JPH05239656A - プラズマを形成する方法および装置 - Google Patents
プラズマを形成する方法および装置Info
- Publication number
- JPH05239656A JPH05239656A JP4210619A JP21061992A JPH05239656A JP H05239656 A JPH05239656 A JP H05239656A JP 4210619 A JP4210619 A JP 4210619A JP 21061992 A JP21061992 A JP 21061992A JP H05239656 A JPH05239656 A JP H05239656A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- plasma
- reaction chamber
- substrate
- forming
- reflector
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 51
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 94
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 85
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims abstract description 62
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims abstract description 52
- 239000010432 diamond Substances 0.000 claims abstract description 43
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 claims abstract description 41
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 claims abstract description 30
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 claims abstract description 14
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 claims abstract description 14
- 150000001722 carbon compounds Chemical class 0.000 claims abstract description 12
- 229910010293 ceramic material Inorganic materials 0.000 claims abstract description 8
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims abstract description 7
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 15
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 14
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 13
- 239000002243 precursor Substances 0.000 claims description 10
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 9
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims description 9
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims description 9
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 10
- 125000004435 hydrogen atom Chemical class [H]* 0.000 abstract description 3
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 abstract 1
- 210000002381 plasma Anatomy 0.000 description 139
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 16
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 8
- 239000006260 foam Substances 0.000 description 8
- 239000000463 material Substances 0.000 description 8
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 8
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 8
- 229910052754 neon Inorganic materials 0.000 description 6
- GKAOGPIIYCISHV-UHFFFAOYSA-N neon atom Chemical compound [Ne] GKAOGPIIYCISHV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 6
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 6
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N Zirconium dioxide Chemical compound O=[Zr]=O MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000005219 brazing Methods 0.000 description 4
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 4
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Chemical compound O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- -1 activated carbon ions Chemical class 0.000 description 3
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 3
- RZVAJINKPMORJF-UHFFFAOYSA-N Acetaminophen Chemical compound CC(=O)NC1=CC=C(O)C=C1 RZVAJINKPMORJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 241000272525 Anas platyrhynchos Species 0.000 description 2
- 229910052582 BN Inorganic materials 0.000 description 2
- PZNSFCLAULLKQX-UHFFFAOYSA-N Boron nitride Chemical compound N#B PZNSFCLAULLKQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004215 Carbon black (E152) Substances 0.000 description 2
- 229920000742 Cotton Polymers 0.000 description 2
- XDTMQSROBMDMFD-UHFFFAOYSA-N Cyclohexane Chemical compound C1CCCCC1 XDTMQSROBMDMFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000006091 Macor Substances 0.000 description 2
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004793 Polystyrene Substances 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000002250 absorbent Substances 0.000 description 2
- 230000002745 absorbent Effects 0.000 description 2
- 239000011358 absorbing material Substances 0.000 description 2
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000003667 anti-reflective effect Effects 0.000 description 2
- 125000004429 atom Chemical group 0.000 description 2
- 230000003197 catalytic effect Effects 0.000 description 2
- 239000010941 cobalt Substances 0.000 description 2
- 229910017052 cobalt Inorganic materials 0.000 description 2
- GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N cobalt atom Chemical compound [Co] GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000005574 cross-species transmission Effects 0.000 description 2
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 2
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 2
- 238000010494 dissociation reaction Methods 0.000 description 2
- 230000005593 dissociations Effects 0.000 description 2
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 2
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 2
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 2
- 239000005350 fused silica glass Substances 0.000 description 2
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010439 graphite Substances 0.000 description 2
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 2
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 2
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229930195733 hydrocarbon Natural products 0.000 description 2
- 150000002430 hydrocarbons Chemical class 0.000 description 2
- 150000002431 hydrogen Chemical class 0.000 description 2
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 2
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 2
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 2
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000000259 microwave plasma-assisted chemical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 2
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000012071 phase Substances 0.000 description 2
- 238000000623 plasma-assisted chemical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 2
- 229920002223 polystyrene Polymers 0.000 description 2
- 239000004810 polytetrafluoroethylene Substances 0.000 description 2
- 229920001343 polytetrafluoroethylene Polymers 0.000 description 2
- 239000005297 pyrex Substances 0.000 description 2
- SBIBMFFZSBJNJF-UHFFFAOYSA-N selenium;zinc Chemical compound [Se]=[Zn] SBIBMFFZSBJNJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 2
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 2
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 2
- 239000002023 wood Substances 0.000 description 2
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000001568 sexual effect Effects 0.000 description 1
- 238000001947 vapour-phase growth Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/22—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the deposition of inorganic material, other than metallic material
- C23C16/26—Deposition of carbon only
- C23C16/27—Diamond only
- C23C16/274—Diamond only using microwave discharges
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B22—CASTING; POWDER METALLURGY
- B22F—WORKING METALLIC POWDER; MANUFACTURE OF ARTICLES FROM METALLIC POWDER; MAKING METALLIC POWDER; APPARATUS OR DEVICES SPECIALLY ADAPTED FOR METALLIC POWDER
- B22F7/00—Manufacture of composite layers, workpieces, or articles, comprising metallic powder, by sintering the powder, with or without compacting wherein at least one part is obtained by sintering or compression
- B22F7/02—Manufacture of composite layers, workpieces, or articles, comprising metallic powder, by sintering the powder, with or without compacting wherein at least one part is obtained by sintering or compression of composite layers
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/50—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating using electric discharges
- C23C16/511—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating using electric discharges using microwave discharges
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- General Chemical & Material Sciences (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Composite Materials (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
- Carbon And Carbon Compounds (AREA)
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
- Plasma Technology (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 ダイヤモンドのようなセラミック材料の製造
を補助するためのプラズマを形成する方法および装置を
提供する。 【構成】 反応室28を準備し、この反応室の中に選択
したガスを導入する。ガスは水素のような活性ガスおよ
びガス状炭素化合物を含んでなる。遠隔供給源10から
マイクロ波放射ビーム16が発生され、レンズ34,3
6,40や反射器18,22,38,42を配列して反
応室の中の焦点領域26にビームを集中させて、その焦
点領域にプラズマ32を形成する。プラズマ形状は反応
室の内部形状とは無関係で、集中手段の位置に関係す
る。基体30が反応室の中に配置され、プラズマと反応
して化学的気相成長法による蒸着が引き起こされ、ダイ
ヤモンド層が形成される。本発明はこの方法を使用する
装置に拡大される。
を補助するためのプラズマを形成する方法および装置を
提供する。 【構成】 反応室28を準備し、この反応室の中に選択
したガスを導入する。ガスは水素のような活性ガスおよ
びガス状炭素化合物を含んでなる。遠隔供給源10から
マイクロ波放射ビーム16が発生され、レンズ34,3
6,40や反射器18,22,38,42を配列して反
応室の中の焦点領域26にビームを集中させて、その焦
点領域にプラズマ32を形成する。プラズマ形状は反応
室の内部形状とは無関係で、集中手段の位置に関係す
る。基体30が反応室の中に配置され、プラズマと反応
して化学的気相成長法による蒸着が引き起こされ、ダイ
ヤモンド層が形成される。本発明はこの方法を使用する
装置に拡大される。
Description
【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はプラズマに補肋された化
学的気相成長法(CVD)技術を使用する合成ダイヤモ
ンドおよびその他のセラミック材料に関する。
学的気相成長法(CVD)技術を使用する合成ダイヤモ
ンドおよびその他のセラミック材料に関する。
【0002】
【従来技術】ダイヤモンドは過去30数年間にわたっ
て、ニッケル、コバルトまたは鉄のような触媒金属の存
在する中で、グラファイトのような炭素原料に対して5
0キロバールを超える圧力と1200℃を超える温度を
作用させることによって合成製造されてきた。最近で
は、ダイヤモンドはガス相から合成されている。この方
法は化学的気相成長法(CVD)として知られており、
ダイヤモンド製品はCVDダイヤモンドとして知られて
いる。この工程は一般に、水素ガス、および炭化水素の
ような適当なガス状炭素化合物を準備し、このガスに対
して十分なエネルギーを与えて水素を水素原子に、また
そのガスを活性炭素イオン、原子またはCHに解離さ
せ、そしてこのような活性核種を基体に付着させてダイ
ヤモンドを形成するようになす、諸段階を含んでなる。
ガスの解離は様々な方法で行うことができる。
て、ニッケル、コバルトまたは鉄のような触媒金属の存
在する中で、グラファイトのような炭素原料に対して5
0キロバールを超える圧力と1200℃を超える温度を
作用させることによって合成製造されてきた。最近で
は、ダイヤモンドはガス相から合成されている。この方
法は化学的気相成長法(CVD)として知られており、
ダイヤモンド製品はCVDダイヤモンドとして知られて
いる。この工程は一般に、水素ガス、および炭化水素の
ような適当なガス状炭素化合物を準備し、このガスに対
して十分なエネルギーを与えて水素を水素原子に、また
そのガスを活性炭素イオン、原子またはCHに解離さ
せ、そしてこのような活性核種を基体に付着させてダイ
ヤモンドを形成するようになす、諸段階を含んでなる。
ガスの解離は様々な方法で行うことができる。
【0003】このような1つの方法が高温フィラメント
を使用してその周囲領域でガスを解離させる方法であ
る。第2の一般に使用されている方法はプラズマ補助に
よる方法である。水素およびガス状の炭素化合物がプラ
ズマ領域へ導入され、これらはマイクロ波−、RF−ま
たはDC−形成のプラズマとされるが、励起されて活性
状態となされる。それらはこの状態のもとで基体上に閑
散し、基体はプラズマによって加熱される。マイクロ波
プラズマに補助されるCVDは、過去においてアェーブ
ガイドを使用して、その内部に収容されている反応室の
内側にプラズマを発生させていた。ウェーブガイドの範
囲内、すなわちウェーブガイドキャビティで発生された
強烈な電界は、反応室の内部に収容されている低圧ガス
をイオン化するのに十分である。このようにしてプラズ
マは、その内部に配置されるか、隣接された基体上にダ
イヤモンドの付着が生じるのである。
を使用してその周囲領域でガスを解離させる方法であ
る。第2の一般に使用されている方法はプラズマ補助に
よる方法である。水素およびガス状の炭素化合物がプラ
ズマ領域へ導入され、これらはマイクロ波−、RF−ま
たはDC−形成のプラズマとされるが、励起されて活性
状態となされる。それらはこの状態のもとで基体上に閑
散し、基体はプラズマによって加熱される。マイクロ波
プラズマに補助されるCVDは、過去においてアェーブ
ガイドを使用して、その内部に収容されている反応室の
内側にプラズマを発生させていた。ウェーブガイドの範
囲内、すなわちウェーブガイドキャビティで発生された
強烈な電界は、反応室の内部に収容されている低圧ガス
をイオン化するのに十分である。このようにしてプラズ
マは、その内部に配置されるか、隣接された基体上にダ
イヤモンドの付着が生じるのである。
【0004】プラズマを形成するためにウェーブガイド
を使用する利点は、プラズマ寸法が上部筐体の寸法によ
って決まることである。プラズマ寸法の増大はウェーブ
ガイドの寸法を増大するだけではなされ得ず、マイクロ
波波長が比例的に増大しなければ、マルチモードの伝播
が生じる。この結果、プラズマ発生の効率が悪化するこ
とになる。
を使用する利点は、プラズマ寸法が上部筐体の寸法によ
って決まることである。プラズマ寸法の増大はウェーブ
ガイドの寸法を増大するだけではなされ得ず、マイクロ
波波長が比例的に増大しなければ、マルチモードの伝播
が生じる。この結果、プラズマ発生の効率が悪化するこ
とになる。
【0005】ウェーブガイドの内部に存在する電磁力線
にプラズマが閉じ込められると、その位置は反応室の内
部で静止する。このことが付加的な問題を生じる。まず
第1にウェーブガイドの中へ基体を挿入することは予想
できない状態で電磁力線を混乱させる。これは基体の特
性および幾何形状に応じて変化する。第2にプラズマは
反応室の壁に接触するようになり、このことはウェーブ
ガイドの制限内では回避することができない。これは基
体に付着したダイヤモンドを汚損することになる。
にプラズマが閉じ込められると、その位置は反応室の内
部で静止する。このことが付加的な問題を生じる。まず
第1にウェーブガイドの中へ基体を挿入することは予想
できない状態で電磁力線を混乱させる。これは基体の特
性および幾何形状に応じて変化する。第2にプラズマは
反応室の壁に接触するようになり、このことはウェーブ
ガイドの制限内では回避することができない。これは基
体に付着したダイヤモンドを汚損することになる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】それ故に本発明の目的
は、上述した欠点を解消して合成ダイヤモンドの合成を
可能にするような、プラズマを形成する方法および装置
を提供する。
は、上述した欠点を解消して合成ダイヤモンドの合成を
可能にするような、プラズマを形成する方法および装置
を提供する。
【0007】
【課題を達成するための手段】本発明の第1の概念によ
れば、プラズマを形成する方法が提供される。この方法
は、 i 反応室を準備し、 ii 反応室の中に選択したガスを導入し、 iii 遠隔供給源からマイクロ波放射のビームを発生
させ、 iv マイクロ波放射を反応室の中の焦点領域に集中
させて、その焦点領域にプラズマを形成し、そのプラズ
マの形状は反応室の内部形状に無関係である、諸段階を
包含する。
れば、プラズマを形成する方法が提供される。この方法
は、 i 反応室を準備し、 ii 反応室の中に選択したガスを導入し、 iii 遠隔供給源からマイクロ波放射のビームを発生
させ、 iv マイクロ波放射を反応室の中の焦点領域に集中
させて、その焦点領域にプラズマを形成し、そのプラズ
マの形状は反応室の内部形状に無関係である、諸段階を
包含する。
【0008】この方法は、反応室の内部に基体を準備
し、プラズマがその基体と反応して基体上にプラズマ−
活性化された核種の化字的気相成長を生じるようにさせ
る諸段階を包含することが、好ましい。
し、プラズマがその基体と反応して基体上にプラズマ−
活性化された核種の化字的気相成長を生じるようにさせ
る諸段階を包含することが、好ましい。
【0009】本発明の第2の概念によれば、化学的気相
成長法によってセラミック材料の製造を補助するための
プラズマを形成する方法が提供される。この方法は、 i プラズマ形成ゾーンを定め、 ii プラズマ形成ゾーンの中に選択したガスを導入
し、 iii 遠隔供給源にてマイクロ波放射のビームを発生
させ、 iv 遠隔配置された集中手段からのマイクロ波放射
のビームをプラズマ形成に集中させてプラズマを形成
し、そのプラズマの形状および位置は集中手段の幾何形
状および位置に無関係である、諸段階を包含する。
成長法によってセラミック材料の製造を補助するための
プラズマを形成する方法が提供される。この方法は、 i プラズマ形成ゾーンを定め、 ii プラズマ形成ゾーンの中に選択したガスを導入
し、 iii 遠隔供給源にてマイクロ波放射のビームを発生
させ、 iv 遠隔配置された集中手段からのマイクロ波放射
のビームをプラズマ形成に集中させてプラズマを形成
し、そのプラズマの形状および位置は集中手段の幾何形
状および位置に無関係である、諸段階を包含する。
【0010】選択したガスは、プレカーソル(prec
ursor)ガス混合気、および水素および酸素を含む
群から選択した活性ガスを含むことが好ましい。また、
プレカーソルガス混合気は、ダイヤモンドの化字的気相
成長のためにガス状炭素化合物を含むことができる。
ursor)ガス混合気、および水素および酸素を含む
群から選択した活性ガスを含むことが好ましい。また、
プレカーソルガス混合気は、ダイヤモンドの化字的気相
成長のためにガス状炭素化合物を含むことができる。
【0011】都合の良いことに、この方法は基体を準備
し、集中手段および基体の相対的な位置を調整すること
によって、基体上でプラズマ走査する諸段階を包含す
る。
し、集中手段および基体の相対的な位置を調整すること
によって、基体上でプラズマ走査する諸段階を包含す
る。
【0012】本発明の更に他の概念によれば、化学的気
相成長法によってダイヤモンドの生産を補助するための
プラズマを形成する方法が提供される。この方法は、 i 反応室を準備し、 ii 反応室の中に基体を配置し、 iii マイクロ波放射の外部供給源を準備し、 iv ガス状炭素化合物、および水素および酸素を含
む群から選んだ活性ガスの混合気を反応室の中に導き、 v マイクロ波放射を焦点に集中させて反応室の中
で基体の領域内にプラズマを形成して、基体上にダイヤ
モンドの化学的気相成長を引き起こす、諸段階を包含す
ることを特徴とするプラズマを形成する方法。
相成長法によってダイヤモンドの生産を補助するための
プラズマを形成する方法が提供される。この方法は、 i 反応室を準備し、 ii 反応室の中に基体を配置し、 iii マイクロ波放射の外部供給源を準備し、 iv ガス状炭素化合物、および水素および酸素を含
む群から選んだ活性ガスの混合気を反応室の中に導き、 v マイクロ波放射を焦点に集中させて反応室の中
で基体の領域内にプラズマを形成して、基体上にダイヤ
モンドの化学的気相成長を引き起こす、諸段階を包含す
ることを特徴とするプラズマを形成する方法。
【0013】本発明はプラズマを形成する装置にまで拡
張できる。この装置は、反応室、遠隔供給源から反応室
の中の焦点領域へのマイクロ波放射のビームを集中させ
るための集中手段と、選択したガスを反応室の中に導入
する手段とを含み、集中手段は焦点領域にプラズマを形
成するために配置される。
張できる。この装置は、反応室、遠隔供給源から反応室
の中の焦点領域へのマイクロ波放射のビームを集中させ
るための集中手段と、選択したガスを反応室の中に導入
する手段とを含み、集中手段は焦点領域にプラズマを形
成するために配置される。
【0014】プラズマの形状は、反応室の形状と無関係
で、集中手段の幾何形状および位置に関係することが好
ましい。
で、集中手段の幾何形状および位置に関係することが好
ましい。
【0015】この装置は、プラズマに隣接して反応室の
中に配置された基体を含み、また、プラズマおよび基体
の反応が基体に対するプラズマ−活性化された核種の化
学的気相成長を生じる、ことが有利である。
中に配置された基体を含み、また、プラズマおよび基体
の反応が基体に対するプラズマ−活性化された核種の化
学的気相成長を生じる、ことが有利である。
【0016】集中手段は、マイクロ波放射の波長の少な
くとも4倍の寸法とされた凹形反射面を有する少なくと
も1つの反射器を含んで構成されることができる。
くとも4倍の寸法とされた凹形反射面を有する少なくと
も1つの反射器を含んで構成されることができる。
【0017】更に詳しくは、集中手段は、第1および第
2のパラボラ反射器を含み、第1反射器はマイクロ波発
生器からのマイクロ波放射ビームを受け止めてそのビー
ムを第2反射器へ伝達するように配置され、第2反射器
はそのビームを集中させるように配置される。
2のパラボラ反射器を含み、第1反射器はマイクロ波発
生器からのマイクロ波放射ビームを受け止めてそのビー
ムを第2反射器へ伝達するように配置され、第2反射器
はそのビームを集中させるように配置される。
【0018】選択したガスを導入する手段は、反応室を
排気する真空ポンプと、反応室と通じている選択したガ
スの加圧供給源と、反応室に対する選択したガスの供給
を制御するバルブ手段とを含むことができる。
排気する真空ポンプと、反応室と通じている選択したガ
スの加圧供給源と、反応室に対する選択したガスの供給
を制御するバルブ手段とを含むことができる。
【0019】本発明は、化学蒸着によってダイヤモンド
を形成することに限定されるものではない。Si、Ga
S、InP、ZnC、ZnSe、GeC、SiCおよび
立方晶の窒化硼素を含む多くのその他のセラミック材料
が適当なプレカーソルガス混合気を使用することで形成
できるのである。プラズマはエッチングや金属の表面改
良に使用できる。例えば、鑞接の前の酸化層の除去や、
あるいはまた鑞材や半田の再流動に使用することができ
る。
を形成することに限定されるものではない。Si、Ga
S、InP、ZnC、ZnSe、GeC、SiCおよび
立方晶の窒化硼素を含む多くのその他のセラミック材料
が適当なプレカーソルガス混合気を使用することで形成
できるのである。プラズマはエッチングや金属の表面改
良に使用できる。例えば、鑞接の前の酸化層の除去や、
あるいはまた鑞材や半田の再流動に使用することができ
る。
【0020】マイクロ波放射なる用語は、この明細書の
目的に関しては、その放射が300MHz〜1000G
Hz、好ましくは433MHz〜94GHz、更に好ま
しくは2GHz〜3GHzの範囲、の周波数域を有する
ことを意味する。
目的に関しては、その放射が300MHz〜1000G
Hz、好ましくは433MHz〜94GHz、更に好ま
しくは2GHz〜3GHzの範囲、の周波数域を有する
ことを意味する。
【0021】
【実施例】図1を参照すれば、マイクロ波発生器10は
適当なウェーブガイド14を経て放射ホーン12を付勢
する。このホーン12はマイクロ波放射ビーム16を第
1の湾曲したパラボラ形の反射器18に向けて放射する
ように配置されている。反射器18は適当な反射面幾何
形状を有し、入射ビーム16を平行面波20として自由
空間を通して反射することができるようになされてい
る。この面波列20は第2反射器22によって受信され
る。第2反射器は実質的にパラボラ形の反射面を有して
おり、面波列20を収束する球面波列24に転換するよ
うになされている。この収束する球面波列24は焦点す
なわち焦点領域26に収束し、その焦点すなわち焦点領
域はベル形容器のような反応室28の内部に位置されて
いる。この反応室はプラズマ形成領域29を定めてい
る。
適当なウェーブガイド14を経て放射ホーン12を付勢
する。このホーン12はマイクロ波放射ビーム16を第
1の湾曲したパラボラ形の反射器18に向けて放射する
ように配置されている。反射器18は適当な反射面幾何
形状を有し、入射ビーム16を平行面波20として自由
空間を通して反射することができるようになされてい
る。この面波列20は第2反射器22によって受信され
る。第2反射器は実質的にパラボラ形の反射面を有して
おり、面波列20を収束する球面波列24に転換するよ
うになされている。この収束する球面波列24は焦点す
なわち焦点領域26に収束し、その焦点すなわち焦点領
域はベル形容器のような反応室28の内部に位置されて
いる。この反応室はプラズマ形成領域29を定めてい
る。
【0022】反応室28の内部にはその中央へ向けてシ
リコン・カーバイド、モリブデン、シリコンまたはダイ
ヤモンドシードのような適当な基体30が収容される。
図面から、基体30は焦点26のすぐ下方に位置されて
いるのが明白となろう。
リコン・カーバイド、モリブデン、シリコンまたはダイ
ヤモンドシードのような適当な基体30が収容される。
図面から、基体30は焦点26のすぐ下方に位置されて
いるのが明白となろう。
【0023】炭素含有ガスは、水素、酸素、アルゴン、
ヘリウム、ネオン、水蒸気、またはその何れかの機能結
合体と結合され、また、入口パイプ31を通して0.1
〜700トリチェリ、好ましくは40〜200トリチェ
リの圧力のもとで反応室28の内部へ導かれる。1Wc
m−3を超える十分なパワーが焦点領域26に集中され
るならば、プラズマ32が反応室28の内部に収容され
ている低圧ガスに発生される。概略的に示すように、プ
ラズマ32は第2反射器24の焦点26に集中される。
基体は高温プラズマガスによって絶対温度400°〜1
500°の温度にまで加熱される。この温度は通常は絶
対温度900°の範囲にある。基体30に対するダイヤ
モンドの付着が起こり、これはカモ氏に付与された米国
特許第4434188号に記載されているのと同様にし
て生じるのである。
ヘリウム、ネオン、水蒸気、またはその何れかの機能結
合体と結合され、また、入口パイプ31を通して0.1
〜700トリチェリ、好ましくは40〜200トリチェ
リの圧力のもとで反応室28の内部へ導かれる。1Wc
m−3を超える十分なパワーが焦点領域26に集中され
るならば、プラズマ32が反応室28の内部に収容され
ている低圧ガスに発生される。概略的に示すように、プ
ラズマ32は第2反射器24の焦点26に集中される。
基体は高温プラズマガスによって絶対温度400°〜1
500°の温度にまで加熱される。この温度は通常は絶
対温度900°の範囲にある。基体30に対するダイヤ
モンドの付着が起こり、これはカモ氏に付与された米国
特許第4434188号に記載されているのと同様にし
て生じるのである。
【0024】閉じ込められるウェーブガイドキャビティ
寸法によって制限を受けている従来技術の反応室と比較
すれば、反応室28の寸法は何れのウェーブガイド寸法
によっても制限されない。この結果、基体30は反応室
の壁面およびその他の汚損源から十分に離して位置され
るようにされる。更に、反応室の内部にキャビティノー
ドが全くないので、基体の挿入は例えプラズマの放電位
置に影響したとしてもほんの僅かである。同様に、基体
30の特性および幾何形状はプラズマ放電32に対して
無視できるほどの影響しか及ぼさない。
寸法によって制限を受けている従来技術の反応室と比較
すれば、反応室28の寸法は何れのウェーブガイド寸法
によっても制限されない。この結果、基体30は反応室
の壁面およびその他の汚損源から十分に離して位置され
るようにされる。更に、反応室の内部にキャビティノー
ドが全くないので、基体の挿入は例えプラズマの放電位
置に影響したとしてもほんの僅かである。同様に、基体
30の特性および幾何形状はプラズマ放電32に対して
無視できるほどの影響しか及ぼさない。
【0025】図2を参照すれば、更に他の実施例が示さ
れている。これにおいて、レンズ34が図1の第2反射
器22に代えてマイクロ波放射を集中させる手段として
配置されている。図3では、単一の両凸面レンズ36が
第1反射器18および第2反射器22の代わりに配置さ
れている。このレンズは誘電体レンズ、金属プレートレ
ンズまたはフレネルゾーンプレートレンズとされること
かできる。図4に示された構造は単一反射器38をレン
ズ36の代わりに使用している。図5では、レンズ40
がマイクロ波放射ビームを平行化するのに使用され、ま
た、反射器42がその平行ビームを集中させている。様
々なレンズおよび反射器の組み台わせがマイクロ波放射
ビームを集中させるのに使用でき、また、ビームは連続
ビームとされ、パルスとされ、変調または偏光され、ま
たはそれらの組み合わせとされることができることが、
認識されねばならない。例えば、反射内面を有する楕円
が使用され、マイクロ波供給源およびプラズマはその楕
円の2つのそれぞれの焦点に位置されることができるの
である。
れている。これにおいて、レンズ34が図1の第2反射
器22に代えてマイクロ波放射を集中させる手段として
配置されている。図3では、単一の両凸面レンズ36が
第1反射器18および第2反射器22の代わりに配置さ
れている。このレンズは誘電体レンズ、金属プレートレ
ンズまたはフレネルゾーンプレートレンズとされること
かできる。図4に示された構造は単一反射器38をレン
ズ36の代わりに使用している。図5では、レンズ40
がマイクロ波放射ビームを平行化するのに使用され、ま
た、反射器42がその平行ビームを集中させている。様
々なレンズおよび反射器の組み台わせがマイクロ波放射
ビームを集中させるのに使用でき、また、ビームは連続
ビームとされ、パルスとされ、変調または偏光され、ま
たはそれらの組み合わせとされることができることが、
認識されねばならない。例えば、反射内面を有する楕円
が使用され、マイクロ波供給源およびプラズマはその楕
円の2つのそれぞれの焦点に位置されることができるの
である。
【0026】使用された各種の集中装置の利点は、集中
レンズまたは反射器の形状を変化させることで異なるプ
ラズマ形状を得るのに使用できるということである。例
えばほぼ球状のプラズマはパラボラ形反射面を有する反
射器を使用して得ることができる。両凸面レンズもまた
同様な球状プラズマを達成するのに使用できる。細長い
線形プラズマはパラボラ形の円筒断面のパラボラ反射面
によるか、または球状反射面によって得ることができ
る。更に、プラズマ形状はプラズマの密度状態と同様に
マイクロ波オプティクにおける微妙な変化によって得ら
れる。
レンズまたは反射器の形状を変化させることで異なるプ
ラズマ形状を得るのに使用できるということである。例
えばほぼ球状のプラズマはパラボラ形反射面を有する反
射器を使用して得ることができる。両凸面レンズもまた
同様な球状プラズマを達成するのに使用できる。細長い
線形プラズマはパラボラ形の円筒断面のパラボラ反射面
によるか、または球状反射面によって得ることができ
る。更に、プラズマ形状はプラズマの密度状態と同様に
マイクロ波オプティクにおける微妙な変化によって得ら
れる。
【0027】集中オプティクの焦点距離を調整し、ま
た、最終集中装置を対称中心軸線に沿ってまたはその回
りに移動させることによって、プラズマの寸法および位
置を変化させることも可能である。
た、最終集中装置を対称中心軸線に沿ってまたはその回
りに移動させることによって、プラズマの寸法および位
置を変化させることも可能である。
【0028】3次元でのプラズマ走査は、最終集中オプ
ティクまたは基体を適当な方法で反応室内部で移動させ
ることによって、達成することもできる。3次元面は基
体の全面上を単にプラズマ走査することでダイヤモンド
を被覆される。
ティクまたは基体を適当な方法で反応室内部で移動させ
ることによって、達成することもできる。3次元面は基
体の全面上を単にプラズマ走査することでダイヤモンド
を被覆される。
【0029】幾つかの放射ホーンもまた第1反射器また
は第1レンズを照射するのに使用できる。少なくとも2
つの周波数がこのようにしてプラズマ内部で結合され、
これは例えばプラズマ内部で特定の核種を選択的に励起
するのに有利に使用される。同様に、2つの偏光方向が
異なる比率で組み合わされて、プラズマ放電を更に改良
することが可能になる。
は第1レンズを照射するのに使用できる。少なくとも2
つの周波数がこのようにしてプラズマ内部で結合され、
これは例えばプラズマ内部で特定の核種を選択的に励起
するのに有利に使用される。同様に、2つの偏光方向が
異なる比率で組み合わされて、プラズマ放電を更に改良
することが可能になる。
【0030】本発明の更に他の実施例においては、非常
に高いマイクロ波周波数が、その入射マイクロ波放射の
波長の約半分直径を有する極めて小さい回折を制限され
た面積部分に対して集中され、これにより小さな局部的
なプラズマが発生されることを可能にする。このような
プラズマは、ダイヤモンドの基体上での“書き込み”を
可能にするために、明細書にて先に説明したようにして
基体表面上を走査されることができる。
に高いマイクロ波周波数が、その入射マイクロ波放射の
波長の約半分直径を有する極めて小さい回折を制限され
た面積部分に対して集中され、これにより小さな局部的
なプラズマが発生されることを可能にする。このような
プラズマは、ダイヤモンドの基体上での“書き込み”を
可能にするために、明細書にて先に説明したようにして
基体表面上を走査されることができる。
【0031】エッジ効果を最小限に抑え、オプティクの
有効な照射を与えるために、マイクロ波オプティクはマ
イクロ波波長より大きい(すなわち、少なくとも4倍、
好ましくは少なくとも10倍)ことが典型的に必要とさ
れる。起こり得る危険性の高い放射は金属スクリーンに
オプティクを閉じ込めるか、または適当な吸収材料によ
って排除することができる。
有効な照射を与えるために、マイクロ波オプティクはマ
イクロ波波長より大きい(すなわち、少なくとも4倍、
好ましくは少なくとも10倍)ことが典型的に必要とさ
れる。起こり得る危険性の高い放射は金属スクリーンに
オプティクを閉じ込めるか、または適当な吸収材料によ
って排除することができる。
【0032】反応室28は、全体が透明とされるか、ま
たはこの代わりに誘電体とされねばならない透明窓14
4を備えて、マイクロ波放射に対して透過性とされるこ
とができる。更に、反応室は集中装置および基休の両方
を収容するような寸法とされることができる。前記反応
室または窓144の好ましい材料は、溶融シリカ、石
英、ジルコニア、アルミナ、パイレックス、PTFE、
マコール(登録商標)、シリカ・ガラスまたはポリスチ
レンである。これらの材料は表面の反射損失を最小限に
抑えるために、抗反射性媒体で被覆できる。この材料は
またシクロヘキサンのような適当な透明流体によって冷
却されることができる。
たはこの代わりに誘電体とされねばならない透明窓14
4を備えて、マイクロ波放射に対して透過性とされるこ
とができる。更に、反応室は集中装置および基休の両方
を収容するような寸法とされることができる。前記反応
室または窓144の好ましい材料は、溶融シリカ、石
英、ジルコニア、アルミナ、パイレックス、PTFE、
マコール(登録商標)、シリカ・ガラスまたはポリスチ
レンである。これらの材料は表面の反射損失を最小限に
抑えるために、抗反射性媒体で被覆できる。この材料は
またシクロヘキサンのような適当な透明流体によって冷
却されることができる。
【0033】
【例】原型の装置が戸外に設置された。この装置はマイ
クロ波発生器と、マイクロ波集中ディッシュ装置と、石
英のベル形容器の反応室とを含んで構成された。数セン
チメートルのプラズマがたった800ワットの出力のマ
イクロ波発生器を使用して空間内に発生することができ
た。
クロ波発生器と、マイクロ波集中ディッシュ装置と、石
英のベル形容器の反応室とを含んで構成された。数セン
チメートルのプラズマがたった800ワットの出力のマ
イクロ波発生器を使用して空間内に発生することができ
た。
【0034】図6を参照すれば、一対のオフセットされ
たパラボラ反射器44および46が木製リブで作られ、
ステンレススチール網がリブを横断して張られた。パラ
ボラ温度が反射器44および46を±2mm(波長の1
/16)以内で表面精度をチェックするのに使用され
た。これは典型的な許容公差範囲内で良好であった。網
を通しての漏れは−20デシベル(1%)と計算され
た。反射器はそれぞれ1.5mすなわち波長の12倍の
横断直径を有していた。各々の反射器の焦点距離は1.
5mに固定された。E面で42°、H面で59°の10
デシベルビーム幅を有するアンテナホーン48が、反射
器44の焦点50のすぐ後方に位置決めされた。反射器
の方位対向(Subtended)角度は約56°で、
その反射器の仰角対向角度は44°であり、ホーン48
と反射器44との間には比較的良好なマッチングが得ら
れ、ホーンはE面を垂直にして取り付けられた。
たパラボラ反射器44および46が木製リブで作られ、
ステンレススチール網がリブを横断して張られた。パラ
ボラ温度が反射器44および46を±2mm(波長の1
/16)以内で表面精度をチェックするのに使用され
た。これは典型的な許容公差範囲内で良好であった。網
を通しての漏れは−20デシベル(1%)と計算され
た。反射器はそれぞれ1.5mすなわち波長の12倍の
横断直径を有していた。各々の反射器の焦点距離は1.
5mに固定された。E面で42°、H面で59°の10
デシベルビーム幅を有するアンテナホーン48が、反射
器44の焦点50のすぐ後方に位置決めされた。反射器
の方位対向(Subtended)角度は約56°で、
その反射器の仰角対向角度は44°であり、ホーン48
と反射器44との間には比較的良好なマッチングが得ら
れ、ホーンはE面を垂直にして取り付けられた。
【0035】第2のパラボラ反射器46はその焦点52
を反射器44の焦点50から約2m離して位置決めされ
た。2.45GHzの作動周波数および約1.6kWの
出力を有するマグネトロントランスミッター54が配置
されてホーン48に供給するようにされた。ホーン開口
のピーク出力密度は54kWm−2と計算された。ホー
ン48の開口と反射器44との間の距離を表す1.5m
の距離において、出力密度は3.15kWm−2の計算
値にまで低下した。反射器44および46の構造によ
り、反射器44から反射されたマイクロ波放射の大半は
反射器46によって捕捉されることが計算で得られた。
を反射器44の焦点50から約2m離して位置決めされ
た。2.45GHzの作動周波数および約1.6kWの
出力を有するマグネトロントランスミッター54が配置
されてホーン48に供給するようにされた。ホーン開口
のピーク出力密度は54kWm−2と計算された。ホー
ン48の開口と反射器44との間の距離を表す1.5m
の距離において、出力密度は3.15kWm−2の計算
値にまで低下した。反射器44および46の構造によ
り、反射器44から反射されたマイクロ波放射の大半は
反射器46によって捕捉されることが計算で得られた。
【0036】反射器44は固定構造体に取り付けられ、
反射器46は軌道に沿って走るトロリー上に取り付けら
れた。ホーン56および出力メーター58は可動の反射
器46の焦点52に隣接して配置され、マグネトロント
ランスミッター54は低出力トランスミッターと交換さ
れた。反射器44および46の最終位置は、図6に示さ
れている。それぞれの反射器の焦点50および52は
2.08m離された。反射器44と46との間の測定さ
れた損失は約2.7デシベルであった。これは予想より
も高く、これは計算されたよりも高い網漏れと同様に反
射器44および46のエッジにおけるスピルオーバーに
よるものであろう。ホーン48は次にマグネトロントラ
ンスミッター54に連結された。これは水で冷却されて
おり、遠隔の電源から駆動された。ホーン56は取り外
され、焦点52のフィールド領域は微細な綿糸によって
吊り下げられたネオン放電管を使用して立証された。ネ
オン放電管は5〜8センチメートルの範囲の直径を有す
る領域内に位置された。最大出力位置もまた高感度ペー
パーに覆われた吸収性発泡部材のブロックを使用して配
置された。
反射器46は軌道に沿って走るトロリー上に取り付けら
れた。ホーン56および出力メーター58は可動の反射
器46の焦点52に隣接して配置され、マグネトロント
ランスミッター54は低出力トランスミッターと交換さ
れた。反射器44および46の最終位置は、図6に示さ
れている。それぞれの反射器の焦点50および52は
2.08m離された。反射器44と46との間の測定さ
れた損失は約2.7デシベルであった。これは予想より
も高く、これは計算されたよりも高い網漏れと同様に反
射器44および46のエッジにおけるスピルオーバーに
よるものであろう。ホーン48は次にマグネトロントラ
ンスミッター54に連結された。これは水で冷却されて
おり、遠隔の電源から駆動された。ホーン56は取り外
され、焦点52のフィールド領域は微細な綿糸によって
吊り下げられたネオン放電管を使用して立証された。ネ
オン放電管は5〜8センチメートルの範囲の直径を有す
る領域内に位置された。最大出力位置もまた高感度ペー
パーに覆われた吸収性発泡部材のブロックを使用して配
置された。
【0037】図6に示したのと同様な構造が次に備えら
れた。ホーン56は石英のベル形容器62と交換され
た。ベル形容器62は可動プラットフォーム64上に取
り付けられ、約1.5mmの直径で60mmの長さの薄
いワイヤーのダイポール66がベル形容器62の内部に
て低損失発泡部材68の小片上に配置された。ベル形容
器62は次にパイプ72を通して真空ポンプ70によっ
て0.1にまで排気された。圧力表示計74はパイプ7
2内部の圧力低下を表示し、必要な圧力がゲージ77に
よって表示されたときにバルブ76が閉じられた。次に
バルブ78が開かれ、ベル形容器62がパイプ82を通
じてアルゴンの供給源80から充填されるようになされ
た。ベル形容器62内の圧力が1.0に達すると、バル
ブ76は開かれ、ポンプ70が次に作動されて容器62
を0.1にまで排気するようにされた。容器62は次に
シールされ、次にマグネトロントランスミッター54が
作動されて、ダイポール66の領域でマイクロ波放射の
集中ビームが約5〜8センチメートルの直径のプラズマ
を形成するようにさせた。
れた。ホーン56は石英のベル形容器62と交換され
た。ベル形容器62は可動プラットフォーム64上に取
り付けられ、約1.5mmの直径で60mmの長さの薄
いワイヤーのダイポール66がベル形容器62の内部に
て低損失発泡部材68の小片上に配置された。ベル形容
器62は次にパイプ72を通して真空ポンプ70によっ
て0.1にまで排気された。圧力表示計74はパイプ7
2内部の圧力低下を表示し、必要な圧力がゲージ77に
よって表示されたときにバルブ76が閉じられた。次に
バルブ78が開かれ、ベル形容器62がパイプ82を通
じてアルゴンの供給源80から充填されるようになされ
た。ベル形容器62内の圧力が1.0に達すると、バル
ブ76は開かれ、ポンプ70が次に作動されて容器62
を0.1にまで排気するようにされた。容器62は次に
シールされ、次にマグネトロントランスミッター54が
作動されて、ダイポール66の領域でマイクロ波放射の
集中ビームが約5〜8センチメートルの直径のプラズマ
を形成するようにさせた。
【0038】アルゴンは、体積比が100:1のH2お
よびCH4ガスの混合気と引き続いて交換された。この
ガス混合気はベル形容器を通して連続的に200scc
minの割合で流された。シリコンカーバイド基体は約
5mm平方が発泡部材68およびダイポール66によっ
て置き換えられた。ベル形容器の中の圧力は40に維持
された。また、マグネトロントランスミッターはしかる
後に作動されて、プラズマが基体の近くに形成されるよ
うにさせた。このプラズマは基体が絶対温度1170°
の温度を得るようにさせ、冷却して保持された。この結
果、基体の上には化学的気相成長法によって1時間当た
り1μmの観察成長速度でもってダイヤモンド層が形成
された。
よびCH4ガスの混合気と引き続いて交換された。この
ガス混合気はベル形容器を通して連続的に200scc
minの割合で流された。シリコンカーバイド基体は約
5mm平方が発泡部材68およびダイポール66によっ
て置き換えられた。ベル形容器の中の圧力は40に維持
された。また、マグネトロントランスミッターはしかる
後に作動されて、プラズマが基体の近くに形成されるよ
うにさせた。このプラズマは基体が絶対温度1170°
の温度を得るようにさせ、冷却して保持された。この結
果、基体の上には化学的気相成長法によって1時間当た
り1μmの観察成長速度でもってダイヤモンド層が形成
された。
【図1】本発明のプラズマ形成装置の第1の実施例の大
幅に簡略化した図面。
幅に簡略化した図面。
【図2】本発明のプラズマ形成装置の、他の集中構造を
使用した他の実施例の概略図。
使用した他の実施例の概略図。
【図3】本発明のプラズマ形成装置の、更に他の集中構
造を使用した他の実施例の概略図。
造を使用した他の実施例の概略図。
【図4】本発明のプラズマ形成装置の、更に他の集中構
造を使用した他の実施例の概略図。
造を使用した他の実施例の概略図。
【図5】本発明のプラズマ形成装置の、更に他の集中構
造を使用した他の実施例の概略図。
造を使用した他の実施例の概略図。
【図6】適当なプラズマを形成するための例示構造の概
略図。
略図。
【図7】適当なプラズマを形成するための他の例示構造
の概略図。
の概略図。
10 マイクロ波発生器 12 ホーン 14 ウェーブガイド 16 マイクロ波放射ビーム 18,22 反射器 20 平行波 24 球面波 26 焦点 28 反応室 30 基体 31 入口パイプ 32 プラズマ 33 ダイヤモンドの付着 34,36,40 レンズ 38,42,44,46 反射器 48,56 ホーン 50,52 焦点 54 マグネトロントランスミッター 58 出力メーター 62 ベル形容器 64 プラットフォーム 66 ダイポール 68 発泡部材 70 真空ポンプ 72,82 パイプ 74,77 表示計 76,78 バルブ 80 アルゴン供給源 144 窓
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成4年7月29日
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正内容】
【書類名】 明細書
【発明の名称】 プラズマを形成する方法および装置
【特許請求の範囲】
【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はプラズマに補助された化
学的気相成長法(CVD)技術を使用する合成ダイヤモ
ンドおよびその他のセラミック材料に関する。
学的気相成長法(CVD)技術を使用する合成ダイヤモ
ンドおよびその他のセラミック材料に関する。
【0002】
【従来技術】ダイヤモンドは過去30数年間にわたっ
て、ニッケル、コバルトまたは鉄のような触媒金属の存
在する中で、グラファイトのような炭素原料に対して5
0キロバールを超える圧力と1200℃を超える温度を
作用させることによって合成製造されてきた。最近で
は、ダイヤモンドはガス相から合成されている。この方
法は化学的気相成長法(CVD)として知られており、
ダイヤモンド製品はCVDダイヤモンドとして知られて
いる。この工程は一般に、水素ガス、および炭化水素の
ような適当なガス状炭素化合物を準備し、このガスに対
して十分なエネルギーを与えて水素を水素原子に、また
そのガスを活性炭素イオン、原子またはCHに解離さ
せ、そしてこのような活性核種を基体に付着させてダイ
ヤモンドを形成するようになす、諸段階を含んでなる。
ガスの解離は様々な方法で行うことができる。
て、ニッケル、コバルトまたは鉄のような触媒金属の存
在する中で、グラファイトのような炭素原料に対して5
0キロバールを超える圧力と1200℃を超える温度を
作用させることによって合成製造されてきた。最近で
は、ダイヤモンドはガス相から合成されている。この方
法は化学的気相成長法(CVD)として知られており、
ダイヤモンド製品はCVDダイヤモンドとして知られて
いる。この工程は一般に、水素ガス、および炭化水素の
ような適当なガス状炭素化合物を準備し、このガスに対
して十分なエネルギーを与えて水素を水素原子に、また
そのガスを活性炭素イオン、原子またはCHに解離さ
せ、そしてこのような活性核種を基体に付着させてダイ
ヤモンドを形成するようになす、諸段階を含んでなる。
ガスの解離は様々な方法で行うことができる。
【0003】このような1つの方法が高温フィラメント
を使用してその周囲領域でガスを解離させる方法であ
る。第2の一般に使用されている方法はプラズマ補助に
よる方法である。水素およびガス状の炭素化合物がプラ
ズマ領域へ導入され、これらはマイクロ波−、RF−ま
たはDC−形成のプラズマとされるが、励起されて活性
状態となされる。それらはこの状態のもとで基体上に閑
散し、基体はプラズマによって加熱される。マイクロ波
プラズマに補助されるCVDは、過去においてアェーブ
ガイドを使用して、その内部に収容されている反応室の
内側にプラズマを発生させていた。ウェーブガイドの範
囲内、すなわちウェーブガイドキャビテイで発生された
強烈な電界は、反応室の内部に収容されている低圧ガス
をイオン化するのに十分である。このようにしてプラズ
マは、その内部に配置されるか、隣接された基体上にダ
イヤモンドの付着が生じるのである。
を使用してその周囲領域でガスを解離させる方法であ
る。第2の一般に使用されている方法はプラズマ補助に
よる方法である。水素およびガス状の炭素化合物がプラ
ズマ領域へ導入され、これらはマイクロ波−、RF−ま
たはDC−形成のプラズマとされるが、励起されて活性
状態となされる。それらはこの状態のもとで基体上に閑
散し、基体はプラズマによって加熱される。マイクロ波
プラズマに補助されるCVDは、過去においてアェーブ
ガイドを使用して、その内部に収容されている反応室の
内側にプラズマを発生させていた。ウェーブガイドの範
囲内、すなわちウェーブガイドキャビテイで発生された
強烈な電界は、反応室の内部に収容されている低圧ガス
をイオン化するのに十分である。このようにしてプラズ
マは、その内部に配置されるか、隣接された基体上にダ
イヤモンドの付着が生じるのである。
【0004】プラズマを形成するためにウェーブガイド
を使用する利点は、プラズマ寸法が上部筐体の寸法によ
って決まることである。プラズマ寸法の増大はウェーブ
ガイドの寸法を増大するだけではなされ得ず、マイクロ
波波長が比例的に増大しなければ、マルチモードの伝播
が生じる。この結果、プラズマ発生の効率が悪化するこ
とになる。
を使用する利点は、プラズマ寸法が上部筐体の寸法によ
って決まることである。プラズマ寸法の増大はウェーブ
ガイドの寸法を増大するだけではなされ得ず、マイクロ
波波長が比例的に増大しなければ、マルチモードの伝播
が生じる。この結果、プラズマ発生の効率が悪化するこ
とになる。
【0005】ウェーブガイドの内部に存在する電磁力線
にプラズマが閉じ込められると、その位置は反応室の内
部で静止する。このことが付加的な問題を生じる。まず
第1にウェーブガイドの中へ基体を挿入することは予想
できない状態で電磁力線を混乱させる。これは基体の特
性および幾何形状に応じて変化する。第2にプラズマは
反応室の壁に接触するようになり、このことはウェーブ
ガイドの制限内では回避することができない。これは基
体に付着したダイヤモンドを汚損することになる。
にプラズマが閉じ込められると、その位置は反応室の内
部で静止する。このことが付加的な問題を生じる。まず
第1にウェーブガイドの中へ基体を挿入することは予想
できない状態で電磁力線を混乱させる。これは基体の特
性および幾何形状に応じて変化する。第2にプラズマは
反応室の壁に接触するようになり、このことはウェーブ
ガイドの制限内では回避することができない。これは基
体に付着したダイヤモンドを汚損することになる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】それ故に本発明の目的
は、上述した欠点を解消して合成ダイヤモンドの合成を
可能にするような、プラズマを形成する方法および装置
を提供する。
は、上述した欠点を解消して合成ダイヤモンドの合成を
可能にするような、プラズマを形成する方法および装置
を提供する。
【0007】
【課題を達成するための手段】本発明の第1の概念によ
れば、プラズマを形成する方法が提供される。この方法
は、 i 反応室を準備し、 ii 反応室の中に選択したガスを導入し、 iii 遠隔供給源からマイクロ波放射のビームを発生
させ、 iv マイクロ波放射を反応室の中の焦点領域に集中
させて、その焦点領域にプラズマを形成し、そのプラズ
マの形状は反応室の内部形状に無関係である、諸段階を
包含する。
れば、プラズマを形成する方法が提供される。この方法
は、 i 反応室を準備し、 ii 反応室の中に選択したガスを導入し、 iii 遠隔供給源からマイクロ波放射のビームを発生
させ、 iv マイクロ波放射を反応室の中の焦点領域に集中
させて、その焦点領域にプラズマを形成し、そのプラズ
マの形状は反応室の内部形状に無関係である、諸段階を
包含する。
【0008】この方法は、反応室の内部に基体を準備
し、プラズマがその基体と反応して基体上にプラズマ−
活性化された核種の化学的気相成長を生じるようにさせ
る諸段階を包含することが、好ましい
し、プラズマがその基体と反応して基体上にプラズマ−
活性化された核種の化学的気相成長を生じるようにさせ
る諸段階を包含することが、好ましい
【0009】本発明の第2の概念によれば、化学的気相
成長法によってセラミック材料の製造を補助するための
プラズマを形成する方法が提供される。この方法は、 i プラズマ形成ゾーンを定め、 ii プラズマ形成ゾーンの中に選択したガスを導入
し、 iii 遠隔供給源にてマイクロ波放射のビームを発生
させ、 iv 遠隔配置された集中手段からのマイクロ波放射
のビームをプラズマ形成に集中させてプラズマを形成
し、そのプラズマの形状および位置は集中手段の幾何形
状および位置に無関係である、諸段階を包含する。
成長法によってセラミック材料の製造を補助するための
プラズマを形成する方法が提供される。この方法は、 i プラズマ形成ゾーンを定め、 ii プラズマ形成ゾーンの中に選択したガスを導入
し、 iii 遠隔供給源にてマイクロ波放射のビームを発生
させ、 iv 遠隔配置された集中手段からのマイクロ波放射
のビームをプラズマ形成に集中させてプラズマを形成
し、そのプラズマの形状および位置は集中手段の幾何形
状および位置に無関係である、諸段階を包含する。
【0010】選択したガスは、プレカーソル(prec
ursor)ガス混合気、および水素および酸素を含む
群から選択した活性ガスを含むことが好ましい。また、
プレカーソルガス混合気は、ダイヤモンドの化学的気相
成長のためにガス状炭素化合物を含むことができる。
ursor)ガス混合気、および水素および酸素を含む
群から選択した活性ガスを含むことが好ましい。また、
プレカーソルガス混合気は、ダイヤモンドの化学的気相
成長のためにガス状炭素化合物を含むことができる。
【0011】都合の良いことに、この方法は基体を準備
し、集中手段および基体の相対的な位置を調整すること
によって、基体上でプラズマ走査する諸段階を包含す
る。
し、集中手段および基体の相対的な位置を調整すること
によって、基体上でプラズマ走査する諸段階を包含す
る。
【0012】本発明の更に他の概念によれば、化学的気
相成長法によってダイヤモンドの生産を補助するための
プラズマを形成する方法が提供される。この方法は、 i 反応室を準備し、 ii 反応室の中に基体を配置し、 iii マイクロ波放射の外部供給源を準備し、 iv ガス状炭素化合物、および水素および酸素を含
む群から選んだ活性ガスの混合気を反応室の中に導き、 v マイクロ波放射を焦点に集中させて反応室の中
で基体の領域内にプラズマを形成して、基体上にダイヤ
モンドの化学的気相成長を引き起こす、諸段階を包含す
ることを特徴とするプラズマを形成する方法。
相成長法によってダイヤモンドの生産を補助するための
プラズマを形成する方法が提供される。この方法は、 i 反応室を準備し、 ii 反応室の中に基体を配置し、 iii マイクロ波放射の外部供給源を準備し、 iv ガス状炭素化合物、および水素および酸素を含
む群から選んだ活性ガスの混合気を反応室の中に導き、 v マイクロ波放射を焦点に集中させて反応室の中
で基体の領域内にプラズマを形成して、基体上にダイヤ
モンドの化学的気相成長を引き起こす、諸段階を包含す
ることを特徴とするプラズマを形成する方法。
【0013】本発明はプラズマを形成する装置にまで拡
張できる。この装置は、反応室、遠隔供給源から反応室
の中の焦点領域へのマイクロ波放射のビームを集中させ
るための集中手段と、選択したガスを反応室の中に導入
する手段とを含み、集中手段は焦点領域にプラズマを形
成するために配置される。
張できる。この装置は、反応室、遠隔供給源から反応室
の中の焦点領域へのマイクロ波放射のビームを集中させ
るための集中手段と、選択したガスを反応室の中に導入
する手段とを含み、集中手段は焦点領域にプラズマを形
成するために配置される。
【0014】プラズマの形状は、反応室の形状と無関係
で、集中手段の幾何形状および位置に関係することが好
ましい。
で、集中手段の幾何形状および位置に関係することが好
ましい。
【0015】この装置は、プラズマに隣接して反応室の
中に配置された基体を含み、また、プラズマおよび基体
の反応が基体に対するプラズマ−活性化された核種の化
学的気相成長を生じる、ことが有利である。
中に配置された基体を含み、また、プラズマおよび基体
の反応が基体に対するプラズマ−活性化された核種の化
学的気相成長を生じる、ことが有利である。
【0016】集中手段は、マイクロ波放射の波長の少な
くとも4倍の寸法とされた凹形反射面を有する少なくと
も1つの反射器を含んで構成されることができる。
くとも4倍の寸法とされた凹形反射面を有する少なくと
も1つの反射器を含んで構成されることができる。
【0017】更に詳しくは、集中手段は、第1および第
2のパラボラ反射器を含み、第1反射器はマイクロ波発
生器からのマイクロ波放射ビームを受け止めてそのビー
ムを第2反射器へ伝達するように配置され、第2反射器
はそのビームを集中させるように配置される。
2のパラボラ反射器を含み、第1反射器はマイクロ波発
生器からのマイクロ波放射ビームを受け止めてそのビー
ムを第2反射器へ伝達するように配置され、第2反射器
はそのビームを集中させるように配置される。
【0018】選択したガスを導入する手段は、反応室を
排気する真空ポンプと、反応室と通じている選択したガ
スの加圧供給源と、反応室に対する選択したガスの供給
を制御するバルブ手段とを含むことができる。
排気する真空ポンプと、反応室と通じている選択したガ
スの加圧供給源と、反応室に対する選択したガスの供給
を制御するバルブ手段とを含むことができる。
【0019】本発明は、化学的気相成長法による蒸着に
よってダイヤモンドを形成することに限定されるもので
はない。Si、GaS、InP、ZnC、ZnSe、G
eC、SiCおよび立方晶の窒化硼素を含む多くのその
他のセラミック材料が適当なプレカーソルガス混合気を
使用することで形成できるのである。プラズマはエッチ
ングや金属の表面改良に使用できる。例えば、鑞接の前
の酸化層の除去や、あるいはまた鑞材や半田の再流動に
使用することができる。
よってダイヤモンドを形成することに限定されるもので
はない。Si、GaS、InP、ZnC、ZnSe、G
eC、SiCおよび立方晶の窒化硼素を含む多くのその
他のセラミック材料が適当なプレカーソルガス混合気を
使用することで形成できるのである。プラズマはエッチ
ングや金属の表面改良に使用できる。例えば、鑞接の前
の酸化層の除去や、あるいはまた鑞材や半田の再流動に
使用することができる。
【0020】マイクロ波放射なる用語は、この明細書の
目的に関しては、その放射が300MHz〜1000G
Hz、好ましくは433MHz〜94GHz、更に好ま
しくは2GHz〜3GHzの範囲、の周波数域を有する
ことを意味する。
目的に関しては、その放射が300MHz〜1000G
Hz、好ましくは433MHz〜94GHz、更に好ま
しくは2GHz〜3GHzの範囲、の周波数域を有する
ことを意味する。
【0021】
【実施例】図1を参照すれば、マイクロ波発生器10は
適当なウェーブガイド14を経て放射ホーン12を付勢
する。このホーン12はマイクロ波放射ビーム16を第
1の湾曲したパラボラ形の反射器18に向けて放射する
ように配置されている。反射器18は適当な反射面幾何
形状を有し、入射ビーム16を平行面波20として自由
空間を通して反射することができるようになされてい
る。この面波列20は第2反射器22によって受信され
る。第2反射器は実質的にパラボラ形の反射面を有して
おり、面波列20を収束する球面波列24に転換するよ
うになされている。この収束する球面波列24は焦点す
なわち焦点領域26に収束し、その焦点すなわち焦点領
域はベル形容器のような反応室28の内部に位置されて
いる。この反応室はプラズマ形成領域29を定めてい
る。
適当なウェーブガイド14を経て放射ホーン12を付勢
する。このホーン12はマイクロ波放射ビーム16を第
1の湾曲したパラボラ形の反射器18に向けて放射する
ように配置されている。反射器18は適当な反射面幾何
形状を有し、入射ビーム16を平行面波20として自由
空間を通して反射することができるようになされてい
る。この面波列20は第2反射器22によって受信され
る。第2反射器は実質的にパラボラ形の反射面を有して
おり、面波列20を収束する球面波列24に転換するよ
うになされている。この収束する球面波列24は焦点す
なわち焦点領域26に収束し、その焦点すなわち焦点領
域はベル形容器のような反応室28の内部に位置されて
いる。この反応室はプラズマ形成領域29を定めてい
る。
【0022】反応室28の内部にはその中央ヘ向けてシ
リコン・カーバイド、モリブデン、シリコンまたはダイ
ヤモンドシードのような適当な基体30が収容される。
図面から、基体30は焦点26のすぐ下方に位置されて
いるのが明白となろう。
リコン・カーバイド、モリブデン、シリコンまたはダイ
ヤモンドシードのような適当な基体30が収容される。
図面から、基体30は焦点26のすぐ下方に位置されて
いるのが明白となろう。
【0023】炭素含有ガスは、水素、酸素、アルゴン、
ヘリウム、ネオン、水蒸気、またはその何れかの機能結
合体と結合され、また、入口パイプ31を通して0.1
〜700トリチェリ、好ましくは40〜200トリチェ
リの圧力のもとで反応室28の内部へ導かれる。1Wc
m−3を超える十分なパワーが焦点領域26に集中され
るならば、プラズマ32が反応室28の内部に収容され
ている低圧ガスに発生される。概略的に示すように、プ
ラズマ32は第2反射器24の焦点26に集中される。
基体は高温プラズマガスによって絶対温度400°〜1
500°の温度にまで加熱される。この温度は通常は絶
対温度900°の範囲にある。基体30に対するダイヤ
モンドの付着が起こり、これはカモ氏に付与された米国
特許第4434188号に記載されているのと同様にし
て生じるのである。
ヘリウム、ネオン、水蒸気、またはその何れかの機能結
合体と結合され、また、入口パイプ31を通して0.1
〜700トリチェリ、好ましくは40〜200トリチェ
リの圧力のもとで反応室28の内部へ導かれる。1Wc
m−3を超える十分なパワーが焦点領域26に集中され
るならば、プラズマ32が反応室28の内部に収容され
ている低圧ガスに発生される。概略的に示すように、プ
ラズマ32は第2反射器24の焦点26に集中される。
基体は高温プラズマガスによって絶対温度400°〜1
500°の温度にまで加熱される。この温度は通常は絶
対温度900°の範囲にある。基体30に対するダイヤ
モンドの付着が起こり、これはカモ氏に付与された米国
特許第4434188号に記載されているのと同様にし
て生じるのである。
【0024】閉じ込められるウェーブガイドキャビティ
寸法によって制限を受けている従来技術の反応室と比較
すれば、反応室28の寸法は何れのウェーブガイド寸法
によっても制限されない。この結果、基体30は反応室
の壁面およびその他の汚損源から十分に離して位置され
るようにされる。更に、反応室の内部にキャビティノー
ドが全くないので、基体の挿入は例えプラズマの放電位
置に影響したとしてもほんの僅かである。同様に、基体
30の特性および幾何形状はプラズマ放電32に対して
無視できるほどの影響しか及ぼさない。
寸法によって制限を受けている従来技術の反応室と比較
すれば、反応室28の寸法は何れのウェーブガイド寸法
によっても制限されない。この結果、基体30は反応室
の壁面およびその他の汚損源から十分に離して位置され
るようにされる。更に、反応室の内部にキャビティノー
ドが全くないので、基体の挿入は例えプラズマの放電位
置に影響したとしてもほんの僅かである。同様に、基体
30の特性および幾何形状はプラズマ放電32に対して
無視できるほどの影響しか及ぼさない。
【0025】図2を参照すれば、更に他の実施例が示さ
れている。これにおいて、レンズ34が図1の第2反射
器22に代えてマイクロ波放射を集中させる手段として
配置されている。図3では、単一の両凸面レンズ36が
第1反射器18および第2反射器22の代わりに配置さ
れている。このレンズは誘電体レンズ、金属プレートレ
ンズまたはフレネルゾーンプレートレンズとされること
ができる。図4に示された構造は単一反射器38をレン
ズ36の代わりに使用している。図5では、レンズ40
がマイクロ波放射ビームを平行化するのに使用され、ま
た、反射器42がその平行ビームを集中させている。様
々なレンズおよび反射器の組み合わせがマイクロ波放射
ビームを集中させるのに使用でき、また、ビームは連続
ビームとされ、パルスとされ、変調または偏光され、ま
たはそれらの組み合わせとされることができることが、
認識されねばならない。例えば、反射内面を有する楕円
が使用され、マイクロ波供給源およびプラズマはその楕
円の2つのそれぞれの焦点に位置されることができるの
である。
れている。これにおいて、レンズ34が図1の第2反射
器22に代えてマイクロ波放射を集中させる手段として
配置されている。図3では、単一の両凸面レンズ36が
第1反射器18および第2反射器22の代わりに配置さ
れている。このレンズは誘電体レンズ、金属プレートレ
ンズまたはフレネルゾーンプレートレンズとされること
ができる。図4に示された構造は単一反射器38をレン
ズ36の代わりに使用している。図5では、レンズ40
がマイクロ波放射ビームを平行化するのに使用され、ま
た、反射器42がその平行ビームを集中させている。様
々なレンズおよび反射器の組み合わせがマイクロ波放射
ビームを集中させるのに使用でき、また、ビームは連続
ビームとされ、パルスとされ、変調または偏光され、ま
たはそれらの組み合わせとされることができることが、
認識されねばならない。例えば、反射内面を有する楕円
が使用され、マイクロ波供給源およびプラズマはその楕
円の2つのそれぞれの焦点に位置されることができるの
である。
【0026】使用された各種の集中装置の利点は、集中
レンズまたは反射器の形状を変化させることで異なるプ
ラズマ形状を得るのに使用できるということである。例
えばほぼ球状のプラズマはパラボラ形反射面を有する反
射器を使用して得ることができる。両凸面レンズもまた
同様な球状プラズマを達成するのに使用できる。細長い
線形プラズマはパラボラ形の円筒断面のパラボラ反射面
によるか、または球状反射面によって得ることができ
る。更に、プラズマ形状はプラズマの密度状態と同様に
マイクロ波オプティクにおける微妙な変化によって得ら
れる。
レンズまたは反射器の形状を変化させることで異なるプ
ラズマ形状を得るのに使用できるということである。例
えばほぼ球状のプラズマはパラボラ形反射面を有する反
射器を使用して得ることができる。両凸面レンズもまた
同様な球状プラズマを達成するのに使用できる。細長い
線形プラズマはパラボラ形の円筒断面のパラボラ反射面
によるか、または球状反射面によって得ることができ
る。更に、プラズマ形状はプラズマの密度状態と同様に
マイクロ波オプティクにおける微妙な変化によって得ら
れる。
【0027】集中オプティクの焦点距離を調整し、ま
た、最終集中装置を対称中心軸線に沿ってまたはその回
りに移動させることによって、プラズマの寸法および位
置を変化させることも可能である。
た、最終集中装置を対称中心軸線に沿ってまたはその回
りに移動させることによって、プラズマの寸法および位
置を変化させることも可能である。
【0028】3次元でのプラズマ走査は、最終集中オプ
ティクまたは基体を適当な方法で反応室内部で移動させ
ることによって、達成することもできる。3次元面は基
体の全面上を単にプラズマ走査することでダイヤモンド
を被覆される。
ティクまたは基体を適当な方法で反応室内部で移動させ
ることによって、達成することもできる。3次元面は基
体の全面上を単にプラズマ走査することでダイヤモンド
を被覆される。
【0029】幾つかの放射ホーンもまた第1反射器また
は第1レンズを照射するのに使用できる。少なくとも2
つの周波数がこのようにしてプラズマ内部で結合され、
これは例えばプラズマ内部で特定の核種を選択的に励起
するのに有利に使用される。同様に、2つの偏光方向が
異なる比率で組み合わされて、プラズマ放電を更に改良
することが可能になる。
は第1レンズを照射するのに使用できる。少なくとも2
つの周波数がこのようにしてプラズマ内部で結合され、
これは例えばプラズマ内部で特定の核種を選択的に励起
するのに有利に使用される。同様に、2つの偏光方向が
異なる比率で組み合わされて、プラズマ放電を更に改良
することが可能になる。
【0030】本発明の更に他の実施例においては、非常
に高いマイクロ波周波数が、その入射マイクロ波放射の
波長の約半分直径を有する極めて小さい回折を制限され
た面積部分に対して集中され、これにより小さな局部的
なプラズマが発生されることを可能にする。このような
プラズマは、ダイヤモンドの基体上での“書き込み”を
可能にするために、明細書にて先に説明したようにして
基体表面上を走査されることができる。
に高いマイクロ波周波数が、その入射マイクロ波放射の
波長の約半分直径を有する極めて小さい回折を制限され
た面積部分に対して集中され、これにより小さな局部的
なプラズマが発生されることを可能にする。このような
プラズマは、ダイヤモンドの基体上での“書き込み”を
可能にするために、明細書にて先に説明したようにして
基体表面上を走査されることができる。
【0031】エッジ効果を最小限に抑え、オプティクの
有効な照射を与えるために、マイクロ波オプティクはマ
イクロ波波長より大きい(すなわち、少なくとも4倍、
好ましくは少なくとも10倍)ことが典型的に必要とさ
れる。起こり得る危険性の高い放射は金属スクリーンに
オプティクを閉じ込めるか、または適当な吸収材料によ
って排除することができる。
有効な照射を与えるために、マイクロ波オプティクはマ
イクロ波波長より大きい(すなわち、少なくとも4倍、
好ましくは少なくとも10倍)ことが典型的に必要とさ
れる。起こり得る危険性の高い放射は金属スクリーンに
オプティクを閉じ込めるか、または適当な吸収材料によ
って排除することができる。
【0032】反応室28は、全体が透明とされるか、ま
たはこの代わりに誘電体とされねばならない透明窓14
4を備えて、マイクロ波放射に対して透過性とされるこ
とができる。更に、反応室は集中装置および基体の両方
を収容するような寸法とされることができる。前記反応
室または窓144の好ましい材料は、溶融シリカ、石
英、ジルコニア、アルミナ、パイレックス、PTFE、
マコール(登録商標)、シリカ・ガラスまたはポリスチ
レンである。これらの材料は表面の反射損失を最小限に
抑えるために、抗反射性媒体で被覆できる。この材料は
またシクロヘキサンのような適当な透明流体によって冷
却されることができる。
たはこの代わりに誘電体とされねばならない透明窓14
4を備えて、マイクロ波放射に対して透過性とされるこ
とができる。更に、反応室は集中装置および基体の両方
を収容するような寸法とされることができる。前記反応
室または窓144の好ましい材料は、溶融シリカ、石
英、ジルコニア、アルミナ、パイレックス、PTFE、
マコール(登録商標)、シリカ・ガラスまたはポリスチ
レンである。これらの材料は表面の反射損失を最小限に
抑えるために、抗反射性媒体で被覆できる。この材料は
またシクロヘキサンのような適当な透明流体によって冷
却されることができる。
【0033】例 原型の装置が戸外に設置された。この装置はマイクロ波
発生器と、マイクロ波集中ディッシュ装置と、石英のベ
ル形容器の反応室とを含んで構成された。数センチメー
トルのプラズマがたった800ワットの出力のマイクロ
波発生器を使用して空間内に発生することができた。
発生器と、マイクロ波集中ディッシュ装置と、石英のベ
ル形容器の反応室とを含んで構成された。数センチメー
トルのプラズマがたった800ワットの出力のマイクロ
波発生器を使用して空間内に発生することができた。
【0034】図6を参照すれば、一対のオフセットされ
たパラボラ反射器44および46が木製リブで作られ、
ステンレススチール網がリブを横断して張られた。パラ
ボラ温度が反射器44および46を±2mm(波長の1
/16)以内で表面精度をチェックするのに使用され
た。これは典型的な許容公差範囲内で良好であった。網
を通しての漏れは−20デシベル(1%)と計算され
た。反射器はそれぞれ1.5mすなわち波長の12倍の
横断直径を有していた。各々の反射器の焦点距離は1.
5mに固定された。E面で42°、H面で59°の10
デシベルビーム幅を有するアンテナホーン48が、反射
器44の焦点50のすぐ後方に位置決めされた。反射器
の方位対向(subtended)角度は約56°で、
その反射器の仰角対向角度は44°であり、ホーン48
と反射器44との間には比較的良好なマッチングが得ら
れ、ホーンはE面を垂直にして取り付けられた。
たパラボラ反射器44および46が木製リブで作られ、
ステンレススチール網がリブを横断して張られた。パラ
ボラ温度が反射器44および46を±2mm(波長の1
/16)以内で表面精度をチェックするのに使用され
た。これは典型的な許容公差範囲内で良好であった。網
を通しての漏れは−20デシベル(1%)と計算され
た。反射器はそれぞれ1.5mすなわち波長の12倍の
横断直径を有していた。各々の反射器の焦点距離は1.
5mに固定された。E面で42°、H面で59°の10
デシベルビーム幅を有するアンテナホーン48が、反射
器44の焦点50のすぐ後方に位置決めされた。反射器
の方位対向(subtended)角度は約56°で、
その反射器の仰角対向角度は44°であり、ホーン48
と反射器44との間には比較的良好なマッチングが得ら
れ、ホーンはE面を垂直にして取り付けられた。
【0035】第2のパラボラ反射器46はその焦点52
を反射器44の焦点50から約2m離して位置決めされ
た。2.45GHzの作動周波数および約1.6kWの
出力を有するマグネトロントランスミッター54が配置
されてホーン48に供給するようにされた。ホーン開口
のピーク出力密度は54kWm−2と計算された。ホー
ン48の開口と反射器44との間の距離を表す1.5m
の距離において、出力密度は3.15kWm−2の計算
値にまで低下した。反射器44および46の構造によ
り、反射器44から反射されたマイクロ波放射の大半は
反射器46によって捕捉されることが計算で得られた。
を反射器44の焦点50から約2m離して位置決めされ
た。2.45GHzの作動周波数および約1.6kWの
出力を有するマグネトロントランスミッター54が配置
されてホーン48に供給するようにされた。ホーン開口
のピーク出力密度は54kWm−2と計算された。ホー
ン48の開口と反射器44との間の距離を表す1.5m
の距離において、出力密度は3.15kWm−2の計算
値にまで低下した。反射器44および46の構造によ
り、反射器44から反射されたマイクロ波放射の大半は
反射器46によって捕捉されることが計算で得られた。
【0036】反射器44は固定構造体に取り付けられ、
反射器46は軌道に沿って走るトロリー上に取り付けら
れた。ホーン56および出力メーター58は可動の反射
器46の焦点52に隣接して配置され、マグネトロント
ランスミッター54は低出力トランスミッターと交換さ
れた。反射器44および46の最終位置は、図6に示さ
れている。それぞれの反射器の焦点50および52は
2.08m離された。反射器44と46との間の測定さ
れた損失は約2.7デシベルであった。これは予想より
も高く、これは計算されたよりも高い網漏れと同様に反
射器44および46のエッジにおけるスピルオーバーに
よるものであろう。ホーン48は次にマグネトロントラ
ンスミッター54に連結された。これは水で冷却されて
おり、遠隔の電源から駆動された。ホーン56は取り外
され、焦点52のフィールド領域は微細な綿糸によって
吊り下げられたネオン放電管を使用して立証された。ネ
オン放電管は5〜8センチメートルの範囲の直径を有す
る領域内に位置された。最大出力位置もまた高感度ペー
パーに覆われた吸収性発泡部材のブロックを使用して配
置された。
反射器46は軌道に沿って走るトロリー上に取り付けら
れた。ホーン56および出力メーター58は可動の反射
器46の焦点52に隣接して配置され、マグネトロント
ランスミッター54は低出力トランスミッターと交換さ
れた。反射器44および46の最終位置は、図6に示さ
れている。それぞれの反射器の焦点50および52は
2.08m離された。反射器44と46との間の測定さ
れた損失は約2.7デシベルであった。これは予想より
も高く、これは計算されたよりも高い網漏れと同様に反
射器44および46のエッジにおけるスピルオーバーに
よるものであろう。ホーン48は次にマグネトロントラ
ンスミッター54に連結された。これは水で冷却されて
おり、遠隔の電源から駆動された。ホーン56は取り外
され、焦点52のフィールド領域は微細な綿糸によって
吊り下げられたネオン放電管を使用して立証された。ネ
オン放電管は5〜8センチメートルの範囲の直径を有す
る領域内に位置された。最大出力位置もまた高感度ペー
パーに覆われた吸収性発泡部材のブロックを使用して配
置された。
【0037】図6に示したのと同様な構造が次に備えら
れた。ホーン56は石英のベル形容器62と交換され
た。ベル形容器62は可動プラットフォーム64上に取
り付けられ、約1.5mmの直径で60mmの長さの薄
いワイヤーのダイポール66がベル形容器62の内部に
て低損失発泡部材68の小片上に配置された。ベル形容
器62は次にパイプ72を通して真空ポンプ70によっ
て0.1トルにまで排気された。圧力表示計74はパイ
プ72内部の圧力低下を表示し、必要な圧力がゲージ7
7によって表示されたときにバルブ76が閉じられた。
次にバルブ78が開かれ、ベル形容器62がパイプ82
を通じてアルゴンの供給源80から充填されるようにな
された。ベル形容器62内の圧力が1.0トルに達する
と、バルブ76は開かれ、ポンプ70が次に作動されて
容器62を0.1トルにまで排気するようにされた。容
器62は次にシールされ、次にマグネトロントランスミ
ッター54が作動されて、ダイポール66の領域でマイ
クロ波放射の集中ビームが約5〜8センチメートルの直
径のプラズマを形成するようにさせた。
れた。ホーン56は石英のベル形容器62と交換され
た。ベル形容器62は可動プラットフォーム64上に取
り付けられ、約1.5mmの直径で60mmの長さの薄
いワイヤーのダイポール66がベル形容器62の内部に
て低損失発泡部材68の小片上に配置された。ベル形容
器62は次にパイプ72を通して真空ポンプ70によっ
て0.1トルにまで排気された。圧力表示計74はパイ
プ72内部の圧力低下を表示し、必要な圧力がゲージ7
7によって表示されたときにバルブ76が閉じられた。
次にバルブ78が開かれ、ベル形容器62がパイプ82
を通じてアルゴンの供給源80から充填されるようにな
された。ベル形容器62内の圧力が1.0トルに達する
と、バルブ76は開かれ、ポンプ70が次に作動されて
容器62を0.1トルにまで排気するようにされた。容
器62は次にシールされ、次にマグネトロントランスミ
ッター54が作動されて、ダイポール66の領域でマイ
クロ波放射の集中ビームが約5〜8センチメートルの直
径のプラズマを形成するようにさせた。
【0038】アルゴンは、体積比が100:1のH2お
よびCH4ガスの混合気と引き続いて交換された。この
ガス混合気はベル形容器を通して連続的に200scc
minの割合で流された。シリコンカーバイド基体は約
5mm平方が発泡部材68およびダイポール66によっ
て置き換えられた。ベル形容器の中の圧力は40トルに
維持された。また、マグネトロントランスミッターはし
かる後に作動されて、プラズマが基体の近くに形成され
るようにさせた。このプラズマは基体が絶対温度117
0°の温度を得るようにさせ、冷却して保持された。こ
の結果、基体の上には化学的気相成長法によって1時間
当たり1μmの観察成長速度でもってダイヤモンド層が
形成された。
よびCH4ガスの混合気と引き続いて交換された。この
ガス混合気はベル形容器を通して連続的に200scc
minの割合で流された。シリコンカーバイド基体は約
5mm平方が発泡部材68およびダイポール66によっ
て置き換えられた。ベル形容器の中の圧力は40トルに
維持された。また、マグネトロントランスミッターはし
かる後に作動されて、プラズマが基体の近くに形成され
るようにさせた。このプラズマは基体が絶対温度117
0°の温度を得るようにさせ、冷却して保持された。こ
の結果、基体の上には化学的気相成長法によって1時間
当たり1μmの観察成長速度でもってダイヤモンド層が
形成された。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のプラズマ形成装置の第1の実施例の大
幅に簡略化した図面。
幅に簡略化した図面。
【図2】本発明のプラズマ形成装置の、他の集中構造を
使用した他の実施例の概略図。
使用した他の実施例の概略図。
【図3】本発明のプラズマ形成装置の、更に他の集中構
造を使用した他の実施例の概略図。
造を使用した他の実施例の概略図。
【図4】本発明のプラズマ形成装置の、更に他の集中構
造を使用した他の実施例の概略図。
造を使用した他の実施例の概略図。
【図5】本発明のプラズマ形成装置の、更に他の集中構
造を使用した他の実施例の概略図。
造を使用した他の実施例の概略図。
【図6】適当なプラズマを形成するための例示構造の概
略図。
略図。
【図7】適当なプラズマを形成するための他の例示構造
の概略図。
の概略図。
【符号の説明】 10 マイクロ波発生器 12 ホーン 14 ウェーブガイド 16 マイクロ波放射ビーム 18,22 反射器 20 平行波 24 球面波 26 焦点 28 反応室 30 基体 31 入口パイプ 32 プラズマ 33 ダイヤモンドの付着 34,36,40 レンズ 38,42,44,46 反射器 48,56 ホーン 50,52 焦点 54 マグネトロントランスミッター 58 出力メーター 62 ベル形容器 64 プラットフオーム 66 ダイポール 68 発泡部材 70 真空ポンプ 72,82 パイプ 74,77 表示計 76,78 バルブ 80 アルゴン供給源 144 窓
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H05H 1/46 9014−2G (72)発明者 リカルド シモン サスマン イギリス国サーレイ,ギルフォード,フロ ビシャー カーデンズ 3 (72)発明者 ハリー リチャード ホリデイ イギリス国ハートフォードシャー,レオミ ンスター,バロンズ クロス ロッジ(番 地なし) (72)発明者 デニス チャールズ ホーキンズ イギリス国ハートフォードシャー,レオミ ンスター,ダネスフィールド ドライ ブ,”ブロードフィールズ”(番地なし)
Claims (16)
- 【請求項1】 プラズマ形成する方法であって、 i 反応室を準備し、 ii 反応室の中に選択したガスを導入し、 iii 遠隔供給源からマイクロ波放射のビームを発生
させ、 iv マイクロ波放射を反応室の中の焦点領域に集中
させて、その焦点領域にプラズマを形成し、そのプラズ
マの形状は反応室の内部形状に無関係である、諸段階を
包含することを特徴とするプラズマを形成する方法。 - 【請求項2】 請求項1に器方法であって、反応室の内
部に基体を準備し、プラズマがその基体と反応して基体
上にプラズマ成分の化学蒸着を生じるようにさせる諸段
階を包含するプラズマを刑成する方法。 - 【請求項3】 化学的気相成長法によってセラミック材
料の製造を補助するためのプラズマを形成する方法であ
って、 i プラズマ形成ゾーンを定め、 ii プラズマ形成ゾーンの中に選択したガスを導入
し、 iii 遠隔供給源にてマイクロ波放射のビームを発生
させ、 iv 遠隔配置された集中手段からのマイクロ波放射
のビームをプラズマ形成ゾーンの中の焦点領域に集中さ
せてプラズマを形成し、そのプラズマの形状および位置
は集中手段の幾何形状および位置に無関係である、諸段
階を包含することを特徴とするプラズマを形成する方
法。 - 【請求項4】 前掲請求項の何れか1項に記載されたプ
ラズマを形成する方法であって、選択したガスがプレカ
ーソルガス混合気、および水素および酸素を含む群から
選択した活性ガスを含むことを特徴とするプラズマを形
成する方法。 - 【請求項5】 請求項4に記載された方法であって、プ
レカーソルガス混合気がダイヤモンドの化学蒸着のため
のガス状炭素化合物を含むことを特徴とするプラズマを
形成する方法。 - 【請求項6】 請求項3に記載された方法であって、基
体を準備し、集中手段および基体の相対的な位置を調整
することによって、基体上でプラズマ走査する諸段階を
包含することを特徴とするプラズマを形成する方法。 - 【請求項7】 化学的気相成長法によってダイヤモンド
の生産を補助するためのプラズマを形成する方法であっ
て、 i 反応室を準備し、 ii 反応室の中に基体を配置し、 iii マイクロ波放射の外部供給源を準備し、 iv ガス状炭素化合物および水素および酸素を含む
群から選んだ活性ガスの混合気を反応室の中に導き、 v マイクロ波放射を焦点に集中させて反応室の中
で基体の領域内にプラズマを形成して、基体上にダイヤ
モンドの化学蒸着を引き起こす、諸段階を包含する。 - 【請求項8】 プラズマを形成する装置であって、反応
室、遠隔供給源から反応室の中の焦点領域へマイクロ波
放射のビームを集中させるための集中手段と、選択した
ガスを反応室の中に導入する手段とを含み、集中手段は
焦点領域にプラズマを形成するために配置されているこ
とを特徴とするプラズマを形成する装置。 - 【請求項9】 請求項8に記載された装置であって、プ
ラズマの形状が反応室の形状と無関係で、集中手段の幾
何形状および位置に関係することを特徴とするプラズマ
を形成する装置。 - 【請求項10】 請求項8または請求項9に記載された
装置であって、プラズマに隣接して反応室の中に配置さ
れた基体を含み、また、プラズマおよび基体の反応が基
体に対するプラズマ−活性化された核種の化学的気相成
長を生じることを特徴とするプラズマを形成する装置。 - 【請求項11】 請求項8から請求項10までの何れか
1項に記載された装置であって、集中手段がマイクロ波
放射の波長の少なくとも4倍の寸法とされた凹形反射面
を有する少なくとも1つの反射器を含んでなるプラズマ
を形成する装置。 - 【請求項12】 請求項11に記載された装置であっ
て、集中手段が第1および第2のパラボラ反射器を含
み、第1の反射器はマイクロ波発生器からのマイクロ波
放射ビームを受け止めてそのビームを第2反射器へ伝達
するように配置され、第2反射器はそのビームを集中さ
せるように配置されていることを特徴とするプラズマを
形成する装置。 - 【請求項13】 請求項12に記載された装置であっ
て、第2反射器および基体は焦点領域の位置を変化させ
るように互いに調整可能とされて、基体上でプラズマ走
査できるようにされたことを特徴とするプラズマを形成
する装置。 - 【請求項14】 請求項8に記載された装置であって、
選択したガスを導入する手段が反応室を排気する真空ポ
ンプと、反応室と通じている選択したガスの加圧供給源
と、反応室に対する選択したガスの供結を制御するバル
ブ手段とを含んでなることを特徴とするプラズマを形成
する装置。 - 【請求項15】 請求項8から請求項14までの何れか
1項に記載された装置であって、選択されたガスがプレ
カーソル混合気、および水素および酸素を含む群から選
択された活性ガスを含んでなることを特徴とするプラズ
マを形成する装置。 - 【請求項16】 請求項15に記載された装置であっ
て、プレカーソルガス混合気がダイヤモンドの化学的気
相成長のためガス状炭素化合物を含んでなることを特徴
とするプラズマを形成する装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| GB9114014.5 | 1991-06-28 | ||
| GB919114014A GB9114014D0 (en) | 1991-06-28 | 1991-06-28 | Plasma assisted diamond synthesis |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05239656A true JPH05239656A (ja) | 1993-09-17 |
Family
ID=10697507
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4210619A Pending JPH05239656A (ja) | 1991-06-28 | 1992-06-29 | プラズマを形成する方法および装置 |
Country Status (10)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0520832B1 (ja) |
| JP (1) | JPH05239656A (ja) |
| KR (1) | KR930000181A (ja) |
| AT (1) | ATE135752T1 (ja) |
| AU (1) | AU1862392A (ja) |
| CA (1) | CA2072455A1 (ja) |
| DE (1) | DE69209163T2 (ja) |
| GB (1) | GB9114014D0 (ja) |
| TW (1) | TW262626B (ja) |
| ZA (1) | ZA924765B (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006501122A (ja) * | 2002-09-30 | 2006-01-12 | インスティテュート・オブ・アプライド・フィズィックス・アールエーエス | Shf放電プラズマ中の気相からダイヤモンド膜を堆積する高速方法及び該方法を実行する装置 |
| US11155915B1 (en) | 2020-04-13 | 2021-10-26 | Wave Power Technology Inc. | Artificial diamond production device and microwave transmitting module thereof |
| JP2021172534A (ja) * | 2020-04-21 | 2021-11-01 | 宏碩系統股▲フン▼有限公司 | 合成ダイヤモンドの製造装置 |
| JP2023115614A (ja) * | 2022-02-08 | 2023-08-21 | 宏碩系統股▲フン▼有限公司 | 人工ダイヤモンドプラズマ生成機器 |
| US12084759B2 (en) | 2022-01-07 | 2024-09-10 | Wave Power Technology Inc. | Artificial diamond plasma production device |
Families Citing this family (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5328550A (en) * | 1992-10-02 | 1994-07-12 | At&T Bell Laboratories | Thinning a diamond body by means of molten rare-earth-containing alloys |
| DE10156615B4 (de) * | 2001-11-17 | 2004-10-07 | Forschungszentrum Karlsruhe Gmbh | Einrichtung zur Erzeugung eines örtlich variierbaren Elektron-Zyklotron-Resonanz-Mikrowellen-Niederdruckplasmas |
| US6845734B2 (en) | 2002-04-11 | 2005-01-25 | Micron Technology, Inc. | Deposition apparatuses configured for utilizing phased microwave radiation |
| US8555921B2 (en) | 2002-12-18 | 2013-10-15 | Vapor Technologies Inc. | Faucet component with coating |
| US8220489B2 (en) | 2002-12-18 | 2012-07-17 | Vapor Technologies Inc. | Faucet with wear-resistant valve component |
| US7866343B2 (en) | 2002-12-18 | 2011-01-11 | Masco Corporation Of Indiana | Faucet |
| US7866342B2 (en) | 2002-12-18 | 2011-01-11 | Vapor Technologies, Inc. | Valve component for faucet |
| US6904935B2 (en) | 2002-12-18 | 2005-06-14 | Masco Corporation Of Indiana | Valve component with multiple surface layers |
| US20070026205A1 (en) | 2005-08-01 | 2007-02-01 | Vapor Technologies Inc. | Article having patterned decorative coating |
| RU2357001C2 (ru) * | 2007-07-25 | 2009-05-27 | Ооо "Твинн" | Способ получения изделий из поликристаллического алмаза |
| DE102008035917B4 (de) * | 2008-08-01 | 2010-06-17 | Eads Deutschland Gmbh | Blitzschutz von Radomen und Sende-/Empfangsvorrichtungen |
| CN113373425B (zh) * | 2020-03-10 | 2022-06-10 | 宏硕系统股份有限公司 | 人造钻石生产装置及其微波发射模块 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4434188A (en) * | 1981-12-17 | 1984-02-28 | National Institute For Researches In Inorganic Materials | Method for synthesizing diamond |
| AU560521B2 (en) * | 1982-10-18 | 1987-04-09 | Energy Conversion Devices Inc. | Layered amorphous semiconductor alloys |
-
1991
- 1991-06-28 GB GB919114014A patent/GB9114014D0/en active Pending
-
1992
- 1992-06-26 CA CA002072455A patent/CA2072455A1/en not_active Abandoned
- 1992-06-26 ZA ZA924765A patent/ZA924765B/xx unknown
- 1992-06-26 AU AU18623/92A patent/AU1862392A/en not_active Abandoned
- 1992-06-27 KR KR1019920011419A patent/KR930000181A/ko not_active Withdrawn
- 1992-06-29 DE DE69209163T patent/DE69209163T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1992-06-29 EP EP92305950A patent/EP0520832B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1992-06-29 AT AT92305950T patent/ATE135752T1/de not_active IP Right Cessation
- 1992-06-29 JP JP4210619A patent/JPH05239656A/ja active Pending
- 1992-07-10 TW TW081105485A patent/TW262626B/zh active
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006501122A (ja) * | 2002-09-30 | 2006-01-12 | インスティテュート・オブ・アプライド・フィズィックス・アールエーエス | Shf放電プラズマ中の気相からダイヤモンド膜を堆積する高速方法及び該方法を実行する装置 |
| US11155915B1 (en) | 2020-04-13 | 2021-10-26 | Wave Power Technology Inc. | Artificial diamond production device and microwave transmitting module thereof |
| JP2021172534A (ja) * | 2020-04-21 | 2021-11-01 | 宏碩系統股▲フン▼有限公司 | 合成ダイヤモンドの製造装置 |
| US12084759B2 (en) | 2022-01-07 | 2024-09-10 | Wave Power Technology Inc. | Artificial diamond plasma production device |
| JP2023115614A (ja) * | 2022-02-08 | 2023-08-21 | 宏碩系統股▲フン▼有限公司 | 人工ダイヤモンドプラズマ生成機器 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| ATE135752T1 (de) | 1996-04-15 |
| ZA924765B (en) | 1993-03-31 |
| AU1862392A (en) | 1993-01-07 |
| CA2072455A1 (en) | 1992-12-29 |
| KR930000181A (ko) | 1993-01-15 |
| TW262626B (ja) | 1995-11-11 |
| EP0520832B1 (en) | 1996-03-20 |
| EP0520832A1 (en) | 1992-12-30 |
| GB9114014D0 (en) | 1991-08-14 |
| DE69209163D1 (de) | 1996-04-25 |
| DE69209163T2 (de) | 1996-08-01 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH05239656A (ja) | プラズマを形成する方法および装置 | |
| US5188862A (en) | Microwave plasma generating apparatus and process for the preparation of diamond thin film utilizing same | |
| RU2215061C1 (ru) | Высокоскоростной способ осаждения алмазных пленок из газовой фазы в плазме свч-разряда и плазменный реактор для его реализации | |
| US5349154A (en) | Diamond growth by microwave generated plasma flame | |
| CN114438473B (zh) | 一种高功率微波等离子体金刚石膜沉积装置 | |
| JPH06293593A (ja) | プラズマCVDによる合成方法およびこの方法により合成されたエピタキシャルAlN | |
| CN110913556A (zh) | 一种微波等离子反应装置 | |
| WO1992014861A1 (fr) | Dispositif de deposition en phase vapeur par procede chimique du type a plasma hyperfrequence et procede de synthese du diamant au moyen d'un tel dispositif | |
| US20070051315A1 (en) | Apparatus and method for producing nano-powder | |
| IE922255A1 (en) | Apparatus and process for diamond deposition by microwave¹plasma assisted cvpd | |
| JPS63137174A (ja) | 光化学気相成長法による機能性堆積膜の形成方法 | |
| JPS6299481A (ja) | マイクロ波プラズマ発生装置 | |
| JP3161788B2 (ja) | ダイヤモンド膜合成装置 | |
| JP2754274B2 (ja) | ダイヤモンド膜の製造方法及び製造装置 | |
| JPH08259389A (ja) | ダイヤモンド膜の製造方法 | |
| HK1085245B (en) | High velocity method for deposing diamond films from a gaseous phase in shf discharge plasma and device for carrying out said method | |
| JP3129772U (ja) | マイクロ波プラズマcvd装置 | |
| JPH05254987A (ja) | 化学的気相合成膜の膜厚の測定方法及び該方法を実施するための化学的気相合成装置 | |
| JPS62266820A (ja) | マイクロ波エネルギ−を使用するプラズマcvd法による機能性堆積膜形成装置 | |
| JPH07312298A (ja) | マイクロ波プラズマ発生装置 | |
| JPH01255107A (ja) | 導電性ポリマーの生産方法及びその生産装置 | |
| JPS6369221A (ja) | エピタキシヤル成長装置 | |
| JPWO1992014861A1 (ja) | マイクロ波プラズマcvd装置及びこの装置を用いたダイヤモンドの合成方法 |