブG3を開く。これにより気流の発生を抑え、発塵を少
なくする、次いで移載ロボット3によりウエハをボート
2に移載し、ゲートG1を閉じた後所定の熱処理を行
う。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、例えば半導体ウエハな
どの被処理体を熱処理するための熱処理方法及び被処理
体の移載方法に関するものである。
どの被処理体を熱処理するための熱処理方法及び被処理
体の移載方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年半導体集積回路の高集積化が進み、
これに伴い半導体製造装置においても厳しい要求がなさ
れている。
これに伴い半導体製造装置においても厳しい要求がなさ
れている。
【0003】例えばCVD、拡散、酸化処理などの熱処
理を行う装置として、従来横型炉が主流であったが、半
導体ウエハを搭載したボートを反応管内にロードすると
きに、炉内外の温度差に起因する対流により、空気が反
応管内へ混入してウエハに自然酸化膜ができ、これがウ
エハの特性を左右するといった問題が指摘されるように
なり、これに代わって縦型熱処理装置が注目されてい
る。
理を行う装置として、従来横型炉が主流であったが、半
導体ウエハを搭載したボートを反応管内にロードすると
きに、炉内外の温度差に起因する対流により、空気が反
応管内へ混入してウエハに自然酸化膜ができ、これがウ
エハの特性を左右するといった問題が指摘されるように
なり、これに代わって縦型熱処理装置が注目されてい
る。
【0004】一方において例えばDRAMの容量が4
M、16Mと移行しつつあるように、より一層の高集積
化が図られようとしており、従って縦型熱処理装置の場
合にも、ロード、アンロード時の空気の巻き込みやウエ
ハの吸着成分に起因して発生する自然酸化膜の生成を今
まで以上に抑制する必要がある。
M、16Mと移行しつつあるように、より一層の高集積
化が図られようとしており、従って縦型熱処理装置の場
合にも、ロード、アンロード時の空気の巻き込みやウエ
ハの吸着成分に起因して発生する自然酸化膜の生成を今
まで以上に抑制する必要がある。
【0005】このような事情から最近では反応管の下方
側をロードロック室とし、ここを不活性雰囲気にして反
応管に対するウエハボートのロード、アンロードを行う
といったことも検討されている。
側をロードロック室とし、ここを不活性雰囲気にして反
応管に対するウエハボートのロード、アンロードを行う
といったことも検討されている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな方法を実現するためには、ウエハボートと外部との
間のウエハの受け渡しの仕方やそのための機構、配置ス
ペースといった点について工夫しなければならないし、
ロードロック室の雰囲気の置換やメンテナンスの容易性
あるいはメンテナンス後の装置の立ち上がりの時間など
についても考慮する必要がある。
うな方法を実現するためには、ウエハボートと外部との
間のウエハの受け渡しの仕方やそのための機構、配置ス
ペースといった点について工夫しなければならないし、
ロードロック室の雰囲気の置換やメンテナンスの容易性
あるいはメンテナンス後の装置の立ち上がりの時間など
についても考慮する必要がある。
【0007】本発明はこのような事情のもとになされた
ものであり、自然酸化膜の形成を極力抑えることがで
き、しかも例えば複数の反応管を設置した場合にも装置
の小型化を図れる上、メンテナンスも容易に行うことの
できる熱処理方法を提供することにある。
ものであり、自然酸化膜の形成を極力抑えることがで
き、しかも例えば複数の反応管を設置した場合にも装置
の小型化を図れる上、メンテナンスも容易に行うことの
できる熱処理方法を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】請求項1の発明は、多数
の被処理体を搭載した被処理体収納部を縦型の反応管内
に導入して、ここで被処理体の熱処理を行う縦型熱処理
装置において、被処理体を反応管に対して搬入、搬出す
るための領域を、移載機構を備えた第1のロードロック
室と、前記収納部に対する被処理体の着脱を行うための
第2のロードロック室とにより構成し、前記第1のロー
ドロック室に多数の被処理体を導入した後、当該第1の
ロードロック室全体を不活性ガス雰囲気とし、次いで予
め不活性ガス雰囲気とした第2のロードロック室内の前
記収納部に、第1のロードロック室内の多数の被処理体
を前記移載機構により順次に載置することを特徴とす
る。
の被処理体を搭載した被処理体収納部を縦型の反応管内
に導入して、ここで被処理体の熱処理を行う縦型熱処理
装置において、被処理体を反応管に対して搬入、搬出す
るための領域を、移載機構を備えた第1のロードロック
室と、前記収納部に対する被処理体の着脱を行うための
第2のロードロック室とにより構成し、前記第1のロー
ドロック室に多数の被処理体を導入した後、当該第1の
ロードロック室全体を不活性ガス雰囲気とし、次いで予
め不活性ガス雰囲気とした第2のロードロック室内の前
記収納部に、第1のロードロック室内の多数の被処理体
を前記移載機構により順次に載置することを特徴とす
る。
【0009】請求項2の発明は、2つのロードロック室
をゲートバルブを介して互いに連結し、これらロードロ
ック室内を所定のガス雰囲気にした後、一方のロードロ
ック室内の被処理体をゲートバルブを通じて他方のロー
ドロック室に移載する方法において、前記2つのロード
ロック室を、平衡用のバルブを介して気圧平衡用のガス
通路により互いに接続し、前記ゲートバルブを開く前
に、前記平衡用のバルブを開いて2つのロードロック室
の気圧を平衡にし、その後被処理体を移載することを特
徴とする。
をゲートバルブを介して互いに連結し、これらロードロ
ック室内を所定のガス雰囲気にした後、一方のロードロ
ック室内の被処理体をゲートバルブを通じて他方のロー
ドロック室に移載する方法において、前記2つのロード
ロック室を、平衡用のバルブを介して気圧平衡用のガス
通路により互いに接続し、前記ゲートバルブを開く前
に、前記平衡用のバルブを開いて2つのロードロック室
の気圧を平衡にし、その後被処理体を移載することを特
徴とする。
【0010】
【作用】第1のロードロック室内に多数の被処理体をセ
ッティングすると、その後被処理体収納部への被処理体
の移載及びそれらの工程における待機は、不活性ガス雰
囲気で行われるので被処理体の自然酸化膜の形成が極力
抑えられる。また移載機構は独立した第1のロードロッ
ク室内に格納されているので、複数の反応管を設置した
場合にも、当該移載機構を共通に使用でき、装置の小型
化が図れる。
ッティングすると、その後被処理体収納部への被処理体
の移載及びそれらの工程における待機は、不活性ガス雰
囲気で行われるので被処理体の自然酸化膜の形成が極力
抑えられる。また移載機構は独立した第1のロードロッ
ク室内に格納されているので、複数の反応管を設置した
場合にも、当該移載機構を共通に使用でき、装置の小型
化が図れる。
【0011】また例えば第1のロードロック室を2つに
分割して、その一方に多数の被処理体を収納し、ここか
ら他方に移載する場合、請求項2の発明を適用すれば、
ゲートバルブを開いたときに気圧差による気流を抑える
ことができ、パーティクルの発生などを防止できる。
分割して、その一方に多数の被処理体を収納し、ここか
ら他方に移載する場合、請求項2の発明を適用すれば、
ゲートバルブを開いたときに気圧差による気流を抑える
ことができ、パーティクルの発生などを防止できる。
【0012】
【実施例】図1及び図2は、本発明が適用される縦型熱
処理装置を示し、この縦型熱処理装置は、例えばCVD
処理を行うための熱処理部100Aと、例えば酸化処理
を行うための熱処理部100Bとを備えており、各熱処
理部100A、100Bの下方側には夫々後述するウエ
ハボートに対してウエハの着脱を行うためのウエハ着脱
室200A、200Bが設けられている。そしてこれら
ウエハ着脱室200A、200Bは、夫々ゲートバルブ
G1、G2を介して、各ウエハ着脱室200A、200
Bに対してウエハの搬入、搬出を行う後述する共通のロ
ボットを設置したロボット室300が連結されており、
更にこのロボット室300には、夫々ゲートバルブG
3、G4を介してウエハカセットを収納するカセット室
400A、400Bが連結されている。
処理装置を示し、この縦型熱処理装置は、例えばCVD
処理を行うための熱処理部100Aと、例えば酸化処理
を行うための熱処理部100Bとを備えており、各熱処
理部100A、100Bの下方側には夫々後述するウエ
ハボートに対してウエハの着脱を行うためのウエハ着脱
室200A、200Bが設けられている。そしてこれら
ウエハ着脱室200A、200Bは、夫々ゲートバルブ
G1、G2を介して、各ウエハ着脱室200A、200
Bに対してウエハの搬入、搬出を行う後述する共通のロ
ボットを設置したロボット室300が連結されており、
更にこのロボット室300には、夫々ゲートバルブG
3、G4を介してウエハカセットを収納するカセット室
400A、400Bが連結されている。
【0013】この実施例ではロボット室300は第1ロ
ードロック室に相当し、ウエハ着脱室200A、200
Bは第2のロードロック室に相当する。
ードロック室に相当し、ウエハ着脱室200A、200
Bは第2のロードロック室に相当する。
【0014】これら各部について詳細に説明するが、熱
処理部100A、100B、及びカセット室400A、
400Bは各々同一機構であるため、その一方について
のみ説明する。
処理部100A、100B、及びカセット室400A、
400Bは各々同一機構であるため、その一方について
のみ説明する。
【0015】前記熱処理部100Aは例えば石英にて円
筒状に形成され、軸方向を鉛直方向にして配置された反
応管1を備えている。この反応管1の周囲にはヒータ1
0が設けられ、反応管1内を所定温度例えばCVDの場
合500〜1000℃、酸化や拡散の場合800〜12
00℃に設定するようにしている。前記反応管1の下側
に設置したマニホールド11の図中左側部には、成膜用
ガスやキャリアガスなどを導入するガス導入管12が挿
通されており、前記マニホールド11の図中右側部に
は、排気管13が連結されている。この排気管13は、
図示しない真空ポンプに接続されており、この排気管1
3を介して真空引きすることにより、前記反応管1内を
所定の真空度に設定し、あるいは、反応管1に導入され
たガスを排気するようにしている。
筒状に形成され、軸方向を鉛直方向にして配置された反
応管1を備えている。この反応管1の周囲にはヒータ1
0が設けられ、反応管1内を所定温度例えばCVDの場
合500〜1000℃、酸化や拡散の場合800〜12
00℃に設定するようにしている。前記反応管1の下側
に設置したマニホールド11の図中左側部には、成膜用
ガスやキャリアガスなどを導入するガス導入管12が挿
通されており、前記マニホールド11の図中右側部に
は、排気管13が連結されている。この排気管13は、
図示しない真空ポンプに接続されており、この排気管1
3を介して真空引きすることにより、前記反応管1内を
所定の真空度に設定し、あるいは、反応管1に導入され
たガスを排気するようにしている。
【0016】前記ウエハ着脱室200Aには、被処理体
収納部であるウエハボート2を反応管1内に対して搬
入、搬出するための昇降機構をなすボートエレベータ2
1が設置されている。前記ボート2は、ウエハwを水平
な状態でかつ縦方向に所定間隔をおいて多数枚例えば9
9枚搭載できる構造となっており、その下方の保温筒2
2及びフランジ23を介してボートエレベータ21上に
載置されている。従ってボートエレベータ21を昇降さ
せることにより、前記ボート2は反応管1内にロードさ
れ、あるいはアンロードされる。ボート2がロードされ
たときには、フランジ23によりマニホールド11の下
端開口部が密閉される。
収納部であるウエハボート2を反応管1内に対して搬
入、搬出するための昇降機構をなすボートエレベータ2
1が設置されている。前記ボート2は、ウエハwを水平
な状態でかつ縦方向に所定間隔をおいて多数枚例えば9
9枚搭載できる構造となっており、その下方の保温筒2
2及びフランジ23を介してボートエレベータ21上に
載置されている。従ってボートエレベータ21を昇降さ
せることにより、前記ボート2は反応管1内にロードさ
れ、あるいはアンロードされる。ボート2がロードされ
たときには、フランジ23によりマニホールド11の下
端開口部が密閉される。
【0017】また前記ウエハ着脱室200A内には、不
活性ガス例えば窒素ガスを当該ウエハ着脱室200A内
に噴射するための多数のガス噴射孔24aを備えたガス
噴射管24が配管されており、このガス噴射管24は、
コ字状に形成されていて、垂直管部がウエハ着脱室20
0Aのロボット室300側両隅(紙面の表面側及び裏面
側の隅部)付近に位置し、水平管部が上端付近に位置し
ている。
活性ガス例えば窒素ガスを当該ウエハ着脱室200A内
に噴射するための多数のガス噴射孔24aを備えたガス
噴射管24が配管されており、このガス噴射管24は、
コ字状に形成されていて、垂直管部がウエハ着脱室20
0Aのロボット室300側両隅(紙面の表面側及び裏面
側の隅部)付近に位置し、水平管部が上端付近に位置し
ている。
【0018】このようにガス噴射管24を設ければ、不
活性ガスの導入という本来の役割に加えて、ウエハwの
着脱時に発生したパーティクルを吹き飛ばせるといった
利点がある。
活性ガスの導入という本来の役割に加えて、ウエハwの
着脱時に発生したパーティクルを吹き飛ばせるといった
利点がある。
【0019】そして前記ウエハ着脱室200Aを画成す
るチャンバの外面には、この中を冷却するための冷却水
管25が配管されており、更にウエハ着脱室200Aを
真空引きするための排気管26が接続されている。
るチャンバの外面には、この中を冷却するための冷却水
管25が配管されており、更にウエハ着脱室200Aを
真空引きするための排気管26が接続されている。
【0020】前記ロボット室300内には、例えば多関
節ロボットよりなる移載機構としての移載ロボット3
と、カセット室400Aから受け取ったウエハを一旦載
置するためのバッファステージ31と、オリフラ(オリ
エンテーション フラット)合わせをするためのオリフ
ラ合わせ機構32とが配置されている。前記移載ロボッ
ト3は、アーム全体の回転と伸縮と上下動の自由度を備
えている。
節ロボットよりなる移載機構としての移載ロボット3
と、カセット室400Aから受け取ったウエハを一旦載
置するためのバッファステージ31と、オリフラ(オリ
エンテーション フラット)合わせをするためのオリフ
ラ合わせ機構32とが配置されている。前記移載ロボッ
ト3は、アーム全体の回転と伸縮と上下動の自由度を備
えている。
【0021】また前記ロボット室300の外側には、図
2に示すようにゲートバルブG5を介して洗浄室500
が連結されている。この洗浄室500は、例えばフッ化
水素の溜められた容器を備えていて、水分を含む不活性
ガスをこの容器を通じてウエハに供給することにより、
フッ化水素によってウエハ表面の自然酸化膜を除去する
役割をもつものである。
2に示すようにゲートバルブG5を介して洗浄室500
が連結されている。この洗浄室500は、例えばフッ化
水素の溜められた容器を備えていて、水分を含む不活性
ガスをこの容器を通じてウエハに供給することにより、
フッ化水素によってウエハ表面の自然酸化膜を除去する
役割をもつものである。
【0022】前記カセット室400Aは、例えば25枚
のウエハを収納した2つのカセット4を上下に収納した
状態で昇降させる図示しないエレベータを備えている。
このカセット室400A内に外部から搬入された2つの
カセット4は、エレベータにより図1に示す位置まで持
ち上げられ、下方側のウエハwから順にロボット室30
0内に取り込まれると共に、処理済のウエハwをロボッ
ト室300から受け取るときには、逆にカセット4を降
下させておいて、上から順に載置するようにしている。
またカセット室400A、400Bには、夫々大気との
間を遮断するゲートバルブG6、G7が設けられてい
る。
のウエハを収納した2つのカセット4を上下に収納した
状態で昇降させる図示しないエレベータを備えている。
このカセット室400A内に外部から搬入された2つの
カセット4は、エレベータにより図1に示す位置まで持
ち上げられ、下方側のウエハwから順にロボット室30
0内に取り込まれると共に、処理済のウエハwをロボッ
ト室300から受け取るときには、逆にカセット4を降
下させておいて、上から順に載置するようにしている。
またカセット室400A、400Bには、夫々大気との
間を遮断するゲートバルブG6、G7が設けられてい
る。
【0023】そして各部の排気系統に関して図3により
説明すると、TP、DPは夫々ターボ分子ポンプ、ドラ
イポンプであり、このターボ分子ポンプTPの吸気側の
排気管6はバルブVOを介して複数に分岐されていて、
夫々バルブV1〜V5を介して第1ロードロック室20
0A、200B、ロボット室300及びカセット室40
0A、400Bに接続されている。従ってバルブをV1
〜V5を順次切り替えることによって、一つの真空引き
手段(ポンプTP、DP)でありながら各部の真空引き
を行うことができる。
説明すると、TP、DPは夫々ターボ分子ポンプ、ドラ
イポンプであり、このターボ分子ポンプTPの吸気側の
排気管6はバルブVOを介して複数に分岐されていて、
夫々バルブV1〜V5を介して第1ロードロック室20
0A、200B、ロボット室300及びカセット室40
0A、400Bに接続されている。従ってバルブをV1
〜V5を順次切り替えることによって、一つの真空引き
手段(ポンプTP、DP)でありながら各部の真空引き
を行うことができる。
【0024】また図示していないがロボット室300、
カセット室400A、400Bには、不活性ガス例えば
窒素ガス雰囲気にできるようにガス導入管が接続されて
いる。なお図1の排気管26は、図2のバルブV1の吸
気側に相当する。
カセット室400A、400Bには、不活性ガス例えば
窒素ガス雰囲気にできるようにガス導入管が接続されて
いる。なお図1の排気管26は、図2のバルブV1の吸
気側に相当する。
【0025】更にロボット室300とカセット室400
A、400Bとの間には、夫々平衡用のバルブV6、V
7を介して例えば外径1/4インチのガス通路(バラス
ト)5が接続されており、これによりゲートバルブG
3、G4を開く前に互いの気圧を平衡に保つようにして
いる。
A、400Bとの間には、夫々平衡用のバルブV6、V
7を介して例えば外径1/4インチのガス通路(バラス
ト)5が接続されており、これによりゲートバルブG
3、G4を開く前に互いの気圧を平衡に保つようにして
いる。
【0026】この実施例に用いる縦型熱処理装置は以上
のように構成されている。
のように構成されている。
【0027】次に上述実施例について説明する。先ずゲ
ートバルブG1〜G4を閉じておき、図3のバルブV1
〜V3を切り替えることによって、図3の排気手段(ポ
ンプTP、DP)により、反応管1、ウエハ着脱室20
0A、200B及びロボット室300内を所定の真空度
まで真空引きし、その後ガス導入管12、ガス噴射管2
4及び図示しないガス噴射管により例えば窒素ガスを導
入して窒素ガス雰囲気とする。
ートバルブG1〜G4を閉じておき、図3のバルブV1
〜V3を切り替えることによって、図3の排気手段(ポ
ンプTP、DP)により、反応管1、ウエハ着脱室20
0A、200B及びロボット室300内を所定の真空度
まで真空引きし、その後ガス導入管12、ガス噴射管2
4及び図示しないガス噴射管により例えば窒素ガスを導
入して窒素ガス雰囲気とする。
【0028】一方カセット室400A、400Bは大気
圧となっており、この中に未処理のウエハwを収納した
2つのカセット4、4が配置される。そしてゲートバル
ブG6、G7を閉じカセット室400A、400B内を
バルブV4、V5を開いて排気し、その後この中に図示
しない窒素ガス導入管により窒素ガスを導入する。次い
で平衡用のバルブV6、V7を開いて、ガス通路5を開
放して、ロボット室300とカセット室400A、40
0Bの気圧を平衡にし、その後ゲートバルブG3、G4
を開き、ロボット3によりカセット4内のウエハwを取
り出し、オリフラ合わせ機構32にてオリフラ合わせを
行った後、例えばウエハ着脱領域100Aのボート2に
移載する。なおオリフラ合わせが行われてる間に次のウ
エハはバッフアステージ31に載置されて待機される。
圧となっており、この中に未処理のウエハwを収納した
2つのカセット4、4が配置される。そしてゲートバル
ブG6、G7を閉じカセット室400A、400B内を
バルブV4、V5を開いて排気し、その後この中に図示
しない窒素ガス導入管により窒素ガスを導入する。次い
で平衡用のバルブV6、V7を開いて、ガス通路5を開
放して、ロボット室300とカセット室400A、40
0Bの気圧を平衡にし、その後ゲートバルブG3、G4
を開き、ロボット3によりカセット4内のウエハwを取
り出し、オリフラ合わせ機構32にてオリフラ合わせを
行った後、例えばウエハ着脱領域100Aのボート2に
移載する。なおオリフラ合わせが行われてる間に次のウ
エハはバッフアステージ31に載置されて待機される。
【0029】ここで一方の熱処理部100Aにて熱処理
を行う場合について述べると、ウエハWのボート2への
載置については、ボート2を所定位置まで上昇させてお
き、そこからボールネジ部21aを間欠的に回動させ、
これによりエレベータ21を間欠的に下降させ、この動
作のタイミングに対応して下段側から順次にウエハWを
載置する。
を行う場合について述べると、ウエハWのボート2への
載置については、ボート2を所定位置まで上昇させてお
き、そこからボールネジ部21aを間欠的に回動させ、
これによりエレベータ21を間欠的に下降させ、この動
作のタイミングに対応して下段側から順次にウエハWを
載置する。
【0030】次にゲートバルブG1を閉じた後、このボ
ート2をエレベータ21により反応管1内にロードして
フランジ23により反応管1の下端開口部を密閉する。
一方ヒータ10により反応管1内は所定の温度に加熱し
てあり、この中を真空引きした後ガス導入管12を介し
て処理ガスやキャリアガスを導入し、ウエハwに例えば
CVD処理を行ってその表面に例えばポリシリコン膜な
どを成膜する。
ート2をエレベータ21により反応管1内にロードして
フランジ23により反応管1の下端開口部を密閉する。
一方ヒータ10により反応管1内は所定の温度に加熱し
てあり、この中を真空引きした後ガス導入管12を介し
て処理ガスやキャリアガスを導入し、ウエハwに例えば
CVD処理を行ってその表面に例えばポリシリコン膜な
どを成膜する。
【0031】成膜工程が終了した後エレベータ21によ
りボート21をアンロードし、ボートを所定の位置まで
降下させておくと共に、ゲートバルブG1、G3を開
き、エレベータ21を間欠的に上昇させ、ウエハの載置
の場合とは逆に上段側から順次にウエハWを移載ロボッ
ト3により取り出し、ゲートバルブG1、ロボット室3
00及びゲートバルブG3を介してカセット室400内
のカセットに移す。
りボート21をアンロードし、ボートを所定の位置まで
降下させておくと共に、ゲートバルブG1、G3を開
き、エレベータ21を間欠的に上昇させ、ウエハの載置
の場合とは逆に上段側から順次にウエハWを移載ロボッ
ト3により取り出し、ゲートバルブG1、ロボット室3
00及びゲートバルブG3を介してカセット室400内
のカセットに移す。
【0032】以上のようにして熱処理が実施されるが、
この例では熱処理100A、100Bの両方で並行して
熱処理を行うことができ、この場合にはカセット室40
0A、400B内のカセットを夫々熱処理部100A、
100Bに搬送し、熱処理後に各ウエハをもとのカセッ
トに戻すようにすればよい。
この例では熱処理100A、100Bの両方で並行して
熱処理を行うことができ、この場合にはカセット室40
0A、400B内のカセットを夫々熱処理部100A、
100Bに搬送し、熱処理後に各ウエハをもとのカセッ
トに戻すようにすればよい。
【0033】なお本発明では、ロボット室300とカセ
ット室400A、400BとがゲートバルブG3、G4
により仕切られることなく、一体となっている構造につ
いても適用でき、この場合はこれらにより第1のロード
ロック室が構成されることになる。
ット室400A、400BとがゲートバルブG3、G4
により仕切られることなく、一体となっている構造につ
いても適用でき、この場合はこれらにより第1のロード
ロック室が構成されることになる。
【0034】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、第1ロー
ドロック室内に例えば多数のウエハを収納したカセット
をセッティングすると、その後ウエハボートへの移載及
びそれらの工程における待機は不活性ガス雰囲気で行わ
れるので、ウエハにおける自然酸化膜の形成を極力抑え
ることができる。
ドロック室内に例えば多数のウエハを収納したカセット
をセッティングすると、その後ウエハボートへの移載及
びそれらの工程における待機は不活性ガス雰囲気で行わ
れるので、ウエハにおける自然酸化膜の形成を極力抑え
ることができる。
【0035】しかも各ロードロック室内を真空雰囲気と
する場合に比べて次のような利点がある。即ちウエハの
位置合わせや移送機構において真空チャックを利用して
ウエハを保持できるし、常時真空引きしなくて済む上、
常圧用の機構を各部に使用することができ、更に室内外
の差圧に基づくチャンバーの変形という問題もない。
する場合に比べて次のような利点がある。即ちウエハの
位置合わせや移送機構において真空チャックを利用して
ウエハを保持できるし、常時真空引きしなくて済む上、
常圧用の機構を各部に使用することができ、更に室内外
の差圧に基づくチャンバーの変形という問題もない。
【0036】そしてウエハボートが配置される領域とウ
エハの移載機構やカセットが配置される領域とを夫々別
々のロードロック室としているため、実施例のように反
応管を複数設置して、例えば異なった熱処理を同時に行
う場合にも一つの移載機構で対処できるといった構成を
採用することが可能であるから、装置の小型化を容易に
図ることができ、設計上極めて有利である。更に、移載
機構などのメンテナンスをするときに、その領域(第1
ロードロック室)を開放すればよく、従って雰囲気の置
換に時間のかかる、ウエハボートが昇降する広い第2の
ロードロック室は、開放する必要がないので、次の処理
における装置の立ち上げが容易である。
エハの移載機構やカセットが配置される領域とを夫々別
々のロードロック室としているため、実施例のように反
応管を複数設置して、例えば異なった熱処理を同時に行
う場合にも一つの移載機構で対処できるといった構成を
採用することが可能であるから、装置の小型化を容易に
図ることができ、設計上極めて有利である。更に、移載
機構などのメンテナンスをするときに、その領域(第1
ロードロック室)を開放すればよく、従って雰囲気の置
換に時間のかかる、ウエハボートが昇降する広い第2の
ロードロック室は、開放する必要がないので、次の処理
における装置の立ち上げが容易である。
【0037】また請求項2の発明によれば、例えば実施
例のようにカセット室とロボット室との間に気圧平衡用
のガス通路を設け、カセット室とロボット室との間のゲ
ートバルブを開く前にガス通路を開いて双方の気圧を平
衡させるようにしているから、ゲートバルブを開いたと
きに気圧差に基づく気流が発生しないので発塵を抑える
ことができ、半導体ウエハのようにパーティクルに影響
されやすい被処理体の処理を行う場合に非常に有効であ
る。
例のようにカセット室とロボット室との間に気圧平衡用
のガス通路を設け、カセット室とロボット室との間のゲ
ートバルブを開く前にガス通路を開いて双方の気圧を平
衡させるようにしているから、ゲートバルブを開いたと
きに気圧差に基づく気流が発生しないので発塵を抑える
ことができ、半導体ウエハのようにパーティクルに影響
されやすい被処理体の処理を行う場合に非常に有効であ
る。
【図1】本発明方法に適用される縦型熱処理装置の一例
を示す概略説明図
を示す概略説明図
【図2】図1に示す装置の概略平面図
【図3】図1に示す装置の排気系の配管図
1 反応管 2 ウエハボート 21 ボートエレベータ 3 移載ロボット 4 カセット 5 気圧平衡用のガス通路 200A、200B ウエハ着脱室 300 ロボット室 400A、400B カセット室
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01L 21/324 D 8617−4M (72)発明者 野口 忠隆 福岡県北九州市小倉北区大手町12番1号 株式会社安川電機小倉工場内
Claims (2)
- 【請求項1】 多数の被処理体を搭載した被処理体収納
部を縦型の反応管内に導入して、ここで被処理体の熱処
理を行う縦型熱処理装置において、 被処理体を反応管に対して搬入、搬出するための領域
を、移載機構を備えた第1のロードロック室と、前記収
納部に対する被処理体の着脱を行うための第2のロード
ロック室とにより構成し、 前記第1のロードロック室に多数の被処理体を導入した
後、当該第1のロードロック室全体を不活性ガス雰囲気
とし、 次いで予め不活性ガス雰囲気とした第2のロードロック
室内の前記収納部に、第1のロードロック室内の多数の
被処理体を前記移載機構により順次に載置することを特
徴とする熱処理方法。 - 【請求項2】 2つのロードロック室をゲートバルブを
介して互いに連結し、これらロードロック室内を所定の
ガス雰囲気にした後、一方のロードロック室内の被処理
体をゲートバルブを通じて他方のロードロック室に移載
する方法において、 前記2つのロードロック室を、平衡用のバルブを介して
気圧平衡用のガス通路により互いに接続し、 前記ゲートバルブを開く前に、前記平衡用のバルブを開
いて2つのロードロック室の気圧を平衡にし、その後被
処理体を移載することを特徴とする被処理体の移載方
法。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4057002A JPH05218176A (ja) | 1992-02-07 | 1992-02-07 | 熱処理方法及び被処理体の移載方法 |
| US08/013,366 US5388944A (en) | 1992-02-07 | 1993-02-04 | Vertical heat-treating apparatus and heat-treating process by using the vertical heat-treating apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4057002A JPH05218176A (ja) | 1992-02-07 | 1992-02-07 | 熱処理方法及び被処理体の移載方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05218176A true JPH05218176A (ja) | 1993-08-27 |
Family
ID=13043272
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4057002A Pending JPH05218176A (ja) | 1992-02-07 | 1992-02-07 | 熱処理方法及び被処理体の移載方法 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5388944A (ja) |
| JP (1) | JPH05218176A (ja) |
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