JPH0521842A - 光学素子および発光ダイオード - Google Patents
光学素子および発光ダイオードInfo
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- JPH0521842A JPH0521842A JP4047736A JP4773692A JPH0521842A JP H0521842 A JPH0521842 A JP H0521842A JP 4047736 A JP4047736 A JP 4047736A JP 4773692 A JP4773692 A JP 4773692A JP H0521842 A JPH0521842 A JP H0521842A
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Abstract
多面反射体を備えた発光ダイオードを与える。 【構成】 発せられた光の光ファイバのような光学導波
路への結合を容易にするために、LED(10)などの
光源に、多数の面を有する反射体を与える。好ましい実
施例においては、透明な基板(20)の片面に作られた
通常のLEDの基板の反対側に一連の同心の反射リング
(31)を与える。これらのリングによって、LEDか
ら発散する光が、光ファイバ(41)の中心軸の方向に
反射される。
Description
る光学素子に関し、好ましい実施例においては、光の放
射および放射光の光ファイバへの結合を容易にするため
に必要な多面反射体を有する発光ダイオードに関する。
バ通信システムにおいてレーザ光源に代わり信頼性のあ
るそれほど高価でない光源を提供する。LEDは、エネ
ルギー出力の制御に帰還を必要とせず比較的単純な駆動
回路を使用していて、さらに同じ材料で作られたレーザ
・ダイオードの素子寿命より1桁乃至2桁長い突出した
素子寿命で広い範囲の温度にわたって動作可能である。
GaAsPの場合、光ファイバ・システムにはLEDが
特に有用である。これらのLEDは、約1.3マイクロ
メータの波長で光を放射するが、この波長の時、光ファ
イバは最低の減衰および分散を示す。
の使用に対し重要な必要条件は、光の放射および放射光
の光ファイバへの結合における効率である。LEDの半
導体と空気との境界における光の完全内部反射のために
光の放射の非効率性が上昇する。一般のLED半導体の
屈折率と空気のそれとの間には比較的大きな差が存在す
る。結果として、半導体と空気との境界に近付く光の臨
界角が比較的小さく、臨界角を超える角度で境界に近付
く光は、半導体から出ずに、完全に内部に反射される。
例えば、InPの屈折率は、空気の1.0に比較して約
3.3である。従って、法線から約18°以内の角度で
InPの表面に近付いている光だけが、半導体を出るこ
とになる。18°以上の角度の光は、反射されて半導体
へと戻される。
も、放射光の光ファイバへの結合における非効率性が存
在する。光ファイバは、第2の屈折率を有する同心のク
ラッドによって囲まれた第1の屈折率を有するコアを特
徴とする直径の小さい導波路である。臨界入射角より小
さい角度(ファイバの軸から計った角度)でコアに進入
する光線は、光ファイバ内部で完全内部反射を受ける。
これらの光線は、ファイバの軸に沿って最小の減衰量で
導かれる。臨界入射角を超える角度の光線は、ファイバ
には結合されない。このように一般の結合構造では、L
EDによって放射された光の僅かな部分しかファイバを
伝わらない。
Dの活性領域より上の半導体の領域を球形に彫刻し、そ
して活性領域からの光の入射角を減少させることであ
る。球形の微妙な調節によって、放射光の隣接する光フ
ァイバへの結合を強める集光効果を与えることができ
る。この方法によって効率の増加が得られるが、彫刻を
行うために使用されるエッチング技術では約10マイク
ロメートル以上の深さまで必要な精度で形成することは
容易にできないので、表面を彫刻し得る程度には限度が
ある。このように、彫刻される部分の範囲は限られてい
る。
る課題は、結合効率だけでなく製造時の調節誤差許容度
を高めた発光ダイオードを提供することである。
路への放射光の結合を容易にするために、LEDのよう
な光源に多面反射体を与える。好ましい実施例におい
て、透明な基板の片面に作られた通常のLEDの基板の
反対側に一連の同心の反射リングを与える。これらのリ
ングによって、LEDから発散する光が、光ファイバ光
の中心軸の方向に反射される。
一方の表面21に隣接して形成された活性領域10、お
よび活性領域10から発散する光線11を中心軸AA’
の方向に反射させるための反射壁33からなる反対側の
表面22上の多面反射体を備えている。
同心リング31からなり、各リングは、半径の増加と共
に徐々に厚さが増加する領域32とその領域に続いて突
然厚さが減少して形成される反射壁33によって特徴付
けられる。反射壁33を形成する厚さの減少の割合は、
領域32を形成する増加の割合の少なくとも3倍はなけ
ればならない。一般的な用途の場合、領域10の中心を
通って反射リングの共通の中心に至る軸AA’は、境を
接する光ファイバ40の軸と一致する。この構造によっ
て、活性領域からの光線11は、反射体構造が無ければ
内部の全反射によって半導体内部で捉えられるところで
あるが、傾斜が付けられた面に反射壁33によって臨界
角より小さい角度で反射されて半導体から出て行く。さ
らに、図のように、境を接する光ファイバ40のコア4
1を通常であれば外れる光線が、壁33によってコア4
1へと反射される。反射構造の中心領域は、合成(多数
の部分からなる統一体としての)レンズ34を備えてい
るので都合がよい。
A’を定義するそれぞれの中心間の線に関して、LED
の活性領域10(図2には図示せず)の中心とは反対側
に中心を持つ。典型的な構造の外側の直径Dは、16ミ
ル(16/1000インチ=0.4064ミリメート
ル)である。合成レンズ34は、直径は約2.1ミルが
好ましく、各々が緩やかな傾斜の領域32および反射壁
33からなる複数の反射リングが、レンズの外径dとこ
の構造の外径Dとの間に同心的に(中心を共有して)配
置されている。それぞれのリングの半径方向の広がり
は、中心軸の切片A’からリングまでの距離に比例し、
(壁33における)エッチングの最大の深さは約10マ
イクロメータであることが好ましい。
常の構造のものでもよい。LEDは、1.3マイクロメ
ータのInGaAsPのLEDである。基板20は、5
ミルのInP基板であり、厚さ2乃至5マイクロメータ
で約2x1018cm-3までSnをドープしたn−InP
バッファ層を含んでいる。活性層10は、厚さ0.5乃
至1.5マイクロメータで約5x1017cm-3のn型ド
ーピングを有するInGaAsPである。活性層10を
覆うのは、1乃至2マイクロメータの厚さを有し0.5
乃至5x1018cmー3の濃度までZnまたはCdでドー
プされたp−InPからなる閉じ込め層24である。接
触抵抗を減らすために、InGaAspのキャップ層2
5を備えている。キャップ層25は、0.5マイクロメ
ータの厚さで、約1x1019cmー3までZnでドープし
たものでよい。コンタクト層27は、絶縁層26を介し
てLEDに熱的に接着されているので、絶縁層26は、
放熱体としても作用し好都合である。
方の側21にLEDの活性領域を形成し、次に反対側2
2にリング31からなる反射構造を形成することによっ
て作るのが好ましい。LEDの活性領域10は、前記の
ように、通常の要領で形成される。上方のコンタクト層
(放熱層)27は、当分野において周知の技術によって
素子の表面に形成することができる。光ファイバ40
は、透明なエポキシ42によって所定の位置に接合する
ことができる。
る反射構造は、単一の写真平板処理で形成する方がよ
い。本来、傾斜のある面は、ポジティブに作用するフォ
トレジストを基板に塗布し、除去されるべき基板材料の
量に逆比例した光量にレジストを露光し、マスクを形成
するためにレジストを現像し、さらにこのようにマスク
された構造を反応的にイオン・エッチングすることによ
って形成される。この処理の目的は、領域10の中心か
ら発散する光を軸AA’の方向に反射させるために急な
反射壁33を作ることである。
ためにポジティブに作用するレジストと共に使用される
好ましい露光マスクを写真で示した図3および4を参照
することによって理解することができる。図3は、マス
クの中心部分を示し、図4は、マスクの拡大した部分を
示す。本来、マスクは、一連の同心リング(Ri)から
なり、各リングは、底辺が共通の中心A’(図3)の回
りに円となって連結している不透明で合同な二等辺三角
形60(図4)からなる。反射リングを形成するため
に、これらの三角形の頂点63は、内側に半径方向を指
している。レンズを形成するために、頂点63は、外側
に半径方向を指している。小さく開いた領域64が、連
続したリングの間に放射状に延びている。1つの三角形
の寸法は、底辺が約2.5マイクロメータ、高さが27
マイクロメータである。このようなマスクは、パーキン
・エルマ社(Parkin-Elmer Corporation)から販売され
ているMEBESパタン発生機のような電子ビーム・パ
タン発生装置を用いて容易に作ることができる。
により、連続するリング間の空間64にある最大露光領
域から、半径距離の頂点63から底辺への移動にともな
い線形的に光が減少する領域を通って、底辺が接続して
いる領域62の最小露光領域に至るまで半径方向の距離
が進むにつれて徐々に露光が減少する連続した要素リン
グが生成される。使用に際し、所与の半径距離rにある
フォトレジストに達する光の強度は、その半径距離rに
おいてマスクを通過する平均強度となる。結果は、開い
た領域64の最大に露光されたレジスト、頂点から底辺
まで移動し直線的に露光が減少するレジスト、および底
辺リング62の基礎となる最小に露光されたレジストで
ある。従って、開いた領域64によって反射壁33の位
置が定義され、頂点から底辺までの領域によって緩やか
な傾斜の領域32が定義される。
3が放射状に外を向くように頂点の方向を逆にする。こ
れによって、半径距離がレンズ34の周辺に向かって半
径方向外側に移るにつれて露光フォトレジストの量が徐
々に増す。
る。レジストにより制作品に沈み彫りパタンを形成す
る。ポジティブ・レジストなので、露光が多いほど、現
像により除去されるレジストの量が多くなる。結果的に
得られる構造を反応イオン・エッチング装置に入れ、エ
ッチング処理によって、レジストの現像によって形成さ
れた沈み彫りパタンに相当するものを基板表面上に生成
する。
ウム基板上のLEDに図1に示した種類の多面反射体構
造を与えた。このため、基板の裏面に4マイクロメート
ルのAZ1400−31フォトレジストを形成し、図3
に示した5Xリダクション・マスクを通して露光した。
露光は、GCAステッパーのモデルMANN4800に
ある水銀アーク・ランプに対し2秒間であった。露光し
たレジストは、Shipley505現像機の中で30
秒間現像し、さらに90°Cで30分間焼いた。
アルミ電極を有するプラズマ技術社(Plasma Technolog
ies)のプラズマラボ(Plasmalab)反応イオン・エッチ
ング装置に入れた。底の電極は、70°の温度に維持
し、その電極に熱的に接着した石英板によって完全に覆
った。プラズマによりO2でエッチング室を浄化した
後、構造を拡散ポンプ液の薄膜によって石英版に熱的に
接着させる。次に、エッチング装置を10ー5トル(tor
r)まで真空にし、10sccmのSiCl4、10sccmのH
2および1sccmのCH4からなるプラズマ・ガスを1.5
x10ー2トルの総圧力で通した。13.6MHzのRF
電力を180ワットで60分間、300ボルトの直流自
己バイアスを与えながら、加えた。
造を有するLEDが得られた。実験により、反射構造を
備えたLEDは、処理をしていないLEDからの光の約
5倍の光量を接する光ファイバに結合することが示され
た。
もので、この技術分野の当業者であれば、本発明の種々
の変形例が考えられるが、それらはいずれも本発明の技
術的範囲に包含される。
めのものであり、図3および4を除いて等尺ではない。
は多数の利点がある。第1に、半導体からの光の放射効
率が高くなる。平坦な表面からであれば内部的に全反射
されるはずの光は、代わりに反射壁33に当たって反射
し、傾斜した表面32を通って半導体から出る。第2
に、放射光の光ファイバへの結合効率が高くなる。反射
壁は、半導体からの光を反射するだけでなく、その光を
光ファイバに方向付けもする。実質的な結果として、光
を余分に利用することができる。このように、本発明
は、ファイバ40への光量を増加させるために利用した
り、ファイバ40とLED20との間の位置的な許容度
の余裕を与えることによって製造費用を低減するために
利用することができる。
用される写真平板マスクの写真図である。
用される写真平板マスクの写真図である。
Claims (12)
- 【請求項1】 透明基板(20)の第1の表面上にあっ
て、この基板を介して該基板の第2の表面に光を発する
光源(10)と、 前記第2の表面に隣接して配置され、入射光を受け導く
光導波手段(41)と、 前記光源と前記光導波手段との間の前記第2の表面上に
配置された複数の反射壁からなり、前記光源から発散す
る光を前記光導波手段に向けて反射する光反射構造(3
1)とを備えたことを特徴とする光導波手段に光を印加
する光学素子。 - 【請求項2】 前記の光反射構造が、前記基板の前記第
2の表面上に多数の部分からなる統一体として形成され
ることを特徴とする請求項1記載の光学素子。 - 【請求項3】 前記の光学素子が、発光ダイオードを備
え、かつ前記光源が、該発光ダイオードの光学活性領域
であることを特徴とする請求項2記載の光学素子。 - 【請求項4】 前記光導波手段が、光導波路であること
を特徴とする請求項2記載の光学素子。 - 【請求項5】 前記光導波路が、光ファイバであること
を特徴とする請求項4記載の光学素子。 - 【請求項6】 前記光反射構造(31)が、共通の中心
の回りに複数の同心リングを備え、各リングが、前記の
共通の中心から半径方向に距離が増すと共に厚さが増加
する第1の領域(32)と、これに続き半径距離が増す
と共に厚さが減少する第2の領域(33)とを備え、前
記第2の領域における減少率が、前記第1の領域におけ
る増加率の少なくとも3倍であることを特徴とする請求
項1記載の光学素子。 - 【請求項7】 透明な基板の第1の表面上に形成された
光学活性領域を有し、前記基板を通過して前記基板の第
2の表面へと光を発する発光ダイオード、 前記基板の前記第2の表面上の複数の反射壁からなり、
前記光学活性領域から発散する光を受けて、この光を中
心領域(隣接する光導波手段)に向けて反射する光反射
構造を備えたことを特徴とする光導波手段に光を結合し
易くした発光ダイオード。 - 【請求項8】 前記光反射手段が、前記基板の前記第2
の表面上に多数の部分からなる統一体として形成された
ことを特徴とする請求項7記載の発光ダイオード。 - 【請求項9】 前記光反射構造が、共通の中心を有する
複数の同心リングを備え、各リングが、前記の共通の中
心から半径方向に距離が増すと共に厚さが増加する第1
の領域と、これに続き、反射壁の輪郭を成し厚さが減少
する領域とを備えた、 ことを特徴とする請求項8記載の発光ダイオード。 - 【請求項10】 前記光反射構造が、前記同心リングの
半径方向内側に同心レンズ手段をさらに備えたことを特
徴とする請求項8記載の発光ダイオード。 - 【請求項11】 前記の透明な基板が、リン化インジウ
ムであることを特徴とする請求項6記載の発光ダイオー
ド。 - 【請求項12】 InP基板上のInGaAs発光ダイ
オードからなることを特徴とする請求項6記載の発光ダ
イオード。
Applications Claiming Priority (2)
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| US658144 | 1991-02-20 | ||
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Publications (2)
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| JPH0521842A true JPH0521842A (ja) | 1993-01-29 |
| JPH0779171B2 JPH0779171B2 (ja) | 1995-08-23 |
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Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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| EP (1) | EP0499946B1 (ja) |
| JP (1) | JPH0779171B2 (ja) |
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