JPH052187A - 液晶電気光学装置 - Google Patents
液晶電気光学装置Info
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- JPH052187A JPH052187A JP3033482A JP3348291A JPH052187A JP H052187 A JPH052187 A JP H052187A JP 3033482 A JP3033482 A JP 3033482A JP 3348291 A JP3348291 A JP 3348291A JP H052187 A JPH052187 A JP H052187A
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Landscapes
- Liquid Crystal (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】迷光の少ない液晶パネルを実現し、表示の高コ
ントラストを実現する。 【構成】図1に示されるように、液晶パネルを構成する
基板のうち少なくとも一方の基板上のアクティブ素子の
金属配線の側周辺の一部に光を吸収する層109を設
け、この迷光の発生を抑えるものである。
ントラストを実現する。 【構成】図1に示されるように、液晶パネルを構成する
基板のうち少なくとも一方の基板上のアクティブ素子の
金属配線の側周辺の一部に光を吸収する層109を設
け、この迷光の発生を抑えるものである。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は液晶電気光学装置の構造
に関する。特に液晶電気光学装置を使用して画像を拡大
表示する際に好適な液晶電気光学装置に関する。
に関する。特に液晶電気光学装置を使用して画像を拡大
表示する際に好適な液晶電気光学装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来地上テレビ局または衛星テレビ局ま
たはケーブルテレビ局または個別に設けられたテレビ映
像の録画装置(ビデオデッキ、レーザーディスク、光磁
気ディスク等)より送られる映像信号を具体的に表示す
る装置としては、ブラウン管、CRTと呼ばれる真空管
中で電子線を飛ばして、対象物となる蛍光面を発光させ
る方式が取られていた。
たはケーブルテレビ局または個別に設けられたテレビ映
像の録画装置(ビデオデッキ、レーザーディスク、光磁
気ディスク等)より送られる映像信号を具体的に表示す
る装置としては、ブラウン管、CRTと呼ばれる真空管
中で電子線を飛ばして、対象物となる蛍光面を発光させ
る方式が取られていた。
【0003】当初表示体の対角は12〜14インチがよ
く普及していたが、近年世の中の要求によって、20イ
ンチはおろか30インチをゆうに超える大きさのものま
で出現するに至っている。
く普及していたが、近年世の中の要求によって、20イ
ンチはおろか30インチをゆうに超える大きさのものま
で出現するに至っている。
【0004】対角30インチの場合、その奥行きもほぼ
30インチほどあり、またそれを形成するガラスの厚み
も強度を保つために1センチを超えるようになった。表
示面が30インチを越えると全体の重量は100kgを優
に越えることになった。一般の家庭において100kgを
越えた重量物を置くには、よっぽど場所を限定しなけれ
ば難しいものがある。また、その重量はレイアウト変更
等が生じた場合に、人力で移動させることは難しくな
り、一般家庭への普及の障害となっていた。
30インチほどあり、またそれを形成するガラスの厚み
も強度を保つために1センチを超えるようになった。表
示面が30インチを越えると全体の重量は100kgを優
に越えることになった。一般の家庭において100kgを
越えた重量物を置くには、よっぽど場所を限定しなけれ
ば難しいものがある。また、その重量はレイアウト変更
等が生じた場合に、人力で移動させることは難しくな
り、一般家庭への普及の障害となっていた。
【0005】そこで、重量の解決のため、プロジェクシ
ョン型のテレビ受像機が提案されている。これは輝度の
高いブラウン管による表示を光学系で拡大表示してスク
リーンに映し出す方式も提案され、表示面積の大きな物
に利用されている。
ョン型のテレビ受像機が提案されている。これは輝度の
高いブラウン管による表示を光学系で拡大表示してスク
リーンに映し出す方式も提案され、表示面積の大きな物
に利用されている。
【0006】近年、このプロジェクション型において、
ブラウン管に代わって、アモルファスシリコンを使った
薄膜トランジスタ方式の液晶パネルをその元となる表示
体として使用したものが実用化提案されている。重量は
プロジェクションのブラウン管方式に比べて、30%程
度ですむために一般家庭への普及を助ける要因の一つと
なった。
ブラウン管に代わって、アモルファスシリコンを使った
薄膜トランジスタ方式の液晶パネルをその元となる表示
体として使用したものが実用化提案されている。重量は
プロジェクションのブラウン管方式に比べて、30%程
度ですむために一般家庭への普及を助ける要因の一つと
なった。
【0007】この液晶パネルを使用したプロジェクショ
ン表示装置は通常、赤(R)、緑(G)、青(B)専用
の3枚の液晶パネルを使用し図2に示すような光学系に
て1つの画面に合成して拡大表示する。その為にこの3
枚液晶パネルは高精度の位置合わせ精度を必要とされ、
具体的には1μmの精度が要求される。
ン表示装置は通常、赤(R)、緑(G)、青(B)専用
の3枚の液晶パネルを使用し図2に示すような光学系に
て1つの画面に合成して拡大表示する。その為にこの3
枚液晶パネルは高精度の位置合わせ精度を必要とされ、
具体的には1μmの精度が要求される。
【0008】この様なプロジェクション方式の表示装置
は3インチ程度の液晶パネルを4〜5m離れたスクリー
ン上に約100インチの画面に拡大して表示する。この
為、100インチの表示画面が粗くなりぼやけた表示と
ならないように拡大する前の表示用の液晶パネルを高精
細にする必要がある。
は3インチ程度の液晶パネルを4〜5m離れたスクリー
ン上に約100インチの画面に拡大して表示する。この
為、100インチの表示画面が粗くなりぼやけた表示と
ならないように拡大する前の表示用の液晶パネルを高精
細にする必要がある。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】この様な液晶パネルに
おいては当然ながら隣合った画素電極間の距離が短くな
る。この狭い間隔にアクティブ素子用の金属配線がX方
向またはY方向に設けられている。図3はその様子を示
す液晶パネルの概略断面図である。同図において、説明
を簡単にするためにスィッチング素子のない部分を示
し、説明に必要な要素のみを描いたので実際の液晶パネ
ルとは若干構成が異なっている。
おいては当然ながら隣合った画素電極間の距離が短くな
る。この狭い間隔にアクティブ素子用の金属配線がX方
向またはY方向に設けられている。図3はその様子を示
す液晶パネルの概略断面図である。同図において、説明
を簡単にするためにスィッチング素子のない部分を示
し、説明に必要な要素のみを描いたので実際の液晶パネ
ルとは若干構成が異なっている。
【0010】101は透明のガラス基板であり、102
と103は画素電極を示している。この画素電極の間隔
は数百μm程度であり、この間に金属配線104が設け
られている。
と103は画素電極を示している。この画素電極の間隔
は数百μm程度であり、この間に金属配線104が設け
られている。
【0011】プロジェクション表示装置ではリア型、フ
ロント型ともに強力な光源からの光をこの液晶パネルに
照射し、光学系を使用して拡大表示する。この光源から
の光Lはガラス基板を通過して、画素部分に照射される
が、同時にアクティブ素子の金属配線部分104にも照
射される。この部分では光は反射、散乱され、この散
乱、反射された光はガラス基板部分で再度、反射、散乱
されるものとそのまま液晶パネル外部に出て行くものと
が存在する。
ロント型ともに強力な光源からの光をこの液晶パネルに
照射し、光学系を使用して拡大表示する。この光源から
の光Lはガラス基板を通過して、画素部分に照射される
が、同時にアクティブ素子の金属配線部分104にも照
射される。この部分では光は反射、散乱され、この散
乱、反射された光はガラス基板部分で再度、反射、散乱
されるものとそのまま液晶パネル外部に出て行くものと
が存在する。
【0012】今、画素103の表示をOFFとして、光
の透過をさせない時でもこの配線部分にて反射、散乱さ
れた光は画素の周辺部分から液晶パネルを透過して行
く、その為画素102をOFFとしていても、若干の光
がもれ、表示のコントラストが悪くなってしまってい
た。
の透過をさせない時でもこの配線部分にて反射、散乱さ
れた光は画素の周辺部分から液晶パネルを透過して行
く、その為画素102をOFFとしていても、若干の光
がもれ、表示のコントラストが悪くなってしまってい
た。
【0013】特にプロジェクション表示装置ではリア
型、フロント型ともにまわりが明るい場所でもよく見え
るように、投影画面を明るくすることが望まれ、その為
より強力な光源で光を照射するようになり、前述の反
射、散乱させられる光(迷光)の強度がつよくなり、表
示のコントラスト低下に大きく影響を与えていた。
型、フロント型ともにまわりが明るい場所でもよく見え
るように、投影画面を明るくすることが望まれ、その為
より強力な光源で光を照射するようになり、前述の反
射、散乱させられる光(迷光)の強度がつよくなり、表
示のコントラスト低下に大きく影響を与えていた。
【0014】さらに、表示画面の高精細化、高密度化が
進行してゆくと、画素の間隔がより狭くなるか、画素の
大きさと配線の大きさの比がより小さくなるため、この
迷光の影響がより大きくなり、より表示コントラストを
高めることが必要となっていた。
進行してゆくと、画素の間隔がより狭くなるか、画素の
大きさと配線の大きさの比がより小さくなるため、この
迷光の影響がより大きくなり、より表示コントラストを
高めることが必要となっていた。
【0015】
【課題を解決するための手段】本発明は前述のような迷
光によるコントラストの低下を防止するものであり、図
1に示されるように、液晶パネルを構成する基板のうち
少なくとも一方の基板上のアクティブ素子の金属配線の
側周辺の一部に光を吸収する層109を設け、この迷光
の発生を抑えるものである。
光によるコントラストの低下を防止するものであり、図
1に示されるように、液晶パネルを構成する基板のうち
少なくとも一方の基板上のアクティブ素子の金属配線の
側周辺の一部に光を吸収する層109を設け、この迷光
の発生を抑えるものである。
【0016】図1において、金属配線104は直接基板
上に設けられているが、この図は必要な要素のみの概略
を示したものであり、実際には、必要に応じてこの配線
の上、下にその他の機能を持つ膜が設けられる。
上に設けられているが、この図は必要な要素のみの概略
を示したものであり、実際には、必要に応じてこの配線
の上、下にその他の機能を持つ膜が設けられる。
【0017】この光吸収層109とは、迷光を発生させ
ず、むしろ迷光を減らす機能を持つものであり、使用す
る材料としては黒色の物であれば光を吸収することはで
きるが、液晶材料、アクティブ素子および電極材料への
影響を考慮すると、気相法により形成された炭素を主成
分とする薄膜(例えば、ダイヤモンドライクカーボン、
アモルファスカーボン)や黒色の電子材料用の有機材料
膜や金属の酸化膜等が適用可能であった。
ず、むしろ迷光を減らす機能を持つものであり、使用す
る材料としては黒色の物であれば光を吸収することはで
きるが、液晶材料、アクティブ素子および電極材料への
影響を考慮すると、気相法により形成された炭素を主成
分とする薄膜(例えば、ダイヤモンドライクカーボン、
アモルファスカーボン)や黒色の電子材料用の有機材料
膜や金属の酸化膜等が適用可能であった。
【0018】この光吸収層の金属配線に対する位置関係
は図4に示されるように様々な態様が考えられる。図4
(A)では金属配線104の基板と反対側の面上に光吸
収層109が設けられている。この場合の光吸収層の形
成方法の概略としては基板上に形成された金属配線の上
全面に気相法により炭素を主成分とする被膜を形成す
る。次にフォトリソ工程を使用してこの被膜109をエ
ッチング除去する。この時フォトレジストの露光の際に
光を基板側より入射して、金属配線をマスクとして使用
し配線とセルファラインで形成することも可能である。
は図4に示されるように様々な態様が考えられる。図4
(A)では金属配線104の基板と反対側の面上に光吸
収層109が設けられている。この場合の光吸収層の形
成方法の概略としては基板上に形成された金属配線の上
全面に気相法により炭素を主成分とする被膜を形成す
る。次にフォトリソ工程を使用してこの被膜109をエ
ッチング除去する。この時フォトレジストの露光の際に
光を基板側より入射して、金属配線をマスクとして使用
し配線とセルファラインで形成することも可能である。
【0019】また、図1の場合は基板全面上に炭素を主
成分とする被膜を形成した後に、金属配線用材料を全面
に形成し、この後、一枚のマスクを使用して、金属配線
と光吸収層を同一工程で同時に形成することができる。
図4(B)(C)はこの工程の組合せにて形成すること
ができる。
成分とする被膜を形成した後に、金属配線用材料を全面
に形成し、この後、一枚のマスクを使用して、金属配線
と光吸収層を同一工程で同時に形成することができる。
図4(B)(C)はこの工程の組合せにて形成すること
ができる。
【0020】一方、図4の(D)は印刷法により、エポ
キシ樹脂の中に黒い染料を含有した有機樹脂等を直接金
属配線上に印刷して光吸収層110を形成したものであ
り、印刷の際のパターンを任意に変更して、画素電極1
02、103の間に形成する。このように金属配線の殆
どを基板と有機樹脂の光吸収層で覆った場合、金属配線
と画素電極または金属配線どうし間での電気信号のリー
クを抑える効果も同時に期待することができる。また、
気相法で形成された炭素を主成分とする被膜9は前述の
方法にて形成されるが、必要に応じて省略することも可
能である。
キシ樹脂の中に黒い染料を含有した有機樹脂等を直接金
属配線上に印刷して光吸収層110を形成したものであ
り、印刷の際のパターンを任意に変更して、画素電極1
02、103の間に形成する。このように金属配線の殆
どを基板と有機樹脂の光吸収層で覆った場合、金属配線
と画素電極または金属配線どうし間での電気信号のリー
クを抑える効果も同時に期待することができる。また、
気相法で形成された炭素を主成分とする被膜9は前述の
方法にて形成されるが、必要に応じて省略することも可
能である。
【0021】また、図4(C)に記載の構造は金属配線
の露出している表面を直接酸化することにより、形成し
てもよい、例えば金属配線がアルミニウムの場合、表面
をアルマイト処理して、黒色のアルマイトを表面に形成
してもよい。また、一般には金属配線の表面を酸化し
て、完全な酸化膜ではなく低級酸化膜とすると表面が黒
色化して、光吸収層を形成できる。
の露出している表面を直接酸化することにより、形成し
てもよい、例えば金属配線がアルミニウムの場合、表面
をアルマイト処理して、黒色のアルマイトを表面に形成
してもよい。また、一般には金属配線の表面を酸化し
て、完全な酸化膜ではなく低級酸化膜とすると表面が黒
色化して、光吸収層を形成できる。
【0022】さらに、この光吸収層と基板および電極と
の配置関係は採用した液晶パネルの構造、アクティブ素
子の構造により様々な実施態様が存在する。その際に
は、形成の為の工程数やコスト等を考慮して採用すれば
よい。
の配置関係は採用した液晶パネルの構造、アクティブ素
子の構造により様々な実施態様が存在する。その際に
は、形成の為の工程数やコスト等を考慮して採用すれば
よい。
【0023】また、図4は光吸収層と基板、電極との配
置の関係を示すために必要な構成要素のみを描いたもの
で、この構成に限定することを意図した図面ではない。
実際の液晶パネルにおいてはその他の構成要素は多数存
在する。
置の関係を示すために必要な構成要素のみを描いたもの
で、この構成に限定することを意図した図面ではない。
実際の液晶パネルにおいてはその他の構成要素は多数存
在する。
【0024】気相法にて炭素を主成分とする被膜を形成
する場合、エチレン、メタン等の炭化水素気体に対し
て、熱や電気的なエネルギーを与えて分解して被膜する
が、通常形成される炭素膜は透明あるいは半透明性のも
のであり、そのままでは光吸収層としては使用出来ない
ので、黒色化する必要がある。この黒色化した炭素膜を
形成する方法としては、プラズマCVD装置を使用し
て、反応性気体としては炭化水素気体(例えばアセチレ
ン、エチレン、エタン、等の飽和不飽和炭化水素)を使
用して、高周波(13.56MHz)の電力を加えて分
解活性化して被膜を形成するがその際に被膜形成基板に
接地電位に対してマイナスの高いバイアス電位を与える
ことにより、黒色化した炭素膜を形成する事ができる。
する場合、エチレン、メタン等の炭化水素気体に対し
て、熱や電気的なエネルギーを与えて分解して被膜する
が、通常形成される炭素膜は透明あるいは半透明性のも
のであり、そのままでは光吸収層としては使用出来ない
ので、黒色化する必要がある。この黒色化した炭素膜を
形成する方法としては、プラズマCVD装置を使用し
て、反応性気体としては炭化水素気体(例えばアセチレ
ン、エチレン、エタン、等の飽和不飽和炭化水素)を使
用して、高周波(13.56MHz)の電力を加えて分
解活性化して被膜を形成するがその際に被膜形成基板に
接地電位に対してマイナスの高いバイアス電位を与える
ことにより、黒色化した炭素膜を形成する事ができる。
【0025】具体的には、エチレン気体10SCCMを
反応室に流し、反応室内の圧力0.05torr、Rf
出力60Wで基板温度はとくにせず、基板バイアス電圧
を−700V加えて形成した。この時基板に加えるバイ
アス電圧は高い程より黒色化した被膜を形成することが
でき、バイアス電圧−100V以上では透明に近いがそ
の値を越して負のバイアス電圧が高くなると黒色化した
膜が形成される。この膜の電気的特性は10-7Scm台
の導電率が得られ、誘電率は3.03と低誘電率の膜で
あった。
反応室に流し、反応室内の圧力0.05torr、Rf
出力60Wで基板温度はとくにせず、基板バイアス電圧
を−700V加えて形成した。この時基板に加えるバイ
アス電圧は高い程より黒色化した被膜を形成することが
でき、バイアス電圧−100V以上では透明に近いがそ
の値を越して負のバイアス電圧が高くなると黒色化した
膜が形成される。この膜の電気的特性は10-7Scm台
の導電率が得られ、誘電率は3.03と低誘電率の膜で
あった。
【0026】この炭素膜を図1および図4のようにパタ
ーニングする際には酸素やNF3 のようなエッチング気
体を使用して、パターニング可能であり、その他の被膜
との選択比も十分にとることができる。
ーニングする際には酸素やNF3 のようなエッチング気
体を使用して、パターニング可能であり、その他の被膜
との選択比も十分にとることができる。
【0027】
【実施例】『実施例1』 本実施例においては、アクテ
ィブ素子として、一つの画素電極に相補型構成の薄膜ト
ランジスタを形成した例を示す。
ィブ素子として、一つの画素電極に相補型構成の薄膜ト
ランジスタを形成した例を示す。
【0028】本実施例では図5に示すような回路構成す
なわちインバータ型の回路構成を用いた液晶表示装置を
用いて、液晶表示装置の説明を行う。この回路構成に対
応する実際の電極等の配置構成を図6に示している。こ
れらは説明を簡単にする為2×2に相当する部分のみ記
載されている。
なわちインバータ型の回路構成を用いた液晶表示装置を
用いて、液晶表示装置の説明を行う。この回路構成に対
応する実際の電極等の配置構成を図6に示している。こ
れらは説明を簡単にする為2×2に相当する部分のみ記
載されている。
【0029】まず、本実施例で使用する液晶電気光学装
置の作製方法を図7を使用して説明する。図7(A)に
おいて、石英ガラス等の高価でない700℃以下、例え
ば約600℃の熱処理に耐え得るガラス50上にマグネ
トロンRF(高周波) スパッタ法を用いてブロッキング
層51としての酸化珪素膜を1000〜3000Åの厚
さに作製する。プロセス条件は酸素100%雰囲気、成
膜温度15℃、出力400〜800W、圧力0.5Pa
とした。タ−ゲットに石英または単結晶シリコンを用い
た成膜速度は30〜100Å/分であった。
置の作製方法を図7を使用して説明する。図7(A)に
おいて、石英ガラス等の高価でない700℃以下、例え
ば約600℃の熱処理に耐え得るガラス50上にマグネ
トロンRF(高周波) スパッタ法を用いてブロッキング
層51としての酸化珪素膜を1000〜3000Åの厚
さに作製する。プロセス条件は酸素100%雰囲気、成
膜温度15℃、出力400〜800W、圧力0.5Pa
とした。タ−ゲットに石英または単結晶シリコンを用い
た成膜速度は30〜100Å/分であった。
【0030】この上にシリコン膜をLPCVD(減圧気
相)法、スパッタ法またはプラズマCVD法により形成
した。減圧気相法で形成する場合、結晶化温度よりも1
00〜200℃低い450〜550℃、例えば530℃
でジシラン(Si2H6)またはトリシラン(Si3H8)を
CVD装置に供給して成膜した。反応炉内圧力は30〜
300Paとした。成膜速度は50〜250Å/分であ
った。NTFTとPTFTとのスレッシュホールド電圧
(Vth)に概略同一に制御するため、ホウ素をジボラン
を用いて1×1015〜1×1018cm-3の濃度として成膜
中に添加してもよい。
相)法、スパッタ法またはプラズマCVD法により形成
した。減圧気相法で形成する場合、結晶化温度よりも1
00〜200℃低い450〜550℃、例えば530℃
でジシラン(Si2H6)またはトリシラン(Si3H8)を
CVD装置に供給して成膜した。反応炉内圧力は30〜
300Paとした。成膜速度は50〜250Å/分であ
った。NTFTとPTFTとのスレッシュホールド電圧
(Vth)に概略同一に制御するため、ホウ素をジボラン
を用いて1×1015〜1×1018cm-3の濃度として成膜
中に添加してもよい。
【0031】スパッタ法で行う場合、スパッタ前の背圧
を1×10-5Pa以下とし、単結晶シリコンをターゲッ
トとして、アルゴンに水素を20〜80%混入した雰囲
気で行った。例えばアルゴン20%、水素80%とし
た。成膜温度は150℃、周波数は13.56MHz、
スパッタ出力は400〜800W、圧力は0.5Paで
あった。
を1×10-5Pa以下とし、単結晶シリコンをターゲッ
トとして、アルゴンに水素を20〜80%混入した雰囲
気で行った。例えばアルゴン20%、水素80%とし
た。成膜温度は150℃、周波数は13.56MHz、
スパッタ出力は400〜800W、圧力は0.5Paで
あった。
【0032】プラズマCVD法により珪素膜を作製する
場合、温度は例えば300℃とし、モノシラン(SiH4)ま
たはジシラン(Si2H6) を用いた。これらをPCVD装置
内に導入し、13.56MHzの高周波電力を加えて成
膜した。
場合、温度は例えば300℃とし、モノシラン(SiH4)ま
たはジシラン(Si2H6) を用いた。これらをPCVD装置
内に導入し、13.56MHzの高周波電力を加えて成
膜した。
【0033】これらの方法によって形成された被膜は、
酸素が5×1021cm-3以下であることが好ましい。この
酸素濃度が高いと、結晶化させにくく、熱アニール温度
を高くまたは熱アニール時間を長くしなければならな
い。また少なすぎると、バックライトによりオフ状態の
リーク電流が増加してしまう。そのため4×1019〜4
×1021cm-3の範囲とした。水素は4×1020cm-3であ
り、珪素4×1022cm-3として比較すると1原子%であ
った。また、ソース、ドレインに対してより結晶化を助
長させるため、酸素濃度を7×1019cm-3以下、好まし
くは1×1019cm-3以下とし、ピクセル構成するTFT
のチャネル形成領域のみに酸素をイオン注入法により5
×1020〜5×1021cm-3となるように添加してもよ
い。その時周辺回路を構成するTFTには光照射がなさ
れないため、この酸素の混入をより少なくし、より大き
いキャリア移動度を有せしめることは、高周波動作をさ
せるために有効である。
酸素が5×1021cm-3以下であることが好ましい。この
酸素濃度が高いと、結晶化させにくく、熱アニール温度
を高くまたは熱アニール時間を長くしなければならな
い。また少なすぎると、バックライトによりオフ状態の
リーク電流が増加してしまう。そのため4×1019〜4
×1021cm-3の範囲とした。水素は4×1020cm-3であ
り、珪素4×1022cm-3として比較すると1原子%であ
った。また、ソース、ドレインに対してより結晶化を助
長させるため、酸素濃度を7×1019cm-3以下、好まし
くは1×1019cm-3以下とし、ピクセル構成するTFT
のチャネル形成領域のみに酸素をイオン注入法により5
×1020〜5×1021cm-3となるように添加してもよ
い。その時周辺回路を構成するTFTには光照射がなさ
れないため、この酸素の混入をより少なくし、より大き
いキャリア移動度を有せしめることは、高周波動作をさ
せるために有効である。
【0034】次に、アモルファス状態の珪素膜を500
〜5000Å、例えば1500Åの厚さに作製の後、4
50〜700℃の温度にて12〜70時間非酸化物雰囲
気にて中温の加熱処理、例えば水素雰囲気下にて600
℃の温度で保持した。珪素膜の下の基板表面にアモルフ
ァス構造の酸化珪素膜が形成されているため、この熱処
理で特定の核が存在せず、全体が均一に加熱アニールさ
れる。即ち、成膜時はアモルファス構造を有し、また水
素は単に混入しているのみである。
〜5000Å、例えば1500Åの厚さに作製の後、4
50〜700℃の温度にて12〜70時間非酸化物雰囲
気にて中温の加熱処理、例えば水素雰囲気下にて600
℃の温度で保持した。珪素膜の下の基板表面にアモルフ
ァス構造の酸化珪素膜が形成されているため、この熱処
理で特定の核が存在せず、全体が均一に加熱アニールさ
れる。即ち、成膜時はアモルファス構造を有し、また水
素は単に混入しているのみである。
【0035】アニールにより、珪素膜はアモルファス構
造から秩序性の高い状態に移り、一部は結晶状態を呈す
る。特にシリコンの成膜後の状態で比較的秩序性の高い
領域は特に結晶化をして結晶状態となろうとする。しか
しこれらの領域間に存在する珪素により互いの結合がな
されるため、珪素同志は互いにひっぱりあう。レーザラ
マン分光により測定すると単結晶の珪素のピーク522
cm-1より低周波側にシフトしたピークが観察される。そ
れの見掛け上の粒径は半値巾から計算すると、50〜5
00Åとマイクロクリスタルのようになっているが、実
際はこの結晶性の高い領域は多数あってクラスタ構造を
有し、各クラスタ間は互いに珪素どうしで結合(アンカ
リング) がされたセミアモルファス構造の被膜を形成さ
せることができた。
造から秩序性の高い状態に移り、一部は結晶状態を呈す
る。特にシリコンの成膜後の状態で比較的秩序性の高い
領域は特に結晶化をして結晶状態となろうとする。しか
しこれらの領域間に存在する珪素により互いの結合がな
されるため、珪素同志は互いにひっぱりあう。レーザラ
マン分光により測定すると単結晶の珪素のピーク522
cm-1より低周波側にシフトしたピークが観察される。そ
れの見掛け上の粒径は半値巾から計算すると、50〜5
00Åとマイクロクリスタルのようになっているが、実
際はこの結晶性の高い領域は多数あってクラスタ構造を
有し、各クラスタ間は互いに珪素どうしで結合(アンカ
リング) がされたセミアモルファス構造の被膜を形成さ
せることができた。
【0036】結果として、被膜は実質的にグレインバウ
ンダリ(以下GBという)がないといってもよい状態を
呈する。キャリアは各クラスタ間をアンカリングされた
個所を通じ互いに容易に移動し得るため、いわゆるGB
の明確に存在する多結晶珪素よりも高いキャリア移動度
となる。即ちホール移動度(μh)=10〜200cm2
/VSec、電子移動度(μe )=15〜300cm2 /
VSecが得られる。
ンダリ(以下GBという)がないといってもよい状態を
呈する。キャリアは各クラスタ間をアンカリングされた
個所を通じ互いに容易に移動し得るため、いわゆるGB
の明確に存在する多結晶珪素よりも高いキャリア移動度
となる。即ちホール移動度(μh)=10〜200cm2
/VSec、電子移動度(μe )=15〜300cm2 /
VSecが得られる。
【0037】他方、上記の如き中温でのアニールではな
く、900〜1200℃の高温アニールにより被膜を多
結晶化すると、核からの固相成長により被膜中の不純物
の偏析がおきて、GBには酸素、炭素、窒素等の不純物
が多くなり、結晶中の移動度は大きいが、GBでのバリ
ア(障壁)を作ってそこでのキャリアの移動を阻害して
しまう。結果として10cm2 /VSec以上の移動度が
なかなか得られないのが実情である。即ち、本実施例で
はかくの如き理由により、セミアモルファスまたはセミ
クリスタル構造を有するシリコン半導体を用いている。
く、900〜1200℃の高温アニールにより被膜を多
結晶化すると、核からの固相成長により被膜中の不純物
の偏析がおきて、GBには酸素、炭素、窒素等の不純物
が多くなり、結晶中の移動度は大きいが、GBでのバリ
ア(障壁)を作ってそこでのキャリアの移動を阻害して
しまう。結果として10cm2 /VSec以上の移動度が
なかなか得られないのが実情である。即ち、本実施例で
はかくの如き理由により、セミアモルファスまたはセミ
クリスタル構造を有するシリコン半導体を用いている。
【0038】この上に酸化珪素膜をゲイト絶縁膜として
500〜2000Å例えば1000Åの厚さに形成し
た。これはブロッキング層としての酸化珪素膜の作製と
同一条件とした。この成膜中に弗素を少量添加し、ナト
リウムイオンの固定化をさせてもよい。
500〜2000Å例えば1000Åの厚さに形成し
た。これはブロッキング層としての酸化珪素膜の作製と
同一条件とした。この成膜中に弗素を少量添加し、ナト
リウムイオンの固定化をさせてもよい。
【0039】この後、この上側にリンが1〜5×1021
cm-3の濃度に入ったシリコン膜またはこのシリコン膜と
その上にモリブデン(Mo)、タングステン(W),M
oSi2 またはWSi2 との多層膜を形成した。これを
第2のフォトマスクにてパターニングして図7(B)
を得た。PTFT用のゲイト電極9、NTFT用のゲイ
ト電極19を形成した。例えばチャネル長10μm、ゲ
イト電極としてリンドープ珪素を0.2μm、その上に
モリブデンを0.3μmの厚さに形成した。図7(C)
において、フォトレジスト57をフォトマスクを用い
て形成し、PTFT用のソ−ス10、ドレイン12に対
し、ホウ素を1〜5×1015cm-2のドーズ量でイオン注
入法により添加した。 次に図7(D)の如く、NTF
Tをフォトマスクを用いて形成した。NTFT用のソ
ース20、ドレイン18としてリンを1〜5×1015cm
-2のドーズ量でイオン注入法により添加した。
cm-3の濃度に入ったシリコン膜またはこのシリコン膜と
その上にモリブデン(Mo)、タングステン(W),M
oSi2 またはWSi2 との多層膜を形成した。これを
第2のフォトマスクにてパターニングして図7(B)
を得た。PTFT用のゲイト電極9、NTFT用のゲイ
ト電極19を形成した。例えばチャネル長10μm、ゲ
イト電極としてリンドープ珪素を0.2μm、その上に
モリブデンを0.3μmの厚さに形成した。図7(C)
において、フォトレジスト57をフォトマスクを用い
て形成し、PTFT用のソ−ス10、ドレイン12に対
し、ホウ素を1〜5×1015cm-2のドーズ量でイオン注
入法により添加した。 次に図7(D)の如く、NTF
Tをフォトマスクを用いて形成した。NTFT用のソ
ース20、ドレイン18としてリンを1〜5×1015cm
-2のドーズ量でイオン注入法により添加した。
【0040】これらはゲイト絶縁膜54を通じて行っ
た。しかし図7(B)において、ゲイト電極55、56
をマスクとしてシリコン膜上の酸化珪素を除去し、その
後、ホウ素、リンを直接珪素膜中にイオン注入してもよ
い。
た。しかし図7(B)において、ゲイト電極55、56
をマスクとしてシリコン膜上の酸化珪素を除去し、その
後、ホウ素、リンを直接珪素膜中にイオン注入してもよ
い。
【0041】次に、600℃にて10〜50時間再び加
熱アニ−ルを行った。PTFTのソース10、ドレイン
12、NTFTのソース20、ドレイン18を不純物を
活性化してP+、N+として作製した。またゲイト電極
9、19下にはチャネル形成領域21、11がセミアモ
ルファス半導体として形成されている。
熱アニ−ルを行った。PTFTのソース10、ドレイン
12、NTFTのソース20、ドレイン18を不純物を
活性化してP+、N+として作製した。またゲイト電極
9、19下にはチャネル形成領域21、11がセミアモ
ルファス半導体として形成されている。
【0042】かくすると、セルフアライン方式でありな
がらも、700℃以上にすべての工程で温度を加えるこ
とがなくC/TFTを作ることができる。そのため、基
板材料として、石英等の高価な基板を用いなくてもよ
く、本発明の大画素の液晶表示装置にきわめて適したプ
ロセスである。
がらも、700℃以上にすべての工程で温度を加えるこ
とがなくC/TFTを作ることができる。そのため、基
板材料として、石英等の高価な基板を用いなくてもよ
く、本発明の大画素の液晶表示装置にきわめて適したプ
ロセスである。
【0043】本実施例では熱アニールは図7(A)、
(D)で2回行った。しかし図7(A)のアニールは求
める特性により省略し、双方を図7(D)のアニールに
より兼ね製造時間の短縮を図ってもよい。図7(E)に
おいて、層間絶縁物65を前記したスパッタ法により酸
化珪素膜の形成として行った。この酸化珪素膜の形成は
LPCVD法、光CVD法、常圧CVD法を用いてもよ
い。例えば0.2〜0.6μmの厚さに形成し、その
後、フォトマスクを用いて電極用の窓66を形成し
た。さらに、これら全体に金属配線材料としてアルミニ
ウムをスパッタ法により形成する。この上に光吸収層と
して炭素を主成分とする被膜を形成する。この形成条件
はエチレン気体20SCCM、反応圧力0.05Tor
r、Rf出力70W、基板バイアス電圧−500Vで厚
さ2000Åに形成した。次にフォトマスクを使用し
て、レジストパターンを形成し、炭素膜は酸素気体を使
用したプラズマエッチングにより除去し、次にレジスト
パターンまたはパターニングされた炭素膜をマスクとし
て塩素気体と四弗化炭素の混合気体を使用して、プラズ
マエッチングを行い、金属配線71、72および光吸収
層109を同一の工程により形成した。
(D)で2回行った。しかし図7(A)のアニールは求
める特性により省略し、双方を図7(D)のアニールに
より兼ね製造時間の短縮を図ってもよい。図7(E)に
おいて、層間絶縁物65を前記したスパッタ法により酸
化珪素膜の形成として行った。この酸化珪素膜の形成は
LPCVD法、光CVD法、常圧CVD法を用いてもよ
い。例えば0.2〜0.6μmの厚さに形成し、その
後、フォトマスクを用いて電極用の窓66を形成し
た。さらに、これら全体に金属配線材料としてアルミニ
ウムをスパッタ法により形成する。この上に光吸収層と
して炭素を主成分とする被膜を形成する。この形成条件
はエチレン気体20SCCM、反応圧力0.05Tor
r、Rf出力70W、基板バイアス電圧−500Vで厚
さ2000Åに形成した。次にフォトマスクを使用し
て、レジストパターンを形成し、炭素膜は酸素気体を使
用したプラズマエッチングにより除去し、次にレジスト
パターンまたはパターニングされた炭素膜をマスクとし
て塩素気体と四弗化炭素の混合気体を使用して、プラズ
マエッチングを行い、金属配線71、72および光吸収
層109を同一の工程により形成した。
【0044】この金属配線と光吸収層とは図6で示すX
方向の配線5、6、7、8、に相当し、液晶パネル外か
らはブラックのストライプが観察される。
方向の配線5、6、7、8、に相当し、液晶パネル外か
らはブラックのストライプが観察される。
【0045】次に、表面を平坦化用有機樹脂69例えば
透光性ポリイミド樹脂を塗布形成し、再度の電極穴あけ
をフォトマスクにて行った。
透光性ポリイミド樹脂を塗布形成し、再度の電極穴あけ
をフォトマスクにて行った。
【0046】図7(F)に示す如く2つのTFTを相補
型構成とし、かつその出力端を液晶装置の一方の画素の
電極を透明電極としてそれに連結するため、スパッタ法
によりITO(インジューム・スズ酸化膜)を形成し
た。それをフォトマスクによりエッチングし、画素電
極17を構成させた。このITOは室温〜150℃で成
膜し、200〜400℃の酸素または大気中のアニール
により成就した。
型構成とし、かつその出力端を液晶装置の一方の画素の
電極を透明電極としてそれに連結するため、スパッタ法
によりITO(インジューム・スズ酸化膜)を形成し
た。それをフォトマスクによりエッチングし、画素電
極17を構成させた。このITOは室温〜150℃で成
膜し、200〜400℃の酸素または大気中のアニール
により成就した。
【0047】かくの如くにしてPTFT22とNTFT
13とこれらの金属配線と光吸収層109とを同一ガラ
ス基板50上に作製した。得られたTFTの特性はPT
FTで移動度は20(cm2 /VS)、Vthは−5.9
(V)で、NTFTで移動度は40(cm2 /VS)、V
thは5.0(V)であった。
13とこれらの金属配線と光吸収層109とを同一ガラ
ス基板50上に作製した。得られたTFTの特性はPT
FTで移動度は20(cm2 /VS)、Vthは−5.9
(V)で、NTFTで移動度は40(cm2 /VS)、V
thは5.0(V)であった。
【0048】上記の液晶電気光学装置上のTFTの構造
は、インバータ型であるが、バッファ型であっても全く
同じであることは、いうまでもない。この様にして、第
一の基板を得た。
は、インバータ型であるが、バッファ型であっても全く
同じであることは、いうまでもない。この様にして、第
一の基板を得た。
【0049】また、もう一方の基板として、同様のガラ
ス基板のほぼ全面に透明電極を設けたものを第二の基板
として使用する。第一の基板と第二の基板との透明電極
の上にオフセット印刷法によりNMP(Nメチル2ピロ
リドン)にて希釈されたポリイミド溶液を印刷し、その
後に50℃10分間の仮焼成の後、280℃の窒素雰囲
気中にて、1時間本焼成を行い配向膜を形成する。次に
アクティブ素子の形成されていない第二の基板のみに対
してラビング処理を施し、第一の基板と第2の基板とを
7.5μmの径のスペーサを挟んで貼り合わせ、液晶セ
ルを完成し、このセル内に液晶材料を注入して液晶電気
光学装置を完成した。
ス基板のほぼ全面に透明電極を設けたものを第二の基板
として使用する。第一の基板と第二の基板との透明電極
の上にオフセット印刷法によりNMP(Nメチル2ピロ
リドン)にて希釈されたポリイミド溶液を印刷し、その
後に50℃10分間の仮焼成の後、280℃の窒素雰囲
気中にて、1時間本焼成を行い配向膜を形成する。次に
アクティブ素子の形成されていない第二の基板のみに対
してラビング処理を施し、第一の基板と第2の基板とを
7.5μmの径のスペーサを挟んで貼り合わせ、液晶セ
ルを完成し、このセル内に液晶材料を注入して液晶電気
光学装置を完成した。
【0050】本実施例において作製した、液晶パネルは
従来の液晶パネルに比較して、約10〜50%程度迷光
が減り、コントラスト比の値が25から32に向上し
た。
従来の液晶パネルに比較して、約10〜50%程度迷光
が減り、コントラスト比の値が25から32に向上し
た。
【0051】『実施例2』 本実施例では、アクティブ
素子として、SiX CY (X+Y=1)膜を使用したM
IM素子の例を示す。
素子として、SiX CY (X+Y=1)膜を使用したM
IM素子の例を示す。
【0052】図8(A)に示す様に、まず0.7mmの
ポリカーボネイト(200)に、RFスパッタで酸化珪
素膜(201)を1000〜3000Å設ける。次に基
板の全面に炭素を主成分とする被膜を2000Åの厚さ
に形成する(形成方法は実施例1と同様)、次に金属モ
リブデンをスパッタ法にて全面に形成した後に幅15μ
mのストライプ状のマスクパターンを使用して、ドライ
エッチング法にて概略同一形状を持つ光吸収層202と
金属配線203とを形成する。
ポリカーボネイト(200)に、RFスパッタで酸化珪
素膜(201)を1000〜3000Å設ける。次に基
板の全面に炭素を主成分とする被膜を2000Åの厚さ
に形成する(形成方法は実施例1と同様)、次に金属モ
リブデンをスパッタ法にて全面に形成した後に幅15μ
mのストライプ状のマスクパターンを使用して、ドライ
エッチング法にて概略同一形状を持つ光吸収層202と
金属配線203とを形成する。
【0053】次に、同図(B)のようにこの配線203
を含む基板全面上に、プラズマCVD法にて、下記条件
の下にグロー放電を行い、SiX CY (X+Y=1)膜
(204)を1000Å成膜した。成膜条件は、ガス混
合比C2 H4 が2SCCM、SiH4 が1SCCM、P
H3 (5重量%)/SiH4 が1SCCM、H2 が10
SCCMであり、反応圧力が50Pa、RFパワーが1
00Wである。
を含む基板全面上に、プラズマCVD法にて、下記条件
の下にグロー放電を行い、SiX CY (X+Y=1)膜
(204)を1000Å成膜した。成膜条件は、ガス混
合比C2 H4 が2SCCM、SiH4 が1SCCM、P
H3 (5重量%)/SiH4 が1SCCM、H2 が10
SCCMであり、反応圧力が50Pa、RFパワーが1
00Wである。
【0054】本実施例においてPH3 を添加するのは、
膜(204)の導電率を変化させ、アクティブ素子の電
気的特性の非線型特性を制御するためであり、30体積
%以下の割合で添加すると効果がある。この非線型性を
制御する方法としては、熱アニールを加える方法があ
る。これは、MIM型素子のI(insulator)部分に相当
する薄膜(204)の脱水素化を計ることによって膜中
の水素含有量をコントロールし、MIM型素子の非線型
性を制御するものである。本実施例では、この熱アニー
ルの処理条件は、温度が380℃、圧力が100Pa、
処理雰囲気がAr、処理時間が1時間とした。また、本
発明においてはこのSiX CY (X+Y=1)で示され
る組成物を含む薄膜(204)の厚さを2000Å以
下、好ましくは1000Å以下にすることによって、そ
の光透過性を高めることができた。
膜(204)の導電率を変化させ、アクティブ素子の電
気的特性の非線型特性を制御するためであり、30体積
%以下の割合で添加すると効果がある。この非線型性を
制御する方法としては、熱アニールを加える方法があ
る。これは、MIM型素子のI(insulator)部分に相当
する薄膜(204)の脱水素化を計ることによって膜中
の水素含有量をコントロールし、MIM型素子の非線型
性を制御するものである。本実施例では、この熱アニー
ルの処理条件は、温度が380℃、圧力が100Pa、
処理雰囲気がAr、処理時間が1時間とした。また、本
発明においてはこのSiX CY (X+Y=1)で示され
る組成物を含む薄膜(204)の厚さを2000Å以
下、好ましくは1000Å以下にすることによって、そ
の光透過性を高めることができた。
【0055】従来はMIM型素子のinsulator 部分に使
用されていた材料、例えばTaO5 (5酸化タンタル)
膜を用いようとする場合、その光透過性が問題となるの
で、なるべくその面積を小さくする等の工程上の制約が
あった。
用されていた材料、例えばTaO5 (5酸化タンタル)
膜を用いようとする場合、その光透過性が問題となるの
で、なるべくその面積を小さくする等の工程上の制約が
あった。
【0056】その後,図8(C)に示すように。再びD
Cスパッタ法によって、膜(204)上にITOを10
00Å成膜し、フォトリソ法を用いて、画素の電極(2
05)を得た。この場合、マグネトロン型RFスパッタ
法を用いてもよい。
Cスパッタ法によって、膜(204)上にITOを10
00Å成膜し、フォトリソ法を用いて、画素の電極(2
05)を得た。この場合、マグネトロン型RFスパッタ
法を用いてもよい。
【0057】画素電極の一方である電極205の寸法
は、一辺が250μmの正方形とし、画素間のギャップ
は、25μmとした。この画素の電極(205)は表示
の際、単位画素となる大きさを有するものであり、薄膜
(204)に加わる電界が各画素において均一になるよ
うに作用するものである。この様にして、一方の第一の
基板を得た。
は、一辺が250μmの正方形とし、画素間のギャップ
は、25μmとした。この画素の電極(205)は表示
の際、単位画素となる大きさを有するものであり、薄膜
(204)に加わる電界が各画素において均一になるよ
うに作用するものである。この様にして、一方の第一の
基板を得た。
【0058】第二の基板は第一の基板と同様にポリカー
ボネイトを使用し、第一の基板と同様に酸化珪素膜を形
成した。その他は実施例1と同様にして、液晶電気光学
装置を完成し、この液晶装置を使用して、投影型の画像
表示装置を構成したところ、コントラストが高く、迷光
が発生しないため、投影のために使用する光源の出力を
高く(例えば200〜300W)することができ、投影
された画面上での表示が非常に明るく、屋外や明るい部
屋の中でも十分に視認できるものであった。
ボネイトを使用し、第一の基板と同様に酸化珪素膜を形
成した。その他は実施例1と同様にして、液晶電気光学
装置を完成し、この液晶装置を使用して、投影型の画像
表示装置を構成したところ、コントラストが高く、迷光
が発生しないため、投影のために使用する光源の出力を
高く(例えば200〜300W)することができ、投影
された画面上での表示が非常に明るく、屋外や明るい部
屋の中でも十分に視認できるものであった。
【0059】上述の実施例では何れも光吸収層として炭
素を主成分とする被膜を使用したが得にこの被膜に限定
されることはなく、黒色の有機樹脂でもよい、この場合
印刷方との組み合わせにより、よりプロセス上の制約を
緩和して、高コントラストの液晶装置を作製することが
できる。
素を主成分とする被膜を使用したが得にこの被膜に限定
されることはなく、黒色の有機樹脂でもよい、この場合
印刷方との組み合わせにより、よりプロセス上の制約を
緩和して、高コントラストの液晶装置を作製することが
できる。
【0060】
【発明の効果】本発明の構成により、迷光の発生が少な
い液晶電気光学装置を実現でき、これにより表示のコン
トラストが向上し、より明るい表示画面を持つ投影型の
表示装置を実現できた。
い液晶電気光学装置を実現でき、これにより表示のコン
トラストが向上し、より明るい表示画面を持つ投影型の
表示装置を実現できた。
【0061】また、より高密度、高精細で高コントラス
トの液晶パネルを実現することができ、明るい表示画面
を持つ投影型の画像表示装置を実現できた。
トの液晶パネルを実現することができ、明るい表示画面
を持つ投影型の画像表示装置を実現できた。
【図1】本発明の液晶電気光学装置の概略断面図を示
す。
す。
【図2】プロジェクション方式の表示装置の光学系の例
を示す。
を示す。
【図3】従来の液晶電気光学装置の概略断面図を示す。
【図4】本発明の光吸収層と基板、電極との配置関係を
示す概略図
示す概略図
【図5】アクティブマトリクス型液晶装置の概略回路
図。
図。
【図6】アクティブマトリクス型液晶装置の概略配置
図。
図。
【図7】アクティブマトリクス型液晶装置用基板の作製
工程図
工程図
【図8】MIM素子を使用した液晶装置用基板の作製工
程図
程図
102・・・画素電極
103・・・画素電極
104・・・金属配線
109・・・光吸収層
110・・・光吸収層
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成4年6月29日
【手続補正1】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】全図
【補正方法】変更
【補正内容】
【図1】
【図3】
【図2】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
Claims (4)
- 【請求項1】 液晶電気光学装置を構成する基板上のス
イッチング素子に接続された金属配線の側周辺の少なく
とも一部に光源からの光を吸収する為の層が設けられた
ことを特徴とする液晶電気光学装置。 - 【請求項2】 請求項1に記載の光吸収層は炭素を主成
分とする被膜で構成されていることを特徴とする液晶電
気光学装置。 - 【請求項3】 請求項1に記載の光吸収層は有機材料被
膜で構成されていることを特徴とする液晶電気光学装
置。 - 【請求項4】 液晶電気光学装置を構成する基板上のス
イッチング素子に接続された金属配線の側周辺の少なく
とも一部に光源からの光を吸収する為の層が設けられた
液晶電気光学装置を使用して構成されたことを特徴とす
る画像表示装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3033482A JPH052187A (ja) | 1991-01-31 | 1991-01-31 | 液晶電気光学装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3033482A JPH052187A (ja) | 1991-01-31 | 1991-01-31 | 液晶電気光学装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH052187A true JPH052187A (ja) | 1993-01-08 |
Family
ID=12387773
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3033482A Pending JPH052187A (ja) | 1991-01-31 | 1991-01-31 | 液晶電気光学装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH052187A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6115090A (en) * | 1997-03-26 | 2000-09-05 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device |
| JP2002043578A (ja) * | 2000-07-25 | 2002-02-08 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 半導体装置およびその作製方法 |
| US6885027B2 (en) | 1994-06-02 | 2005-04-26 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Active matrix display and electrooptical device |
| US6927826B2 (en) | 1997-03-26 | 2005-08-09 | Semiconductor Energy Labaratory Co., Ltd. | Display device |
| US7508033B2 (en) | 1998-04-24 | 2009-03-24 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device with diamond-like carbon film on backside of substrate |
| JP2009069852A (ja) * | 2001-11-02 | 2009-04-02 | Samsung Electronics Co Ltd | 反射−透過型液晶表示装置の製造方法 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02216129A (ja) * | 1989-02-17 | 1990-08-29 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 液晶画像表示装置およびその製造方法 |
| JPH02306223A (ja) * | 1989-05-20 | 1990-12-19 | Ricoh Co Ltd | 液晶表示装置 |
| JPH034214A (ja) * | 1989-05-31 | 1991-01-10 | Sharp Corp | 液晶表示装置 |
| JPH036532A (ja) * | 1989-06-03 | 1991-01-14 | Sharp Corp | 表示電極基板の製造方法 |
-
1991
- 1991-01-31 JP JP3033482A patent/JPH052187A/ja active Pending
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| US7148506B2 (en) | 1994-06-02 | 2006-12-12 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Active matrix display and electrooptical device |
| US7459724B2 (en) | 1994-06-02 | 2008-12-02 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Active matrix display and electrooptical device |
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| US6593990B1 (en) | 1997-03-26 | 2003-07-15 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device |
| US6927826B2 (en) | 1997-03-26 | 2005-08-09 | Semiconductor Energy Labaratory Co., Ltd. | Display device |
| US7190428B2 (en) | 1997-03-26 | 2007-03-13 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device |
| US7436463B2 (en) | 1997-03-26 | 2008-10-14 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device |
| US7508033B2 (en) | 1998-04-24 | 2009-03-24 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device with diamond-like carbon film on backside of substrate |
| JP2002043578A (ja) * | 2000-07-25 | 2002-02-08 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 半導体装置およびその作製方法 |
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